「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve the test efficiency by testing simultaneously a normal memory cell space and a redundant memory cell space and to easily detect a short circuit between the normal memory cell space and the redundant memory cell space in a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体記憶装置において、ノーマルメモリセル空間と冗長メモリセル空間を同時にテストして、テスト効率の向上、ノーマルメモリセル空間と冗長メモリセル空間とのショート検出を容易に行う。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit 1 comprises at least one memory 21 for storing data, and at least one BIST (Built-In Self Test) circuit 10 for testing the memory 21.例文帳に追加

半導体集積回路１は、データを記憶する少なくとも１つのメモリ２１と、メモリ２１をテストする少なくとも１つのＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ−Ｉｎ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）回路１０と、を備える。 - 特許庁

To provide a drop impact testing device, capable of carrying out precisely a natural drop impact test dropped under identical conditions, from a fixed height each time, and accurately dropped at the same spot.例文帳に追加

一定高さから毎回同じ条件で落下させ、同一箇所に正確に落とすといった自然落下衝撃試験を精度良く行うことができる落下衝撃試験装置を提供すること。 - 特許庁

To make a person superficial in knowledge and experience as to each degree of vibration mode of a testing object correct easily unbalance in the each degree of vibration mode and carry out a balance test easily.例文帳に追加

試験体の各次数の振動モードに関する知識や経験が浅い者でも、各次数の振動モードにおける不釣合いの修正を容易に行うことができて、釣合い試験を容易に行う。 - 特許庁

To provide a mount for a rotating equipment vibration test that evaluates vibration resistance of rotating equipment in a state near to an operation state, and also evaluates weatherability of the rotating equipment, and also to provide a vibration testing method of the rotating equipment.例文帳に追加

回転機器の耐振性を稼働状態に近い状態で評価でき、且つ回転機器の耐候性も評価できる、回転機器振動試験用マウントと回転機器の振動試験方法とを提供する。 - 特許庁

In a dynamometer for controlling to drive a testing machine body, a shape of a test piece (round bar, rectangle, pipe) is selected from a panel face of an operation display panel part 1 of a control part 20c and a size is input.例文帳に追加

試験機本体を駆動制御する動力計において、制御部２０ｃの操作表示パネル部１のパネル面から試験片の形状（丸棒、矩形、パイプ）を選択し、寸法を入力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing the conversion characteristics artificially in the case of a high speed operation of an ADC (analog to digital converter) without actually operating the ADC at high speed, and to provide its test method.例文帳に追加

実際にＡＤＣを高速動作させることなく、その高速動作時の変換特性を疑似的にテストすることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

An infiltration test by an infiltration testing apparatus modeling a target ground is carried out in advance, the infiltration performance of the chemical solution at the target ground is forecasted in advance, and grouting is carried out based on that performance.例文帳に追加

対象地盤をモデル化した浸透試験装置による浸透試験を予め実施して、対象地盤における薬液の浸透性能を予め予測し、それに基づいて注入を行う。 - 特許庁

To obtain a mobile object radio system such as a train radio system capable of testing a state of communication to be performed by a control line and a sound line between communication equipment and radio equipment provided in a moving object such as a train and outputting a test result to a user.例文帳に追加

通信装置と移動体に備えられた無線装置とが基地局装置を介して制御回線及び音声回線により通信する移動体無線システムで通信状態を試験する。 - 特許庁

To provide a pressure measurement device and a pressure test method capable of easily and precisely testing a fine pressure measurement device while effectively utilizing a conventional pressure tester.例文帳に追加

従来の耐圧試験機を有効に利用しながら、微小圧力測定装置を容易、且つ精確に試験することのできる圧力測定装置、及び圧力試験方法を提供することである。 - 特許庁

To easily store a large number of cords having different lengths such as a testing wiring cord by integrating a storage box and a winder in a set and to quickly wind the cord after completion of the test.例文帳に追加

収納ボックスと巻取り装置とをセットにすることで、試験用配線コードのように長さの異なる多数のコードを容易に収納することができると共に、その試験終了後には、迅速に巻き取る。 - 特許庁

To provide a test facility for fire alarm that is suitable for testing an actual operating condition of a fire alarm by visually presenting a realistic condition in the occurrence of fire.例文帳に追加

実際の火災発生状況に近い状況等を視覚的に演出して、火災警報器の実際の作動状況を試験することに適した火災警報器の試験設備を提供すること。 - 特許庁

The shear testing device (12) includes a drive mechanism that provides relative movement between an X-Y table (13) to which the substrate (300) is attached and a test tool (100) mounted on a baseplate (20) via a resilient connector (21).例文帳に追加

