| 例文 |
sample ofの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 20718件
To provide a sample gas gathering method and a sample gas gathering apparatus for accurately and easily capturing constituents to be analyzed contained in gas without any loss even in the case of a wet gas where the gas sample contains much moisture.例文帳に追加
ガス試料が水分を多く含む湿りガスであっても、ガス中に含まれる分析対象成分を損失無く正確に、しかも簡便に捕集できる試料ガス採取方法及び装置を提供する。 - 特許庁
For the examples of the charts and diagrams described above, refer to exhibit number 2, "Business process flowchart (sample)" and "Business process description (sample)," and 3, "Relationship between risks and controls (sample)," included in "II. Assessment and Report on Internal Control Over Financial Reporting." 例文帳に追加
上記a.b.における図や表については、「Ⅱ 財務報告に係る内部統制の評価及び報告」参考2(業務の流れ図(例)、業務記述書(例))~参考3(リスクと統制の対応(例))が参考となる。 - 金融庁
To provide a main system that determines a small-number carrier dispersion length with regard to a sample such as semiconductor wafer and a contamination level in the sample based on this, and a subsystem that detects an electrically defective map of the sample.例文帳に追加
半導体ウェハ等の試料に関する少数キャリア拡散長とこれに基づく試料内の汚染レベルを決定する主システム並びに試料の電気的欠陥マップを検出するサブシステムを提供する。 - 特許庁
To provide a sample chamber for gas exhaustion to keep the area around the sample at a constant, high degree of vacuum by performing a stable gas exhaustion and also a circuit pattern forming device which can draw images accurately over the whole sample area.例文帳に追加
安定した気体排気を行なって、試料周辺を一定した高真空度に保つ気体排気用試料室及び試料全域に渡り高精度な描画が可能な回路パターン形成装置を提供する。 - 特許庁
The camera 30 sets the same photography condition as those during photography of the sample image based on the photography condition data added to the sample image when predetermined key operation is made while the sample image is displayed.例文帳に追加
カメラ30は、見本画像を表示した状態で所定のキー操作が行われると、見本画像に付加されている撮影条件データに基づき、見本画像の撮影時と同一の撮影条件を設定する。 - 特許庁
To provide a preparation method for an evaluation sample, capable of obtaining an accurate and precise measured result, the evaluation sample, a production method for an electronic component material, an electronic component, and an evaluation sample preparation device for preparing evaluation samples.例文帳に追加
精密な測定結果が得られる評価試料の作製方法、評価試料、電子部品材料の生産方法、電子部品、このような評価試料を作製するための評価試料作製装置を提供する。 - 特許庁
A robot 1 is constituted so that sample pads 2, which store the sampled soil, are transferred to a hot-air circulating type air drying device 4 from a sample keeping box 3 and, after air-drying, the samples of the sample pads 2 are successively transferred to a mixing hopper 5.例文帳に追加
ロボット1は、採取した土壌を入れているサンプルバッド2をサンプル保管箱3から熱風循環式風乾装置4へ移し、風乾後、各サンプルバッド2の試料をホッパー5に順に移入する。 - 特許庁
The sample shall thereafter always be deposited so that anyone who under this Act is entitled to be furnished with a sample of the biological material should be furnished with a sample in Norway.例文帳に追加
当該試料は,その後常に,本法に基づいて当該生物学的材料の試料の分譲を受ける権原を認められる者がノルウェーで試料を入手することができるように寄託を継続しなければならない。 - 特許庁
A sample is acquired by forming a resin 13 layer on the thin film 12 side of a substrate 11 on which the thin film 12 is laminated, and after mounting an AE sensor 21 on the sample 1, the sample 1 is cooled to exfoliate the thin film 12.例文帳に追加
薄膜12が積層された基板11の薄膜12側に樹脂13層を形成したものを試料1とし、試料1にAEセンサ21を取り付けた後、試料1を冷却し薄膜12を剥離させる。 - 特許庁
When the operating member 13 is moved from the separated position to the operating position in this state, the wafer sample pressing member separates from the positioned and fixed wafer sample W and frees the movement of the wafer sample W.例文帳に追加
この状態で、前記作動部材13を離隔位置から作動位置に移動させると、前記ウエハ試料押圧部材8は位置決め固定されたウエハ試料Wから離隔してウエハ試料Wの移動を自由にする。 - 特許庁
To provide a sample blanking device for controlling a grid for a lead-acid battery capable of making an area occupied by a grid portion in a sample for control constant every inning when the sample for control is blanked from a continuous grid.例文帳に追加
