| 意味 | 例文 |
control testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2117件
The SRAM is provided with memory cells 10, and a control circuit 30 in which a signal level of a signal to be used for accessing the memory cell 10 is changed and disturbance is applied to the memory cell 10 during a test mode and a normal mode.例文帳に追加
本発明によるSRAMは、メモリセル10と、テストモード時、通常モード時においてメモリセル10へのアクセスに利用される信号の信号レベルを変更し、メモリセル10に対してディスターブをかける制御回路30とを具備する。 - 特許庁
The card strength test can be completed by one device by installing a bending testing unit in juxtaposition in the torsion testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加
また、曲げ試験ユニットをねじり試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁
The card strength test can be completed by one device by installing a torsion testing unit in juxtaposition in the bending testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加
また、ねじり試験ユニットを曲げ試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁
A row system control circuit 46 comprises a selector 62 outputting either of signals INTSIG, ZRXTRST as a signal ZRXTRSTD in accordance with a test signal TEST, and a holding circuit 64 receiving a signal ZRXTS at an A input, receiving a signal ZRXTRSTD at a B input, and outputting a word line activating signal RXT from an output node OUT.例文帳に追加
ロウ系制御回路46は、テスト信号TESTに応じて信号INTSIG,ZRXTRSTのいずれか一方を信号ZRXTRSTDとして出力するセレクタ62と、信号ZRXTSをA入力に受け、信号ZRXTRSTDをB入力に受け出力ノードOUTからワード線活性化信号RXTを出力する保持回路64とを含む。 - 特許庁
The synchronization control means 2 is constituted of an external circuit which distributes/outputs a clock signal CLK from a testing apparatus body 1 to the plurality of semiconductor integrated circuits, receives respective test result outputs from the plurality of semiconductor integrated circuits, and suspends outputting of the distributed clock signal CLK, from respective test result output timings to the slowest timing.例文帳に追加
同期化制御手段2は、テスト装置本体1からのクロック信号CLKを複数の半導体集積回路に分配して出力するとともに、複数の半導体集積回路から夫々テスト結果の出力を受け付けて、分配したクロック信号CLKの出力を各テスト結果の出力タイミングから最も遅いタイミングまで停止する外付け回路で構成されている。 - 特許庁
The control apparatus 2 includes: a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by testing condition setting means for setting the testing conditions and execution instruction means for giving instructions for executing the test; and a converter section 21 serving as converting means by which the first data thus collected is converted into second data low in redundancy.例文帳に追加
制御装置2は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第1のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部20と、収集された第1のデータを冗長度が少ない第2のデータに変換する変換手段としてのコンバータ部21とを備える。 - 特許庁
A semiconductor device comprises: a plurality of data input/output terminals DQ0 to DQn and a strobe terminal DQS which are electrically connected in common by a test probe 6a; a command address terminal CA connected to the test probe 6b; and an output control circuit 31 for performing selection of data output circuits 10 to 1n on the basis of a signal input to the command address terminal CA.例文帳に追加
試験プローブ6aによって電気的に共通接続される複数のデータ入出力端子DQ0〜DQn及びストローブ端子DQSと、試験プローブ6bに接続されるコマンドアドレス端子CAと、コマンドアドレス端子CAに入力される信号に基づいて、データ出力回路10〜1nの選択動作を行う出力制御回路31と、を備える。 - 特許庁
This frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload is provided with a workload case constitution utility interface including a function for allowing a frame work to call the workload constitution utility of a third party and a workload interface including a function for the setup and control and monitor of the workload for the purpose of defining a workload case according to various test targets.例文帳に追加
