「control test」に関連した英語例文の一覧と使い方(38ページ目) - Weblio英語例文検索

This courage measurement device extracts the execution path of a control program to be tested, specifies the range of an input value about functions in an execution path in the control program, sets a discrete division being a space obtained by dividing the input range by a prescribed method, and performs coverage measurement based on the execution rate of the test corresponding to the discrete division.例文帳に追加

カバレージ測定装置は、テスト対象の制御プログラムの実行パスを抽出し、制御プログラム中の実行パス中の関数について、入力値の範囲を特定し、入力範囲を所定の方法で分割した空間である離散区分を設定し、離散区分に対応するテストの実行率に基づいてカバレージ測定している。 - 特許庁

To a semiconductor tester 10 for general use constituted with test signal generation means 52, 53, 54 and 55, a data supply means, a data reading means, judging means and a control means 11, a special control signal generation means 12 and an interface means 13 for testing a semiconductor integrated circuit 16 incorporated BIST circuits 31 to 35 are provided.例文帳に追加

試験信号発生手段５２，５３，５４，５５、データ供給手段、データ読出手段、判定手段及び制御手段１１から構成される汎用的な半導体試験装置１０に対してＢＩＳＴ回路３１〜３５を内蔵した半導体集積回路１６を試験するための専用の制御信号発生手段１２及びインターフェイス手段１３を別個設けた。 - 特許庁

The work flow automation programming includes request processing programming for processing a user request for the tests which are available to be performed by the specimen processing modules, and includes function control programming which provides function control of a plurality of specimen processing modules for performing the tests, and includes result data management programming that provides processing of test result data of the tests.例文帳に追加

ワークフロー自動化プログラミングは、被検物処理モジュールによって実行される利用可能な試験に対するユーザーリクエストを処理するリクエスト処理プログラミングを含み、試験を実行する複数の被検物処理モジュールの機能制御を提供する機能制御プログラミングを含み、試験の試験結果データの処理を提供する結果データ管理プログラミングを含む。 - 特許庁

When the RAM-BIST control circuit 101 is operated by a logical simulator 100 to check the RAM macro 102, an address, input data, chip enable and write enable generated by the RAM-BIST control circuit 101 are monitored by an RAM checking area verifying circuit 104, and the decision of an area to be checked is executed in every test sequence.例文帳に追加

論理シミュレータ１００によりＲＡＭ−ＢＩＳＴ制御回路１０１を動作させてＲＡＭマクロ１０２を検査する際に、ＲＡＭ−ＢＩＳＴ制御回路１０１が生成するアドレス、入力データ、チップイネーブル、ライトイネーブルをＲＡＭ検査領域検証回路１０４でモニタし、テストシーケンスごとに被検査領域の判定を行う。 - 特許庁

In a control device for performing the feedback control for at least the position and attitude angle of a test piece, a sensitivity function related to a transfer function concerning disturbance input through the outputs of the position and attitude angle, and a complementary sensitivity function related to a transfer function concerning a disturbance input through the output of a current fed to a coil and an electromagnet are defined.例文帳に追加

供試体の少なくとも位置・姿勢角についてのフィードバック制御をする制御装系において、外乱入力から位置・姿勢角の出力までの伝達関数に関連する感度関数と、また外乱入力からコイル・電磁石に印加される電流の出力までの伝達関数に関連する相補感度関数とが定められる。 - 特許庁

The test control circuit 20 comprises P channel transistors 23 and 24 for connecting constant currents 25 and 27 additionally, and a hysteresis inverter 33, an inverter 34 and a NAND element 35 performing on control of the P channel transistors 23 and 24 based on a high level set value at Cout terminal and a set value at V-terminal of lower level than the a Vss terminal.例文帳に追加

このテスト用制御回路２０は、定電流２５，２７を追加接続するためのＰチャネルトランジスタ２３，２４と、このＰチャネルトランジスタ２３，２４を、Ｃｏｕｔ端子のハイレベル設定値と、Ｖｓｓ端子より低いレベルのＶ−端子の設定値とに基づきオン制御するための、ヒステリシスインバータ３３とインバータ３４およびＮＡＮＤ素子３５から構成する。 - 特許庁