剪断試験装置（12）は、基板(300)が取付けられるＸ−Ｙテーブル(13)と、弾性コネクタ(21)を介してベースプレート(20)に取付けられた試験ツール(100)との間の相対移動を行う駆動機構を有する。 - 特許庁

To provide a testing method and its system for accurately measuring electric characteristics of a circuit board which is heated or cooled in advance, with no inspecting device side affected by heat, for environmental test and the like.例文帳に追加

環境試験などのために、予め加熱または冷却した回路基板を、検査装置側で熱影響を受けることなく、正確に電気的特性を計測する試験方法とそのシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a cover for a passive sensor operation test which can remarkably reduce a work load by making a cover part be floated using helium gas, and to provide a method for testing a passive sensor operation using the cover.例文帳に追加

この発明は、ヘリウムガスを用いてカバー部を浮き上がらせるようにし、作業負荷を著しく軽減できるパッシブセンサ動作試験用カバーおよびそれを用いたパッシブセンサの動作試験方法を得る。 - 特許庁

A testing input/output device 30 outputs the selected test signals to the devices to be tested, and the personal computer 40 checks the quality of each device to be tested based on input signals from the devices to be tested.例文帳に追加

試験用入出力装置３０は選択された試験信号を被試験器に対して出力し、パソコン４０は被試験器からの入力信号に基づいて被試験器の良否を判断する。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.例文帳に追加

データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening time required for a gradation test of a device to be tested by shortening time for quality determination based on a differential value between positive output and negative output.例文帳に追加

正極出力と負極出力との差分値に基づく良否判定にかかる時間を短縮して、被試験デバイスの階調テストに要する時間を短縮する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device and a method capable of improving handleability of a user by mitigating a restriction for connection to a DUT (Device Under Test), and utilizing a resource effectively.例文帳に追加

ＤＵＴとの接続上の制約を緩和することにより、ユーザの使い勝手を向上することができるとともにリソースを有効利用することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for measuring maximum value of applied stress voltage which can determine whether burn-in test of a semiconductor device has been performed under proper conditions or not during the burn-in testing.例文帳に追加

本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にバーンインテストが適切な条件で実施されたか否かを判断することができる印加ストレス電圧の最大値を測定する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.例文帳に追加

対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加

ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.例文帳に追加

ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The provision of a switching transistor, a selector, a fuse, or a connector brings the test stub wiring into conduction during testing, and out of conduction during normal operation, thus maintaining signal quality of the signal wiring.例文帳に追加

スイッチ用トランジスタ、セレクタ、ヒューズ、プローブまたはコネクタを設けることで、テスト用スタブ配線をテスト時には導通させ、通常動作時には非導通とすることで信号線の信号品質を確保する。 - 特許庁

If an operational fault is confirmed by a test, the layout diagram corresponding to its testing content is collated to the contrast image, and a position in which a mismatch occurs is displayed on a display means 7.例文帳に追加

試験により動作異常が確認された場合に、その試験内容に対応した上記レイアウト図と上記電位コントラスト画像とを照合し、不一致が発生した箇所を表示手段７に表示する。 - 特許庁

To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.例文帳に追加

チップの内部にあるアットスピードの論理ＢＩＳＴ回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a DC testing device, or the like, capable of precisely measuring variations in DC signals applied to a semiconductor device, even when the setting for performing a DC test is changed.例文帳に追加

直流試験を行うための設定が変更された場合であっても半導体デバイスに印加される直流信号の変動を高い精度で測定することができる直流試験装置等を提供する。 - 特許庁

To enable testing by pin-multiplex function by applying the operation of a logic circuit for example to the test, and effectively evading decrease of the number of measurable channels.例文帳に追加

本発明は、半導体試験装置に関し、例えば論理回路の動作を試験に適用して、測定可能なチャンネル数の減少を有効に回避してピンマルチにより試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a collision-testing device, capable of reproducing in a simulating manner drop of a robot arm having a comparatively heavy load with a simple constitution, and of performing easily a high-accuracy collision test.例文帳に追加

簡単な構成でありながら荷重の比較的大きいロボットアームの落下を模擬的に再現することができ、精度の高い衝突試験が容易に行える衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated.例文帳に追加

検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a gamma ray irradiation testing device which carries out a radiation irradiation test, utilizing effectively a radiation emitted from a radioactive waste, using an existing storage facility for the radioactive waste.例文帳に追加