本発明は、混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を開示し、これは、様々なテスト目的でワークロード・ケースを定義するために、フレームワークにサード・パーティのワークロード構成ユーティリティを呼び出させる機能を含むワークロード・ケース構成ユーティリティ・インターフェースと、ワークロードのセットアップ、制御、および監視の機能を含むワークロード・インターフェースとを含んでいる。 - 特許庁
In this object detecting device for detecting a specific object from an input image, a test image group 236 including an object to be detected in an image is corrected according to the detection illuminance of an illuminance detecting part 22 by a test vector correcting part 233, and set in an object detecting part 21 under the control of a detection rate adjusting part 23.例文帳に追加
入力画像の中から特定の物体を検出する物体検出装置において、検出率調整部23による制御の下に、検出対象の物体を画像中に含むテスト画像群236を用い、当該テスト画像群236をテストベクター補正部233で照度検出部22の検出照度に応じて補正して物体検出部21に設定する。 - 特許庁
The scalability test system is provided with a plurality of application running devices for running application composed of a plurality of sets of software components, and a component flow control part for changing a number of software components to be executed corresponding to one request applied from a virtual request generator to the application corresponding to the contents of the test and making the application running device run the components.例文帳に追加
スケーラビリティ試験システムは、複数のソフトウェア構成要素の組からなるアプリケーションを実行するための複数のアプリケーション実行装置と、該アプリケーションに対し仮想リクエスト発生装置から与えられた一のリクエストに対するソフトウェア構成要素の実行数を、試験の内容に応じて変更してアプリケーション実行装置に実行させるコンポーネントフロー制御部を備える。 - 特許庁
A network control device 17 or 25 is designed in such a manner that the registered information inputted from a keyboard contains an installation information which indicates establishment, extension or alteration of the image forming device on the network 16 or 24 and, furthermore, when the instruction of the communication test is received, performs a communication test for determining the connection with the image forming device which is established, extended or altered.例文帳に追加
ネットワーク管理装置17(又は25)は、キーボードから入力された登録情報がネットワーク16(又は24)上の画像形成装置の新設,増設,変更を示す設置情報を含むものであり、更に通信テストの指示があったとき、ネットワーク16上の新設,増設,あるいは変更された画像形成装置との接続確認のための通信テストを実行する。 - 特許庁
Among them, M and N are natural numbers, and the second storage cells and the first transistors control whether the open circuit is formed between the corresponding bit line and sense amplifier, or not, and a write-in of a test result of the nonvolatile memory array is carried out by the second transistor and the enable line.例文帳に追加
その中で、MとNは自然数であって、第2記憶セルと、第1トランジスタは、対応するビット線とセンス増幅器の間が開路であるか否かを制御し、第2トランジスタとエネイブル線とは、不揮発性メモリアレイのテスト結果を書き込む。 - 特許庁
The false magnetic plaster is stuck to and indwelled on the skin with the plaster and has a same external appearance, however, it has no magnetism so as to provide control data in the double blind test for providing a clinical evidence for the magnetic therapy.例文帳に追加
また、偽磁気絆創膏によれば、絆創膏により皮膚に貼り付けられて留置された状態で、外観は同じであるが、磁気を持たないので、磁気治療に臨床的エビデンスをもたらす二重盲検試験にてコントロールデータを得ることが可能となる。 - 特許庁
To eliminate dependency on the environmental temperature and perform constant temperature difference control in a thermal flow sensor constituted in such a way as to detect the flow rate of a test fluid through the use of a heat resistor and a thermometric resistor.例文帳に追加
発熱抵抗体および測温抵抗体を用いて被検流体の流量検出を行うように構成された熱式流量センサにおいて、環境温度に対する依存性を排除した上で、定温度差制御を行えるようにする。 - 特許庁
Thereafter, by changing preemphasis strength in a prescribed range from the coarse adjustment value by a fine adjustment control part 15 and obtaining the receivable range of test signals in a reception propriety judgement part 13, the preemphasis is finely adjusted and the preemphasis strength is adjusted.例文帳に追加