連続格子体から管理用サンプルを打ち抜く際に、管理用サンプル内で格子部分が占める面積を毎回一定にすることができる鉛蓄電池用格子体の管理用サンプル打ち抜き装置を提供する。 - 特許庁
Luminous flux S on a sample side is incident on the undersurface of a sample 21, in an almost vertical direction and the light transmitted through the sample upwardly is refracted by a reflecting mirror M1 to be sent to an integrating sphere 24 equipped with a detector.例文帳に追加
試料側光束Sは試料21の下面に対し略鉛直方向に入射し、上方に透過した光は反射鏡M1で屈曲されて検出器を備えた積分球24へ送られる。 - 特許庁
To provide an electron beam lithographic apparatus in which temperature changes of a sample, a stage structure member and a sample chamber structure member can be reduced without causing a magnetic field change inside a sample chamber and temperature control can be performed even during irradiation with electron beams.例文帳に追加
試料室内に磁場変化を生じることなく、試料、ステージ構造部材、試料室構造部材の温度変化を低減でき、電子ビーム照射中も温度制御可能な電子線描画装置を実現する。 - 特許庁
The sample holder for focused ion beam machining observation device has a sample stage of which surface for holding a minute sample piece is kept horizontal, and a holding part for fixing the stage in a direction.例文帳に追加
集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダに備え付ける試料台の微小試料片固定面が常に水平に保たれており、前記試料台を一定の方向に固定するための試料台固定部を備える。 - 特許庁
A tester has means (compressive stress adding device 5) for forming a sample 2 into a curved shape with an excitation direction of the sample 2 as an axis, and magnetically contacts and holds a yoke 1 with respect to the sample 2 in curved shape.例文帳に追加
試料2の励磁方向を軸として該試料2を湾曲形状にする手段(圧縮応力付加装置5)を有し、かつ該湾曲形状での試料2に対しヨーク1を磁気的に接触保持する試験器とする。 - 特許庁
A film comprising Os (osmium) is formed on the surface of the sample before processed into a slice form and this sample having the Os film on its surface is processed into the slice form to prepare the sample for the transmission electron microscope.例文帳に追加
薄片状に加工する前のサンプルにOs(オスミウム)からなる膜をサンプルの表面に形成し、その後に加工して薄片状とすることを特徴とする透過型電子顕微鏡用試料の作製方法。 - 特許庁
In the doping method of a sample containing a photosensitive component, the sample is doped by controlling a region to be doped with a charge carrier and its doping amount for the sample S containing a photosensitive component.例文帳に追加
感光性成分を含む試料へのドーピング方法において、感光性成分を含む試料Sに対して電荷担体をドープされるべき領域とそのドーピング量を制御し、前記試料へのドーピングを行う。 - 特許庁
When supplying a sample to a sample analysis device having a working electrode and a counter electrode, the initial filling speed of the sample to the device is determined by calculating initial current after applying a potential between the electrodes.例文帳に追加
作用電極及び対電極を有するサンプル分析デバイスにサンプルを供給する際、電極間に電位を印加した後の初期電流を求めることにより、サンプルのデバイスへの初期充填速度を決定する。 - 特許庁
To provide a sample holder for a microscope that can observe almost a total region of a sample with high resolution using a scanning electron microscope, and to provide an electron microscope equipped with such a sample holder for a microscope.例文帳に追加
走査型電子顕微鏡を用いて試料の略全域を高分解能で観察することができる顕微鏡用試料ホルダ、及びそのような顕微鏡用試料ホルダを具備する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The integrating sphere 2 is equipped with a sample opening 2a, the light detecting opening 2b, provided at a position symmetric with respect to the normal line 2n of the sample surface 1, arranged in the sample opening 2a and a mirror surface reflecting opening 2t.例文帳に追加
また積分球2は、試料開口2aと、該試料開口2aに配置される試料面1の法線2nに関して対称な位置に設けられた受光開口2b及び鏡面反射開口2tとを備える。 - 特許庁
A sample preparation 31, serving as the measurement object, is irradiated with a white light from a semiconductor light-emitting element 32, and the transmitted light from a sample is detected, to acquire a visible image concerning the structure and the geometry of the sample.例文帳に追加
測定対象となる試料プレパラート31に半導体発光素子32から白色光を照射して、試料からの透過光を検出して、試料の構造や形状に関する可視画像を取得する。 - 特許庁