既存の放射性廃棄物の保管施設を用いて、放射性廃棄物から放射される放射線を有効利用して放射線の照射試験が行えるガンマ線照射試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of supplying test signals to a plurality of tested devices formed on the same substrate to conduct tests, and capable of determining accurately the qualities of the plurality of tested devices.例文帳に追加

同一基板上に形成された複数の被試験デバイスに試験信号を供給して試験し、複数の被試験デバイスの良否判定を正確に行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

In the PACHINKO game machine 1, the unrewritable performance image memory device 340 has stored therein performance image data for use in the performance display operation and the test display data for use in testing the display operation.例文帳に追加

パチンコ機１において書き換え不可能な演出画像記憶装置３４０には、演出表示動作に用いる演出画像データおよび、表示動作の試験に用いるテスト表示データを記憶している。 - 特許庁

To provide a compact apparatus for testing a material, which can apply a sufficient load to a minute object to be tested being sampled from an actual equipment structure and carry out a test at the site where the object to be tested is sampled.例文帳に追加

実機構造物において採取したより微小な供試体に対して十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行える小型材料試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a testing device for conducting a test by generating, in a real time, a response signal based on a control signal from a control part to transmit a reply to the control part, and a response signal generator.例文帳に追加

制御部からの制御信号に基づく応答信号をリアルタイムに生成して該制御部に返信し、試験を行うことを可能とする試験装置及び応答信号生成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sensor capable of shortening a test time in the case of testing even if the sensor is provided with an abnormality deciding function (e.g. a function for deciding fire/non-fire) and to provide a monitoring and controlling system.例文帳に追加

異常判断の機能（例えば火災／非火災の判断を行なう機能）を備えた感知器であっても、試験時の試験時間を短縮することの可能な感知器および監視制御システムを提供する。 - 特許庁

This materials testing machine, during a test, controls the movement of a projector 71 for dimensional measurements and a light-receiving unit 72 following a detection arm 52, and makes a detector 70S of a dimension measuring device 70 follow the movement of the detection arm 52.例文帳に追加

試験中、検出腕５２に追従して測寸用投光器７１と受光器７２を移動制御して測寸装置７０の検出器７０Ｓを検出腕５２の移動に追従させる。 - 特許庁

To provide a material testing machine equipped with a test force display meter, which can highlight the contents to be desirably watched by an operator, even in a plurality of digital display part equipped with indicators of the same size.例文帳に追加

同じサイズの表示器を備える複数のデジタル表示部においても、オペレータに注目させたい内容を強調表示することが可能な試験力表示計を備える材料試験機を提供する。 - 特許庁

A transparent probe card is provided and covers a wafer for electrically connecting the testing pads of the LED chips via the contacts so as to perform a light-up test on the LED chips.例文帳に追加

透明プローブカードが備えられ、その透明プローブカードは、ＬＥＤチップにおいて照明試験を実行するようにコンタクトを介してＬＥＤチップの試験パッドに電気的に接続するためのウェーハを覆う。 - 特許庁

To provide an IC test system for testing IC functioning at high speed in real functioning speed using a general-purpose tester with low functioning frequency without reducing the functioning frequency.例文帳に追加

高速動作するＩＣを、動作周波数の低い汎用テスタを用いて、その動作周波数を低減させることなく、実動作速度にて試験を行なうことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

The electronic circuit has the at least one test module 30 provided for testing the electronic circuit, and connected to at least one wire 38, 40 and/or one terminal of the electronic circuit.例文帳に追加

この電子回路は、電子回路を試験するために提供され、電子回路の、少なくとも１つの線（３８、４０）および／または１つの端子と接続される、少なくとも１つの試験モジュール（３０）を有する。 - 特許庁

A target apparatus M is selected from among a plurality of signal processing apparatuses, and a test circuit K is constituted on a reconfigurable circuit 31 of a support ECU 3 for testing the target apparatus M.例文帳に追加

複数設けられた信号処理装置の中から対象装置Ｍを選択し、この対象装置Ｍの検査のために、サポートＥＣＵ３のリコンフィギュアラブル回路部３１上に検査回路Ｋを構築する。 - 特許庁

To provide a system, method and computer readable medium of instructions, which are useful for determining whether an evaluation testing method or device is clinically equivalent to a reference test method or device.例文帳に追加

評価試験方法または機器が基準試験方法または機器と臨床的に等価であるかどうかを判定する際に役立つ、システム、方法、および命令のコンピュータ読取り可能媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a subject control method capable of holding the vertical stress applied to the shearing surface of a material test piece vertically to an almost constant state and a material testing device.例文帳に追加

材料試験片の剪断面に垂直に加わる垂直応力を略一定な状態に保つことができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