By reading the internal test pattern output result for each of outputting printers 14a-14c again from an image input part (scanner part) 11 of the copying machine 10, the copying machine 10 grasps the gray level characteristics of each printer and control is performed by an incorporated gray level control means to present the same gray level characteristics even in the output from any printer.例文帳に追加

複写機１０は、出力したプリンタ１４ａ〜１４ｃ毎の内部テストパタン出力結果を、再度複写機１０の画像入力部（スキャナ部）１１から読み込むことにより、各プリンタの濃度特性を把握し、内蔵する濃度調整手段によって、どのプリンタから出力しても同じ濃度特性を示すように調整を行う。 - 特許庁

A method for screening a substance for treating the cancer includes bringing a cell expressing the acetyl-CoA synthase 2 into contact with a test substance, measuring the expression of the acetyl-CoA synthase 2 gene in the cell, and selecting the substance inhibiting the expression or the activity of the acetyl-CoA synthase 2 in comparison with a control cell without contacting the test substance as a substance can treate the cancer.例文帳に追加

アセチルＣｏＡシンセターゼ２発現細胞に被験物質を接触させ、該細胞における、アセチルＣｏＡシンセターゼ２遺伝子の発現を測定すること、および被験物質を接触させていない対照細胞と比較してアセチルＣｏＡシンセターゼ２の発現または活性を抑制した物質を、癌を治療しうる物質として選択することを含む、癌を治療する物質のスクリーニング方法。 - 特許庁

In this semiconductor device incorporating a logic chip having the prescribed functions and a memory chip storing data in a common package, the logic chip and the memory chip are connected through terminals for memory access such as a control signal terminal, an address terminal, a data terminal, the logic chip has a logic circuit having the prescribed function and a memory chip test circuit performing an operation test of the memory chip.例文帳に追加

本発明は，所定の機能を有するロジックチップとデータを記憶するメモリチップとを共通のパッケージ内に搭載する半導体装置において，ロジックチップとメモリチップとは，制御信号端子，アドレス端子，データ端子などのメモリアクセス用の端子を介して接続され，ロジックチップは，前記所定の機能を有する論理回路と，前記メモリチップの動作試験を行うメモリチップ試験回路とを有することを特徴とする。 - 特許庁

This semiconductor testing device having a constitution wherein a prescribed test pattern is applied from a PE card to the DUT, and a pattern outputted from the DUT corresponding to the test pattern is compared with an expected value pattern, and coincidence of the patterns is detected, has a fail control means for summarizing fail information of the DUT input through the PE card relative to each DUT, and transferring it to the PE card.例文帳に追加

ＰＥカードからＤＵＴに所定のテストパターンを印加し、ＤＵＴからテストパターンに応じて出力されるパターンを期待値パターンと比較してこれらパターンの一致の有無を検出するように構成された半導体試験装置において、ＰＥカードを介して入力されるＤＵＴのフェイル情報をＤＵＴごとに集約してＰＥカードへ転送するフェイル制御手段を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

The fire receiver comprises a progress detection means for detecting the progress of the predetermined test; a bar graph display device for displaying a bar graph in a predetermined percentage base, and a display device control means for making the bar graph display device display the bar graph in the predetermined percentage base to the total time necessary for the predetermined test according to the progress detected by the progress detection means.例文帳に追加

所定の試験の進行度合いを検出する進行度合い検出手段と、所定パーセント刻みで、バーグラフを表示するバーグラフ表示装置と、上記進行度合い検出手段が検出した進行度合いに応じて、所定の試験に必要な総時間の所定パーセント刻みで、上記バーグラフ表示装置にバーグラフを表示させる表示装置制御手段とを有する火災受信機である。 - 特許庁

This circuit is composed of an inspection pulse generating circuit 10 for inputting a test signal and outputting an oscillation signal, and data selector circuits 31-35 for blocking inputs of a data input signal of an external input signal, a scanning mode control signal, a scan input signal and a scan clock signal by the test signal to output a CLK signal of the oscillation signal and an ROUT signal to a campus circuit 20.例文帳に追加

テスト信号を入力して発振信号を出力する検査用パルス発生回路１０と、テスト信号によって、外部入力信号であるデータ入力信号，スキャンモードコントロール信号，スキャン入力信号及びスキャンクロック信号の入力を遮断し、代わりに発振信号であるＣＬＫ信号およびＲＯＵＴ信号をスキャンパス回路２０に出力するデータセレクタ回路３１〜３５とで構成する。 - 特許庁

