「control test」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a voice output method in a testing device for enabling an operator to relatively easily change the data and the presence or absence of generated voice, the testing device, and a record medium storing a test control program.例文帳に追加

操作者が音声発声の内容や有無を比較的簡単に変更することができる試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体を提供する。 - 特許庁

A node N1 that is the start point of a logical link L1 to be verified transmits a logical link verification request message, over a control channel, to a node N3 that is the end point of the logical link to be verified, thereby notifying that a connectivity verification test begins (steps B1, B2).例文帳に追加

試験対象論理リンクL1の始点ノードN1が、コントロールチャネルを介して終点ノードN3に対して論理リンク検証要求メッセージを送信し、接続性検証試験を開始することを通知する（ステップB1,B2）。 - 特許庁

A transmission apparatus 1-31 transmits a loop control request frame, to which a code for requesting a loopback connection within the test object frame transmission interval is assigned to a particular area of a MAC frame, to a transmission apparatus 1-32.例文帳に追加

伝送装置１−３１は、試験対象のフレーム伝達区間の折返し接続を要求するコードをＭＡＣフレームの特定の領域に割当てたループ制御要求フレームを伝送装置１−３２に送信する。 - 特許庁

Further, a test switch means is included for connecting a positive- or negative-pole side output terminal of the second sample/hold circuit and a negative- or positive-pole side input terminal of the first sample/hold circuit in accordance with a control signal.例文帳に追加

さらに，制御信号により第２のサンプルホールド回路の正または負極側の出力端子と第１のサンプルホールド回路の負または正極側の入力端子とを接続するテスト用スイッチ手段を有する。 - 特許庁

To provide a test cell for evaluating a liquid crystal material which hardly causes gap unevenness, is capable of precisely evaluating characteristics of the liquid crystal material and easily carries out control of the cell gap in accordance with the liquid crystal material.例文帳に追加

ギャップムラが生じにくく、液晶材料の特性を正確に評価することができ、セルギャップの制御を液晶材料に合わせて容易に行うことができる、液晶材料評価用テストセルを提供する。 - 特許庁

To provide a vibration test control device capable of easily controlling vibration by applying vibration to a specimen based on a pseudo random wave part of a driving vibration signal only when the wave form is taken in.例文帳に追加

本発明は、波形を取り込む時だけ駆動振動信号の疑似ランダム波部分に基づいて試験体に振動を与え、振動の制御が容易な振動試験制御装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An activation control circuit 33 activates an address decoder 46 when a test mode signal TM1 is in a H level and a write-discrimination signal WZRG is in a H level even if a spare column activation signal SEC is activated.例文帳に追加

活性化制御回路３３はスペアコラム活性信号ＳＣＥが活性化されてもテストモード信号ＴＭ１がＨレベルでかつライト識別信号ＷＺＲＧがＨレベルであればアドレスデコーダ４６を活性化させる。 - 特許庁

The revisions to the tax system in fiscal 2012 added, among other things, test instruments contributing to improvements in product quality control to the scope of assets covered, and the period of effect was extended for a further two years to March 31, 2014. (New) 例文帳に追加

2012 年度税制改正により、対象資産に製品の品質管理の向上に資する試験機器等を追加する等の見直しを行うとともに、その適用期限を2014年3月31日まで2年延長する。（新規） - 経済産業省

SIMCA analysis is performed by using the control samples of the first and second classes and test samples, and a distance of each sample from each of the first and second classes is calculated, and a Coomans plot in which all the samples are plotted is formed and displayed.例文帳に追加

第１と第２クラスのコントロールサンプルとテストサンプルを用いてSIMCA解析を行い、各サンプルの第１と第２クラスのそれぞれからの距離を計算し、全サンプルがプロットされたCoomansプロットを作成し表示する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises: a VINT generation circuit 11 generating a constant voltage inside a chip; and a test circuit 12 connecting power supply wiring VDD supplying potential from the outside to wiring VINT supplying potential from the VINT generation circuit 11 via a prescribed value of resistance, based on control input in a test mode.例文帳に追加

本発明の半導体装置は、チップ内部で定電圧を生成するＶＩＮＴ発生回路１１と、テストモードにおいて、外部からの電位を供給する電源配線ＶＤＤとＶＩＮＴ発生回路１１からの電位を供給する配線ＶＩＮＴとを制御入力に基づいて所定の抵抗値で接続するテスト回路１２を有する。 - 特許庁

