「reflected」に関連した英語例文の一覧と使い方(347ページ目) - Weblio英語例文検索

In this case, when the linear solenoid LS comes into ground short circuit, the output voltage VB from the current detection circuit 10 shows a sharp rise, however, the state is reflected immediately to the output voltage VC of the integration circuit 700 through a diode D3 connected in parallel to the resistance element RA.例文帳に追加

ここで、リニアソレノイドＬＳがグランドショートとなると電流検出回路１０からの出力電圧ＶB が急峻な立上がりとなるが、抵抗素子ＲA に並列に接続されたダイオードＤ3 を介して積分回路７００の出力電圧ＶC に直ちに反映される。 - 特許庁

When the light emitted by the collimator 19 reaches the retroreflector 25, its going light is totally reflected by the retroreflector 25 while shifted by an interval Y and its return light is refracted by a prism 26 and impinges on the core clad part 21a.例文帳に追加

コリメータ１９から出射された光はリトロリフレクタ２５に達すると、該リトロリフレクタ２５によってその往き側の光は間隔Ｙだけずれて全反射し、この戻り側の光はプリズム２６によって屈折して上記コリメータ１９の出力側光ファイバとして機能するコア・クラッド部２１ｂに入射する。 - 特許庁

A curve 301 is prepared to express a relation between the intensity of the microwave transmitted through the blood collecting tube 20a and a position of the blood collecting tube 20a, and a curve 401 is prepared to express a relation between the intensity of the microwave reflected by the blood collecting tube 20a and the position of the blood collecting tube 20a.例文帳に追加

そして、採血管２０ａを透過したマイクロ波の強度と採血管２０ａの位置との関係を表す曲線３０１と、採血管２０ａで反射したマイクロ波の強度と採血管２０ａの位置との関係を表す曲線４０１とを作成する。 - 特許庁

Theoretical fluorescent brightness value data C (Xn, Yn) of all the photographed places are theoretically computed by a theoretical calibration curve between reflected excitation light brightness data E (Xn, Yn) and fluorescence brightness, based on a relation between the brightness value obtained from a CCD camera 50 and a position of an excitation light reflecting part (S24).例文帳に追加

ＣＣＤカメラ５０から得た輝度値と励起光反射部位置との関係から反射励起光輝度データＥ（Ｘｎ，Ｙｎ）と蛍光輝度との理論上の検定線により全撮影箇所の理論上の理論蛍光輝度値データＣ（Ｘｎ，Ｙｎ）を演算する（Ｓ２４）。 - 特許庁

A laser nozzle is provided with a tapered opening part 23, the straight part 25 having the small diameter through which the laser beams LB are multiply reflected, and an irradiating port side tapered part 29 the nozzle irradiating port side of which becomes large in diameter gradually so that the diameter of a nozzle irradiating port 27 becomes larger than the diameter of the above described straight part 25.例文帳に追加

レーザノズルは、テーパー状の開口部２３と、レーザビームＬＢの多重反射を行う小径のストレート部２５と、上記ストレート部２５の径よりはノズル照射口２７が大径になるようにノズル照射口側が次第に大径になる照射口側テーパ部２９とを備えてなるものである。 - 特許庁

A light- emitting element 27, however, converts a pilot signal generated by an angle detection oscillator 26 into an optical signal, the optical signal is reflected in a polarized beam splitter 24 and emitted as a capturing/tracking optical beam B7 with a spread angle a little wider than that of the main signal transmission beam B7.例文帳に追加

一方、角度検出用発振器２６で生成されたパイロット信号は発光素子２７により光信号に変換され、偏光ビームスプリッタ２４で反射し、主信号用送信ビームＢ７よりも稍々広がった捕捉／追尾用光ビームＢ７となって放射される。 - 特許庁

The imaging device 1 includes a finder optical system guiding to a finder window 10 the luminous flux for observation which is luminous flux from a photography optical system and reflected by a main reflecting surface, the imaging element 7 which receives the luminous flux for observation and generates an image signal, and a control means.例文帳に追加

撮像装置は、撮影光学系からの光束であって主反射面で反射された光束である観察用光束をファインダ窓へと導くファインダ光学系と、観察用光束を受光して画像信号を生成する撮像素子と、制御手段とを備える。 - 特許庁

