「sample distribution」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

In one example of the concentration distribution altering parts 24, flow channels are once branched after the branch parts 8 and 10, and again allowed to meet with each other after three-dimensionally crossed to correct the bias of the concentration of the sample in the cross-sectional direction the flow channels after branching.例文帳に追加

濃度分布変更部２４の一例は、分岐部８，１０の後に流路を一旦分岐させ、立体交差させた後に再度合流させることで、分岐後の流路断面方向の試料濃度の偏りを補正するものである。 - 特許庁

To provide a particle-size distribution measuring instrument, capable of accurately displaying the help data corresponding at every set item of a measuring condition and providing the help data corresponding to the kind of a sample and/or the skill data, such as the skill degree an operator.例文帳に追加

測定条件の設定項目毎に対応するヘルプ情報を的確に表示できるようにするとともに、そのヘルプ情報を試料の種類及び／又はオペレータの熟練度等のスキル情報に応じて提供する。 - 特許庁

An InAs layer is grown on the surface of the sample, on which this strained distribution exists, an InAs layer is selectively grown on the exposed part of the layer 3 and microstructures, such as InAs quantum fine wires and InAs quantum dots, are formed.例文帳に追加

この歪分布が存在する試料表面にＩｎＡｓを成長させ、露出したＩｎＧａＡｓ層３上にＩｎＡｓを選択的に成長させ、ＩｎＡｓ量子細線やＩｎＡｓ量子ドットなどの微細構造を形成する。 - 特許庁

To provide a laser beam diffraction/scattering particle size distribution measuring instrument using a prismatic cell capable of reducing a sample amount, and provided with a temperature regulation mechanism capable of uniforming and regulating a temperature in the whole cell.例文帳に追加

サンプル量を少なくすることができる角柱セルを用いるとともに、セル全体の温度が均一かつ調整することが可能な温度調整機構を備えたレーザ光回折／散乱式粒度分布測定装置を提供する。 - 特許庁

The spectrometric data TB at a test wavelength FB and the gradient at the wavelength FB are used, and selected within a monotonically decreasing region or a monotonic increase region of a spectral distribution curve of a calibration sample by a standard machine.例文帳に追加

標準機による校正用サンプルの分光分布曲線の単調減少領域あるいは単調増加領域内で選択された検定波長ＦＢにおける分光データＴＢおよび検定波長ＦＢでの傾きを用いる。 - 特許庁

Scattered light from the sample 3 surface enters a CCD 5 through an image formation lens 4, to be converted into an electric signal, and image processing thereof is executed by a personal computer 11, and a CCD image corresponding to a scattered light intensity distribution is displayed on a monitor 12.例文帳に追加

試料３表面からの散乱光は、結像レンズ４を経て、ＣＣＤ５に入り、電気信号に変換され、パソコン１１により、画像処理され、モニター１２に、散乱光強度分布に応じたＣＣＤ画像を表示する。 - 特許庁

A commodity providing method provides commodity information specifying the commodity to be on sale or distributed, shop information specifying the shop for selling the commodity, and distribution shop sample providing shop information for distributing the commodity.例文帳に追加

本発明は、販売若しくは配布される商品を特定する商品情報と、商品を販売する販売店舗を特定する販売店舗情報と、商品を配布する配布店舗サンプル提供店舗情報が用意される。 - 特許庁

The selecting means 17 selects the noise removal processing having priority to the processing speed or the noise removal processing having priority to the degree of separation, based on the brightness distribution in the sample area of the original image 11 processed by executing the noise removal processings and the brightness distribution in the neighborhood area, and regulates the processing speed in the noise removal processing.例文帳に追加

ノイズ除去処理を実行して処理された原画像１１のサンプル領域の輝度分布と、その近傍領域との輝度分布とに基づいて、前処理選択手段１７は処理速度を優先する、または分離度を優先するノイズ除去処理を選択することができ、ノイズ除去処理の処理速度を調整することができる。 - 特許庁