その後、微調整制御部15により、粗調整値から所定範囲でプリエンファシス強度を変化させ、受信可否判定部13で、テスト信号の受信可能範囲を求めることで、プリエンファシスを微調整して、プリエンファシス強度を調整する。 - 特許庁
At a burn-in test, each read selection gate 20, each write selection gate 30, a write control circuit, and a sense amplifier 50 are activated, and a read-data bus pre-charge equalizing circuit 70 and a global read-data bus pre-charge equalizing circuit 80 are non-activated.例文帳に追加
バーンイン試験時に、各読出選択ゲート20、各書込選択ゲート30、書込制御回路40、およびセンスアンプ回路50は活性化され、リードデータバスプリチャージ・イコライズ回路70およびグローバルリードデータバスプリチャージ・イコライズ回路80が非活性化される。 - 特許庁
In a material testing machine body 100, a load is applied to a specimen by a load device 101a, and a test force or a displacement at that time is detected by a load cell 101b and a displacement gage 101c, and the detection result is outputted to a control device 103.例文帳に追加
材料試験機本体100は、負荷装置101aによって供試体に負荷を与え、そのときの試験力あるいは変位量をロードセル101bおよび変位計101cで検出し、検出結果を制御装置103へ出力する。 - 特許庁
At the time of test, the transistor T1 is turned on by an offset effective signal OC1, an offset addition control signal OPL1 is pulled from low level to high level, and an offset adding voltage from the capacitor CD1 is superposed on the bit line BLNk through the transistor T1.例文帳に追加
試験時には、オフセット有効信号OC1 によりトランジスタT1 をオンとし、オフセット付加制御信号OPL1 を、例えばローレベルからハイレベルとし、キャパシタCD1によるオフセット付加電圧をトランジスタT1 を介してビット線BLNk に重畳させる。 - 特許庁
When a turn instruction signal outputted when an automatic brake system loaded on the test vehicle is operated is inputted into a control device 22, the driving mechanism 52 is operated, and thereby the pole member 51 is turned from the first position to the second position.例文帳に追加
試験車両に搭載された自動ブレーキシステムが作動したときに出力される旋回指示信号が制御装置22に入力されると、駆動機構52が作動することにより、ポール部材51が前記第1の位置から第2の位置に旋回する。 - 特許庁
The period of an invalid state of this modified test signal can be adjusted, and the setup time/holding time of the signal for the memory can be measured by monitoring variation timing of this non-synchronous control signal PTX by an external tester.例文帳に追加
この修飾テスト信号の無効状態の期間を調整することができ、応じてこの非同期制御信号PTXの変化タイミングを外部のテスタでモニタすることにより、メモリに対する信号のセットアップ時間/ホールド時間を測定することができる。 - 特許庁
The verification tool 221 creates a test script 241 for performing the operation verification of the IC chip 311 by using default data 231 and script parametric 232, generates an SAM setting script 244 in order to operate an SAM 271, and supplies them to the SAM control tool 222.例文帳に追加
検証ツール221は、デフォルトデータ231およびスクリプトパラメータ232を利用してICチップ311の動作検証を行うテストスクリプト241を生成し、SAM271を稼動させるためにSAM設定スクリプト244を生成し、SAM制御ツール222に供給する。 - 特許庁
At a scan test time, a clock control part 10 supplies independently controlled clocks CK42 and CK43 to the scan chains 42 and 43, whereby the scan chains 42 and 43 operate independently of each other at any operation of shift-in, capture and shift-out.例文帳に追加
スキャンテスト時に、クロック制御部10は両スキャンチェーン42,43にそれぞれ独立に制御されたクロックCK42,CK43を供給し、シフトイン、キャプチャ、シフトアウトのいずれの動作においても、両スキャンチェーン42,43が互いに独立に動作する。 - 特許庁
An image forming apparatus includes, for example, a transfer body, a density sensor for detecting the density level of an image on the transfer body, and a density control means for controlling the density in accordance with the density level of a test image formed on the transfer member.例文帳に追加
画像形成装置は、例えば、転写体と、転写体上における画像の濃度レベルを検出する濃度センサと、転写体上に形成された試験画像の濃度レベルに応じて濃度を制御する濃度制御手段とを含む。 - 特許庁
The switching of the normal application state and the test state is implemented by a voltage input to a battery connecting terminal of the charge/discharge control circuit by using a voltage detection circuit that detects a voltage higher than an overcharge detection voltage of a secondary battery.例文帳に追加
