「control test」に関連した英語例文の一覧と使い方(39ページ目) - Weblio英語例文検索

The data receiving apparatus 12 samples the test data using an internal clock with a system clock multiplied by two or more times and fetches the data into a capture circuit 23 system, and in a data fetch timing control section 24, optimal data fetch timing is selected from the fetched data and set.例文帳に追加

データ受信装置１２は、システムクロックを数倍に逓倍した内部クロックによりテストデータをサンプリングしてキャプチャ回路２３に取り込み、データ取り込みタイミング制御部２４において上記取り込みデータから最適のデータ取り込みタイミングを選択して設定する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a reset terminal inputting a reset control signal for resetting an internal circuit; a reset detection part generating, according to the input reset control signal, a reset release signal for releasing reset of the internal circuit; and a mode capture part retaining, based on the signal input to the reset terminal, a test mode for testing operations of the internal circuit.例文帳に追加

半導体装置は、内部回路をリセットするためのリセット制御信号を入力するリセット端子と、前記入力されたリセット制御信号に応じて、前記内部回路のリセットを解除するリセット解除信号を生成するリセット検出部と、前記リセット端子に入力される信号に基づいて、前記内部回路の動作をテストするテストモードを保持するモードキャプチャ部とを備える。 - 特許庁

The refraction angle control unit 10 is used for the noncontact ultrasonic flaw detection device including a transmission ultrasonic probe 20, and a reception ultrasonic probe 30 for receiving ultrasonic waves transmitted from the transmission ultrasonic probe 20 and propagated through a test piece S for transmission, thus controlling the composition of gas, namely, a noncontact medium M interposed between the transmission ultrasonic probe 20 and the test piece S.例文帳に追加

屈折角制御装置１０は、送信超音波探触子２０と、送信超音波探触子２０から送信されて試験体Ｓを伝搬して透過した超音波が受信される受信超音波探触子３０とを備えた非接触超音波探傷装置に用いられる屈折角制御装置であって、送信超音波探触子２０と試験体Ｓとの間に介在する非接触媒体Ｍである気体の組成を制御する。 - 特許庁

This is the control method of the optical laser disk drive being characterized in that the laser diode is controlled such that a test pattern is recorded in at least one of a header and a tail of the recording unit block including data area having predetermined size, input/output characteristics of the laser diode are detected using the recorded test pattern, and target output is generated on the basis of the detected input/output characteristics.例文帳に追加

一定の大きさを有するデータ領域を含む記録単位ブロックの先端と後端のうち少なくとも一つにテストパターンを記録し、前記記録されたテストパターンを用いてレーザーダイオードの入出力特性を検出し、前記検出された入出力特性に基づいて前記レーザーダイオードが目的とする出力を発生させるように前記レーザーダイオードを制御することを特徴とする光ディスクドライブの制御方法を構成する。 - 特許庁

This circuit is provided with a normal circuit for performing a scan test, a BIST control circuit having a mode 1 in which operation is automatically stopped after writing a pattern in the memory and a mode 2 in which a value written from the memory is read and compared with the prescribed expected value, and a memory write prohibiting circuit fixing an input signal to the memory while the normal circuit is in a scan test.例文帳に追加

スキャンテスト可能な通常回路と、前記通常回路に接続されるメモリとを有する半導体回路において、前記メモリにパターンを書き込みして自動に停止するモード１と前記メモリから書き込んだ値を読み出して所定の期待値と比較するモード２とを有するＢＩＳＴ制御回路と、通常回路がスキャンテストにある間、前記メモリへの入力信号を固定するメモリ書込禁止回路と、を備える構成とした。 - 特許庁

The test control voltage signal TC flows through resistors R1 and R2 when the NPN transistor Q0 is turned on, the operation of a voltage controlled oscillator V1 and a buffer B10 is stopped because the current from a current source I1 is not supplied, and the output impedance of the buffer B10 becomes high.例文帳に追加

テスト制御電圧信号ＴＣは、抵抗Ｒ１、Ｒ２を流れ、ＮＰＮトランジスタＱ０がオンとなることで、電圧制御発振器Ｖ１およびバッファＢ１０は、電流源Ｉ１からの電流が供給されず動作を停止し、バッファＢ１０の出力インピーダンスは高くなる。 - 特許庁