The prior information about the digital content comprises the sample data of the digital content, distribution device manager information, receiving device manager information, transmission device manager information, and a digital signature such obtained by encrypting the hash value of the digital content with the receiving device manager information embedded as a digital watermark using the secret key of the manager of the distribution device.例文帳に追加

デジタルコンテンツの事前情報とは、デジタルコンテンツのサンプルデータと、配信装置管理者情報と、受信装置管理者情報と、送信装置管理者情報および受信装置管理者情報を電子透かしとして埋め込んだデジタルコンテンツのハッシュ値を配信装置管理者の秘密鍵を用いて暗号化したデジタル署名からなる。 - 特許庁

In the discharge electron detection value estimation method, an electromagnetic field distribution EM of the electronic optical system 4 in an electron microscope body 1 is calculated, while detection values of first emitted electrons 50 from a sample 5 in the electromagnetic field distribution EM and second emitted electrons 52 emitted from the electronic optical system by collision with the first emitted electrons are calculated by a Monte Carlo method.例文帳に追加

電子顕微鏡本体１内の電子光学系４の電磁場分布ＥＭを算出し、当該電磁場分布ＥＭにおける試料５からの第１放出電子５０及び第１放出電子の衝突によって電子光学系から放出される第２放出電子５２の検出値をモンテカルロ法によって算出する。 - 特許庁

A method for measuring an impurity concentration distribution in a sample of this invention comprises a scanning step, a filtering step, an intensity measuring step of measuring intensity of secondary electrons, a step of increasing a cut-off energy value Ec of a high-pass filter 17 by stages by N-1 times, and a step of evaluating energy distribution curves RL and RH of the intensity of secondary electrons.例文帳に追加

本発明の試料の不純物濃度分布を測定する方法は、走査工程、フィルタ工程、二次電子の強度を測定する強度測定工程、ハイパスフィルタ１７のカットオフエネルギー値Ｅｃを段階的にＮ−１回上昇させる工程、及び、二次電子の強度のエネルギー分布曲線ＲＬ、ＲＨを評価する工程とを備える。 - 特許庁

In the particle diameter distribution-measuring device where measuring conditions are set, data are arranged, or the like using an operation control part 16 for controlling the entire device, one portion or entire portion of the name of a sample and a dispersion medium is inputted to the operation control part 16, thus searching parameters required for calculating the particle diameter distribution.例文帳に追加

装置全体を制御する演算制御部１６を用いて測定条件の設定やデータ整理等を行わせるようにした粒子径分布測定装置において、前記演算制御部１６に試料や分散媒の名称の一部または全部を入力することにより、粒子径分布演算に必要なパラメータを検索できるようにした。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for measuring stress capable of evaluating the stress applied to a material and its distribution, and density and refractive index varying, in response to the stress and their distributions at a sub-micron level, regardless of the crystalline structure of the evaluation sample.例文帳に追加

物質に加わる応力及びその分布、並びに応力に伴って変化する密度や屈折率及びそれらの分布を、評価試料の結晶構造によらずにサブミクロンレベルで評価しうる応力測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A prescribed voltage is applied to each combination of resistors, a partial voltage according to the temperature of each resistor is generated, secondary electrons induced by the irradiation of electron beams are detected, and the temperature distribution of the sample stand is measured, based on the detected secondary electron beams.例文帳に追加

抵抗体の各組みに所定電圧を印加して、各抵抗体の温度に応じた分圧電圧を発生させ、電子線照射によって誘起される二次電子を検出し、検出した二次電子線に基づいて、試料台の温度分布を測定する。 - 特許庁

The refractive index distribution type rod lens 102 has color aberration and performs photothermal conversion spectral analysis by allowing a sample to flow to a plate-like member having a flow channel, which has depth twice or above the difference between the focal positions of exciting light and detection light.例文帳に追加

屈折率分布型ロッドレンズ１０２は色収差を有しており、励起光および検出光の焦点位置の差の２倍以上の深さを有する流路を形成した板状部材に試料を流して光熱変換分光分析を実施する。 - 特許庁