An exemplary embodiment of a feedback control method for controlling high frequency banding includes a step for creating a test pattern, a step for detecting the test pattern by the optical sensor and a step for measuring the high frequency banding and adjusting imaging parameters based on the measured high frequency banding in order to reduce the extent of high frequency banding.例文帳に追加

高周波バンディング制御用のフィードバック制御方法の例示的な実施形態は、テストパターンを作成するステップと、光学センサーによりテストパターンを検知するステップと、高周波バンディングの程度を減少させるべく、高周波バンディングを測定し、測定された高周波バンディングに基づいて画像化パラメータを調整するステップを含む。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of always performing an accurate material test without requiring skills, without performing trial and error, or without requiring a long time when setting a control gain, and dispensing with setting of initial speed of a load mechanism at a test starting time, concerning the materials testing machine using a motor as a driving source of the load mechanism.例文帳に追加

モータを負荷機構の駆動源とする材料試験機において、制御ゲインの設定に際して熟練を要したり、試行錯誤を行ったり、あるいは長時間を要することなく、常に正確な材料試験を行うことができ、しかも、試験開始時における負荷機構の初期速度の設定をも不要とした材料試験機を提供する。 - 特許庁

In a printing control part, a test printing mode is provided whereby a solid image is printed as a test image to one side surface of the recording paper (process in step 4 is carried out), and a predetermined mark is printed to a specific position which passes a printing position at the time of the switching operation of the one side surface (processes in step 8 and step S9 are carried out).例文帳に追加

プリント制御部において、記録紙の一側面にテスト画像としてベタ画像を印刷する（ステップ４の処理を実行する）とともに、該一側面のうち踏換え動作時に印刷位置を通過する特定位置に所定マークを印刷する（ステップ８及びステップＳ９の処理を実行する）テスト印刷モードを備えるようにした。 - 特許庁

When an installation test mode is set under the control of the CPU 81, call origination procedures for the installation test are then automatically executed between a handy nurse call master unit 3 and mobile terminals 71-7m connected thereto, and the process of the execution and the executed result are displayed by a group of LEDs of a display part 87.例文帳に追加

そして、設置試験モードが設定された場合に、ＣＰＵ８１の制御の下、ハンディナースコール主装置３及びそれに接続される携帯端末７１〜７ｍとの間で設置試験のための発呼手順を自律的に実行し、その実行経過及び実行結果を表示部８７のＬＥＤ群により表示するようにしたものである。 - 特許庁

In this penetration tester, test data can be obtained in the process in which a rod 7 is forced to penetrate into a ground by giving a load to the rod 7, while regarding the torque T as a loss of the load, a net load is obtained, the tester is provided with a control unit 10 correcting the test data in accordance with the net load.例文帳に追加

本発明は、貫入ロッド７に荷重を負荷して地中に貫入する過程で試験データを得る貫入試験機であって、貫入ロッド７に作用する回転トルクＴを取得し、この回転トルクＴを荷重の損失値とみなして正味荷重を求め、この正味荷重に応じて試験データを補正する制御ユニット１０を備えている。 - 特許庁

In the composite device for incorporating flash memory and CPU core chips 20 and 30 into one package, a CPU core 40 controls an I/O control circuit 34 to a signal connection state when the evaluation test is made, thus facilitating the evaluation test for the address and data of the flash memory and CPU core chips 20 and 30 that are laminated in the package.例文帳に追加

フラッシュメモリチップ２０およびＣＰＵコアチップ３０を１つのパッケージに内蔵する複合デバイスにおいて、評価テスト時には、ＣＰＵコア４０が入出力制御回路３４を信号接続状態に制御するので、パッケージ内に積層されたフラッシュメモリチップ２０およびＣＰＵコアチップ３０のアドレスやデータの評価テストが容易である。 - 特許庁

This one-chip microcomputer 10 is provided with a starting register 18 for starting test operation for an incorporation self-checking function, and an incorporation self-check starting pattern generator 19 for setting an initial value to a test control circuit (a pseudo random number generator 14, a logic circuit checking compressor 15, a pattern generator 16 and a memory checking compressor 17).例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

A control circuit 6 acquires a movement state detection result of a gyro sensor 25 provided to a remote controller 20 with a microphone through a remote controller interface circuit 7, and outputs a test signal generated by a test signal generating circuit 8 through a speaker 13 when detecting the remote controller 20 with the microphone moving and stopping based upon the movement state detection result.例文帳に追加