When a test switch 7 is turned on, a control 2 generates a pseudo current signal by making the current signal from the current detector section 1 higher than the threshold by an appropriate means such as temporarily lowering the threshold set in the sensitivity current setting section 5.例文帳に追加

テストスイッチ７がオンすると、制御部２では感度電流設定部５で設定された閾値を一時的に低くする等の適宜の方法で電流検出ブロック１から入力する電流検出信号を閾値よりも相対的に高くして疑似電流検出信号を作り出す。 - 特許庁

To conduct testing of a resist pattern formed by an aligner to correct parameters of the aligner on a real-time basis, and to unequivocally discriminate a variance of parameters of the aligner on the basis of the test result to control the parameters of the aligner in high accuracy.例文帳に追加

露光装置を用いて形成されたレジストパターンの検査を高速に行い、露光装置のパラメータの補正をリアルタイムで行うことを可能にすると共に、検査結果をもとに露光装置のパラメータ変動を一義的に判別し、露光装置のパラメータ管理を高精度に行うことを可能にする。 - 特許庁

This multi-processor system is provided with communication register modules 400-402 corresponding to processors 10-12 one to one, and a lock processing test operation is operated to the corresponding communication register modules, and a lock value set operation and an unlock operation are operated through an inter-communication module bus to all the communication modules by executing simultaneous writing control.例文帳に追加

プロセッサ１０〜１２に１対１対応する通信レジスタモジュール４００〜４０２を設け、ロック処理テスト動作は対応する通信レジスタモジュールに対して行ない、ロック値セット動作およびアンロック動作は通信モジュール間バス７００を介して全通信モジュールに同時書き込み制御して行なう。 - 特許庁

Then the control signal outputted from the microcomputer 1 makes the transistor 12 conductive to short-circuit the both ends of the resistor R1 and to increase a level of a signal given to an input port 1c of the microcomputer 1 to thereby perform the X-ray protector operating test.例文帳に追加

そして、マイコン１より出力される制御信号によりトランジスタ１２を導通させて抵抗Ｒ１の両端を短絡させ、マイコン１の入力ポート１ｃに入力する信号の電位を上昇させることによって、Ｘ線プロテクタ動作試験を行うようにする。 - 特許庁

In order to rise the temperature of devices in the electronic equipment serving as an object of the thermic test to a junction temperature, rotational frequency of a cooling fan is computed (processing 504) from a prepared temperature control table and controls the cooling fan so as to rotate at the computed rotational frequency (processing 505).例文帳に追加

温度試験の対象となる電子機器内のデバイスの温度をジャンクション温度まで高めるため、予め作成しておいた温度制御テーブルから、冷却ファンの回転数を算出し（処理５０４）、算出した回転数で冷却ファンが回転するように制御する（処理５０５）。 - 特許庁

When the main control unit generates authentication data having any one of the extracted first to third test values or generates expected value changing data, it generates authentication information having the authentication data or the expected value changing data and transmits the generated authentication information to a back stage part.例文帳に追加

主制御部は抽出した第１〜３検査値の何れか１つを有する認証用データを生成する、また、期待値変更用データを生成すると、認証用データ又は期待値変更用データを有する認証情報を生成し、該生成した認証情報を後段部に送信する。 - 特許庁

The output from a touch sensor circuit 43, output from a reversing circuit 472 reversing a signal from a single shoot switch, output of a reversing circuit 473 reversing a shoot control signal, and a shoot allowing/prohibiting signal from a trial shooting test device are inputted to a logical circuit (NAND circuit) 474.例文帳に追加

タッチセンサ回路４３の出力、単発発射スイッチからの信号を反転する反転回路４７２の出力、発射制御信号を反転する反転回路４７３の出力、および試射試験装置からの発射可否信号は、論理回路（ＮＡＮＤ回路）４７４に入力される。 - 特許庁

In a test mode, 1st- and 2nd sense amplifier control signals PSE-01, PSE-E are enabled at different points of time, and the 1st sense amplifier 320 for detecting and amplifying the potentials of an odd-numbered bit line pair and the 2nd sense amplifier 330 for detecting and amplifying an even- numbered bit line pair are activated at different points of time.例文帳に追加