When an amplitude Ap calculated from the in-phase component Ip and the quadrature component Qp is larger than a reception detection threshold TH, a reflected wave is considered to have been received, and a phase ϕp(=ϕa) is calculated from the in-phase component Ip and the quadrature component Qp calculated earlier (S140-S160).例文帳に追加

この同相成分Ｉｐ，直交成分Ｑｐから算出した振幅Ａｐが受信検出閾値ＴＨより大きい場合、反射波を受信したものとして、先に算出した同相成分Ｉｐ，直交成分Ｑｐから位相φｐ（＝φａ）を算出する（S140〜S160）。 - 特許庁

Furthermore, when the article 1 to be inspected is mounted on the stage to measure a surface shape, a shutter 62 capable of cutting off the reflected light from the reference mirror 63 and a wavelength plate 24 for altering the polarized state of light are provided and the two types of optical systems for measuring the displacement of the cantilever 12 are used for different purposes.例文帳に追加

また、被検物１をステージに搭載して面形状を計測するときに、参照ミラー６３からの反射光を遮光可能なシャッター６２と、光の偏光状態を変更する波長板２４を備え、カンチレバー変位を計測する２種類の光学系を使い分ける。 - 特許庁

An X-ray generator which generates plasma and takes out X-rays radiated from the plasm has a means for generating the plasma and a plurality of reflected optical systems guiding the X-rays through different optical paths.例文帳に追加

プラズマを生成し、当該プラズマから放射されるＸ線を取り出すＸ線発生装置であって、前記プラズマを生成する手段と、前記Ｘ線を異なる光路で導光する複数の反射光学系とを有することを特徴とするＸ線発生装置を提供する。 - 特許庁

This invention provides the wireless communication system where a mobile station transmits a measurement signal by each of channels every time its base station changes, a control station reflects the measurement signal to the mobile station, and the mobile station measures the reflected measurement signal so as to use only channels with best quality all the time.例文帳に追加

移動局では、基地局が変わる毎に、複数の回線毎に測定信号を送出し、制御局で測定信号を折返し、移動局では折返された測定信号を測定することにより、常に品質の良好な回線だけを使用することができる。 - 特許庁

When laser La from a laser beam source 6 is made incident on an asymmetric optical element 20, it is reflected at an angle equal to the incident angle to the surface normal Lna of the optical element 20, made incident on a linear track part 2b through the window part 2c of an accelerator 2, and front-collides with electron e^-.例文帳に追加

レーザ光源６からのレーザＬａが非対称光学素子２０に入射すると非対称光学素子２０の表面法線Ｌｎａに対して入射角度と等しい角度で反射して加速器２の窓部２ｃから直線軌道部２ｂ内に入射して電子ｅ^-と正面衝突する。 - 特許庁

In a spectral characteristic measuring apparatus, light emitted from a measuring point of an object S to be measured is guided to a fixed mirror unit 161 and a movable mirror unit 162 by an objective lens 2, and light reflected by these mirror units 161 and 162 is guided to the same point by an image forming lens 18.例文帳に追加

本発明の分光特性測定装置は、被測定物Ｓの測定点から発せられた光を対物レンズ２によって固定ミラー部１６１、可動ミラー部１６２に導き、これらミラー部１６１、１６２によって反射された光を結像レンズ１８によって同一点に導く。 - 特許庁

A portion of light beam L2 made incident on the thin film transistor array substrate without being orthogonal to the light transmissive substrate is never made incident on a polycrystalline silicon film 5 forming a TFT by reflected by an upper light shielding layer 12 and the like since the lower light shielding layer has a width wider than that of the upper light shielding layer 12.例文帳に追加

光透過性基板に直交せずに薄膜トランジスタアレイ基板内に入射した光Ｌ２は、下部遮光層が上部遮光層１２よりも幅広であるため、上部遮光層などで反射されてＴＦＴを成す多結晶シリコン膜５に入射することがない。 - 特許庁

The first path is a passing optical path of reference light reflected by a reference surface 19a of a transmission type reference plate 19, and the influence of dispersion generated when the inspection light is transmitted through the specimen 20 is reduced by inserting and arranging the dispersion compensation plate 35.例文帳に追加