制御回路６は、マイク付リモコン２０に設けられたジャイロセンサ２５による移動状態検知結果をリモコンインターフェース回路７を通じて取得し、その移動状態検知結果に基づいてマイク付リモコン２０が移動して停止したことを検知した場合に、テスト信号生成回路８で生成したテスト信号をスピーカ１３を通じて出力させる。 - 特許庁

The failure inspection apparatus comprises a transmission part for sending the test patterns to the integrated circuit with a specified clock frequency, a voltage application part having a gain variable amplifier and applying inspection voltage to the integrated circuit, a control part for controlling the gain of the gain variable amplifier, and a receiving part for accepting the result processed by the integrated circuit according to the test patterns.例文帳に追加

故障検査装置は、一定のクロック周波数でテストパターンを集積回路に送る送信部と、利得可変増幅器を有し、集積回路に検査電圧を印加する電圧印加部と、利得可変増幅器の利得を制御する制御部と、テストパターンに基づいて集積回路で処理された結果を受け取る受信部とを備える。 - 特許庁

In the test circuit of the device 400 equipped with the nonvolatile memory 402, an external reset control section 410 generates an internal reset signal 414 by masking the external reset signal 222 for a predetermined period, and a CPU 401 controls an execution of a self-testing and a write of this test result to the nonvolatile memory 402 based on the internal reset signal 414.例文帳に追加

不揮発性メモリ４０２を備えたデバイス４００のテスト回路であって、外部リセット制御部４１０は外部リセット信号２２２を所定の期間マスクして内部リセット信号４１４を生成し、ＣＰＵ４０１は内部リセット信号４１４に基づいて、自己試験の実行とその結果の不揮発性メモリ４０２への書き込みとを制御する。 - 特許庁

An analogue waveform generating part provided with a single- circuit output sequence control part and an output waveform data generating part is provided with a four-circuit port 40, an attenuator 43b for individually adjusting the gains of the analogue test signals each outputted from the ports, and a digital/analogue converter 45 for individually adjusting the offset voltage of the analogue test signals.例文帳に追加

一系統の出力シーケンス制御部、出力波形データ発生部を備え、アナログ波形生成部に、四系統のポート４０と、各ポートからそれぞれ出力されるアナログ試験信号のゲインを個別に調整する減衰器４３ｂと、アナログ試験信号のオフセット電圧を個別に調整するためのデジタル／アナログ変換器４５とを設けている。 - 特許庁

The system area includes a test recording area where test recording is performed for setting an optimum recording condition for recording in the data area, a recording control information area where information necessary for recording user data in the data area is recorded, and a user data lead-in area that is necessary for playing back the user data recorded in the optical disk medium.例文帳に追加

前記システム領域は、前記データ領域に記録するときの最適記録条件を設定するために試し記録されるテスト記録エリアと、前記データ領域にユーザデータを記録するために必要な情報が記録される記録制御情報エリアと、前記ユーザデータが記録された光ディスク媒体を再生するために必要なユーザデータリードインエリアとを備えている。 - 特許庁

In a control circuit 21 within the vehicular power generation controller, when a test mode judging section 222 judges a test mode, a communication driver 220 sends binary pulse train signals corresponding to a value of an exciting current detected by an exciting current detecting section 212 regardless of the presence of transmission permission sent from an ECU.例文帳に追加

車両用発電制御装置内の制御回路２１では、テストモード判定部２２２によってテスト状態であると判定されると、ＥＣＵから送られてくる送信許可の有無に関わらず励磁電流検出部２１２によって検出された励磁電流の値に対応する２値パルス列信号を通信ドライバ２２０から送信する。 - 特許庁

This wet paper-strengthening agent is characterized in that the number of colonies of a revertant (a revertant colony count) appearing in a reversion test by using mouse Salmonella typhimurium TA 1535 strain requiring histidine, obtained by using the agent as a test agent may be <2 times as much as the revertant colony count obtained by using a solvent as a control liquid.例文帳に追加

湿潤紙力増強剤であって、該剤を被試験物質とするヒスチジン要求性のネズミチフス菌（Salmonella typhimurium）ＴＡ１５３５株を用いた復帰突然変異試験において、出現した復帰変異体のコロニー数（以下、復帰変異コロニー数という）が、溶媒を対照液とする復帰変異コロニー数の２倍未満であることを特徴とする湿潤紙力増強剤。 - 特許庁