A testing resistor 206 is connected to a resistor 104 constituting a bridge circuit 1a of a thermal resistance flowmeter 1 with a thermal resistance 101, thereby changing the control condition of a current flowing in the bridge circuit 1a to vary the heating temperature of the thermal resistance 101, so as to artificially create a condition of the thermal resistance flowmeter 1 during measuring of a fluid under test, in a test fluid.例文帳に追加

熱抵抗体１０１とともに熱抵抗体流量計１のブリッジ回路１ａを構成する抵抗器１０４に試験用の抵抗器２０６を接続して、ブリッジ回路１ａに流れる電流の制御条件を変更することで、熱抵抗体１０１の加熱温度を可変とし、試験流体の元で、被計測流体を計測中の熱抵抗体流量計１の状態を擬似的につくりだすようにする。 - 特許庁

The cooling fan control circuit 22, in coordination with a fan speed table setting utility 100 and under a condition that the fan speed table setting utility 100 is imposing a maximum load to a CPU11, performs test processing for monitoring the maximum temperature detected with the temperature sensor 21.例文帳に追加

この冷却ファン制御回路２２は、ファン速度テーブル設定ユーティリティ１００と協働して、ファン速度テーブル設定ユーティリティ１００が最大負荷をＣＰＵ１１に与えている状況で温度センサ２１が検出した最大温度を監視するテスト処理を実行する。 - 特許庁

The hot-cold shock testing device includes first control means for stopping at least one of the refrigerator, the first heater and the second heater to start a test interruption before starting the next hot-cold cycle operation after the end of the high temperature exposure state.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置は、高温さらし状態が終了した後、次の冷熱サイクル動作を開始する前に、冷凍機、第１加熱器および第２加熱器のうちの少なくとも１つを停止させて試験の中断を開始する第１制御手段を備える。 - 特許庁

A coincidence comparing circuit 5 provided on each judging board 10 compares the address and data for a device 20 under test with predetermined values and generates and outputs a trigger allowing the writing on a memory 4 to a read/write control circuit 6 if they coincide.例文帳に追加

各判定ボード１０毎に設けられた一致比較回路５は、被試験デバイス２０に対するアドレスおよびデータを、あらかじめ設定される値と比較し、一致する場合には、リード／ライト制御回路６に対し、メモリ４に書き込みを可能とするトリガを生成・出力する。 - 特許庁

SURFACE LAYER STRUCTURE INCORPORATING ELECTRIC ELECTRONIC DEVICE AND FABRICATION THEREOF, ENVIRONMENTAL CONTROL AND INFLUENCE TEST METHOD OF A PLURALITY OF MICRO OBJECTS EMPLOYING SURFACE LAYER STRUCTURE, AND TRANSFER JAMMING PREVENTIVE METHOD THEREOF例文帳に追加

電気電子デバイスを組み込んだ表層構造体とその製造方法、表層構造体を用いた複数微小物体の環境制御および環境影響試験方法、表層構造体を用いた複数の微小物体の移送渋滞防止装置と移送渋滞防止方法 - 特許庁

When a return packet monitor section 115 of the test side network terminal 101 detects the return packet, a return packet decision section 116 decides the normality of the network terminal 102 at the side to be tested and the network 103 and informs a monitor control section 113 about the result.例文帳に追加

試験側ネットワーク端末１０１では、返信パケット監視部１１５が返信パケットを検知したならば、返信パケット判断部１１６が被試験側ネットワーク端末１０２およびネットワーク１０３の正常性を判断し、その結果を監視制御部１１３に知らせる。 - 特許庁

A control circuit of the semiconductor integrated circuit 100 turns on first and second switch circuits in a test operation mode for measuring the resistance of the termination resistor, and turns off the first and second switch circuits in a normal operation mode for implementing a normal operation.例文帳に追加

半導体集積回路１００の制御回路は、終端抵抗の抵抗値を測定するテスト動作モード時は、第１のスイッチ回路および第２のスイッチ回路をオンし、通常動作する通常動作モード時は、第１のスイッチ回路および第２のスイッチ回路をオフする。 - 特許庁

To provide an information processing system, server device, information processor, and their control method enabling an operation checker to select a specific server from among a plurality of servers on a load balancing system and to accept a request for a server test or operation monitoring.例文帳に追加