To provide a spacer for a hot press which is highly thermally conductive, makes the heat transfer of the contact surface with sample powder uniform at the sintering time of hot pressing, is capable of improving the temperature distribution in a furnace and has excellent compressive strength and impact resistance.例文帳に追加

高熱伝導性であり、ホットプレス焼結時における試料粉末との接触面の熱伝導を均一にし、炉内の温度分布を改善することができるとともに、圧縮強度及び耐衝撃性にも優れたホットプレス用スペーサーを提供する。 - 特許庁

To provide a determination method of a pH gradient capable of determining accurately a pH distribution in a separation field without performing real-time and complicated operation without disturbing determination of a sample separation result, and an isoelectric point separation method utilizing the method.例文帳に追加

サンプル分離結果の判定を妨害せずリアルタイムかつ複雑な操作を行わずに分離場のｐＨ分布を正確に決定することのできるｐＨ勾配の決定方法、またこの方法を利用した等電点分離方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holder/infrared spectrophotometer for avoiding the generation of fringe phenomenon, measuring the distribution, composition, and the like of the fringe phenomenon, and more accurately measuring infrared absorption spectrum.例文帳に追加

膜状の試料の赤外吸収スペクトルを測定する際に、フリンジ現象の発生を回避し、フィルムの分布および組成等を測定し、より正確な赤外吸収スペクトルの測定を可能とする試料ホルダー・赤外分光光度計を提供する。 - 特許庁

The white X rays are applied to the sample 2 at an incident angle ranging from 0 to 1° in a step of 0.1°, the illuminated X rays are totally reflected, and the reflection factor of the intensity of the reflected X rays is measured by a silicon drift detector 9 to measure an energy distribution.例文帳に追加

試料２に白色Ｘ線を入射角が０から１°まで、０.１°ステップで入射し、照射されたＸ線を全反射させ、反射Ｘ線の強度をシリコンドリフト検出器９で反射率を測定してエネルギー分布を測定する。 - 特許庁

An apparatus is composed so as to hemolyze erythrocytes in a specimen, liberate the plasmodia, carry out fluorescent staining of the liberated plasmodia, prepare a sample for assaying, detect the fluorescence intensity from the plasmodia in the sample for assaying and judge the species of the plasmodia based on the frequency distribution of the plasmodia having the fluorescence intensity within a prescribed range.例文帳に追加

検体中の赤血球を溶血してマラリア原虫を遊離させ、遊離したマラリア原虫を蛍光染色して測定用試料を調製し、測定用試料中のマラリア原虫から蛍光強度を検出し、所定範囲の蛍光強度を有するマラリア原虫の頻度分布に基づき、前記マラリア原虫の種類を判定するマラリア原虫測定方法により上記の課題を解決する。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor.例文帳に追加

探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。 - 特許庁

In this analysis method using the electron microscope for analyzing the material distribution condition of the material inside the capsule of the observation sample including the capsule, the observation sample including the capsule is prepared by irradiating the capsule storing a compound having a polymerizing group with ultrasonic waves.例文帳に追加

カプセルを含む観察用試料のカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法であって、前記カプセルを含む観察用試料として、重合性基を有する化合物が内包されたカプセルに超音波を照射した観察用試料を用いることを特徴とするカプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法。 - 特許庁

The light received by the CCD 13 contains spatial intensity distribution and, in the CCD 13, the drift component not depending on the complex refractive index change of the sample is removed from a signal containing the drift of a measured light path of an SPR angle as a feature point by the change of a position receiving the light lowest in the intensity of the spatial intensity distribution.例文帳に追加

上記ＣＣＤ１３にて受光される光には、空間的強度分布が含まれており、ＣＣＤ１３において、空間的強度分布の最も強度が小さい光を受光する位置の変動により、特徴点としてのＳＰＲ角度の、測定される光路のドリフトを含む信号から、試料の複素屈折率変化に依存しないドリフト成分を除く。 - 特許庁