When a recording medium newly replaced corresponding to a detection signal indicative of a containing means 3 that contains the recording medium is different from that heretofore used, a control means 7 generates a test pattern and a density sensor 51 reads a visible image of the test pattern, then correction of a correction value is executed.例文帳に追加

記録媒体を格納した格納手段３の交換を示す検知信号に応じて、新たに交換された記録媒体４２がそれまでに使用されていた記録媒体と異なる場合に、制御手段７は、テストパターンを発生させ、そのテストパターンの可視画像を濃度センサ５１で読み取ることで補正値の修正を行うようにしている。 - 特許庁

The receiving circuit detects the minute current signal by an input circuit 81 and outputs a voltage signal having its logical value from an output circuit 83, and has a test circuit 84 having a smaller amplification gain than the output circuit and a test control circuit 86 which controls its output operation so as to measure the threshold current of the input circuit.例文帳に追加

受信回路は、入力回路（８１）で微小電流信号を検出し、その論理値の電圧信号を出力回路（８３）から出力するが、入力回路の閾値電流計測のために、出力回路よりも小さな増幅利得を持つテスト出力回路（８４）とその出力動作を制御するテスト制御回路（８６）とを有する。 - 特許庁

A control system for a medical technology (1) is provided with a test and/or a treatment apparatus (2), optical detecting systems (9 and 10) equipped to detect inputs of gestures, and an evaluating system (11) to set operational parameters (P) of the test and/or treatment apparatus (2) with regard to the data detected through the inputs of gestures.例文帳に追加

医療技術の制御システム（１）は、検査および／または治療装置（２）と、ジェスチャー入力の検出のために設けられた光学式検出システム（９，１０）と、ジェスチャー入力を介して検出されたデータに関連して検査および／または治療装置（２）の作動パラメータ（Ｐ）を設定するために設けられた評価システム（１１）とを備えている。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 1 also includes a clock control circuit 13 generating pulse control signals for supplying the PLL clock to the two or more flip-flops from the detection timing of the edge detection circuit 12, and a clock gating circuit 14 supplying the PLL clock to the two or more flip-flops from the pulse control signal in the test mode of the two or more flip-flops.例文帳に追加

また、半導体集積回路１は、エッジ検出回路１２の検出タイミングに基づいて、ＰＬＬクロックを複数のフリップフロップに供給させるためのパルス制御信号を生成するクロック制御回路１３と、複数のフリップフロップのテストモード時には、パルス制御信号に基づいてＰＬＬクロックを複数のフリップフロップに供給するクロックゲーティング回路１４とを有する。 - 特許庁

The controller is adjustable in the sense of shifting weight from control based on the rotational frequency to control based on rotational torque so that the test device is capable of performing adjustment and control most suitable for tests of set values determined by transitions of the rotational frequency and the rotational torque and therefore is capable of performing them in a feasible range.例文帳に追加

そのような試験装置が、回転数と回転トルクの推移によって決まる設定値のその時々の試験課題に最適な調整及び制御を実施することができ、そのため試験装置で実現可能な範囲で実施することができるように、この制御機器は、回転数に基づく制御から回転トルクに基づく制御に重みをシフトさせるという意味において調整可能である。 - 特許庁

A command decoder 2 synchronizes with an external clock signal CLK when the test mode is set in the semiconductor memory, and sequentially generates an internal control signal that is similar to that when a plurality of commands are inputted in a normal mode at predetermined timing in response to a prescribed external control signal (command) inputted from a control input terminal (/RAS, /CAS, /WE, and /CS).例文帳に追加

コマンドデコーダ２は、半導体記憶装置にテストモードが設定されると、外部クロック信号ＣＬＫに同期して、制御入力端子（／ＲＡＳ、／ＣＡＳ、／ＷＥ、及び、／ＣＳ）から入力される所定の外部制御信号（コマンド）に応答して、通常モード動作時に複数のコマンドが入力されたときと同様な内部制御信号を、所定のタイミングで順次に生成する。 - 特許庁

When an operation section 27 is operated by a user and a test mode is instructed, the system controller 26 controls the switching of the selector 23 so that the signal inside the servo control section 16 outputted from the monitor control section 29 is outputted to the detector 2 of the outside via audio output DAC 24 and an audio output terminal 25.例文帳に追加

