「sample order」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The discharging container 104 is connected to a sampling line 101 through which the sample of a raw material of cement 102 is conveyed, in order to introduce the sample into the discharging container 104.例文帳に追加

放電容器１０４には、セメント原料１０２のサンプルが移送されるサンプリングライン１０１と接続され、放電容器１０４に導入する。 - 特許庁

A plurality of X-ray lenses are arranged between the sample and the detector so that the sample, a plurality of the X-ray lenses and the detector are arranged in this order.例文帳に追加

試料、複数のＸ線用レンズ、検出器の順に並ぶように前記複数のＸ線用レンズを試料と検出器の間に配置する。 - 特許庁

In order to evaluate the pattern of a sample K, an electron beam 2a emitted from an electron gun 37 is made incident on a sample face Ka through an object lens 10.例文帳に追加

試料Ｋのパターンを評価するため、電子銃３７から放出される電子線２ａを対物レンズ１０を介して試料面Ｋａへ入射させる。 - 特許庁

To this end, the sample material is irradiated with a laser beam along an irradiation trajectory in order to produce a weak path (301) in the sample material.例文帳に追加

この目的のため、サンプル材料は、該サンプル材料中に脆弱路（３０１）を作成するべく、レーザービームにより照射軌道に沿って照射される。 - 特許庁

In order to adsorb an organic compound in a sample gas and concentrate it in a collection part 6, the sample gas is introduced from a sample gas inlet 1 to the collection part 6 through a sample passage for a fixed time, and the organic compound is adsorbed and concentrated in the collection part 6.例文帳に追加

サンプルガス中の有機化合物を吸着して捕集部６に濃縮するために、サンプルガス入口１からサンプル流路により、サンプルガスを捕集部６に一定時間導入し、捕集部６に上記有機化合物を吸着して濃縮する。 - 特許庁

In a laser scanning type microscopic part 22, the sample 34 is irradiated with light and detection of the quantity of the light from the irradiated sample 34 is carried out in order to obtain the image of the sample 34 on the basis of the quantity of the light from the sample 34.例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡部２２は、試料３４からの光の光量に基づいて試料３４の画像を得るために、試料３４への光の照射と当該照射がされた試料３４からの光の光量の検出とを行う。 - 特許庁

To diversify sample images without deteriorating workability upon selecting the sample images in a camera device displaying several sample images in the order, and setting photographing conditions corresponding to the sample images that a user selects.例文帳に追加

複数の見本画像を順に表示し、使用者が選択した見本画像に対応する撮影条件を設定するカメラ装置において、見本画像の選択時の作業性を低下させることなく、見本画像の多様化を図ることを可能とする。 - 特許庁

To provide a technique advantageous in order to obtain uniform illuminance distribution while illuminating a sample from the whole direction.例文帳に追加

試料を全方位から照明しつつ均一な照度分布を得るために有利な技術を提供する。 - 特許庁

Thus a signal processor processes this output signal, in order to determine the characteristics in the surface layer of the sample.例文帳に追加

そして、信号プロセッサが、サンプルの表面層の特性を判定するべく、この出力信号を処理する。 - 特許庁

In order to reduce the operation quantity, the high-pass gain may be set to 0 for the sample where the overflow occurred.例文帳に追加

ただし、演算量削減のため、オーバーフローの起きたサンプルでは高域ゲインを０にするなどしても良い。 - 特許庁

Further, a sample point deriving part 903 compresses the distortion correction parameter from the sectional n-th order polynomial obtained by the n-th order polynomial coefficient deriving part 902.例文帳に追加

さらに、サンプル点導出部９０３は、ｎ次多項式係数導出部９０２より得られた区分ｎ次多項式から歪み補正パラメータの圧縮を行う。 - 特許庁

The made-to-order method for producing the clothes having the cup parts 1 is provided by measuring custom dimensions of customers by using the made-to-order measuring sample.例文帳に追加

またこのオーダーメイド用計測サンプルを用いて顧客のカスタムサイズを計測することによりカップ部を有する衣類を製造するオーダーメイド方式とする。 - 特許庁

The inspection method includes obtaining of a first reflectivity spectrum of the sample 22, while the sample 22 is irradiated with parallel X-rays, and processing the first reflectivity spectrum, in order to measure the diffuse reflection characteristics of the sample 22.例文帳に追加