二次電池の過充電検出電圧より高い電圧検出回路を用いて、充放電制御回路の電池接続端子に入力された電圧によって、通常応用状態とテスト状態のいずれかに切り替えが可能になる。 - 特許庁
The inkjet recording device includes: a detection means 414 that detects either an environmental temperature or environmental humidity in which the recording device body 1 is placed; and a control means 401 that controls the inkjetting amount to the test pattern.例文帳に追加
インクジェット記録装置には、記録装置本体1が設置されている環境温度と環境湿度の少なくとも一方を検出する検出手段414と、テストパターンへのインク打込み量を制御する制御手段401とが備えられている。 - 特許庁
To prevent reflection of light and an acoustic wave at a surface of a test part and to achieve accuracy control of a photoacoustic wave diagnostic apparatus by providing a medium whose light propagation properties and sound propagation properties are similar to those of human tissues and which hardly deteriorates.例文帳に追加
光伝播特性と音響伝播特性が人体組織に近く、劣化しにくい媒質を提供することにより、被検部表面における光や音響波の反射を防ぎ、また、光音響波診断装置の精度管理を実現する。 - 特許庁
Thereafter, the control part (6) closes the outlet damper (3) when the detection temperature of the temperature sensor (5) falls down to the target temperature and changes over the cool air supply switches (41 and 42) to states that cool air is not supplied into the test tank (10) to stop the blower (2).例文帳に追加
その後、制御部(6)は、温度センサ(5)の検出温度が目標温度まで下がったときに、出口ダンパ(3)を閉じ、冷気供給切替部(41,42)を冷気が試験槽(10)内に供給されない状態に切り替え、通風機(2)を停止させる。 - 特許庁
The I/O power supply control unit generates a voltage decrease signal if a response signal A indicates that the test signal A is received correctly, otherwise generates a voltage increase signal.例文帳に追加
I/O電源制御部は、応答信号Aがテスト信号Aが正しく受信されたことを示す場合に電圧減少信号を生成し、応答信号Aがテスト信号Aが正しく受信されないことを示す場合に電圧増加信号を生成する。 - 特許庁
The high-frequency integrated circuit test apparatus 2 is provided with a circuit generating an AGC (anto gain control) signal 53 based on a difference value between the IF (intermediate frequency) signal of the high frequency integrated circuit 10 and a prescribed level and feeding it back to the high frequency integrated circuit 10.例文帳に追加
高周波集積回路テスト装置2において、高周波集積回路10のIF信号と所定のレベルとの差分値に基づいて、AGC信号53を作成し、高周波集積回路10にフィードバックする回路を設ける。 - 特許庁
To provide a packet transfer system or the like capable of properly monitoring a flow of packets at low cost without increasing the processing load even in the case of adopting the observation type reception control under the leadership of terminals for transferring test and preferential packets whose priorities differ from each other.例文帳に追加
互いに優先度の異なる試験パケット及び優先パケットの転送が行われる端末主導の観測型受付制御の場合においても、処理負荷を増大させることなく、かつ適正に安価にパケットの流量を監視する。 - 特許庁
When data for test print are transmitted from the terminal T1-T2, a control unit 19 of the image forming apparatus 10 stores in a storage unit 14 terminal data (IP address, terminal name and the like being set to the terminal) to be transmitted together with the data.例文帳に追加
画像形成装置10の制御部19は、端末T1〜T2からテスト印刷用のデータが送信されてきたときに、そのデータとともに送信される端末データ(端末に設定されるIPアドレス、端末名等)を記憶部14に記憶する。 - 特許庁
The game machine is provided with an initial process for determining whether the check signal is outputted from the second driver part 62 or not and a skip process for performing control so that the trial shooting test signal is not outputted when the check signal is not recognized by a first means.例文帳に追加
第2ドライバ部62からチェック信号が出力されているか否かを判定する初期処理と、第1手段がチェック信号を認識できない場合には、試射テスト信号を出力しないよう制御するスキップ処理を備える。 - 特許庁