A sample container 8 provided with a diaphragm 6 is put into an extraction position of the sampling station provided with a sampler 2, when preparing the sample for the analyzer, and the sampler 2 is arranged on the sample container 8 in the extraction position.例文帳に追加
分析器用試料の準備に際し、隔膜6を備える試料容器8が、サンプラ2を備えるサンプリングステーションの抽出位置に入れられ、サンプラ2が、抽出位置で試料容器8の上に配置される。 - 特許庁
This gas chromatograph equipped with the PTV has the soft sample vessel 11 connected to a sample introducing port 27 of the PTV, and a suction pump 12 connected to a split flow passage 26 branching off from a sample vaporizing chamber 21.例文帳に追加
PTVを装備したガスクロマトグラフにおいて、PTVの試料導入口27に接続された軟質試料容器11と、試料気化室21から分岐するスプリット流路26に接続された吸引ポンプ12とを備える。 - 特許庁
To provide a sample agitating apparatus capable of uniformly agitating a sample such as blood in a container without dispersing or discharging the sample as splashes to the outside and achieving both a compact size and simplification in the apparatus.例文帳に追加
容器内の血液等の試料を飛散させ外部に飛沫として放出させることなく、試料を均一に撹拌できると共に、装置の小型化あるいは簡素化も達成できる、試料の撹拌用装置を提供する。 - 特許庁
If the absolute value ABS of the current sample is smaller than the envelope value ENVs at the immediately preceding sample and the count value C reaches the predetermined number N, the envelope value ENV is made smaller than the envelope value ENVs at the immediately preceding sample.例文帳に追加
当該サンプルの絶対値ABSが直前のエンベロープ値ENVsより小さく、かつカウント値Cが所定数Nに達しているときには、エンベロープ値ENVを直前のエンベロープ値ENVsより小さくする。 - 特許庁
Based on the speckle, a computing unit 16 calculates a parameter representing the nonuniformity of the scattering intensities of the scattered X-ray 11a coming from the sample 12, and uses the parameter as an index of the nonuniformity of the structure of the sample 12.例文帳に追加
演算部16は、このスペックルに基づいて、試料12からの散乱X線11aの散乱強度の不均一さを表すパラメータを算出し、試料12の構造の不均一性の指標とする。 - 特許庁
For the categorized sample documents, the degree of independence of the classification category is judged and, when the degree of independence is low, particularly between what categories the degree of independence is low is shown to indicate the distribution of the provided sample documents.例文帳に追加
さらに、カテゴリ別のサンプル文書について、分類カテゴリの独立度を判断し、独立度の低いものに関して、特にどのようなカテゴリ間の独立度が低いかを示して、提供すべきサンプル文書の分布を指示する。 - 特許庁
To enable the surface observation of a sample under the optimum condition by expanding the dynamic range of the vibration amplitude of a cantilever in the case where the surface of the sample is scanned while vibrating the cantilever in the vicinity of a resonance point.例文帳に追加
カンチレバーを共振点付近で振動させながら試料表面の走査を行う場合に、その振動振幅のダイナミックレンジを拡大することでより最適な条件での表面観察を可能とする。 - 特許庁
In a method for inspection of a sample, upon calculating sharpness strength by using an estimated value of height information of the sample achieved from height information of design data or an image, the image quality improvement treatment of the captured image is performed by using the sharpness strength.例文帳に追加
設計データの高さ情報または画像から求めた試料の高さ情報の推定値を用いて鮮明化強度を計算し,該鮮明化強度を用いて撮像画像の画質改善処理を行う。 - 特許庁
To achieve high precision measurement of refractive index distribution of a sample, by causing a sample including an optical element to have a refractive index matching that of a matching liquid, and thus preventing generation of wavefront noise due to the difference between refractive indices of the optical element and the matching liquid.例文帳に追加
光学素子からなる被検体とマッチング液との屈折率を一致させて、該両者の屈折率差に伴う波面ノイズの発生を阻止し、被検体の屈折率分布を高精度に測定する。 - 特許庁
To obtain a means for improving degradation of attraction force due to presence of warpage of a sample, and leakage of helium gas used for heat transfer of the sample to be processed and a lower electrode in a plasma processing apparatus using electrostatic attraction.例文帳に追加
静電吸着を用いたプラズマ処理装置において、試料の反り有無による吸着力の低下と処理する試料と下部電極の熱伝達に用いるヘリウムガスのもれを改善する手段を得る。 - 特許庁
To provide a method of evaluating oxidative heat build-up of coal by which the degree of oxidative heat build-up of an objective coal sample can be estimated with accuracy based only on the microscopic results of the coal sample.例文帳に追加
