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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > control testの意味・解説 > control testに関連した英語例文

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control testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2117



例文

An access range and a branch range in a test program are specified by an operating means 6, an instruction in the specified access range/ branch range is generated, an insert position for the check point instruction is specified, and the check point instruction is inserted in a position designated by a check point instruction insert position control means 3a.例文帳に追加

操作手段6によりテストプログラムにおけるアクセス範囲、分岐範囲を指定し、指定されたアクセス範囲/分岐範囲の命令を生成したり、チェック・ポイント用命令の挿入位置等を指定し、チェック・ポイント用命令挿入位置制御手段3aにより指定された位置にチェック・ポイント用命令を挿入する。 - 特許庁

A control circuit CTL makes at least one of the plurality of switches turned on according to an input address in a test mode, in order to make a current flow across the 2nd and 3rd power source lines via a bit line, corresponding to the memory cell indicated by the input address, a latch circuit and the transfer transistors in the memory cell.例文帳に追加

制御回路CTLは、テストモード時に、入力アドレスが示すメモリセルに対応するビット線とそのメモリセル内のラッチ回路および転送トランジスタとを介して第2および第3電源線間に電流を流すために、入力アドレスに応じて複数のスイッチの少なくともいずれかをオンさせる。 - 特許庁

This administration method includes a stage for operating a moving device so that an administration tube 2 is separated from a rest position and moved to an operation position, and a stage for operating an administration control device so that a specified amount of fluid is supplied into a receptacle channel 4 of the test element 6 from an administration chamber through the administration tube 2.例文帳に追加

投与方法は、投与チューブ2が休止位置を離れて動作位置に移動するよう移動装置を作動させる段階、および規定量の流体が、投与チャンバから投与チューブ2を介してテストエレメント6の受承流路4内に供給されるよう投与制御装置を作動させる段階を含む。 - 特許庁

The data control unit 4 outputs the parallel data inputted to the plurality of terminals DQ0 to DQ3 to the plurality of drive units SA0 to SA3 in the normal operation mode, and converts the serial data inputted to the terminal DQ0 to parallel data and outputs the parallel data after conversion to the plurality of drive units SA0 to SA3 in the test mode.例文帳に追加

データ制御部4は、通常動作モードでは、複数の端子DQ0〜DQ3に入力されたパラレルデータを、複数の駆動部SA0〜SA3に出力し、テストモードでは、端子DQ0に入力されたシリアルデータを、パラレルデータに変換し、変換後のパラレルデータを、複数の駆動部SA0〜SA3に出力する。 - 特許庁

例文

A sound input output power level measuring apparatus 10 included in an automatic test system 1 is configured of a digital oscilloscope 32, a simulated sound processor 41, control PCs 5 and a bus controller 6, and measures with the digital oscilloscope 32 the sound input output power level of a sound processor K10 connected to a BOX 2 for connecting an instrument to be tested.例文帳に追加

自動試験システム1が備える音声入出力レベル測定装置10は、デジタルオシロスコープ32,擬似音声処理器41,制御PC群5,及びバスコントローラ6を含んで構成されており、供試器接続用BOX2に接続された音声処理器K10の音声入出力レベルを、デジタルオシロスコープ32で測定する。 - 特許庁


例文

To provide a control system capable of producing its device within a comparatively short period if basic conditions are fixed in a certain degree, further, quickly dealing with a change request at the time of test and easily dealing with the changes of various conditions after the system starts its operate.例文帳に追加

ある程度の基本条件が固まっていれば比較的短い納期での装置製作を可能にし、さらに、試験時の変更要求に対するクイックな対応を可能にすると共に、システム稼働後における各種条件の変更についても、容易に対応が可能となる管制装置の提供を目的としている。 - 特許庁

The data controller (16) receives text and EPG information from one or many permission data sources 20 through a communication connection, processes the received data with the internal database managing device of the controller (16), performs data compression and subsequently transmits the test information to the viewers under the control of a head end controller (34).例文帳に追加

データコントローラー(16)は、1つまたは多数の許可データソース20からのテキストおよびEPG情報を通信連結を通して受け取り、この受け取ったデータをそれの内部データベース管理装置で処理してデータ圧縮などを実施した後、ヘッドエンドコントローラー(34)のコントロール下で上記テキスト情報をその視聴者に伝える。 - 特許庁

