「sample of」に関連した英語例文の一覧と使い方(85ページ目) - Weblio英語例文検索

In the oxidation process of the method for measuring the total organic carbon content in the sample liquid, the sample liquid is irradiated with ultraviolet rays from a light source 22 while vibrating the sample liquid in an oxidizing container 21 by an ultrasonic oscillator 25 to generate carbon dioxide from the organic compound in the sample liquid.例文帳に追加

試料液中の全有機炭素含量を測定する方法の酸化工程において、超音波発振器２５によって酸化器２１内の試料液を振動させつつ、光源２２から該試料液に対して紫外線を照射して、該試料液中の有機化合物から二酸化炭素を発生させる。 - 特許庁

A sample processing apparatus in each system is mainly composed of a steam generation container 6; a sample container 3 storing the liquid sample, to which steam is supplied from the steam generation container 6; a cooler 4 for cooling steam generated from the sample container 3; and a receiver 5 for storing a distillate.例文帳に追加

各系統の試料処理機器は、水蒸気生成容器（６）、液体試料を収容し且つ水蒸気生成容器（６）から水蒸気が供給される試料容器（３）、試料容器（３）で発生させた蒸気を冷却する冷却器（４）、留出液を収容する受器（５）とから主に構成される。 - 特許庁

To prevent a determination mistake of an organism sample in a quantitative determination part, in an organism sample determination device determining quantitatively the organism sample charged in the second flow passage after injecting a buffer agent into the first flow passage, and subjecting the determined organism sample to electrophoresis in the first flow passage.例文帳に追加

第１の流路に緩衝剤を注入した後に、第２の流路に充填した生体サンプルを定量し、定量した生体サンプルを第１の流路で電気泳動させる生体サンプル判別装置において、定量部での生体サンプルの定量ミスを未然に検出する。 - 特許庁

The oxygen measuring apparatus includes a biological sample storage container for storing a biological sample attached to the carrier, a medium perfusion system for perfusing a medium to the biological sample storage container, and a flow cell which is disposed at a medium outlet of the biological sample storage container and in which an oxygen electrode is integrated.例文帳に追加

担体に付着された生物試料を収容する生物試料収容容器と、生物試料収容容器へ培地を灌流する培地灌流システムと、生物試料収容容器の培地出口に設置された、酸素電極が組み込まれたフローセルと、を備える酸素測定装置である。 - 特許庁

A heating chamber 31 of the sample holder 30 includes: an opening 32 to pass an electron beam applied from an electronic gun 14; an infrared ray light source 36 to heat a sample 40 installed on a sample stand 42; and a reflective plate 38 to converge an infrared ray on the sample 40.例文帳に追加

試料フォルダ３０の加熱室３１は、電子銃１４から照射された電子線を通過させる開口部３２，試料台４２に設置された試料４０を加熱する赤外線光源３６，赤外線を試料４０に集光する反射板３８を備えている。 - 特許庁

Regarding each output sample, a data operation section 21 derives the output sample data by performing the interpolating process by using every input sample data belonging to the region within an interpolating scope period having the same time width as the reference time width ΔT centering on the sampling timing of the output sample.例文帳に追加

データ演算部２１は、各出力サンプルについて、当該出力サンプルのサンプリングタイミングを中心とした基準時間幅ΔＴと同一の時間幅を持つ補間処理範囲期間内に属する全ての入力サンプルのデータを用いて、補間処理を行うことで、当該出力サンプルのデータを得る。 - 特許庁

A head 5 is driven by a sample dispensing mechanism to suck the specimens housed in eight different wells 7a of a sample plate 7 by eight nozzles 5a and, thereafter, the head 5 is moved to the sample dispensing position 9 and the specimens sucked in the nozzles 5a are dispensed in eight sample reservoirs at same time.例文帳に追加

サンプル分注機構により、ヘッド５を駆動させてサンプルプレート７の異なる８つのウエル７ａに収容された検体を８本のノズル５ａに吸引した後、ヘッド５をサンプル分注位置９に移動させ、ノズル５ａに吸引した検体を８つのサンプルリザーバに同時に分注する。 - 特許庁

To make an accurate sample surface temperature acquired in conformity with a color of a sample, and to control a test temperature by the sample surface temperature, in a weathering fading test method applied with light and heat onto a sample piece to examine a weathering fading resistance.例文帳に追加