この第１の経路は、透過型基準板１９の基準面１９ａで反射される参照光の通過光路にあたり、分散補償板３５が挿入配置されることにより、被検光が被検体２０を透過する際に生じる分散の影響が低減される。 - 特許庁

A strain gauge 35 for detecting the griping force amount of a tip gripping part 1 of a slave manipulator 2 is provided, and a detected signal from the strain gauge 35 is fed back to handles 10 of a master manipulator 3 by an operational sensibility providing mechanism 51 so as to be reflected to the sensibility of the fingertips of an operator.例文帳に追加

スレーブマニピュレータ２の先端把持部７の把持力量を検知する歪みゲージ３５を設け、この歪みゲージ３５からの検知信号を操作感覚付与機構５１によってマスターマニピュレータ３のハンドル１０にフィードバックさせて術者の手先の感覚に反映させるようにしたものである。 - 特許庁

To provide a workpiece positioning device capable of suppressing the effect of the outside light when picking up an image of a workpiece by a camera, allowing the reflected light of the illumination from the workpiece to be stably and efficiently incident on the camera, and reducing defective measurements of the workpiece position, and a working machine having the device.例文帳に追加

カメラにてワークを撮影するときに、外光の影響を抑制できるとともに、ワークからの照明の反射光を安定して効率よくカメラへ入射させることができ、ワーク位置の測定不良を減少することができるワーク位置決め装置および該装置を備えた加工機を得る。 - 特許庁

The position of the float 9 is detected from the time required for the ultrasonic to be returned after being emitted upward from the ultrasonic transmitter receiver 14 and reflected from the float 9 and if the position of the float 9 is higher than the prescribed position, the discharge capacity is judged and shown to be small.例文帳に追加

超音波送受信器１４から上方に向けて超音波を放射し、フロート９で反射されて戻ってくるまでの時間からフロート９の位置を検出し、フロート９の位置が所定よりも高位を維持すれば排出容量が小さいと判定し表示する。 - 特許庁

When the collimator light is entered from an apex angle side of the triangular prism, the light is partially reflected to two directions by two prism side faces through the apex angle of the prism, and further the light entered inside from two side faces of the prism is refracted, and divided into two directions from a prism end part, to be emitted.例文帳に追加

コリメータ光を三角プリズムの頂角側から入射させるとプリズムの頂角を挟んだ２つのプリズム側面で光の一部が２方向に反射し、さらにプリズムの2つの側面から内部に入射した光は屈折後、プリズム端部から2方向に分かれて出射する。 - 特許庁

When a data code is to be scanned by the instruction of an input section 3, the laser beam of a rated output or below is outputted from a laser beam source 62 and radiated to an object to scan it, and whether the object is the data code or not is recognized by a CPU 2 based on the reflected light from the object.例文帳に追加

入力部３の指示により、データコードを走査する際に、定格出力以下のレーザビームをレーザ光源６２から出力して対象物に照射して走査させ、対象物からの反射光に基づいて、対象物がデータコードであるか否かをＣＰＵ２によって認識する。 - 特許庁

The positional shift detector for wafer comprises a semiconductor laser element 23 for irradiating the surface of an wafer 1 with laser light, a diaphragm 25/a condenser lens 26/a photodiode 27 for detecting reflected light from the surface of the wafer 1, and an operating circuit 29 for determining positional shift.例文帳に追加

本発明のウェーハ位置ずれ検出装置は、レーザ光をウェーハ１の表面に向けて照射する半導体レーザ素子２３、ウェーハ１の表面からの反射光を検出する絞り２５・集光レンズ２６・フォトダイオード２７、及び位置ずれの有無を判定する演算回路２９などから構成される。 - 特許庁

A digital camera 2 is provided with a photographing preparation button 16 to perform photographing preparation when it is depressed under a photographing mode, and a photosensor 17 to perform photographing when light from a light emitting element 26 is reflected by a finger and made incident on a light receiving element 27 by holding up the finger while depressing the photographing preparation button 16.例文帳に追加