対象石炭の顕微鏡分析結果に基くだけで、その石炭の酸化発熱性の度合いを精度良く推定することのできる石炭の酸化発熱性の評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
The first blur image is an image of at least a part of the observation region of the sample, obtained by relatively moving an objective lens of a microscope and the sample along the optical axis direction of the objective lens.例文帳に追加
前記第1のぼやけ画像は、顕微鏡の対物レンズ及び試料を、前記対物レンズの光軸方向に沿って相対的に移動させて得られる、前記試料の少なくとも一部の観察領域の画像である。 - 特許庁
A method for diagnosing a degradation state of an insulation oil in oil filled equipment includes the steps of heating a sample of an insulation oil sampled from oil filled equipment, measuring the saturated moisture content of the sample in this state, and determining the degradation state of the insulation oil from the saturated moisture content.例文帳に追加
油入機器から採取した絶縁油の試料を加熱し、この状態で前記試料の飽和水分量を測定し、前記飽和水分量から絶縁油の劣化状態を判定するようにした。 - 特許庁
CO generated in the second determining process S14 corresponds to the amount Z of total oxygen corresponding to the sum of the amount X2 of oxygen adhering to the surface of the Si sample 38 and the amount Y of oxygen in the sample.例文帳に追加
第二定量工程S14において発生するCOは、Si試料38の表面付着酸素量X2及び試料中酸素量Yの合計に相当する全酸素量Zに対応している。 - 特許庁
To perform the analysis with high precision at a plurality of places approaching the surface of a sample by preventing the adhesion of primary ions to the peripheral region of the analyzing region on the surface of the sample when secondary ion mass analysis is performed.例文帳に追加
二次イオン質量分析を行なう際に、試料面における分析領域の周辺部位への一次イオンの付着を防止し、試料面の近接する複数箇所における高精度の分析を行なう。 - 特許庁
To provide a small-sized apparatus for crystallization treatment of a protein, with which a series of operations for screening crystallization conditions of the protein, including from the preparation of sample solutions to the safekeeping and the monitoring of the sample solutions can be automatically performed.例文帳に追加
タンパク質の結晶化条件のスクリーニングのためのサンプル溶液の生成から保管及び監視までの一連の作業を自動的に行うことができる小型のタンパク質結晶化処理装置を提供する。 - 特許庁
An arithmetic operation part 103 acquires designation of a display range of a profile in a profile image showing a profile of a sample, which is performed to display of a plane image of the sample in an image display area 108.例文帳に追加
画像表示領域108での試料の平面画像の表示に対してなされる、試料のプロファイルを表すプロファイル画像における当該プロファイルの表示範囲の指定を、演算部103が取得する。 - 特許庁
The observation laser beam for observing the sample and the operation laser beam for operating the sample are multiplexed, and the sample placed on a stage is irradiated with the multiplexed light through an objective, then fluorescence emitted from the sample to the direction of an observation optical axis is detected.例文帳に追加
標本を観察するための観察用レーザ光と標本を操作するための操作用レーザ光とを合波し、合波後の光を対物レンズを介してステージ上に載せられた標本に照射し、標本内から観察光軸方向に発せられる蛍光を検出する。 - 特許庁
Then a sample color reception section 15 receives designation of a particular sample color among sample colors indicated by color samples, and an after-conversion image data output section 16 outputs after-conversion image data obtained by converting the conversion object color in the image data into the particular sample color to a printer.例文帳に追加
そして見本色受付部15が色見本が示す見本色の中から特定の見本色の指定を受付け、変換後画像データ出力部16が画像データにおける変換対象色を特定の見本色に変換した変換後画像データをプリンタへ出力する。 - 特許庁
After filling the liquid sample into a sample holding hole comprising the through hole and the bottom surface part in the state where the first face of the sampler is faced upward, the lid part is placed, to thereby hold the liquid sample, and measuring light is irradiated from the upper direction or the lower direction to the liquid sample.例文帳に追加
サンプラの第1の面を上に向けた状態で貫通孔と底面部とから成る試料保持孔中に液体試料を充填した後、蓋部を載置することにより液体試料を保持させ、その液体試料に対して上方向又は下方向から測定光を照射する。 - 特許庁