In the test mode, the control part 2 executes the designated operation pattern by measuring a time from the execution start time to the execution end time decided by the measurement pattern made correspond to the operation pattern at the speed decided by the measurement pattern.例文帳に追加
制御部2は、テストモード時には、指定された運行パターンを、当該運行パターンに対応付けられた計時パターンで定められた実行開始時刻から実行終了時刻までの間を、当該計時パターンで定められた速さで計時して、実行する。 - 特許庁
To maintain the temperature in the area of a filter within a tight range without adversely affecting the precision of a test in an active filter temperature control system and method for controlling the temperature of a particulate filter.例文帳に追加
微粒子フィルタの温度を制御する能動的フィルタ温度制御方法と装置において、テスト精度に悪影響を与えずに、フィルタ領域の温度を厳格な範囲内に維持可能な能動的フィルタ温度制御システム及び方法を提供する。 - 特許庁
The phase conversion circuit 32 that receives the parallel data 20f generates test purpose parallel data 20h with a phase optionally selected among n-kinds of phases and gives the data 20h to the frame processing circuit 19 via a parallel data control circuit 18.例文帳に追加
この位相変換回路32では、この並列データ20fをn通りある位相の中から任意に選択した位相のテスト用並列データ20hを生成し、並列データ切替回路18を介してフレーム処理回路19へ入力する。 - 特許庁
The wireless communication test-use measurement device 50 which measures wireless communication performance of a wireless block 61 transmits control information for controlling transmission/reception processing of a wireless signal by the wireless block 61 to the wireless block 61 by the wireless signal.例文帳に追加
無線ブロック61の無線通信性能を測定する無線通信試験用測定装置50は、無線ブロック61による無線信号の送受信処理を制御する制御情報を無線ブロック61に対して無線信号により送信する。 - 特許庁
The test apparatus of the fuel cell 1 comprises a humidifying means 33 for humidifying the fuel gas fed to the fuel cell 1, a dew point measuring means 46 for measuring the dew point of the humidified fuel gas, and a control means.例文帳に追加
燃料電池1の試験装置を、燃料電池1に供給される燃料ガスを加湿する加湿手段33と、加湿された燃料ガスの露点温度を計測する露点温度計測手段46と、制御手段とを備える構成とする。 - 特許庁
Then, communication between the portable telephone 30 and the portable telephone 40 is tested while the mobile phone 30 is made to operate the mobile phone 40 by allowing a control circuit 34 of the mobile phone 30 to perform the communication test program.例文帳に追加
そして、この通信試験用プログラムを携帯電話30の制御回路34に実行させることで、携帯電話30に携帯電話40の操作を行わせながら、携帯電話30と携帯電話40相互間の通信試験を行う。 - 特許庁
At this point, the travel of an electronic control valve 61 provided at an air intake port 26 of the chamber 20 is controlled with a controller 63 to maintain the pressure in the chamber 20 at a test pressure while the pressure in the chamber 20 is detected with a pressure sensor 62.例文帳に追加
このとき、チャンバ20内の圧力を圧力センサ62で検出しつつ、チャンバ20の空気取入口26に設けた電子制御バルブ61の開度をコントローラ63で制御することにより、チャンバ20内の圧力を試験圧力に維持する。 - 特許庁
Then, when the space value turns into the value which is not originally present, 15T, for example, the control part 24 decides that the test data are incorrectly recorded, and substitutes the upper limit for the jitter value in the recording power to prevent the incorrect determination of the optimum recording power.例文帳に追加
そこで、制御部24は、スペース値が本来存在しない値、例えば15Tとなった場合には、テストデータが誤記録されたものと判定し、当該記録パワーーにおけるジッタ値を上限値に置き換えて最適記録パワーの誤決定を防止する。 - 特許庁
A control means of the camera 65 checks the state of suction of the component from an image of the component imaged by the camera 65, and controls the heads 48 and 52, so as to position the component at the test head 4 by coupled with state of suction.例文帳に追加
この部品試験装置1の制御手段は、第1部品認識カメラ65により撮像した部品画像から該部品の吸着状態を調べ、この吸着状態を加味して部品をテストヘッド4に位置決めするようにヘッド48,52を制御する。 - 特許庁
This device is provided with: an electric power supply voltage change means provided in the power source part and changing electric power supply voltage; and a control part outputting command to change electric power supply voltage to the electric power supply voltage change means at a time of diagnosis of the test part.例文帳に追加