ユーザにより操作部２７が操作され、テストモードが指令された場合、システムコントローラ２６は、モニタ制御部２９から出力されたサーボ制御部１６内部の信号を、オーディオ出力DAC２４およびオーディオ出力端子２５を介して外部の検出装置２に出力させるように、セレクタ２３の切り替えを制御する。 - 特許庁

When the nonvolatile semiconductor storage device 6s is irradiated with UV-rays, the wafer 5 is subjected to positional control such that only such nonvolatile semiconductor storage devices 6s as not determined to be acceptable by electric characteristics test are irradiated with UV-rays and the UV lamp 1 is subjected to on/off control.例文帳に追加

そして、不揮発性半導体記憶装置６ｓに対して紫外線を照射する場合には、電気的特性試験の合否判定に従って良品と判定されていない不揮発性半導体記憶装置６ｓのみに紫外線が照射されるようにウェハ５を位置制御すると共に、紫外線ランプ１をオン／オフ制御する。 - 特許庁

A control rod drive coil which is a simulated load for this simulated load device used in a test for checking the function and performance of a control rod controller is formed by connecting a reactor having inductance equal to that of the drive coil and a resistor having a resistance value qual to that of the drive coil.例文帳に追加

制御棒制御装置の機能および性能を確認する試験に用いる模擬負荷装置の模擬負荷である制御棒駆動コイルとして、前記制御棒駆動コイルと同等のインダクタンスを有するリアクトルと、前記制御棒駆動コイルと同等の抵抗値を有する抵抗器とを接続して構成した。 - 特許庁

A method and system for generating the engine fixing control boundary conditions of a test unit 10 on exhaust system and a corresponding actuator control signal reproduces both the dynamic behavior of a power train 28 in an operating vehicle and the dynamic behavior of a vehicle frame at a position for fixing an exhaust system 12.例文帳に追加

排気システム台上試験装置10のエンジン取付制御境界条件及び対応するアクチュエーター制御信号を生成する方法及びシステムが提供され、それは、作動中の車両のパワートレイン28の動的挙動と、排気システム12が取付けられる位置での車両フレームの動的挙動の両方を、正確に再現する。 - 特許庁

A control unit 15 performs control so as to write a voltage in the capacitor C1 of each pixel 11_ij and then, turn on transistors T1 and T2 and controls an anode circuit 12 so as to supply a test current having a predetermined current value to an organic EL element 111 from the anode circuit 12 through the transistor T3 of each pixel 11_ij.例文帳に追加

制御部１５は、各画素１１_ijのキャパシタＣ１に電圧の書き込みを行った後、トランジスタＴ１，Ｔ２がオンするように制御し、アノード回路１２から、各画素１１_ijのトランジスタＴ３を介して有機ＥＬ素子１１１に所定の電流値の検定電流を供給するようにアノード回路１２を制御する。 - 特許庁

When contacts c, a of a relay RL4 are closed, a control section of a line terminator allows a drive circuit 201 to open relays RL1, RL2 and to remain a relay RL3 open and the control section spplies a test signal received from an in-station device to the hybrid transformer T1 via the relay RL4.例文帳に追加

リレーＲＬ４が接点ｃとａを閉状態とさせている場合、回線終端装置の制御部は、駆動回路２０１によってリレーＲＬ１及びＲＬ２を開状態にし、リレーＲＬ３は開状態としたままで、局内装置から受信した試験用の信号を、リレーＲＬ４を介してハイブリッドトランスＴ１に加える。 - 特許庁

The system includes: a scheduled operation control means which controls the scheduled operation based on the schedule data for performing a predetermined amount of bending by automatic operation; and a moving control means for moving to a test bending mode for performing predetermined bending such as trial bending during the scheduled operation based on the schedule data.例文帳に追加

そして、所定量の加工を自動運転で実行するためのスケジュールデータに基づき、スケジュール運転を制御するスケジュール運転制御手段と、スケジュールデータに基づくスケジュール運転の実行中に、試し曲げ等の特定の曲げ加工処理を実行する試験加工モードに移行する移行制御手段とを備える。 - 特許庁

The PDS control section comprising a subscriber multiplex/ demultiplex part 21, a service multiplex/demultiplex part 22 and a test mode circuit part 23, and an Ethernet interface section comprising an Ethernet (trademark) signal terminating function part 25, a filtering function part 26, an Ethernet packet processing function part 27 and a common control part 28 are made into one chip LSI.例文帳に追加