To execute an accurate test by providing a liquid crystal driving device 31 equipped with a discharging resistance 41 for discharging the residual charge of a boosting circuit 40 in a chip, since an after-image is displayed when a power is turned off, wherein the discharging resistance 41 is non-controlled for control or the simplification of the circuit.例文帳に追加

電源オフ時に、チップ内の昇圧回路40に電荷が残存していると、残像が表示されてしまうので、その残存電荷を放電する放電抵抗41を設け、かつ制御や回路の簡略化のために前記放電抵抗41が非制御となっている液晶駆動装置31において、正確な試験を行う。 - 特許庁

To provide a test technique capable of evaluating an analog circuit with high accuracy by use of an internal circuit in an analog-digital mixed semiconductor integrated circuit, having analog circuits including an digital-to- analog converter (DAC), an analog-to-digital converter (ADC), etc., and digital circuits including a digital control signal generator, a digital waveform generator, etc.例文帳に追加

DA変換回路やAD変換回路などのアナログ回路とディジタル制御信号発生回路ディジタル波形生成回路などのディジタル回路を内蔵したアナログ・ディジタル混載の半導体集積回路において、内部回路を利用してアナログ回路を高い精度で評価することができるテスト技術を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a remote control type leakage breaker which can prevent burning of a test switch even if a low cost leakage detector is used, and does not have burning of a tripping coil even if electric current continues flowing into the tripping coil, and which facilitates measuring work of insulating resistance of a load.例文帳に追加

安価な漏電検出装置を用いてもテストスイッチを押しつづけることによるテストスイッチの焼損を防止できるとともに引外しコイルに電流が流れ続けて引外しコイルが焼損するようなことがなく、かつ、負荷の絶縁抵抗を測定する作業が容易となるリモートコントロール式漏電遮断器を提供する。 - 特許庁

例文

A clutch is omitted from between a motor 4A and a pulley 4D into a regularly connected state, and thereby a backlash portion of a gear 4C is prevented from entering as an error between a motor rotation position and a rotation angle of the pulley is removed, and throttle opening control can be restarted with high accuracy at a power failure occurrence time and at a preceding test time.例文帳に追加

モータ4Aとプーリー4Dの間からクラッチを省いて常時結合状態にすることで、モータ回転位置とプーリーの回動角度との間にギヤ4Cのバックラッシュ分が誤差として入り込むことが無くなり、停電発生時および次回の試験時に高い精度でスロットル開度制御を再開可能にする。 - 特許庁

An indoor face side of at least a part of the entire structure including a wall structure 7a, a ceiling structure 7b and a floor structure 7c of the test room 7 is composed of a platy heat exchanger 9 for heating or cooling at least a part of the entire structure according to a target control temperature by temperature-conditioned air from an air conditioner 3.例文帳に追加

試験室7の壁構成体7a・天井構成体7b・床構成体7cを含む全構成体の少なくとも一部の室内面側を、空気調和機3からの調温空気による目標制御温度に応じて前記少なくとも一部を加熱もしくは冷却する板状の熱交換器9で構成する。 - 特許庁

The LBIST controllers 120 of one or more are constituted so as to control the operation of the LBIST circuit arrangement 110 in one or more circuits under test and so as to operate to a desired temperature level, while receiving one or more signals which show the temperature from one or more thermal sensors 130.例文帳に追加

1つ以上のLBISTコントローラ120は、1つ以上の熱センサ130からの温度を示す1つ以上の信号を受信すると共に、温度を所望のレベルへ駆動するように、1つ以上のテスト中の回路内のLBIST回路構成110の動作を制御するように構成される。 - 特許庁

The acoustic device is given test signals whose amplitude components are equal for every channels, and furthermore, frequency components are different, and a control part 23 performs fourier transform for the reproduced output from the acoustic device, obtains a result of the frequency analysis, and gets acoustic pressure components, phase components, and sound volumes for every channels according to the results.例文帳に追加

音響装置には、チャネル毎にその振幅成分が等しくその周波数成分が異なるテスト信号が与えられ、制御部23は音響装置から出力される再生出力をフーリエ変換して周波数分析結果を得て、周波数分析結果に応じてチャネル毎の音圧成分、位相成分、及び音量を得る。 - 特許庁

The semiconductor memory device is equipped with: a memory block including a plurality of word lines, a plurality of bit lines and a plurality of memory cells; an oscillation circuit with a delay speed adjustment circuit to be controlled based on a test signal added thereto; and an access control circuit for sequentially accessing the plurality of memory cells based on an output of the oscillation circuit in refresh mode.例文帳に追加