テストモード時には第１及び第２センスアンプ制御信号PSE 01,PSE Eが相異なる時点にイネーブルされて、奇数番目ビットライン対の電位を感知増幅する第１センスアンプ320と、偶数番目ビットライン対の電位を感知増幅する第２センスアンプ330とが相異なる時点に活性化される。 - 特許庁

The leased line terminating device on the control side and that on the controlled side individually detect whether a leased line is faulty or not during the remote loop back test and are individually restored to the normal state from the remote loop state at the time of occurrence of a fault of the leased line.例文帳に追加

リモート・ループバック試験を行っている間、制御側の専用回線終端装置及び被制御側の専用終端装置が個別に専用回線の障害の有無を検出し、専用回生の障害が生じたときには、個別にリモート・ループ中の状態から通常状態に復帰する。 - 特許庁

A control part 30 allows the light source, the deflector, the photoreceptor drums 4 and the developing devices 7 to detect a plurality of test patterns for detecting the displacement of the plurality of toner images in the sub-scanning direction with respect to the intermediate transfer belt 11 during accelerating the rotation of the polygon mirror.例文帳に追加

制御部３０は、ポリゴンミラーの回転の加速中において、光源、偏向器、感光体ドラム４及び現像装置７に、中間転写ベルト１１に対して副走査方向における複数のトナー画像の位置ずれを検知するための複数のテストパターンを検知させる。 - 特許庁

Sense amplifier activation control circuits 1601A, 1601B bring selectively one part of sub-word lines and one part of sense amplifiers into a non-activation state by making plural sub-word lines correspond to plural sense amplifiers based on an address signal Y8 discriminating plural sub-word lines in a test mode.例文帳に追加

センスアンプ活性化制御回路１６０１Ａ，１６０１Ｂは、テストモード時に、複数のプレートを区別するアドレス信号Ｙ８に基づき、複数のサブワード線と複数のセンスアンプとを対応づけて、サブワード線の一部とセンスアンプの一部とを選択的に非活性状態とする。 - 特許庁

A VCAT transmission apparatus 10 copies a test signal of a pseudo-random bit sequence, performs control so as to insert the same PRBS signal to each member of a VCAT signal, and transmits each member of the VCAT signal to which the PRBS signal is inserted to an opposing apparatus via a plurality of transmission paths.例文帳に追加

ＶＣＡＴ伝送装置１０は、擬似ランダムビット系列のテスト信号をコピーし、ＶＣＡＴ信号のメンバにそれぞれ同一のＰＲＢＳ信号を挿入するように制御し、ＰＲＢＳ信号が挿入されたＶＣＡＴ信号の各メンバを複数の伝送路で対向装置に送信する。 - 特許庁

This facility uses a rotary encoder and a photoelectric sensor as digital sensors for measuring the data of the side slip tester 5 and the brake and speed tester 6 of a vehicle 4, and is equipped with a controller made of a computer for sending the digital data of the digital sensors to a control panel 1 for making judgement as to whether a test result is acceptable or not.例文帳に追加

車両４のサイドスリップテスタ５とブレーキ・スピードテスタ６のデータの測定にディジタルセンサであるロータリーエンコーダと光電センサを使用し、制御盤11内に前記ディジタルセンサのディジタルデータを入力し、前記テストの合否を判断するコンピュータからなるコントローラを備える。 - 特許庁

As for the external signal terminals 22 of the IC 21, the inspection apparatus 23 controls turning on/off of the FETs, by giving to the test control section 26 a selection signal for selecting an external signal terminal 22, to be driven and checks out the interference state of an internal signal transmission line between the external signal terminals 22.例文帳に追加

そして、検査装置２３を、ＩＣ２１の外部信号端子２２について、テスト制御部２６に駆動対象となる外部信号端子２２の選択信号を与えることでＦＥＴのオンオフを制御し、それらの端子２２の間における内部信号伝送路の干渉状態を検査する。 - 特許庁

The current sources 11-14 constitute a current control circuit, and sends to the ground, a current corresponding to the size of a constituted transistors connected in series from an external terminal INP through the terminal capacity countermeasure transistor (N-channel type MOS transistor Mn31) in a test operation mode.例文帳に追加