加入者多重分離機能部２１とサービス多重分離機能部２２とテストモード回路部２３とからなるＰＤＳ制御部、及び、イーサネット（登録商標）信号終端機能部２５とフィルタリング機能部２６とイーサネットパケット処理機能部２７と共通制御部２８とからなるイーサインタフェース部を１チップＬＳＩ化する。 - 特許庁

In a remote control device of the air conditioner, a device to be reset by a reset individual setting means 3 is set from the remote control device 1, and the device can be individually reset through a communication line 5, thereby improving work efficiency in a test run and service man's efficiency of work when abnormality occurs.例文帳に追加

遠隔制御装置１から、リセット個別設定手段３によりリセットしたい機器を設定し、通信線５を介して機器を個別にリセットすることができ、試運転時の作業性や、異常発生時におけるサービスマンの工事性向上を改善した空気調和機の遠隔制御装置を提供することができる。 - 特許庁

The controlling flip-flop 3 can be configured so as to beset to perform operation to toggle the data output in synchronization with the clock by an external control signal and a macro mode switching signal supplied to an external control input 51 and a macro test mode switching input 53 provided separately from a data input 52.例文帳に追加

制御用フリップフロップ３は、データ入力５２とは別に設けられた外部制御入力５１及びマクロテストモード切換入力５３に供給される外部制御信号及びマクロモード切換信号により、そのデータ出力を前記クロックに同期してトグルする動作を行うように設定可能であるように構成されている。 - 特許庁

In a scan test (control signal SEL=1), the control signal B is 1, so the signal is the same as the logic output signal Q outputted from a Q terminal and outputted as the scan logic output signal SOUT through the SOUT terminal.例文帳に追加

なお、スキャンテスト時（制御信号ＳＥＬ＝１）には、制御信号Ｂ＝１であるため、ＮＡＮＤゲート３４からの出力値は、Ｑ端子から出力された論理出力信号Ｑと互いに同一の信号となり、この信号がスキャン論理出力信号ＳＯＵＴとしてＳＯＵＴ端子を介して出力される。 - 特許庁

When the testing data A are returned to a testing unit 14 through the intermediary of an optional external device or a transmission line, the test data control unit 145 compares the testing data A previously stored in a testing data storing unit 1451 when external data are written with the returned testing data A, and informs the control unit 15 of a comparison result.例文帳に追加

任意の外部装置や伝送路を経由して試験部１４に試験データが戻ってくると、試験データ制御部１４５は外部からのデータ書込み時に試験データ記憶部１４５１に予め記憶しておいた試験データＡと、戻ってきた試験データとを比較し、比較結果を制御部１５に通知する。 - 特許庁

In this scan test equipment, flip-flops 101, 106 with asynchronous set/reset for a data set setting data at each flip-flop on each linked scan chain are connected to flip-flops 102, 107 on top of each scan chain, allowing a control circuit 150 to control asynchronous set/reset terminals of the flip-flops 101, 106 with asynchronous set/reset.例文帳に追加

各スキャンチェーン上の先頭のフリップフロップ１０２，１０７に、該接続された各スキャンチェーン上の各フリップフロップにデータをセットするデータセット用の非同期セットリセット付きフリップフロップ１０１，１０６を接続し、該非同期セットリセット付きフリップフリップ１０１，１０６の非同期セット／リセット端子を、制御回路１５０にて制御するようにする。 - 特許庁

The wavelength of the test light outputted from the light source 120 is swept over a predetermined wavelength range under control of a control part 126 and the backscattered beams are detected and totalized during the period of the wavelength sweeping by the analyzing part 125, so that the optical cable is tested based on the result.例文帳に追加

制御部１２６による制御の下に、波長可変光源１２０から出力される試験光の波長が所定の波長範囲に亘って掃引されるとともに、解析部１２５においては、この波長掃引の期間において後方散乱光が検出されて積算され、この積算結果に基づいて光線路が試験される。 - 特許庁

When there are a plurality of specific normalized transient operation modes, a transient test is conducted for a transient operation mode having commonly a change pattern of control value of control factor included in a plurality of transient operation modes, and data are fetched with a limitation of data within distribution in a remarkable data region to form a transient engine model.例文帳に追加

所定の規格化された過渡運転モードが複数有るときには、これら複数の過渡運転モードに含まれる制御因子の制御値の変更パターンを共通に有する一つの過渡運転モードにより過渡試験を行い、着目すべきデータ領域の分布内のデータに限定してデータを取り込み過渡エンジンモデルを作成する。 - 特許庁