撮影モード下で押圧されると、撮影準備を行う撮影準備ボタン１６と、この撮影準備ボタン１６を押圧したまま、指をかざして発光素子２６からの光が指に反射して受光素子２７に入射すると撮影を実行する光センサ１７とをデジタルカメラ２に設ける。 - 特許庁

In a repair etching process for opening a fuse box in a chip, etching loading effects attendant on the pattern density of the fuse box can be uniformly reflected, and residual oxide films can be constantly distributed to the fuses of all the fuse boxes regardless of the size of an open region.例文帳に追加

チップ内のヒューズボックスをオープンするためのリペアエッチング工程時ヒューズボックスのパターン密度に伴うエッチングローディング効果が均一に反映することができるようにし、オープン領域のサイズに係りなく全てのヒューズボックスのヒューズに残留酸化膜が一定に分布され得るようにする。 - 特許庁

This illuminator is provided with light sources 7A to 7C emitting light including the wavelength component of reflected light at a time when objects to be recognized 9A to 9C are irradiated with white light and reflectors 8A to 8C having light reflection surfaces including the components of the objects 9A to 9C to be recognized as main components.例文帳に追加

認識対象物９Ａ〜９Ｃに白色光を照射したときに反射してくる光の波長成分を含む光を出射する光源７Ａ〜７Ｃと、認識対象物９Ａ〜９Ｃの成分を主成分として含んだ光反射面を有する反射板８Ａ〜８Ｃとを備える。 - 特許庁

To provide an object state detecting device three-dimensionally moving an object without mounting a light projector and a light receiver on a drive member, projecting the light of the light projector to the object after its movement, and capable of receiving the reflected light without changing a light receiving position.例文帳に追加

投光器と受光器を駆動部材に搭載することなく、前記物体を３次元的に動かしながら、その動きに追従して投光器の光を当該物体に投射し、その反射光を受光位置を変えることなく受光できる物体の状態検出装置を提供する。 - 特許庁

In the recording action of information, the reflected light of the laser beam cast to execute recording of this information from the recording medium 5 is detected with a photodetector 7 in the recording action of information and the abnormality of the recording is detected together with this information recording action by a defect detecting circuit 12 in recording.例文帳に追加

情報の記録動作時において、この情報記録を行うために照射されるレーザ光の記録媒体５からの反射光を光検出器７で検出し、記録時欠陥検出回路１２により、この情報記録動作とともに記録の異常を検出する。 - 特許庁

The first and second colors are sent from a first polarization selector 221 and a first polarization prism 231 to first and second optical modulators 241, 242, are modulated and are further reflected, are returned to the first polarization prism and are received by a second polarization selector 222 and an first projection lens 26.例文帳に追加

第１及び第２のカラーは，第１の偏波セレクタ２２１，第１の偏波プリズム２３１から第１及び第２の光モジュレータ２４１，２４２へ送られ変調され，さらに反射して第１の偏波プリズムへ戻り，それを第２の偏波セレクタ２２２及び第１の投影レンズ２６が受入れる。 - 特許庁

The photographer stands at a position as a subject, confirms an image having a proper field angle by viewing the image of the photographer oneself reflected by the reflector 20, and takes a picture, so a photograph which is set to zoom magnification and a field angle that the photographer desires can be taken.例文帳に追加

撮影者は、被写体としての位置に立って、反射体２０に映っている自分の姿の写像を見て適切な画角の写像を確認してから撮影を行うことができるので、撮影者の所望のズーム倍率と画角に設定された写真を撮影できる。 - 特許庁

An optical pickup device applies different astigmatisms to light fluxes in four light flux areas A through D formed around an optical axis of laser light, out of the laser light reflected on a disc, to separate the light fluxes in the light flux areas A through D from each other.例文帳に追加

ディスクによって反射されたレーザ光のうち、レーザ光軸の周りに設定された４つの光束領域Ａ〜Ｄの光束に対し、それぞれ異なる非点収差作用および進行方向変更作用を付与し、光束領域Ａ〜Ｄの光束を互いに離散させる。 - 特許庁

To enable a target to be detected, even if the intensity of a reflected wave or a physical energy wave from the target is low, by combining a plurality of types of sensors and variably adjusting the threshold of target detection on the basis of target detection information from the two sensors.例文帳に追加