試料片に光と熱を与えて耐候光性を調べる耐候光試験方法に関するものであって、試料の色に即した正確な試料面温度を知ることができる耐候光試験方法、また、かかる試料面温度によって試験温度を制御する耐候光試験方法を提供すること。 - 特許庁

A pH marker 12 capable of being visually confirmed by the naked eye is preliminarily added to a sample solution 11 and, when the sample solution 11 is penetrated in the unidimensional gel 15, voltage is applied across the unidimensional gel 15 and the sample solution 11 to penetrate the sample in the gel 15.例文帳に追加

肉眼で視認可能なｐHマーカー１２を予めサンプル溶液１１に加えておき、該サンプル溶液１１を１次元目のゲル１５に浸透させる際に、１次元目のゲル１５とサンプル溶液１１の間に電圧を印加することによって、該ゲル１５にサンプルを浸透させる。 - 特許庁

After an arbitrary device process is completed, one portion of a wafer 108 is extracted as a minute sample 110 exceeding one repetition pattern by a probe by using a finite sample extracting apparatus 102, transferred on a minute sample storage tool 109, and thus stored into a minute sample storage apparatus 103.例文帳に追加

任意のデバイスプロセス完了後に、微小試料摘出装置１０２でウェーハ１０８の一部を、１繰返しパターン以上のサイズの微小試料１１０として、プローブで摘出して微小試料保管具１０９に載せ替え、微小試料保管装置１０３に保管される。 - 特許庁

A space sample chamber is provided in addition to a sample chamber, the chamber is formed into structure capable of storing plurally sample holders or probe holders, a time concerned in sample replacement and probe replacement is thereby reduced while keeping a ultrahigh vacuum condition, and a dead time between respective measurements is eliminated thereby to enhance measuring efficiency.例文帳に追加

試料室の他に予備試料室を設け、試料ホールダもしくはプローブホールダを複数個貯溜できる構造とすることで、超高真空を維持しながら試料交換、プローブ交換に係わる時間を削減すると共に、各計測間のデッドタイムを無くし計測効率を高めた。 - 特許庁

To provide a method and device for producing a sample for separating or separately preparing a minute sample including a desired specific region from a sample such as a semiconductor wafer and an electronic part like a device without tilting a sample stage for the purpose of minute region analysis, observation, or measurement.例文帳に追加

試料ステージを傾斜することなく、半導体ウエーハやデバイスなどの電子部品等の試料から所望の特定領域を含む微小試料を、分離または分離準備して、微小領域分析や観察、計測用の試料作製方法およびその試料作製装置を提供すること。 - 特許庁

This automatic vending machine is provided with a merchandise sample display part in which a merchandise sample is stored so as to be visibly recognized and a screen member which can be inserted into a space on the front face of the merchandise sample display part, wherein when the screen member is inserted, the merchandise sample is shielded so as not to be visibly recognized.例文帳に追加

本発明は、商品見本を視認可能に保持する商品見本陳列部と、商品見本陳列部の前面の空間に挿入可能なスクリーン部材とを備え、スクリーン部材が挿入された場合に、商品見本が視認できないように遮蔽される、自動販売機を提供する。 - 特許庁

A sample single crystal 21 for measuring specific resistance is pulled by using a seed crystal 23, and a product single crystal 22 to be a product is pulled successively to the sample single crystal 21 by using a sample single crystal end part 21d formed at the lower end of the sample single crystal 21 as a seed crystal.例文帳に追加

種結晶２３を用いて抵抗率測定用のサンプル単結晶２１を引き上げ、サンプル単結晶２１の下端に形成されるサンプル単結晶終端部２１ｄを種結晶としてサンプル単結晶２１に連続して製品となる製品単結晶２２を引き上げる。 - 特許庁

This cell 12 for the sample is provided with a cell main body 22 storing the sample 14 of a measuring object for diffusion reflection, and having a window 20 formed into curved-facelikely to make light 16 get incident toward the sample 14 and to emit diffusion reflection light 18 from the sample 14.例文帳に追加

拡散反射の測定対象となる試料１４が収容され、該試料１４に光１６が入射され、該試料１４からの拡散反射光１８が出射される窓部２０が曲面状に形成されたセル本体２２を備えたことを特徴とする試料用セル１２。 - 特許庁