半導体記憶装置は、複数のワード線と、複数のビット線と、複数のメモリセルとを含むメモリブロックと、テスト信号に基づいて制御される遅延速度調整回路が付加された発振回路と、リフレッシュモード時、発振回路の出力に基づいて複数のメモリセルを順次アクセスするアクセス制御回路と、を備える。 - 特許庁

In this semiconductor storage device, only the sense amplifiers SA1-SAn are activated in the process 2 for the disturbance cell without activating a column system (the switch part YSW4 and input/output control circuit IOC), so that a test time can be shortened as much as no read of the data from the disturbance cell.例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置によれば、処理2において、ディスターブセルに対して、カラム系(スイッチ部YSW4、入出力制御回路IOC)を活性化させないで、センスアンプSA1〜SAnのみ活性化させることにより、ディスターブセルからデータを読み出さない分だけ、テスト時間を短縮できる。 - 特許庁

To perform an irradiating test on a large number of irradiating samples at the same temperature under a constant temperature condition by providing a self-temperature control function while being an uninstrumental type, reducing a shaft directional temperature gradient, and restraining a temperature change in the irradiating samples caused by an output change in a nuclear reactor.例文帳に追加

無計装タイプでありながら自己温度制御機能を有し、軸方向の温度勾配を低減すると共に、原子炉の出力変動などに伴う照射試料の温度変動を抑え、それによって多数の照射試料を同一温度且つ一定温度条件下で照射試験を実施できるようにする。 - 特許庁

The difference voltage between the output voltage of a battery voltage memory circuit 41 for storing the voltage of a secondary battery 12 and the output voltage of a direct current voltage source 42 is added to the voltage between an anode input/output terminal 16 and a cathode input/output terminal 17, which is input to a control circuit 13 as a test voltage.例文帳に追加

二次電池12の電圧を記憶する電池電圧記憶回路41の出力電圧と直流電圧源42の出力電圧との差電圧を正極入出力端子16と負極入出力端子17との間の電圧に加算して制御回路13に検査電圧として入力する。 - 特許庁

A parameter monitoring part 6 compares a change parameter value with a set parameter value of the input terminal of the change target and outputs a stop detection signal informing the test program control part 4 about detection of the break point when coincidence of the set parameter value set as the break point with the change parameter value is detected.例文帳に追加

パラメータ監視部6は、変更パラメータ数値と、変更対象の入力端子の設定パラメータ数値とを比較し、ブレークポイントとして設定された設定パラメータ数値が変更パラメータ数値とが一致したことを検出した場合、試験プログラム制御部4に対して、ブレークポイントの検出を通知する停止検出信号を出力する。 - 特許庁

The control part 10 makes an injury/disease name display part 2001 of a medical examination information display screen 2000 display the injury/disease name information of the electronic medical record data 11c, and makes a test information display part 2003 display eyesight value information or intraocular pressure information, and makes a thumb nail display part 2007 display the thumb nail of the schema diagram.例文帳に追加

制御部10は、電子カルテデータ11cの傷病名情報を診療情報表示画面2000の傷病名表示部2001に表示させ、視力値情報や眼圧情報を検査情報表示部2003に表示させ、シェーマ図のサムネイルをサムネイル表示部2007に表示させる。 - 特許庁

This monitoring control system for monitoring and controlling a monitoring target facility by connecting a plurality of terminals (RS) 13 and an IG server 10 through an IP network 11 is configured to test the IC server 10 accompanied by the use of the extended terminal by using a simulation terminal 20 simulating the operation of the extended terminal.例文帳に追加

IPネットワーク11を介して、複数の端末(RS)13とIGサーバ10とが接続されて、監視対象の設備などの監視・制御を行なう監視制御システムにおいて、増設端末の使用に伴うIGサーバ10の試験を、増設端末の動作を模擬する模擬端末20を使用して行なう構成である。 - 特許庁

Thus, it is possible to comprehensively and efficiently achieve the look-ahead control logic test of the branch instructions.例文帳に追加

試験命令列生成時に、分岐命令による多重ループ命令列生成手段を設け、分岐命令を分岐あり・なしの両方向実行できるような命令列生成及び分岐ループ回数によって分岐先の命令アドレスの変更を可能とし、分岐命令の先行制御論理試験を網羅的に効率よく行えるようにする。 - 特許庁