複数種類のセンサを組み合わせて双方の目標検出情報に基づいて目標検出の閾値を可変調整することにより、目標からの反射波あるいは物理的なエネルギー波の強度が低い目標の場合でも、目標の検出を可能にする。 - 特許庁

Thus, an infrared ray transmitted through a sound hole 22a formed on a cover board 22 to a capacitor structure part 12 is reflected on the vibrating film 32A on which the infrared reflecting paint has been applied in reflow processing, so that it is possible to prevent the electret layer 34B from being exposed to the heat of the infrared ray.例文帳に追加

これにより、リフロー処理の際、カバー基板２２に形成された音孔２２ａを介してコンデンサ構造部１２に到達する赤外線を、赤外線反射塗料が塗布された振動膜３２Ａで反射させて、エレクトレット層３４Ｂが赤外線の熱に曝されてしまわないようにする。 - 特許庁

In this clamp-on type Doppler-type ultrasonic flow velocity distribution meter, an ultrasonic wave is allowed to enter fluid inside the pipe from an ultrasonic transducer outside the pipe, and the flow velocity distribution is measured by utilizing the change of an ultrasonic frequency reflected by a reflector in the fluid caused by a Doppler effect.例文帳に追加

配管外部の超音波トランスデューサから配管内部の流体へ超音波を入射し、流体中の反射体により反射した超音波周波数がドップラー効果により変化するのを利用して流速分布を計測するクランプオン型ドップラー式超音波流速分布計である。 - 特許庁

When the ray beam reflected on the plane part of the prism 2 is emitted from the opposite spherical part, the spherically shaped emitting surface acts as a lens and forms an image without using an additional optical component such as a lens to give a light-and-dark boundary image 3 shown as a boundary line at a critical refracting angle.例文帳に追加

平面部で反射した光線は、反対側の球面部より出射するが、出射面が球面となっているため、このレンズ作用によって別のレンズ等の光学部品を用いることなしに結像し、臨界屈折角を境界とする明暗境界像３をつくる。 - 特許庁

In the condensing element 3, a first light reflection tilted surface 5 and a second light reflection tilted surface 6 reflect light in the condensing element and lead the reflected light to the group 7 of the linear light passage holes, and are grouped with each one of the linear light passage holes 7.例文帳に追加

上記集光素子３には、さらに、該集光素子３内で光を反射し、該反射光を上記直線状光通過孔群７に導く第１光反射傾斜面５と第２光反射傾斜面６が該直線状光通過孔群７と組をなして設けられている。 - 特許庁

Light source light LG made incident on the incident port IP of an integrator optical system 21c is made incident directly on an opposed inclined end face 63a or made incident on the end face 63a after it is reflected by a pair of end face parts 63c and 63d or the like of a rectangular prism part 63.例文帳に追加

インテグレータ光学系２１ｃの入射ポートＩＰに入射した光源光ＬＧは、対向する傾斜端面６３ａに直接入射し、或いは直角プリズム部分６３の一対の端面部分６３ｃ，６３ｄ等で反射された後に傾斜端面６３ａに入射する。 - 特許庁

To provide a color filter substrate for reflection type liquid crystal display device reducing reflected light from a reflection layer in the peripheral part of a display picture region and having a flat alignment layer surface at least on the display picture region, and a reflection type liquid crystal display device provided therewith.例文帳に追加

表示画面領域周縁部において、反射層からの反射光を低減し、少なくとも表示画面領域において配向膜表面が平坦な反射型液晶表示装置用カラーフィルター基板及びこれを備える反射型液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

Light is made incident from the end face of a transparent light transmission body member 2 housed inside a cover 3 and the light is advanced inside the light transmission body member by utilizing total reflection, reflected by a light diffusion part provided on a part of the light transmission body member 2 and emitted to the outside.例文帳に追加

カバー内に納められた透明な導光体部材の端面より光を入射し、全反射を利用して、その光を、導光体部材内を進行させ、導光体部材の一部に設けられた光拡散部分により反射させて外部に放出する。 - 特許庁