When the fluctuation thereof is within ±5% (step S4), a sample having a secondary X-ray dose closest to the average value is specified as a standard sample (step S5), and adhesion of plating to a sample other than the standard sample is detected by a destructive method.例文帳に追加

この二次Ｘ線量のばらつきが±５％以内のときに（ステップＳ４）、二次Ｘ線量の平均値に最も近い値を有するサンプル２を標準サンプルとして特定し（ステップＳ５）、標準サンプルを除くサンプル２のめっき付着量を破壊方式により検出する。 - 特許庁

This head space sampling device contains a sample receiver 2 capable of housing a waste water sample 4; a sparger chamber steam column 12; a sample receiver cover assembly sparger tube 5 for connecting the sparger chamber steam column to the sample receiver; one or more detecting devices 275; and one or more analytical devices 20.例文帳に追加

ヘッドスペース試料採取装置は、廃水試料（４）の収容可能な試料受け器（２）、スパージャ室蒸気カラム（１２）、スパージャ室蒸気カラムを試料受け器に連結する試料受け器カバーアセンブリ、スパージャチューブ（５）、１以上の感知装置（２７５）及び１以上の分析装置（２０）を含む。 - 特許庁

There are several instances where these motif were used in the early-modern times, such as coming-of-age ceremony of Iesachi TOKUGAWA (Sample of Choshin Hikae in the collection of Yusoku Bunka Kenkyujo (Institute of Court Culture)). 例文帳に追加

近世も徳川家祥元服ほかしばしば使用された例がある（有職文化研究所蔵調進控見本）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To realize an image display method of a scanning electron microscope capable of quantitatively observing the state of unevenness of the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸の状態を定量的に観察することができる走査電子顕微鏡の像表示方法を実現する。 - 特許庁

In a scanning probe microscope 10 for making a probe 16 provided for one end of the cantilever 15 scan along the surface of a sample 30 and measuring the height and a distribution of the physical state of the sample 30, the resonance frequency of the cantilever 15 is detected before and after the measurement of the sample 30 to detect the presence or absence of the adhesion of foreign matter to the tip of the probe 16.例文帳に追加

カンチレバー１５の一端に設けられたプローブ１６を試料３０の表面に沿って走査させて試料３０の高さ及び物理状態の分布を測定する走査プローブ顕微鏡１０において、試料３０の測定の前後にカンチレバー１５の共振周波数を検出してプローブ１６の尖端への異物の付着の有無を検知する。 - 特許庁

To make a temperature gradient between an upper part and a lower part in an NMR sample tube extremely small, even when NMR measurement is conducted at a high temperature of 400°C or more using a large-diametric NMR sample tube such as 10 ϕNMR sample tube, or a high-pressure and high- temperature NMR sample tube for a supercritical fluid as the sample tube.例文帳に追加

１０φＮＭＲ試料管のような大口径ＮＭＲ試料管や超臨界流体用の高温高圧ＮＭＲ試料管を用いて４００℃以上の高温でＮＭＲを測定する際でも、ＮＭＲ試料管の下部と上部の間の温度勾配を極めて小さくできるような温度可変型ＮＭＲプローブを提供する。 - 特許庁

The sample cell 200 has a reference surface 202 for generating sample light beams passing through the sample 206 and reference light beams not passing through the sample 206 by transmitting a part of the incident light beams and reflecting the residual part, and a reflection surface 204 positioned in parallel with the reference surface 202 across the sample 206.例文帳に追加

試料セル２００は、入射する光ビームの一部を透過するとともに残りを反射することにより、試料２０６を通る試料光ビームと試料２０６を通らない参照光ビームとを作り出す参照面２０２と、試料２０６を間に挟んで参照面２０２に対して平行に位置する反射面２０４とを有している。 - 特許庁

To preclude a sample suction nozzle from colliding with a turntable to prevent the sample suction nozzle from being damaged, even when the turntable is not located in a correct position or even when a CPU runs away, in a sample analyzer provided with the turntable for installing the sample suction nozzle and a sample cup for measuring a body fluid of the human being, an animal or the like.例文帳に追加