その検査方法はＸ線の平行光線でサンプル２２を照射中に、サンプル２２の第１の反射率スペクトルを取得し、サンプル２２の散漫反射特性を測定するために第１の反射率スペクトルを処理する。 - 特許庁

In an electrophoresis apparatus for analyzing a fluorescence- labelled sample by the capillary array using a plurality of capillaries, an adaptor, a sample plate, a sceptor and a sceptor holder are successively placed in this order on the tray in the sample supply part of the capillary array, to constitute a sample plate assembly.例文帳に追加

複数本のキャピラリを用いたキャピラリアレイにより、蛍光標識された試料を分析する電気泳動装置において、キャピラリアレイの試料供給部におけるトレイに、アダプタ、その上にサンプルプレート、その上にセプタ及びその上にセプタホルダを載置したサンプルプレートアセンブリ。 - 特許庁

The present invention provides the method for holding the solid sample for the secondary ion mass analysis, which is capable of easily securing the solid sample to the solid sample holder, in order to accurately measure the fragile solid sample at high reproducibility with a secondary ion mass analyzer.例文帳に追加

本発明は、脆い固形試料を二次イオン質量分析装置で再現性よく正確に測定するために、固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供するものである。 - 特許庁

Calibration is executed in order to adjust primary beams 110 on the sample surface to an ideal arrangement in response to the change of operating conditions of inspection conditions and the like such as an electric field on the sample surface, and a voltage applied to the sample in accordance with the characteristic of the sample.例文帳に追加

試料の特性に応じて試料表面における電界や、試料に印加する電圧などの検査条件等の動作条件の変更に対応し、試料表面における一次ビーム110を理想的な配置に調整するため、キャリブレーションを行う。 - 特許庁

In order to indicate the GDR switching points in the bitstreams, a Sync Sample Information Box, which is contained in a Sync Sample Box, is used to provide information of such GDR switching points.例文帳に追加

ビットストリームにおけるGDR切り換えポイントを表すために、同期サンプルボックスに包含される同期サンプル情報ボックスが使用され、斯かるGDR切り換えポイントの情報が提供される。 - 特許庁

A sample observation part 50 has an electronic lens system consisting of a cathode lens 1, an intermediate lines 2 and a projection lens 3 in order to observe the sample 9 in a vacuum chamber 6.例文帳に追加

試料観察部５０は、真空チャンバ６内の試料９を観察するための、カソードレンズ１と、中間レンズ２と、投影レンズ３とからなる電子レンズ系を有する。 - 特許庁

Pieces of information regarding all pieces of depth of the sample 18'' at each of many different points on the sample are acquired by single scan in an order of about 40 milliseconds.例文帳に追加

サンプル上の多数の異なる点のそれぞれにおけるサンプル１８’’のすべての深さに関する情報は約４０ミリ秒のオーダーの１回走査で取得できる。 - 特許庁

When similarity calculation between a query image Ic and all sample images Is is completed, the similar image retrieval proceeds to step S56, and sample images with high-order similarity are selected as similar image candidates.例文帳に追加

クエリ画像Icと全ての標本画像Isとの類似度算出が完了するとステップＳ５６へ進み、類似度が上位の標本画像が類似画像候補として選抜される。 - 特許庁

To provide a method of preparation of sample for mass spectrometry making possible for mass analysis of RNA of concentration of sub-pico order.例文帳に追加

サブピコモルオーダの濃度のRNAの質量分析を可能とする質量分析サンプルの調製方法を提供する。 - 特許庁

The inside of a sequence forming path 45 is decompressed, the sample material S, air A and pressurized water W are supplied in the order, and a sequence part comprising the order of the pressurized water W, the air A, the sample material S, the air A and the pressurized water W is formed.例文帳に追加

シーケンス形成通路４５内を減圧して供試材Ｓ、空気Ａ、加圧水Ｗを順番に供給し、加圧水Ｗ、空気Ａ、供試材Ｓ、空気Ａ、加圧水Ｗの順番からなるシーケンス部を形成する。 - 特許庁

To construct a paper sample supply system and a supply method capable of providing an order paper sample from an user accessing a sample site on the Internet as a part of electronic commercial transactions, and capable of realizing a charging system for making the paper sample supply system onerous in expectation of the remarkable reduction of the transaction cost.例文帳に追加