When the reference data are generated from the design data, a scan list defined by coordinates of intersections found by scanning graphic data represented as polygons in a line direction in units of sub-pixels obtained by dividing a pixel or bit maps by the units of sub-pixels are generated, and an image intensity distribution corresponding to the transmissivity or phase distribution of a sample is calculated, using a physical model for partial coherent imaging.例文帳に追加

設計データから参照データを作成する際に、画素を分割したサブ画素単位で、多角形により表わされる図形データをライン方向に走査して求めた交点の座標で定義される走査リスト若しくはサブ画素単位のビットマップを生成し、試料の透過率や位相分布に応じた像強度分布を部分コヒーレント結像の物理モデルに基づいて計算する。 - 特許庁

The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4.例文帳に追加

試料片８をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第１平面５ｓの表面にある分析対象面１２を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面４の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。 - 特許庁

By using a two-dimensional scattered ion detector 8, the energy spectrum is measured on the basis of a detection position of the scattered ions, the crystal axis of the sample is detected on the basis of a detection amount distribution of the scattered ions, and the crystal axis and the beam axis of the ion beam are aligned.例文帳に追加

また，２次元の散乱イオン検出器８を用いて，散乱イオンの検出位置に基づくエネルギースペクトル測定や，散乱イオンの検出量分布に基づく試料の結晶軸検出及び該結晶軸とイオンビームのビーム軸との軸合わせを行う。 - 特許庁

The coordinate table setting part 6 sets the coordinate table 6a so that the next irradiating position is set at a place which is away from the irradiation point by a predetermined distance, by taking into consideration the heat distribution generated, when the laser light 5a irradiates the irradiation position where a sample 20 is located.例文帳に追加

座標テーブル設定部６は、試料２０のある照射位置にレーザ光５ａを照射したときに生じる熱の分布を考慮し、その照射位置から所定距離離れた箇所に次の照射位置が設定されるように、座標テーブル６ａを設定する。 - 特許庁

The operating part 80 as a means for estimating the lifetime of fluorescence estimates the lifetime of the fluorescence L_2 released from the sample 2 on the basis of the distribution of a peak wave high level generated from the memory 70 and the average detection number of the estimated fluorescent photons.例文帳に追加

蛍光寿命推定手段としての演算部８０は、メモリ７０により生成されたピーク波高値の分布、および、上記の推定された蛍光光子の平均検出個数に基づいて、試料２から放出された蛍光Ｌ_2の寿命を推定する。 - 特許庁

The intensity of the reflected electron signal from a sample with a known membrane thickness under the condition equal to the measuring condition of the reflected electron image is measured to be set to reference intensity and the distribution of the intensity ratio of the reflected election intensity of the reflected electron image and the reference intensity is displayed as an image.例文帳に追加

反射電子像を測定した条件と同等の条件で膜厚既知の試料からの反射電子信号強度を測定して基準強度とし、反射電子像の反射電子強度と基準強度との強度比の分布を画像表示する。 - 特許庁

The method for observation and determination of dimensions of individual molecule and for determination of weight distribution of a polydispersed sample: comprises placing a molecule in a media, applying external forces, inducing change of conformation/position; and then measuring the change.例文帳に追加

個々の分子の寸法の観察及び決定並びに多分散試料の重量分布の決定のための方法であって：媒体中に分子を置き、その分子に外力を加え、コンホメーション／位置の変化を引き起こし；次いでそれらの変化を測定することを含む。 - 特許庁

When measuring a magnetic body sample, the response signal detected by the detection coil is corrected by using a correction circuit for performing reverse convolution with the impulse response measured beforehand, to thereby acquire a correction signal from which an influence of a distribution capacity is removed.例文帳に追加

磁性体試料の計測の際には、この事前に測定されていたインパルス応答との逆畳込みを行う補正回路を用いて、検出コイルにより検出される応答信号を補正し、分布容量の影響が排除された補正信号を得る。 - 特許庁

The surface information of the sample W before cut is compared with that after cut, the surface information in an area where a difference is zero or near to zero is removed as a background part, and a residue is stored as the surface information expressing a brightness distribution of the cut cross section, in a controller 10.例文帳に追加