電流源１１〜１４は、電流制御回路を構成し、テスト動作モードにおいて、外部端子ＩＮＰから、端子容量対策トランジスタ（Ｎチャネル型ＭＯＳトランジスタＭｎ３１）を介して、構成する直列接続されたトランジスタのサイズに応じた電流を接地へと流す。 - 特許庁

To provide an engine control apparatus, reducing burdens of conformance test work and map preparation work, avoiding degradation in controllability caused by mutual interference, and making engine output values get closer to request values even when controlled variables are restricted not to exceed a range of use.例文帳に追加

適合試験作業及びマップ作成作業の負担軽減、及び相互干渉による制御性悪化回避を図るとともに、制御量が使用範囲を超えないよう制限されている場合であっても、エンジン出力値を要求値に近づけることができるエンジン制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide an active material for a nonaqueous electrolyte secondary battery which can be used for a backup power source or the like and has a large battery capacity and can control an increase in an internal resistance after a storage test, and to provide a nonaqueous electrolyte secondary battery using the active material.例文帳に追加

バックアップ用電源などとして用いることができる非水電解質二次電池用の活物質であって、電池容量が大きく、かつ保存試験後の内部抵抗の上昇を抑制することができる活物質及びそれを用いた非水電解質二次電池を得る。 - 特許庁

The read/write control circuit 6 receiving the trigger from the coincidence comparing circuit 5 writes the quality judgment result judged by a judging circuit 2 at the address in the memory specified by an address pointer 7 together with the address and data for the device 20 under test.例文帳に追加

そして、一致比較回路５より上記トリガが入力されたリード／ライト制御回路６は、判定回路２にて判定された良否判定結果を、前記被試験デバイス２０に対するアドレスおよびデータとともに、アドレスポインタ７に指定されるメモリ４内のアドレスに書き込む。 - 特許庁

When a virtualization switch device receives a copy request, a virtualization control device performs access tests corresponding to the copy request on each of a plurality of virtual switch devices, selects a virtualization switch device determined to have the best performance by the access test, and transmits the copy request to the selected virtualization switch device.例文帳に追加

仮想化スイッチ装置がコピーリクエストを受信した場合、複数の仮想化スイッチ装置の各々に対し、該コピーリクエストに対応したアクセステストを行ない、該アクセステストによって、最も性能が良いと判断した仮想化スイッチ部を選択し、選択された仮想化スイッチ部へコピーリクエストを送信する。 - 特許庁

The non- halogen flame retardant resin compositions can stand at least one test among the combustion tests regulated in Regulation of the Control of Electrical Outfits, the UL Standards, the IEEE Standards 383, and IEC Standards, respectively, when used as the covering materials of electrical wires, cables and similar articles.例文帳に追加

ノンハロゲン難燃性樹脂組成物は、電線、ケーブルまたはその類似品の被覆材料として用いたときに、電気用品取締法、ＵＬ規格、ＩＥＥＥ規格３８３、およびＩＥＣ規格３３２−１にそれぞれ制定されている燃焼試験のうちの１以上の試験に合格できるものである。 - 特許庁

A current command value of a dynamometer 6 which is obtained when a rotation speed of the dynamometer 6 is changed, without connecting to a test engine 1, in accordance with a change in engine rotation speed of an actual vehicle during an engine start period, is stored in a storage part 8a of a dynamometer control device 8.例文帳に追加

エンジン始動期間における実車でのエンジン回転速度の変化に合わせて、供試エンジン１に連結せずに動力計６の回転速度を変化させたときの同動力計６の電流指令値を動力計制御装置８の記憶部８ａに記憶する。 - 特許庁

A dip switch 15 is provided on the control panel of a testing device 1 for testing a telephone switchboard 2, and a speaking time detecting part 11a detects the setting state of the dip switch 15, set by a person in charge of test and obtains 'speaking time' on a telephone line 2a on the basis of the detected result.例文帳に追加

電話交換機２を試験する試験装置１の操作パネルにディップスイッチ１５を設け、通話時間検出部１１ａが、試験担当者により設定されたディップスイッチ１５の設定状態を検出し、検出結果に基づいて、電話回線２ａにおける「通話時間」を求める。 - 特許庁

This device further comprises a test control device which is operated by an artificial operation to energize the testing means 25 and operates the elevator body 2 to the position where the fire detector 24 is opposed to the testing means 25 and operated thereby to tentatively operate the fire detector 24.例文帳に追加