The minute sample processing observation device includes a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, as well as a probe 72 separating a minute sample including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and picking up the separated minute sample.例文帳に追加
上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁
In the transmission electron microscope provided with the sample holder having a side part holding member and a back surface holding member in a sample stand, the sample holder is provided with an abutment part, on which a surface of the sample abuts, between the side part holding member and the back surface holding member.例文帳に追加
試料台に側部保持部材と裏面保持部材とを有する試料ホルダーを備える透過電子顕微鏡において、試料ホルダーの側部保持部材と裏面保持部材との間に、前記試料の表面が当接する当接部を備えることを特徴とする試料ホルダーを提供する。 - 特許庁
The biochip has a sample 13 on one surface, is located at a side opposite to the detector of light by fluorescence or chemical emission generated by the sample regarding the sample, and includes a substrate 11 having reflection members 14, 16, 17 at positions corresponding to the sample.例文帳に追加
本発明によるバイオチップは、一方の面に試料(13)を備え、当該試料に関し、試料が発生する蛍光または化学発光による光の検出器と反対側であって、当該試料に対応する位置に反射部材(14、16、17)を備える基板(11)を含む。 - 特許庁
To present useful sample designs from a plurality of existing sample designs and to sequentially present the sample designs from the most useful one when a design part which is a sample design is extracted from an actual site to an undesirable design part.例文帳に追加
好ましくないデザイン部分に対して、実際のサイトから、見本デザインであるデザイン部分を抽出する場合、存在している複数の見本デザインから、役に立つ見本デザインを提示することでき、しかも、役に立つ見本デザインから順番に提示することができるようにする。 - 特許庁
The sample needle 7 is moved from a sample container 8 to an injection port 5 to collection-introduce a sample, and a sample component is collected thereafter by the collection nozzle 12 moved to a position of the collection container 13 by the same driving mechanism, by this constitution.例文帳に追加
このように構成したことにより、サンプリングニードル7を試料容器8からインジェクションポート5に移動させて試料を採取導入した後、同じ駆動機構により捕集容器13の位置に移動させた捕集ノズル12により試料成分を捕集することが可能となる。 - 特許庁
The measuring objective sample is constituted by stacking ten test samples in each of which a thin film is formed on a film, and putting a standard powder sample between a test sample 1J which is closest to a side where an X-ray enters and a test sample 1I which is second closest to the side.例文帳に追加
フィルム上に薄膜が形成されている被検試料を10枚積層させ、X線が入射する側から数えて第1番目の被検試料1Jと第2番目の被検試料1Iとの間に標準粉末試料を仕込み、これを測定対象試料とする。 - 特許庁
The electron beam microanalyzer has a U-shaped holding frame for forming a space which houses an embedded sample, holding the embedded sample in a force-acting state by the coil spring CS installed on the base of the frame, and having a sample mask RW placed on the upper surface thereof to hold the same while holding the conductive system between a holder CH and the sample.例文帳に追加
包埋試料を収納する空間を形成するU字形保持枠を有し、枠の底部に設置したコイルバネにて包埋試料を力が作用した状態で保持し、しかも上面には試料マスクを載置してホルダと試料間の導電系を保持させつつ保持するものである。 - 特許庁
When detecting a target selected from pathogens and/or allergy associated components in a body fluid, the method includes the steps of (a) non-invasively collecting a body fluid sample with a swab member, (b) transferring the sample to an application zone on a sample analysis device and (c) analyzing the sample.例文帳に追加
本発明では、体液中の病原体および/またはアレルギーに関連する成分から選択されるターゲットを検出するに際し、(a)体液試料を綿棒部材で非侵襲的に捕集し、(b)この試料を試料分析デバイス上の塗布帯域に移し、(c)この試料を分析する。 - 特許庁
This method comprises, in addition to a process for processing arbitrary area of an object sample into a fine sample piece by using charged particle beam and extracting the sample piece, a process for attaching fine conductors 30a and 30b to the extracted fine sample piece 72, and a process for applying voltage to the attached fine conductors.例文帳に追加
荷電粒子ビームを用いて、対象試料の任意の領域を微小試料片に加工、摘出する工程に、摘出した微小試料片72に微細導線30a,30bを取り付ける工程、取り付けた微細導線に電圧を印加する工程を加える。 - 特許庁
| 例文 |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|