ヒトや動物などの体液測定に、サンプル吸引用ノズルとサンプルカップを設置する為のターンテーブルを具備した試料分析装置においてターンテーブルが正しい位置に無くても、あるいはＣＰＵ暴走の場合もサンプル吸引用ノズルがターンテーブルに衝突せず、サンプル吸引用ノズルの損傷を防ぐことが課題である。 - 特許庁

There is provided the automatic analyzer which can suck a sample by a sample dispensation probe 16 at the single sampling position by delivering and moving a sample rack 18 which holds the sample container 17 from a first sampler 60 to a second sampler 80, and moving the sample rack 18 in horizontal and vertical directions of the rack at the fixed position.例文帳に追加

試料容器１７を保持する試料ラック１８を第１のサンプラ６０から第２のサンプラ８０に受け渡し移動して、固定された位置で試料ラック１８をラックの水平方向及び上下方向に移動させることで、単一のサンプリング位置におけるサンプル分注プローブ１６による試料吸引ができる自動分析装置。 - 特許庁

A sample solution is obtained by adding perchloric acid and sulphuric acid to a sample of ruthenium hydroxide containing the impurity such as chrome, volatilizing and removing the ruthenium in the sample by heating, evaporating, and drying it, cooling the obtained sample, and then adding water and hydrochloric acid to dissolve the sample again, thereby quantitatively determining inpurity contained.例文帳に追加

クロムなどの不純物を含有する水酸化ルテニウムの試料に過塩素酸と硫酸を添加し、加熱して蒸発乾固することにより試料中のルテニウムを揮発させて除去し、得られた試料を放冷した後、水と塩酸を加えて試料を再溶解することにより得られた試料溶液中に含まれる不純物を定量する。 - 特許庁

The dispensing device, the dispensing method, and the automatic analysis apparatus have a step of sucking the liquid sample by a dispensing nozzle, moving between a suction position for sucking the liquid sample, containing a sample or a reagent and a discharge position for discharging the liquid sample sucked, and dispensing by discharging the liquid sample sucked into a container, located at the discharge position.例文帳に追加

検体または試薬を含む液体試料を吸引する吸引位置と、吸引した液体試料を吐出する吐出位置との間を移動する分注ノズルによって液体試料を吸引し、吸引した液体試料を吐出位置に配置された容器に吐出して分注を行う分注装置、分注方法及び自動分析装置。 - 特許庁

This sample container 2 of the present invention used for the device is provided with a bottomed cylindrical container stored with the sample A in its bottom part, a sample B supplying tube 5 introduced into the bottomed cylindrical container, and the gas collecting tube 7 for collecting the gas generated by mixing the sample A and the sample B.例文帳に追加

この装置に使用する試料容器２は、試料Ａが底部に収容された有底筒形容器と、この有底筒形容器に導入された試料Ｂ供給管５と、前記有底筒形容器の上部に設けられた、試料Ａと試料Ｂとの混合によって発生するガスを捕集するためのガス捕集管７とを備える。 - 特許庁

To provide a sample condensing method and device, for easily and accurately condensing a material to be measured in a sample in a designated area on a sample table without large labor efficiently when the condensing of the material to be measured is required, and a sample analyzing method and device for efficiently analyzing the sample using the above.例文帳に追加

試料中の被測定物質の濃縮が求められる場合、試料台上の所定領域に容易にかつ正確に、しかも大きな労力を要することなく効率よく濃縮できるようにした試料濃縮方法及び装置と、それらを使用して効率よく試料を分析できるようにした試料分析方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a sample for a fluorescent X-ray analysis capable of forming a uniform molded body of the sample of coarse and hard powder that is conventionally difficult to be produced as a measured sample, and to provide a pressurizing and molding fixture used for the production.例文帳に追加

従来では測定試料として作製することが困難であった粗くて硬い粉体を試料についても、均一な成形体とすることができる蛍光Ｘ線分析用試料の作製方法及びその作製に用いる加圧成形治具を提供することである。 - 特許庁

To provide a method for producing a sample set, capable of efficiently handling objects and, especially, used for improving efficiency of control and an experimental procedure of samples which are stored in a sample container equipped with a plurality of storage parts, to provide a program for aligning genes, to provide the sample set, and to provide a program for aligning the objects.例文帳に追加