電子商取引の一環として、インターネット上のサンプルサイトにアクセスしたユーザからの注文ペーパーサンプルを提供し、大幅な取引コストの引き下げを見込めることで有償化への課金システムが可能となるペーパーサンプル供給システムと供給方法を構築する。 - 特許庁

The server transmits order information input data for displaying a sample image corresponding to the selected type, and for inputting order information to the user terminal (S204).例文帳に追加

サーバは、選択されたタイプに対応するサンプル画像を表示させかつ注文情報を入力させるための注文情報入力データを、ユーザ端末に送信する（Ｓ２０４）。 - 特許庁

The method enables detection to bring the probe into contact with the sample by measuring distance dependency of the second order differential capacity.例文帳に追加

この二階微分容量の距離依存性を計測することで、探針と試料とが接触することを検出できる。 - 特許庁

Subsequently, in order to remove dust generated by grinding in the (step SP12), the sample is washed (step SP13).例文帳に追加

次に、ステップＳＰ１２における研磨によって発生したゴミを取り除くために、試料を水洗する（ステップＳＰ１３）。 - 特許庁

In one embodiment, only a portion of the sample is directed to the sensor in order to shorten the time to reach equilibrium.例文帳に追加

一実施形態では、平衡に達するまでの時間を短縮するために試料の一部のみがセンサに向けられる。 - 特許庁

To provide a method for determining a current value of an electric current applied to a sample in order to obtain a voltage value required for measuring the sample in four-probe resistivity measurement.例文帳に追加

４探針抵抗率測定において試料の測定に必要な電圧値を実現するために、試料に供給すべき電流の電流値を決定する方法を提供する。 - 特許庁

According to this application, in order to accomplish the purpose, a holding member using spring force like a banana chip is attached to the sample changing rod, and inserted into a hole of the sample holder to elastically hold it.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本発明によれば、試料交換棒にバナナチップのようなバネ力を利用した保持部材を取付け、試料ホルダの穴に挿入し、弾性保持する。 - 特許庁

Then, at the time of receiving the order, and acquiring the color chart sample of the personal printer from the owner (orderer), the profile is prepared based on this color chart sample, and delivered to the orderer.例文帳に追加

そこで、それを受注するとともに、その所有主（＝注文主）から、そのパーソナルプリンタによるカラーチャートサンプルを取得すると、それに基づいてプロファイルを作成して、注文主に納品する。 - 特許庁

To input sample data corresponding to a prescribed set item related with print quality(the result of a printed matter) to a printer in order to print a sample picture prior to printing.例文帳に追加

印刷前に、サンプル画像を印刷するため、印刷品質（印刷物の出来栄え）に関する所定の設定項目に対応したサンプルデータをプリンタに入力することを可能とする。 - 特許庁

The centralized management of the electronic commercial transaction including a method from the receiving of an order of the paper sample designated from a user accessing a sample site of a server terminal 1 to the delivery, and further to the settlement of accounts, is executed.例文帳に追加

サーバ端末１のサンプルサイトにアクセスしたユーザから指定のペーパーサンプルを受注し、納品から代金決済方法を含む電子商取引の一元管理を行う。 - 特許庁

To provide a mechanism capable of measuring the thickness of a thin film sample with an accuracy of subnanometer order and capable of measuring the analysis of various measuring results of a thin film, taking into consideration the thickness of the thin film sample.例文帳に追加

薄膜試料厚さをサブナノメートルオーダーの精度で測定することを可能とし、薄膜の各種測定結果の解析を、試料厚さを考慮して測定できる機構を提供する。 - 特許庁

In order to solve the subject matter, the scanning electron microscope is provided to measure the sample height and the sample potential using measured results obtained at the applied state of a voltage to a sample, so as not to get the charged-particle radiation of an electronic beam to the sample when it is radiated to the sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために、試料に向かって電子線等の荷電粒子線等を照射する際に、当該荷電粒子線が試料に到達しないように、試料に電圧を印加した状態で得られる電子等の荷電粒子の検出結果を用いて、試料高さや試料電位を測定する走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