そして、人為操作により動作して試験手段２５を付勢し、かつ火災検出器２４に試験手段２５が対向し火災検出器２４が動作する位置に昇降体２を運転して、火災検出器２４を試験的に作動させる試験用制御装置を設ける。 - 特許庁

To realize cost reduction, application to various kinds of LSI testing devices, facilitation of application to various kinds of LSIs to be measured, facilitation of device quality control, improvement of LSI design quality, inexpensive LSI design evaluation, facilitation of development to an analytical system, and standardization of a test analytical system.例文帳に追加

コストの低廉化、多種ＬＳＩ試験装置ヘの適用化、被測定ＬＳＩ多品種への適用の容易化、装置品質管理の容易化、ＬＳＩ設計品質の向上、安価なＬＳＩ設計評価、解析システムヘの展開の容易化、テスト解析システムの標準化を図る。 - 特許庁

Under control of a controller 121, trial write is performed with a uniform recording power obtained by making a minimum recording power Pmin into a prescribed multiple with a recording area of a magneto-optical disk 101 as a Curie temperature in an area within one round of a test track provided on a magnetic domain wall movable magneto-optical disk 101.例文帳に追加

コントローラ１２１の制御の下で、磁壁移動型の光磁気ディスク１０１に設けられたテストトラックの一周以内の領域に、光磁気ディスク１０１の記録層をキューリ温度とする最小の記録パワーＰｍｉｎを所定倍して得られる均一な記録パワーで、試し書きを行う。 - 特許庁

To provide an optical disk drive and its control method in which a laser diode is controlled stably without affecting to other data by recording a test pattern in at least one region out of a run-in area and a run-out area of a recording unit block and detecting the characteristics of the laser diode.例文帳に追加

記録単位ブロックのラン−イン領域とラン−アウト領域のうち少なくとも一つにテストパターンを記録し、レーザーダイオードの特性を検出することで、他のデータに影響を及ぼすことなく、レーザーダイオードを安定的に制御する光ディスクドライブ及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester equipped with a means for applying the data of an HIFIX adapting condition to individual HIFIX itself in HIFIX equipped with constitution for measuring a plurality of DUTs at the same time to enable the test control corresponding to the mounted HIFIX.例文帳に追加

複数個のＤＵＴを同時測定する構成を備えるＨＩＦＩＸにおいて、個々のＨＩＦＩＸ自体にＨＩＦＩＸ適用条件の情報を付与する手段を備えて、装着されるＨＩＦＩＸに対応した試験管理を可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

By inputting information data such as the addresses of particular components 12 to 15 inside the satellite 1 via the stub cable 100 and the bus interface connector 10, the ground test unit 2 can control the satellite 1 to the same level as a data processing computer 11.例文帳に追加

地上試験装置２はスタブケーブル１００及びバスインタフェースコネクタ１０を経由して人工衛星１内部の特定のコンポーネント１２〜１５のアドレス等の情報データを入力することで、人工衛星１に対してデータ処理計算機１１と同等の制御が可能である。 - 特許庁

According to the specified value of the first specifying operation, the specified value of the second specifying operation is automatically read from the storage means 6a by a readout control means 6d, and a test program of a specified configuration is automatically generated under the specified generating conditions.例文帳に追加

そして、読み出し制御手段６ｄにより、上記第１の指定操作による指定値に基づき上記格納手段６ａから第２の指定操作による指定値を自動的に読み出し、指定された生成条件で、指定された構成のテストプログラムを自動的に生成する。 - 特許庁

When the main control unit generates authentication data having any one of the extracted first to third test values or generates expected value changing data, it generates authentication information having authentication data or expected value changing data and transmits the generated authentication information to a middle part.例文帳に追加

主制御部は抽出した第１〜３検査値の何れか１つを有する認証用データを生成する、また、期待値変更用データを生成すると、認証用データ又は期待値変更用データを有する認証情報を生成し、該生成した認証情報を中間部に送信する。 - 特許庁

In the quality decision of jitter, the test control circuit 12 controls delay in signals in the window signal generating circuit 11 for setting the window width to a jitter specification value, thus detecting whether the signal change edge in the clock signal DCLK for comparison is within the window by a comparison circuit 13.例文帳に追加