切断前および切断後の試料Ｗの表面情報を比較して、差がゼロまたはゼロに近い領域の表面情報を背景部として除去し、残りを切断面の輝度値分布を表わす表面情報として制御装置１０に記憶する。 - 特許庁

The method for analyzing the depth direction element distribution of a sample consists of a process subjecting the surface of a sample to precise cross-sectional processing by converged ion beam 2', a process for measuring fine particles 3 generated from the cross section 17 obtained by the precise cross-sectional processing and a process for processing the measured value as a function of the depth direction scanning position of the converged ion beam.例文帳に追加

収束イオンビーム（２’）により試料表面を精密断面加工する工程と、前記精密断面加工により得られた断面（１７）から発生する微粒子（３）を測定する工程と、前記測定によって得た値を前記収束イオンビームの深さ方向走査位置の関数として処理する工程と、を具備することを特徴とする、試料の深さ方向元素分布分析を行う方法。 - 特許庁

In the carbon analysis method, only an event originating from the carbon in a sample is selected, by simultaneously measuring scattered protons from ^12C(p,p')^12C^* reaction and gamma rays from ^12C^*, and the depth distribution of carbon from the energy spectrum of scattered protons is determined quantitatively.例文帳に追加

<sup/>^12Ｃ(ｐ，ｐ’)^12Ｃ^＊反応からの散乱陽子と^12Ｃ^＊からのガンマ線を同時計測することにより試料中の炭素に由来する事象のみを選択し、散乱陽子のエネルギースペクトルから炭素の深さ分布を定量的に求めることを特徴とする炭素分析方法。 - 特許庁

In Fig. an objective lens 11 is operated as a semi in-lens type objective lens, and when the exciting current is made to flow to an exciting coil 13, the objective lens 11 is excited strongly, and the peak of a distribution M of the magnetic field is formed on the axis near a surface of a sample 15 as shown by a dotted line.例文帳に追加

図３の状態は対物レンズ１１がセミインレンズタイプの対物レンズとして動作する状態であり、励磁コイル１４に励磁電流を流すと、対物レンズ１１は強く励磁され、試料１５表面近傍に点線で示すごとく軸上磁場分布Ｍのピークが形成される。 - 特許庁

To provide a method for evaluating a three-dimensional structure capable of checking or analyzing a failure of a process for manufacturing various devices or parts by allowing a user to know a shape of a sample to be evaluated from the surface to the interior or the distribution of the atom in three dimensions.例文帳に追加

３次元構造評価方法に関し、簡単な手段に依って、評価対象物の表面から内部へ向かう形状や元素の分布の変化を立体的に知ることができるようにして、種々なデバイスや部品などの製造プロセスの確認や故障解析など行うことを可能にする。 - 特許庁

To acquire a latent image carrier having high performance and an image forming device having high image quality by measuring highly accurately a surface potential on a domain of 1 mm or less relative to a sample having a surface potential distribution such as the latent image carrier (photoreceptor) used for the image forming device such as a copying machine.例文帳に追加

複写機等の画像形成装置に用いる潜像担持体（感光体）などの表面電位分布を有する試料に対して、１ｍｍ以下の領域の表面電位を高精度に測定し、高性能な潜像担持体及び高画質の画像形成装置を得る。 - 特許庁

The measurement method of a lipoprotein subclass includes a step for separating a fraction, including the small particle LDL from a sample to be inspected including lipoprotein; and a step for analyzing the distribution of the grain size of a fraction, including the small particle LDL obtained by the separation by dynamic light scattering method.例文帳に追加

本発明は、リポ蛋白を含む被検試料から小粒子ＬＤＬを含む画分を分離するステップと、分離により得られた小粒子ＬＤＬを含む画分の粒度分布を動的光散乱法で解析するステップとを含む、リポ蛋白サブクラスの測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method therefor, which perform the noncontact detection of the magnetism of a sample to be inspected successively, while moving a superconducting quantum interference device (SQUID) magnetic sensor itself over the surface of an object to be inspected, using the SQUID, and which obtains the magnetic distribution of the object to be inspected or the like to perform the nondestructive inspection.例文帳に追加