A control part 90 forms a test pattern on a sheet of recording paper 3 by performing image forming operation for transferring a toner image on the recording paper 3, and then at least in an area for a portion worth a single period of a photoreceptor drum 62, forms a non-plotting area, on which the toner image is not formed on the recording paper 3.例文帳に追加

制御部90は、記録用紙3上にトナー像を転写する画像形成動作を行うことにより、記録用紙3上にテストパターンを形成し、次いで、少なくとも感光体ドラム62の1周分の領域で、記録用紙3上に、トナー像が形成されない非描画領域を形成する。 - 特許庁

To early detect a failure of a processor using a fact that, while one arbitrary processor starts an OS (operating system), the processor performs main control of the starting processing and only the processor becomes into a high load state, in an OFF/ON repeating test of a power source performed in the initial stage of the inspection by a multiprocessor inspection apparatus.例文帳に追加

マルチプロセッサ検査装置により検査の初期段階で行われる電源のOFF/ON繰り返し試験において、ある任意の1個のプロセッサがOSを立ち上げる間、そのプロセッサが立ち上げ処理のメイン制御を行うことにより、そのプロセッサのみが高負荷状態となることを利用して、プロセッサの故障を早期に検出する。 - 特許庁

The device test method includes a medium supply step which supplies the medium on the stage 40 for mounting the device to be tested 130, an arrangement step which arranges the device to be tested on the stage, and a temperature control step which controls the stage temperature, after the arrangement step, below the freezing temperature of the medium.例文帳に追加

デバイス試験方法は、被試験デバイス(130)を搭載するためのステージ(40)上に媒介物を供給する媒介物供給ステップと、ステージ上に被試験デバイスを配置する配置ステップと、配置ステップ後にステージの温度を媒介物の凍結温度以下に制御する温度制御ステップと、を含む。 - 特許庁

An electrostatic discharge detecting means for detecting the discharge of electrostatic electricity in a non-contact method is installed in an IC test handler, and according to the detection result detected by the means, it is judged whether electrostatic discharge damage occurs or not, and the control is conducted to store the electrostatic discharge damaged IC in the electrostatic discharge damaged tray.例文帳に追加

非接触方式により静電気の放電を検知する静電気放電検知手段を、ICテストハンドラに設置し、該手段の検知した検知結果に基づいて、静電破壊が発生したか否か判断するとともに、静電破壊したICを静電破壊トレイに収納するための制御をする。 - 特許庁

The second switch 12 is provided between the first switch 11 and a high-frequency signal generation device 21 used at a test time, and performs selectively connection between the high-frequency signal generation device 21 and the first switch 11 or connection between the high-frequency signal generation device 21 and an open terminal by control from the outside.例文帳に追加

第2スイッチ12は、第1スイッチ11とテスト時に使用される高周波信号発生装置21との間に設け、高周波信号発生装置21と第1スイッチ11との接続、または高周波信号発生装置21と開放端子との接続を、外部からの制御によって選択的に行うようになっている。 - 特許庁

The device incudes: a carriage support base 21 for holding the carriage frame; a chart support base 25 for holding a test chart; a driving means 28 for positionally moving the chart support base; a control means (controller) 30 for controlling the driving means; and a determining means (computer) 35 for comparing a read signal output from the sensor with a reference value.例文帳に追加

キャリッジフレームを保持するキャリッジ支持台21と、テストチャートを保持するチャート支持台25と、これを位置移動する駆動手段28と、この駆動手段を制御する制御手段(コントローラ)30と、センサから出力される読取信号と基準値とを比較する判別手段(コンピュータ)35とを備える。 - 特許庁

A control unit 200 defines an impulse signal outputted from an impulse generating circuit 101 as a signal to be processed, in place of an input digital audio signal from the outside, in a test mode and the data path unit 100 applies only signal processing selected from among the plurality of kinds of signal processing to the signal to be processed in each sampling period.例文帳に追加

制御部200は、テストモードでは、外部からの入力デジタル音声信号に代えて、インパルス発生回路101が出力するインパルス信号を処理対象信号とし、サンプリング周期毎に、データパス部100により、複数種類の信号処理のうち選択された信号処理のみを処理対象信号に施す。 - 特許庁