サーバテストや動作監視等のために、動作確認者が、負荷分散システム上の複数サーバの中から特定のサーバを容易に選択してリクエストに応じさせることができる情報処理システム、サーバ装置、情報処理装置及びそれらの制御方法を提供する。 - 特許庁

A test signal generator 2 has a false random code generator 20 for generating false random codes in a burst form while holding the continuity of the codes and is allowed to intermittently operated by the burst form in response to an operation control signals from circuits 22, 24.例文帳に追加

テスト信号発生器２は、擬似ランダム符号を、バーストの形式でかつ符号の連続性を保持したままで発生するような擬似ランダム符号発生器２０を有し、回路２２、２４からの動作制御信号に応答してバースト形式で断続的に動作する。 - 特許庁

In the case of evaluating a printed wiring board, a count determining means to count the number of test cycles of the alternate movements between the high-temperature tank 1 and the low-temperature tank 2 at the time when the control means 5 determines change in resistance values measured at all times as anomaly is provided.例文帳に追加

プリント配線板を評価する場合において、制御手段５は常時測定されている抵抗値の変化を異常と判定した際に、高温槽１と低温槽２との間を交互に移動した試験サイクル数をカウントするカウント判定手段を設ける。 - 特許庁

The peripheral part 30 includes a second individual authentication part for collating the added second individual test value with a second arithmetic value held in advance when receiving the second control command or authenticating the main controller 10 on the basis of the result of authentication received from the post-stage part 20.例文帳に追加

周辺部３０は、第２制御コマンドの受信時は付加された第２個体検査値と予め保持する第２演算値とを照合し、或いは、後段部２０から受信した認証結果に基づき主制御部１０を認証する第２個体認証部を備える。 - 特許庁

The post-stage part 20 includes a first individual authentication part 24 for collating the added first individual test value with a first arithmetic value held in advance when receiving the first control command to authenticate the main controller 10 and transmits the result of authentication to the peripheral part 30.例文帳に追加

後段部２０は、第１制御コマンドの受信時は付加された第１個体検査値と、予め保持する第１演算値とを照合し主制御部１０を認証する第１個体認証部２４を備え、認証結果を周辺部３０へ送信する。 - 特許庁

In the AC voltage setting mode, the control section 50 obtains the film thickness of the photosensitive layer based on the detection result of a DC voltage measuring circuit 104 at a frequency of once per 1,000 image formations, and sets an AC test current lower as the film thickness is reduced.例文帳に追加

制御部５０は、交流電圧設定モードでは、１０００枚の画像形成に１回の頻度で直流電圧測定回路１０４の検出結果に基づいて感光層の膜厚を求め、膜厚が小さくなるほど交流試験電流を低く設定する。 - 特許庁

When the switching of video reproduced from the two-dimensional video 42 to the three-dimensional video 43 is detected, the reproducing device 1 makes control to reproduce three-dimensional test video 44 for a viewer to check stereoscopic vision before the three-dimensional video 43 is reproduced.例文帳に追加

そして、２次元映像４２から３次元映像４３への再生される映像の切り替わりが検出された場合、３次元映像４３を再生する前に、視聴者が立体視を確認するための３次元テスト映像４４を再生するように制御する。 - 特許庁

When a refresh-test for a redundant memory cell is performed, a redundant CBR refresh-counter 15 is activated for each input of a control signal RACBR, counts the number of input of redundant CBR commands, and outputs them to a X address buffer 2A as redundant counter signals RCNT0- RCNT5.例文帳に追加

冗長CBRリフレッシュカウンタ15は、冗長メモリセルに対するリフレッシュテストを行う場合、制御信号RACBRが入力される毎に活性化され、冗長CBRコマンドの入力される数を計数し、計数値を冗長カウンタ信号RCNT0〜RCNT5として、Xアドレスバッファ2Aへ出力する。 - 特許庁

Also, by obtaining the spring rigidity of a coupling shaft by converting the velocity control parameter used for the calculation means to a resonant frequency corresponding to the torsional torque detected by the shaft torque meter, the stable engine test becomes possible even for a non-linear engine bench system.例文帳に追加