本装置は、電源部に設けられ、給電電圧を変動させる給電電圧変更手段と、試験部の診断時に、給電電圧を変動させる指令を給電電圧変更手段に出力する制御部と、を備える装置である。 - 特許庁
The driving command value determining rule of the control device is corrected so as to make an actual relationship, which is a relationship between the plurality of the test driving command values and the actual rolling angle corresponding amount, equal to a predetermined standard relationship (S11, S34, S46).例文帳に追加
複数ずつのテスト用駆動指令値と実ローリング角対応量との関係である実関係が、予め設定されている標準関係と等しくなるように、制御装置の駆動指令値決定規則を補正する(S11,S34,S46)。 - 特許庁
To provide an electronic music processor, an electronic music reproducer, and an electronic music distribution system and its method which enable test listening and is applicable to uncompressed music contents and enables control of sound quality for each frequency band.例文帳に追加
試聴可能であり、しかも圧縮を行っていない音楽コンテンツにも適用でき、さらに周波数帯域ごとに音質を制御可能にした、電子音楽加工装置、電子音楽再生装置、電子音楽配信システム及びその方法を提供する。 - 特許庁
The control circuit controls the circuit to be controlled in response to the state of the fuse circuit when a normal mode (TS) is indicated, and controls the circuit to be controlled in response to the state of the fuse circuit and the input signal (CS) when a test mode (TS) is indicated.例文帳に追加
制御回路は、通常モード(TS)が指示されるとヒューズ回路の状態に応じて被制御回路を制御し、テストモード(TS)が指示されるとヒューズ回路の状態及び入力信号(CS)に応じて被制御回路を制御する。 - 特許庁
A data fetch control part 2 changes a raster size and makes color CRT 6 display inversely a test pattern formed by arranging a plurality of dots generated by a signal generator 4, so that positions of light-emitting fluorescent substances in the dots are different from one another among the dots.例文帳に追加
データ取込制御部2はラスタサイズを変更して信号発生器4で発生した複数個のドットを配列してなるテストパターンをドット内の発光螢光体の位置がドット間で互いに異なるようにカラーCRT6に反転表示させる。 - 特許庁
To provide a probing apparatus for sufficiently and automatically performing probing even when the pitch between measuring points on an measurement object is narrow with an inexpensive constitution and easy control, in an electric characteristic test of an electronic component requiring multiple point waveform measurement.例文帳に追加
多点波形測定を必要とする電子部品の電気特性試験において、安価な構成で、かつ簡易な制御によって、被測定物測定点間が狭ピッチであっても、問題なく自動的にプロービングが可能なプロービング装置を得ること。 - 特許庁
To provide a remote control system that conducts a loopback test and setting revision such as increase/decrease of speed without a maintenance personnel to visit to an installed place of network terminators even when both network terminators are installed in unattended stations where no maintenance/ operation personnel is resident and in operation.例文帳に追加
両方の網終端装置が保守・運用者が駐在していない無人局に置かれて運用される場合にも、該当網終端装置の設置場所に保守員が行かずに、ループバック試験や速度の増減速など設定変更を行う。 - 特許庁
The semiconductor random access memory having a complex shape is provided with a ROM device storing an all latent row data pattern to be input to a memory cell array during test procedure, a variable step address generator, a comparing device, and a control device.例文帳に追加
複雑な形状を持つ半導体ランダムアクセス・メモリが、試験手順の間に記憶セル・アレイに入力すべき悉くの潜在的な行データ・パターンを記憶するROM装置、可変ステップ・アドレス発生器、比較装置及び制御装置を備えている。 - 特許庁
To provide the setting and registration device for a monitor terminal by which setting registration conducted at start of monitoring of a monitor terminal and discrimination of a test report after that are conducted correctly and quickly without troubling a controller of an integrated control station.例文帳に追加
監視端末の監視動作開始時に行われる設定登録作業やその後の試験発報の判定を統括管制所の管制員の手を煩わせずに正しく速やかに行うことができる監視端末の設定登録装置を提供する。 - 特許庁
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