The image communication processing apparatus (FAX server 10) creates a dummy file stored as a test in a shared folder (file server 20), writes the created dummy file into the share folder via a network control section by using a set value stored in a storage area, and determines whether or not the dummy file has been normally written into the shared folder.例文帳に追加

画像通信処理装置(FAXサーバ10)は、共有フォルダ(ファイルサーバ20)にテスト格納するためのダミーファイルを作成し、作成されたダミーファイルを、記憶領域に記憶された設定値を用いて、ネットワーク制御部を介して共有フォルダに書き込み、共有フォルダへの書き込みが正常に行われたか否かを判定する。 - 特許庁

To provide a design support method and a system therefor whereby reliability of a product is secured without conducting a real test and a simulation in a design process of an electronic instrument, and which are linked to a component procurement system and a process facilities control system, and are capable of giving instructions to the component procurement and the process facilities.例文帳に追加

電子機器の設計工程において、実試験やシミュレーションを行わずとも製品の信頼性が確保される、設計支援方法及びそのためのシステムであって、部品調達システムや工程設備制御システムにもリンクされて、部品調達・工程設備への指示をも可能とするものを提案する。 - 特許庁

Fourteen of nineteen75%)and seventeen of nineteen90%scores were within plus or minus two and four points of the median, respectively. As such, it was determined that changes in ICI scores at test sites compared to an ecoregional biocriterion or to an upstream control station should be considered in a zone of insignificant departure if the ICI difference is four points or less.例文帳に追加

スコア19個のうち14個(75%),19個のうち17個(90%)がそれぞれ中央値からプラスマイナス2,4点であった。かくして,ICIスコアの差が4点未満なら,生態地域生物クライテリアまたは上流参照地点と比較した披験地点でのICIスコアにおける変化は有意でないずれの範囲内とみなされることが決定された。 - 英語論文検索例文集

The simulator 100 for a test receives site equipment condition data, interlocking logic part condition data, and abnormal information data from a logic interlocking part 12 via the transmission path of transmission standard; holds the received respective data; and performs transmission processing for transmitting the held respective data to a course control device 13.例文帳に追加

試験用シミュレータ100として、論理連動部12から、現場機器状態データと連動論理部状態データと異常情報データを伝送規格の伝送路を介して受信し、その受信した各データを保持して、保持された各データを進路制御装置13に送信する送信処理を行う構成とする。 - 特許庁

To provide a vibration control device capable of anticipating remaining days of a damping device with high degree of accuracy after the sufferings without executing any destruction test of the damping device in a state to make the interior finishing remain undetached even if big earthquake occurs by always monitoring a state of the damping device in the case of big earthquake.例文帳に追加

本発明は、常時、大地震時、制震デバイスの状態をモニタリングし、大地震時にあっても、内装を取り外さず、制震デバイスの破壊試験を行なわず、被災後の制震デバイスの余寿命を精度良く予測することが出来る制震装置及び劣化診断装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

An operation determination section 12 of the control device 10 determines an operation situation of the test device 20, a hammer driving section 13 controls operation of an actuator hammer 100, a setting input section 14 inputs an impact strength or automatic/manual setting, and a display section 16 displays inputted data or a determination result of operation.例文帳に追加

制御装置10の動作判定部12は試験装置20の動作状況を判定し、ハンマー駆動部13はアクチュエータハンマー100の動作を制御し、設定入力部14は打撃強度や自動・手動等の設定を入力し、表示部16は入力されたデータを表示したり動作の判定結果等を表示する。 - 特許庁

A potential applied to a plate line side electrode of a ferroelectric capacitor of the memory cell and a potential applied to a bit line are made the same by providing a plate line signal control circuit 28, thereby inputting the same signal to bit lines and plate lines of each memory cell when a semiconductor memory device is set to a stress test mode.例文帳に追加

半導体記憶装置がストレス試験モードに設定されるとき、各メモリセルのビット線とプレート線とに同じ信号を入力するプレート線信号制御回路28を設けることにより、当該メモリセルの強誘電体キャパシタのプレート線側電極にかかる電位とビット線にかかる電位を同一にする。 - 特許庁

To provide a current-carrying control method and heat reserving time, and a heat reserving floor heater for controlling current-carrying by using this method, requiring no acquisition of temperature data by a current-carrying test before starting use after construction, and reducing electric power consumption in a heat reserving floor heating system using a latent heat reserving material.例文帳に追加