対象物を効率よく取り扱え、特に、複数の格納部を備えたサンプル容器に格納するサンプルの管理や実験操作の能率を向上させるためのサンプルセット製造方法、遺伝子整列プログラム、サンプルセット及び対象物整列プログラムを提供する。 - 特許庁

The calibration sample structure is capable of restraining such an event of as deterioration of the taste data caused by a secular change or the like, or a change in the taste data of the other article accompanied thereto, because the calibration sample structure holds the calibration sample reproduced easily and semipermanently in its basic aspect.例文帳に追加

この校正サンプル構造体は、基本的に容易かつ半永久的に再現することが可能な校正サンプルを保持しているため、経年などによる味データの変質と、それに伴うその他の商品の味データの変化、といった事態の発生を抑えることができる。 - 特許庁

This temperature calibrating method for the thermal analyzer is constituted so as to measure not only the temperature of a measuring sample set between electrode rods 6a and 6b in place of a reference substance 44 with a temperature sensor 34 but also the current, voltage, electric resistance or the like of the measuring sample while changing the temperature of the measuring sample.例文帳に追加

基準物質４４に代えて電極棒６ａ，６ｂの間にセットされる測定試料の温度を温度センサ３４によって測定すると共にその温度を変化させながらその測定試料の電流、電圧、電気抵抗等を測定する熱分析装置の温度校正方法である。 - 特許庁

If the sample output indication section 21 is operated during continuous output of the printed matter, a paper output tray of the printer 20 is switched from the ordinary paper output tray 23 to the sample paper output tray 24 after the completion of output of the booklet which is output at the time when the sample output indication section is operated.例文帳に追加

印刷物の連続出力中にサンプル出力指示部２１が操作されると、当該サンプル出力指示部が操作された時点で出力されている冊子の出力の終了後、印刷機２０の排紙トレイが通常用排紙トレイ２３からサンプル用排紙トレイ２４に切り替えられる。 - 特許庁

To provide a system for analyzing a transport sample capable of analyzing a sample in a sample container being sealed, for a time shorter than that in the conventional analysis, and capable of reducing contamination possibility of a worker and an amount of waste; and a method therefor.例文帳に追加

試料容器を開封せずにそのまま試料分析を行うことができ、従来に比べて短時間で試料分析を行うことができるとともに、作業員の汚染可能性の低減と廃棄物量の低減とを図ることのできる輸送試料分析システム及び分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide problems present in a conventional method for detecting a very small amount of contaminants or contaminant gases such as difficulty in handling sample substrates, the breakage of sample substrates, the length of measuring time, low sensitivity, difficulty in detecting volatile contaminants, and limitations on the shapes of sample substrates.例文帳に追加

従来の極微量汚染物または極微量汚染ガスの検出方法にあった、サンプル基板の取り扱いの困難性、サンプル基板の破壊、測定時間の長さ、低感度、揮発性の汚染物質検出の困難性、及びサンプル基板形状の制限の問題を解決すること。 - 特許庁

The vacuum tank is provided with symmetry having three planes intersecting with each other as symmetric faces, and a sample to be measured is held on the center of the vacuum tank to suppress temperature drift which may be generated by the thermal expansion/contraction of members when the temperature of the sample is changed on the relative position of the probe to the sample.例文帳に追加

また、互いに直交する３平面を対称面とする対称性を真空槽に持たせ被測定試料をその中心に保持することによって試料温度変化の際の部材の熱膨張収縮に伴う探針の試料に対する相対位置の温度ドリフトを抑制する。 - 特許庁

To reduce the damaging possibility of the already cut surface of a sample block and to arrange the already cut surface of the sample block so as to easily make the same parallel to the virtual cutting surface of a knife in a non-contact state, even when the sample block is set to an apparatus different from a previously set apparatus.例文帳に追加

試料ブロックの既切削面を傷つけるおそれが少なく、従前にセットした装置と異なる装置に試料ブロックをセットする場合であっても、試料ブロックの既切削面をナイフの仮想切削面に非接触状態でかつ容易に平行となるよう配置できる。 - 特許庁

The central part of the bottom surface of the sample receiving tray 2 is formed into a protruded shape and an air blowing-in port for blowing air toward the space region surrounded by the inner peripheral surface of the sample receiving tray 2 and the outer peripheral surface of the sieve ring 4 from the sample blowoff port is provided.例文帳に追加