Furthermore, a first-in/first-out memory FIFO is provided for sample insertion or sample deletion such that sample insertion or sample deletion is executed in the sample region with improved reliability and a method with improved cycle slip detection is recommended in order to enhance robustness against noise and inappropriately selected timing loop parameters.例文帳に追加

さらに、先入れ先出しメモリＦＩＦＯがサンプル挿入または削除のために設けられ、それは、サンプル挿入またはサンプル削除が向上した信頼性を伴ってサンプル領域で行われ、サイクルスリップ検出の改善された方法が雑音および不適切に選ばれたタイミングループパラメータに対する頑健性の増強のために推奨される。 - 特許庁

In order to achieve the object, this invention provides a method of measuring the potential distribution on the sample by an electrostatic potentiometer for measuring the potential on the sample while the sample carried in by a carry-in mechanism of a charged particle beam passes.例文帳に追加

上記目的を達成するために本発明では、荷電粒子線の搬入機構によって搬入される試料の通過中に、試料上の電位を測定する静電電位計によって試料上の電位分布を計測する手法を提案する。 - 特許庁

In order to solve the above problem, this invention provides a method of measuring the potential distribution on the sample by an electrostatic potentiometer for measuring the potential on the sample while the sample carried in by a carry-in mechanism of a charged particle beam passes.例文帳に追加

上記目的を達成するために本発明では、荷電粒子線の搬入機構によって搬入される試料の通過中に、試料上の電位を測定する静電電位計によって試料上の電位分布を計測する手法を提案する。 - 特許庁

In order to efficiently heat the sample, the sample as well as a conductor are sealed in a sampling tube, and inductive current is then induced in the conductor by rotating the tube in a magnetostatic field, thereby inductively heating the conductor to heat the sample.例文帳に追加

試料を効率良く加熱するために、導電体を試料とともに試料管内に封入し、静磁場中で回転させることにより誘導電流を導電体に誘起して、導電体を誘導加熱することにより試料を加熱する。 - 特許庁

A sample to be examined is mounted on a cassette and inserted into a housing in which light is not practically transmissible and, in order to induce fluorescent light emission from a test compound on the sample, light from a light source inside the housing is turned toward the sample.例文帳に追加

検査されるサンプルがカセット上に取付けられ、実質的に光を通さない筐体内へと挿入され、サンプル上の被検化合物からの蛍光発光を誘起するために、筐体内の光源からの光がこのサンプルに向けられる。 - 特許庁

In order to achieve the objective, this invention provides a method of measuring a potential distribution on the sample by an electrostatic potentiometer for measuring the potential on the sample while the sample carried in by a carry-in mechanism of a charged particle beam passes.例文帳に追加

上記目的を達成するために本発明では、荷電粒子線の搬入機構によって搬入される試料の通過中に、試料上の電位を測定する静電電位計によって試料上の電位分布を計測する手法を提案する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR REDUCING MISMATCH OF TIMING OF SAMPLE HOLDING CIRCUIT BY USING RESPECIFICATION OF FFT AND LOW-ORDER CIRCUIT例文帳に追加

ＦＦＴおよび下位回路の再指定を用いてサンプルおよびホールド回路におけるタイミングのミスマッチを低減するシステムおよび方法 - 特許庁

A higher-order digital value is determined in this timing, and the sample/hold means 106 stores the output voltage of an amplifier 103.例文帳に追加

このタイミングにより上位のディジタル値を決定し、サンプルホールド手段１０６に増幅器１０３の出力電圧を記憶させる。 - 特許庁

Upon finishing the processing and observation, the microprobe 12 is moved and evacuated in order to separate the conductive plate 19 from above the sample 7.例文帳に追加

加工、観察が終了したら、導電板１９を試料７上から離すため、マイクロプローブ１２を動かし、退避させる。 - 特許庁

To simply sample a part of skin in order to confirm the state of skin including at least a skin layer or a dermis layer.例文帳に追加

少なくとも表皮層または真皮層を含む肌の状態を確認する目的で肌の一部を簡単にサンプリングする。 - 特許庁

In addition, an electronic library comprises colors and textures in order to be used for accurately matching a color sample and/or the specifications.例文帳に追加

また、本発明は、カラー見本及び／又は仕様に正確に合わせるため、カラー及びテクスチャを備えた電子ライブラリを提供する。 - 特許庁