潜熱蓄熱材を用いた蓄熱式床暖房システムにおいて、施工後使用開始前の通電試験による温度データ取得を必要とせず、消費電力が少ない蓄熱時の通電制御方法およびその方法を用いて通電制御を行う蓄熱式床暖房装置を提供する。 - 特許庁

Besides, the 1394 test substrate 100 is provided with a TS in monitor connector 131 and a TS out monitor connector 132 that fetch a stream signal flowing through between a connector 110 for debugging to be connected to the control part of the 1394 functional module and the 1394 functional module, and the host substrate, and connect the signal to a device for monitoring.例文帳に追加

また、1394試験基板100には、1394機能モジュールの制御部と接続するデバッグ用コネクタ110と、1394機能モジュールとホスト基板間を流れるストリーム信号を取り出し、モニタ用の装置に接続するTSinモニタ用コネクタ131とTSoutモニタ用コネクタ132とが設けられている。 - 特許庁

The semiconductor device has a comparator 4 comparing the output of the data input latch and the output of the data output latch with each other, a read/write control counter 5 generating read write mode switching signals by dividing a clock frequency, a means 14 reversing the data of the data input latch, and a means 8 making a refresh address counter serve also as the address generating counter of the test circuit.例文帳に追加

データ入力ラッチの出力とデータ出力ラッチの出力を比較するコンパレータ4と、クロックを分周してリードライトモード切替信号を発生させるリード/ライトコントロールカウンタ5と、データ入力ラッチのデータを反転する手段14と、リフレッシュアドレスカウンタをテスト回路のアドレス発生と兼用する手段8とを持つ。 - 特許庁

Therefore, it is characterized in that a device includes a cell array including many memory cells, a BIST block performing BIST operation for the cell array, a BISR block performing BISR operation for the cell array, and an instruction decoder generating a first control signal selecting BIST operation by the BIST block or a test by the external tester and a second control signal controlling BISR operation by the BISR block.例文帳に追加

このため、多数のメモリセルを含むセルアレイと、前記セルアレイに対するBIST動作を行なうBISTブロックと、前記セルアレイに対するBISR動作を行なうBISRブロックと、前記BISTブロックによるBIST動作又は外部テスタによるテストを選択する第1の制御信号、及び前記BISRブロックによるBISR動作を制御する第2の制御信号を発生する命令ディコーダとを含むことを特徴とする。 - 特許庁

The scan test circuit has a forward rotation/backward rotation control circuit that is inserted and connected between a sequence circuit and a combination circuit included in a path to be scan-tested, and makes the scan data outputted from the sequence circuit rotate in the forward and the backward directions, at an arbitrary timing outside the sequential circuit.例文帳に追加

本発明の実施の一形態に係るスキャンテスト回路は、順序回路と、スキャンテスト対象のパスに含まれる組合せ回路との間に挿入接続され、上記順序回路から出力されるスキャンデータを当該順序回路外部において任意のタイミングで正転及び反転させる正転/反転制御回路を備えているものである。 - 特許庁

The system area comprises a test recording area where data are recorded on a trial basis to set optimal recording conditions for recording in the data area, a recording control information area where information necessary for recording user data in the data area is recorded, and a user data read-in area required for reproducing the optical disk medium where the user data are recorded.例文帳に追加

前記システム領域は、前記データ領域に記録するときの最適記録条件を設定するために試し記録されるテスト記録エリアと、前記データ領域にユーザデータを記録するために必要な情報が記録される記録制御情報エリアと、前記ユーザデータが記録された光ディスク媒体を再生するために必要なユーザデータリードインエリアとを備えている。 - 特許庁

In the system composed of a plurality of devices 2 and a plurality of terminals 3 connected to the plurality of devices 2 while connecting the plurality of devices 2 via switching network 1, when testing the line between the devices 2 by using a test packet 11, it is performed by using the MAC addresses of the users of the respective terminals under the control of the devices.例文帳に追加

複数の装置2と、該複数の装置2に接続された複数の端末3よりなり、前記複数の装置間2がスイッチング網1で接続されたシステムにおいて、試験パケット11を用いて前記装置2間の回線試験を行なう場合に、装置配下にある各端末のユーザのMACアドレスを用いて行なうように構成する。 - 特許庁