また、演算手段に用いる速度制御パラメータを、軸トルクメータで検出した捩れトルクに応じた共振周波数に変換して結合シャフトのばね剛性を求めることで、非線形なエンジンベンチシステムに対しても安定なエンジン試験が可能となる - 特許庁

A calculation control device 200 forms OCT images of the fundus oculi Ef from the result of the detection of new interference light LC in conformity of the new signal light LS through the test eye E and the new reference light LR through a reference mirror 174.例文帳に追加

演算制御装置２００は、被検眼Ｅを経由した新たな信号光ＬＳと、参照ミラー１７４を経由した新たな参照光ＬＲとに基づく新たな干渉光ＬＣの検出結果に基づいて眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。 - 特許庁

To provide a delay control circuit which delays a strobe signal by using a variable delay circuit including a plurality of unit delay elements and which performs an operation test of all the unit delay elements in a short time, not depending on the nonuniformity in the unit delay time of each chip.例文帳に追加

複数の単位遅延素子から構成される可変遅延回路を用いてストローブ信号を遅延させるものであって、チップ毎の単位遅延時間のばらつきによらず、全単位遅延素子の動作テストを短時間で行うことができる遅延制御回路の提供。 - 特許庁

An optical characteristic measuring apparatus 1 has a control section 20 that controls a drive mechanism 21 to dispose a screen 112 sequentially in two or more positions and controls an LED 101 and a light-receiving device 115 to perform measurement of a test lens L in each position.例文帳に追加

光学特性測定装置１の制御部２０は、駆動機構２１を制御してスクリーン１１２を２以上の位置に順次に配置させるとともに、ＬＥＤ１０１や受光装置１１５を制御して、これら各位置における被検レンズＬの測定を実施させる。 - 特許庁

In a capacity test under partial load, a resistance value from a variable resistor 33 having specific correlative relationship segmentalized by 1/10°C or more between the temperature and the resistance value, is used for the temperature sensor 24 to artificially adjust the temperature difference as the control index.例文帳に追加

部分負荷での能力試験に際し、温度センサ２４に代えて、温度と抵抗値との間に１／１０℃以上に細分化した特定の相関関係を持たせた可変抵抗器３３からの抵抗値を用い、制御指標である温度差を人為的に調整する。 - 特許庁

An additional circuit 2 attached to the clamp circuit adds a signal for covering adverse effect of a small step signal included in a test signal and lower than the pedestal potential to the clamp control signal being generated from the clamp circuit in time and range.例文帳に追加

そして、クランプ回路に追加回路２が付加されており、追加回路２は、クランプ回路で生成されるクランプ制御信号に対し、テスト信号中に含まれペデスタル電位より低いスモールステップ信号の悪影響をカバーするカバー処理信号を、時間的，範囲的に付加する。 - 特許庁

To provide an engine control device, in which burdens of conformance test work requiring the huge numbers of tests and map preparation work are reduced and controllability of simultaneous matching of a plurality of sorts of engine output values with request values is improved.例文帳に追加

膨大な試験点数を要する適合試験作業及びマップ作成作業の負担軽減を図るとともに、複数種類のエンジン出力値を同時に要求値に一致させることに対する制御性向上を図ったエンジン制御装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, in the case of the ordinary power supply voltage Vcc, the test control signal SW is set to a Lo level and double boosted with the electrostatic capacitance elements 33, 34 and the boosted voltage Vpp can be output by turning ON the transistor 32 using the double- boosted condition.例文帳に追加

また、通常の電源電圧Ｖ_CCの場合には、テスト制御信号ＳＷがＬｏレベルとなり、静電容量素子３３，３４によってブーストされたダブルブーストとなり、ダブルブーストを用いてトランジスタ３２をＯＮさせることによって昇圧電圧Ｖ_PPを出力する。 - 特許庁

A side erase test process is provided with: a distant erase management table (52) in which a distant erase place of the storage medium (19) is measured and registered; and a control circuit (11) which performs the forcible rewrite of the registered distant erase place when the number of write counts of the certain track exceeds a predefined frequency.例文帳に追加

サイドイレーズ試験工程で、記憶媒体（１９）の遠方イレーズ箇所を測定し、登録した遠方イレーズ管理テーブル（５２）と、あるトラックのライトカウント数が規定回数を越えると、登録した遠方イレーズ箇所を強制リライトする制御回路（１１）とを設ける。 - 特許庁