超電導量子干渉素子（SQUID）を用いてSQUID磁気センサ自体を被検体表面を移動させながら、非接触で被検査試料の磁気を連続的に検出し、被検体の磁気分布等を得て非破壊的な検査を行う検査装置とその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hanger made of paper wherein the hanger main body can be formed using a corrugated fiberboard having a light weight and flexibility, and at the same time, which has a higher strength compared with a conventional sample, and has no fear for a damage in a normal distribution process, and of which the assembly is easy.例文帳に追加

重量が軽く柔軟性を有するダンボール紙を用いてハンガー本体を形成することができるとともに、従来例に比して高強度で通常の流通過程において破損する虞れがなく組立てが容易な紙製ハンガーを提供することを課題とする。 - 特許庁

An analyzing section 13 generates intensity distribution of the fluorescent X-ray which is caused from a particular element, calculates an integrated value of the intensity of the fluorescent X-ray, and calculates the concentration of the particular element in the liquid sample based on the integrated value by using a calibration curve previously stored in a storage section 16.例文帳に追加

分析部１３は、特定の元素に起因する蛍光Ｘ線の強度分布を生成し、蛍光Ｘ線の強度の積算値を計算し、予め記憶部１６に記憶された検量線を用いて、積算値から液体試料中の特定の元素の濃度を計算する。 - 特許庁

Furthermore, because the Z map obtained from an image signal reflecting a composition information to the Z map obtained from the picture signal reflecting the surface structure is displayed by overlapping the Z map with other colors, a spatial distribution in the sample of a substance of a specific composition can be grasped distinctly.例文帳に追加

また、表面構造を反映する画像信号から得られるＺマップに組成情報を反映する画像信号から得られたＺマップを別な色で重ねて表示することで、特異的な組成の物質の試料内での空間分布を明瞭に把握することを可能にする。 - 特許庁

The method includes a process of cutting out a sample 2 for measuring the transmittance from a fluoride crystal ingot 1, measuring the sample so as to indirectly measure the transmittance at a plurality of positions in the fluoride crystal ingot 1 and obtaining the transmittance distribution in the fluoride crystal ingot 1, and a process of cutting out a raw material 3 from the part having the transmittance exceeding the referential transmittance in the measured fluoride crystal ingot 1.例文帳に追加

フッ化物結晶インゴット１から切り出した透過率測定用サンプル２を測定することにより、前記フッ化物結晶インゴット１内の複数の位置の透過率を間接的に測定して、当該フッ化物結晶インゴット１内の透過率分布を測定する工程と、測定した当該フッ化物結晶インゴット１内の透過率が基準の透過率を上回った部分から素材３を採取する工程とを有する。 - 特許庁

In a scanning probe microscope, such as a scanning tunnel microscope, one part of the layer 4 is selectively etched away by scanning the surface of the layer 4 with a probe 5 to make the layer 3 partially exposed, and a strain distribution to respond to the shape of the pattern of the layer 4 is formed on the surface of a sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、例えば走査型トンネル顕微鏡において、プローブ５でＧａＡｓ層４の表面を走査することによりＧａＡｓ層４を選択的にエッチング除去してＩｎＧａＡｓ層３を部分的に露出させ、試料表面にＧａＡｓ層４のパターン形状に応じた歪分布を形成する。 - 特許庁

In this state, by actuating an electron gun 130 or an ion gun 140, electrons or positive ions of inactive gas is irradiated onto an MgO membrane surface of the measurement sample, energy distribution of the emitted secondary electrons is measured with an electronic spectroscope 150, and the measured data of the secondary electron spectra are sent to an analysis device 200.例文帳に追加

この状態で、電子銃１３０或はイオン銃１４０を作動させて電子或は不活性ガスの正イオンを測定試料のＭｇＯ膜表面に照射すると共に、電子分光器１５０で、その放出された二次電子のエネルギー分布を測定し、測定した二次電子スペクトルのデータを解析装置２００に送る。 - 特許庁