試料受け皿２内底面中央部の形状を上に凸の形状とし、且つ試料吹出し口から、試料受け皿２の内周面と篩いリング４の外周面とで囲まれた空間部分領域に向けて気体を吹き込むための気体吹込み口を設ける。 - 特許庁

The optical axis of the poly-capillary X-ray half lens 13 is orthogonal to the sample placing surface 141, and the fine part of the sample S is surely irradiated with the X-ray regardless of the height of the sample S, and the fluorescent X-ray from the fine part is detected, to thereby perform stable fluorescent X-ray analysis.例文帳に追加

ポリキャピラリＸ線ハーフレンズ１３の光軸は試料載置面１４１に直交しており、試料Ｓの高さに拘わらずに、確実に試料Ｓの微小部分にはＸ線が照射され、微小部分からの蛍光Ｘ線は検出され、安定した蛍光Ｘ線分析が行われる。 - 特許庁

A difference between the reference manifestation amount measured from two or more areas of the reference sample and the analysis manifestation amount measured from two or more areas of the analysis object sample corresponding to the two or more areas of the reference sample is obtained for every area of the two or more analysis object samples.例文帳に追加

基準サンプルの複数の領域からそれぞれ測定された基準発現量と、基準サンプルの複数領域に対応する解析対象サンプルの複数の領域から測定された解析発現量との相違を、複数の解析対象サンプルの領域毎に求める。 - 特許庁

The method and device in the present invention comprises an automatic weighing means A for a sample, a sample agitating means B in an ageing container 8, and an evaluating means for the amount of decomposition of organic matter by automatically and continuously measuring the amount of generation of carbon dioxide in the ageing container 8 containing the sample.例文帳に追加

サンプル重量の自動計量手段Ａと、熟成容器８内のサンプル攪拌手段Ｂと、サンプルを収容する熟成容器８内の二酸化炭素の発生量を自動連続的に測定することにより有機物の分解量を評価する手段とからなる。 - 特許庁

The sample holding member 2 is constituted of a microplate 20 having a plurality of wells 21, which respectively hold a sample, arranged thereto in a two-dimensional array state and the filter member 30 provided so as to be fixed at a predetermined position where the emission from the sample held in each of the wells 21 of the microplate 20 transmits.例文帳に追加

試料をそれぞれ保持可能な複数のウェル２１が２次元アレイ状に配置されたマイクロプレート２０と、マイクロプレート２０のウェル２１内に保持された試料からの発光が透過する所定位置に固定されて設けられたフィルタ部材３０とによって試料保持部材２を構成する。 - 特許庁

The scattered light from the surface of the sample 3 is successively converted into an electrical signal through an image forming lens 4 and a CCD 5 and a CCD image is recorded and analyzed to obtain data where the surface roughness or surface shape of the sample is shown as a numerical value for evaluating the microroughness of the surface of the sample.例文帳に追加

試料３表面からの散乱光を、順次、結像レンズ４、ＣＣＤ５を経て、電気信号に変換させ、ＣＣＤ画像を記録、解析し、試料の表面粗さまたは表面形状を表す数値化されたデータを得、試料表面のマイクロラフネスを評価する。 - 特許庁

According to the present sample analysis method, because a membrane 20 consisting of materials with optical absorptivity of laser beam L higher than the sample 10 is formed on one surface of the sample 10, absorptivity of laser beam L can be enhanced by irradiating laser beam L to the membrane 20.例文帳に追加

この試料分析方法によれば、レーザ光Ｌについての光吸収率が試料１０より高い材料からなる膜２０を試料１０の一表面に形成するため、その膜２０にレーザ光Ｌを照射することで、レーザ光Ｌの吸収率を高くすることができる。 - 特許庁

In this height gauge the sample 6 such as a wafer having a bump is scanned by laser light, reflected light from the sample surface is received, a height measurement signal is obtained from a signal, corresponding to the amount of reflected light from the image forming position of the reflected light to measure the height of the surface of the sample.例文帳に追加

バンプ５を有するウェハーの如き試料６上をレーザー光で走査し、試料表面からの反射光を受光し、この反射光の結像位置からの反射光量に応じた信号から高さ測定信号を求めて、試料６の面の高さ測定を行う高さ測定装置である。 - 特許庁