To provide a verification method and a verification device for a control map for forced reproduction of a DPF (Diesel Particulate Filter), which verifies through a simple technique the adaptability of a map created analytically or a map created by a test, and verifies even if the performance of DOC (Diesel Oxidation Catalyst) deteriorates due to aging.例文帳に追加

解析的に作成されたマップや試験によって作成されたマップに対して、マップの適合性を簡単な手法で検証できるとともに、経年変化によってDOCの性能劣化が生じた場合においても、検証ができるDPFの強制再生用制御マップの検証方法および検証装置を提供すること。 - 特許庁

The delivering circuit 132 includes a rate generator 144, a fail capture control 146 which specifies a defective cell and performs an output to the outside, a timing generator 148 which generates a timing signal based on a reference test frequency signal, and a pattern generator 150 which outputs an address signal for reading pattern information from the outside to the outside.例文帳に追加

受け渡し回路132は、レイト・ジェネレータ144と、不良セルを特定して、外部に出力するフェイル・キャプチャー・コントロール146と、基準試験周波数信号を基に、タイミング信号を発生するタイミング・ジェネレータ148と、パターン情報を外部から読み出すためのアドレス信号外部に出力するパターン・ジェネレータ150とを備える。 - 特許庁

The AFM probe includes: an elastically deformable hollow frame having a fixed end and a movable end on one axis; an AFM tip supported by the movable end to be movable axially against a test sample; and a stopper disposed on the inner surface of the hollow frame to control a movement of the AFM tip within a predetermined range.例文帳に追加

本発明によるAFMプローブは、一軸線上に固定端と可動端を有する弾性変形可能な中空フレームと、可動端に支持され、試験片に対抗して軸線方向に移動可能なAFMチップと、中空フレームの内側面に設けられ、AFMチップの軸線方向への移動を決められた範囲内で規制するストッパーと、を備える。 - 特許庁

The memory device is provided with a nonvolatile memory 11 storing process items, a parameter start address PA, and parameters in which an address corresponds to the parameter start address and the process items are prescribed, and a control circuit 12 constituted so that the test process conformed to the process items prescribed in the parameters is performed for the nonvolatile memory, in the same chip.例文帳に追加

記憶装置は、工程項目およびパラメータ開始アドレスPAと、アドレスが前記パラメータ開始アドレスに対応し前記工程項目を規定するパラメータとを格納する不揮発性メモリ11と、前記パラメータに規定され前記工程項目に従ったテスト工程を前記不揮発性メモリに行うように構成された制御回路12とを同一チップ内に具備する。 - 特許庁

A target load signal generating means 2 outputs the repeatedly increased/decreased target load signal (Ei) to a load applying apparatus 13, this load applying apparatus applies the load to a material test piece 14, the load is detected by sensors 21 and 41, and the detected signal from the sensors achieves the feedback control so as to follow the target load signal.例文帳に追加

目標負荷信号発生手段(2)が、増減を繰り返している目標負荷信号(Ei)を荷重負荷装置(13)に出力し、この荷重負荷装置が材料試験片(14)に負荷を加え、この負荷をセンサ(21,41)で検出し、このセンサからの検出信号が目標負荷信号に追随するようにフィードバック制御している。 - 特許庁

To provide an ink jet recorder which can easily and appropriately control a hitting position of ink (formation position of dots) by controlling a scanning speed according to a distance interval between a recording head and a recording medium, controlling a discharge speed of ink to be discharged from the recording head, adjusting a discharge timing of ink by an appropriate test pattern, or the like manner.例文帳に追加

記録ヘッドと記録媒体の距離間隔に応じて走査速度を制御し、又は、記録ヘッドより吐出するインクの吐出速度を制御し、或いは、適切なテストパターンによってインクの吐出タイミングを調整すること等によってインクの着弾位置(ドットの形成位置)を容易に且つ適切に制御することのできるインクジェット記録装置を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide such a temperature control method that, in a test system that cultured products set inside a casing composed of a radiowave-transmitting material, even if the cultured products themselves generate heat by radiowave radiation, the temperature rise of the cultured products are suppressed, and the temperature difference between a non-exposed group of cultured products and exposed ones can be reduced.例文帳に追加

電波透過材料で構成された筐体の内部に設置された培養物に外部から電波を照射する試験系において、電波照射によって培養物そのものが熱を発生しても、培養物の温度上昇を抑え、非ばく露群の培養物とばく露群の培養物との温度差を低減することが可能な温度制御方法を提供する。 - 特許庁




  
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