ジッタの良否判定ではテスト制御回路１２はウィンドウ信号生成回路１１内における信号の遅延を制御してジッタ規格値にウィンドウ幅を設定し、比較回路１３により比較用クロック信号ＤＣＬＫの信号変化エッジがウィンドウ内にあるか否かを検出する。 - 特許庁

To provide a drive device for a flat panel type display that advance test/analysis are simplified, assembly is facilitated, productivity and product reliability are improved by using in common circuit substrates of drive control parts driving respective display electrodes of X, Y.例文帳に追加

Ｘ・Ｙの各表示電極を駆動する駆動制御部の回路基板を共通化することにより、事前の試験・解析の簡略化、組立て容易化、生産性向上及び製品の信頼性向上を図ることができるフラットパネル型ディスプレイの駆動装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leased line terminating device and a state restoring method for the same, which prevent state inconsistency between a terminating device on the control side and that on the controlled side to improve maintainability even in the case of occurrence of a line fault during a remote loop back test.例文帳に追加

リモート・ループバック試験中に回線障害が生じた場合であっても、制御側の終端装置及び被制御側の終端装置で状態の齟齬が生じず保守性を向上させることができる専用回線終端装置及び当該装置の状態復帰方法を提供する。 - 特許庁

Further, since an optical disk control(ODC) chip 10 being an object for inspection is provided with the format information of the reproduced data, the evaluation board 20 capable of automatically producing the test data is supplied at a low cost with the a simple constitution by obtaining the timing for substituting for the error data from the ODC chip 10.例文帳に追加

さらに、検査対象であるＯＤＣチップ１０は、再生データのフォーマット情報を持っているので、そのＯＤＣチップ１０からエラーデータに置換するタイミングを取得することにより、テストデータを自動生成可能な評価ボード２０を簡略な構成で低コストで供給可能とする。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

An address setting control part 11 in the receiver 1 displays a transition screen for an address setting mode when it is recognized that the address of the analog fire sensor 3-5 making an alarm as a test alarm and the like is the disabled address, and then, the address setting operation for the analog fire sensor 3-5 is allowed.例文帳に追加

受信機１のアドレス設定制御部１１は、試験などにより発報したアナログ火災感知器３−５のアドレスが使用禁止アドレスであることを認識した場合に、アドレス設定モードの移行画面を表示し、アナログ火災感知器３−５のアドレス設定操作を可能とする。 - 特許庁

In a semiconductor memory device in which write-in and read- out of data are performed for a memory array in accordance with address information, the device is provided with an address converting circuit 23 generating new address information by performing some change for one part or all of the address information in accordance with a control signal for test.例文帳に追加

アドレス情報に応じてメモリアレイに対してデータの書き込み及び読み出しが行われる半導体集積回路において、テスト用制御信号に応じて、アドレス情報の一部又は全てに一定の変更を施して新たなアドレス情報を生成するアドレス変換回路２３を設ける。 - 特許庁

On one surface of the control substrate 4 in multi-layered structure mounted with the circuit driving the liquid crystal panel, a chip mounted component, a silk display of the outside drawing of the chip mounted component, a land 21 for the chip mounted component, a silk display of a reference number, and a test land 22 for inspection are provided.例文帳に追加

液晶パネルを駆動する回路を搭載した多層構造のコントロール基板４の片面に、チップ実装部品と、チップ実装部品の外形図のシルク表示と、チップ実装部品のランド２１と、リファレンス番号のシルク表示と、検査用のテストランド２２とを設けるようにする。 - 特許庁

Repaired, replaced, or extended hardware is disconnected from the main OS 8, and the operation of repaired, replaced, or extended hardware is confirmed by a test and maintenance program 10 of the sub-OS 9 while the main OS 8 executes normal processing, and thereafter, the control of hardware is transferred to the main OS 8.例文帳に追加

修理，交換，増設されたハードウェアをメインＯＳ８から切り離し、メインＯＳ８が通常の処理を実行している状態で、サブＯＳ９のテスト＆メンテナンスプログラム１０によって、修理，交換，増設されたハードウェアの動作を確認した後、ハードウェアの制御をメインＯＳ８に制御を引き渡す。 - 特許庁