Since the pressed key is determined by detection of reflected light, the light from the light emitting means can be entirely received by providing the light receiving means on the all circumference (four circumferential sides) of a group of keys disposed in a matrix, and can be surely discriminated from dust, compared with a conventional case.例文帳に追加

反射光の検出によって判定するものであるから、マトリックス状に配置された一群のキーの全ての周囲（四つの周囲）に受光手段を設ければ、発光手段からの光が全て受光されるようになり、従来の場合と比較して、塵埃との相違が判別が可能となる。 - 特許庁

To perform accurate detection of light without being influenced by stray light (unnecessary scattered light and reflected light) of excitation light in an analysis chip to be used for a light detection method for analyzing a test substance by detecting light generated from a photoresponsive marked substance coupled with the test substance.例文帳に追加

被検物質と結合した光応答性標識物質から生じる光を検出して被検物質の分析を行う光検出法に使用される分析チップにおいて、励起光の迷光（不要な散乱光や反射光）に影響されず、正確な検出を行えるようにする。 - 特許庁

In a fiber coupler 201, low coherence light emitted from a light source part 100 is divided into signal light irradiating a part to be measured 12 and reference light subjected to frequency shift by a piezo element 203, and signal light reflected by a prescribed deep part of the part to be measured 12 and reference light are coupled.例文帳に追加

ファイバカプラ201 において、光源部100 から出射された低コヒーレンス光を、被測定部12に照射する信号光と、ピエゾ素子203 で周波数シフトされる参照光とに分割し、また、被測定部12の所定の深部で反射された信号光と参照光とを合波する。 - 特許庁

A reflection measurement optical system for irradiating a sample S (a location A) with terahertz pulse light and detecting a reflection light reflected from the sample and a transmission measurement optical system for irradiating the sample S (a location B) with the terahertz pulse light and detecting a transmission light transmitted through the sample can be switched.例文帳に追加

テラヘルツパルス光を試料Ｓ(位置Ａ)に照射し試料から反射した反射光を検出する反射測定光学系と、テラヘルツパルス光を試料Ｓ(位置Ｂ)に照射し試料を透過した透過光を検出する透過測定光学系とを切り換え可能とする。 - 特許庁

To provide a backlight having an inclined face in a light guide plate, in which light unnecessarily exiting from the light guide plate is reflected to the light guide plate and light leaking from the inclined face is made to return to the light guide plate, and to increase adhesiveness among an optical sheet, the light guide plate and a flexible board.例文帳に追加

導光板に傾斜面を有するバックライトにおいて、導光板から不要に出射する光を導光板に向けて反射させ、傾斜面から漏れる光を導光板に戻し、さらに、光学シート、導光板およびフレキシブル基板との接着性を高める。 - 特許庁

In this case, a control unit Bb controls the reflection mirror 20 so as to partially and successively deform the reflection surface into such a shape that the reflected scanning light is made incident on the pupil according to the position of the incident on the reflection surface of the scanning light and the position of the pupil.例文帳に追加

ここで、制御ユニットＢｂは、上記走査光の上記反射面への入射位置及び瞳孔の位置に応じて、上記反射面が上記反射走査光を瞳孔に入射させる形状に部分的に順次変形するように反射鏡２０を制御する。 - 特許庁

An optical path shift means 111 which moves the optical path of exit light in parallel by application of another signal is provided on the outside of a light exit part 104 which emits light reflected by the reflection part 115 to the outside as exit light 11 through the light transmitting member 101.例文帳に追加

反射部１１５で反射した光を導光部材１０１を介して出射光１１として外部へ出す光出射部１０４の外側に、別の信号の印加によって出射光の光路を平行移動させることができる光路シフト手段１１１を具備する。 - 特許庁

Thereafter, an active image by laser reflected light of the light wave seeker is acquired distinctively from the background image as the new target from the caloric histogram (S7), and identity of the acquired target in each active image is determined, and tracking is performed as the same target in the state where the background image is changed (S8).例文帳に追加

続いて、上記熱量ヒストグラムから光波シーカのレーザ反射光によるアクティブ画像を背景画像と区別して新目標として捕捉し（Ｓ７）、各アクティブ画像の捕捉目標の同一性を判断し、背景画像が変化する状況下で同一目標として追尾する（Ｓ８）。 - 特許庁