For the purpose of returning a system to a regular operation state after the test is terminated, the backup memory 3 storing switching information in the regular operation state is selected by backup memory control part 4, and switching information of the backup memory 3 is transferred to the switching information storage memory 5.例文帳に追加

試験終了後通常運用状態へ戻すため、通常運用状態のスイッチング情報を格納しているバックアップメモリ３をバックアップメモリ制御部４により選択し、そのバックアップメモリ３のスイッチング情報をスイッチング情報格納メモリ５に転送する。 - 特許庁

A data fetch control section 2 of this luminance characteristic measurement instrument changes the raster size to display a test pattern, consisting of a plurality of longitudinal or lateral stripes generated by a signal generator 4 onto a color CRT 6, in a way such that relative positions of phosphors in each stripe differs from each other.例文帳に追加

データ取込制御部２はラスタサイズを変更して信号発生器４で発生した複数本の縦縞若しくは横縞の縞模様からなるテストパターンを、各縞内の発光螢光体の相対的な位置が異なるようにカラーＣＲＴ６に表示させる。 - 特許庁

To automatically dispose a boundary scan register at an appropriate place and to adjust the number of fan-outs between a test control circuit and the boundary scan register by inserting the minimum number of buffers, in a method of designing layout of an LSI chip having the boundary scan register.例文帳に追加

バウンダリスキャンレジスタを有するＬＳＩチップのレイアウト設計方法において、バウンダリスキャンレジスタを適切な位置に自動的に配置させるとともに、テスト制御回路とバウンダリスキャンレジスタとの間のファンアウト調整を、最小限の数のバッファの挿入によりおこなうこと。 - 特許庁

A control section 1 verifies the A/D- converting function of the DUT 100a by checking the coincidence between output digital signals S4 generated by means of the DUT 100a and address signals which are test digital signals generated by means of the ALPG 2 by comparing the signals with each other.例文帳に追加

制御部１は、ＤＵＴ１００ａの生成した出力デジタル信号Ｓ４と、ＡＬＰＧ２の生成したテストデジタル信号たるアドレス信号とを比較し、その一致度を調べることにより、ＤＵＴ１００ａのＡＤ変換機能を検証する。 - 特許庁

In the 2nd test program 2, when a packet for request is received from the communicating function, a response packet with information to respond to that request integrated to a protocol control part header is transmitted back when a specified delay time is passed after reception of the packet.例文帳に追加

第２のテストプログラム２は、試験対象の通信機能から要求用のパケットを受信すると、その要求に応答するための情報をプロトコル制御部ヘッダに組み込んだ応答用のパケットを、パケット受信後に所定の遅延時間が経過するのを待って返信する。 - 特許庁

A test script correction part 13 corrects a moving original side screen element and a moving destination side screen element corresponding to a cursor moving operation according to a changed application when the objective application is changed, and instructs the retrieval of a cursor moving procedure to an operation control means 14.例文帳に追加

対象アプリケーションが変更されると、テストスクリプト修正手段１３は、カーソル移動操作に対応する移動元画面要素と移動先画面要素を変更アプリケーションに合わせて修正し、カーソル移動手順の探索を操作制御手段１４に指示する。 - 特許庁

The load and displacement applied to the specimen are detected, whether or not they reach to directed values is determined, a direction is sent to the servo-motor 3 and both the rotary pumps 5 from a control part so as to set the load and the displacement to predetermined values and thus, the test is executed by applying the predetermined load to the specimen.例文帳に追加

供試体に与える荷重、変位を検知し、指令値に到達しているか否かを比較して、荷重、変位が所定値になるように制御部よりサーボモータ（３）、両回転ポンプ（５）に指令を出し、供試体に所定の荷重を与えて試験を行うものである。 - 特許庁

The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加

主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁

With respect to a group of products designated by a manufacture history analysis result display means 400, an analysis support control means 200 displays any of the basic statistics selected and a scatter plot (including correlative coefficients) of a characteristic test value on the manufacture history analysis result display means 400.例文帳に追加

分析支援制御手段200は、製造履歴分析結果表示手段400で指定された製品群に関して、選択されたいずれかの基本統計量と特性試験値の散布図(相関係数も含む)を製造履歴分析結果表示手段400に表示する。 - 特許庁