「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a gas filter structure for testing capable of efficiently, simply and accurately evaluating how PM in exhaust gas or ash after heating regeneration accumulates on an exhaust gas filter such as DPF, a test device applied with the filter for test and an evaluation method.例文帳に追加

排気ガス中のＰＭ又は加熱再生後の灰分がＤＰＦ等の排ガスフィルタにどのように堆積するかについて、効率的で簡易的であるとともに精度も良く評価が可能となる試験用排ガスフィルタ構造、該試験フィルタを適用した試験装置及び評価方法を提供する。 - 特許庁

Since the testing method sequentially measures test items in a communication test mode and displays the result of measurement, this method can save time and trouble of the person measuring and avoid the occurrence of a defective facsimile measurement device FS, due to misoperations by the person measuring, so as to provide high user-friendliness to the measurer.例文帳に追加

通信テストモードにおける複数のテスト項目の測定が順次行われ、結果が表示されるので、測定者の手間が大幅に軽減されるとともに、測定者の操作ミス等によりファクシミリ測定装置ＦＳが破損するような事態を回避することができ、非常に便利である。 - 特許庁

To provide a producing method and a machine for test data, and a wiring testing machine that perform a wiring test of printed-wiring boards and semiconductor package substrates with various kinds and small quantity, very fine designs, and low prices.例文帳に追加

多品種少量、高精細、低価格のプリント配線板や各種半導体パッケージ基板等の布線検査を効率的な検査スピードと低いランニングコストで布線検査を行うための検査データの作製方法、検査データ作製機及び布線検査機を提供することを目的とする。 - 特許庁

The overwriting means 23 overwrites the test condition parameter in an area for storing the test condition parameter in correspondence to a register of a semiconductor testing device out of a memory in a computer, based on the input intermediate file 4, flow information and an output condition 2.例文帳に追加

上書き手段２３は、入力された中間ファイル４とフロー情報と出力条件２とに基づき、計算機内のメモリのうち半導体試験装置のレジスタに対応してテスト条件パラメータを記憶する領域において、テスト条件パラメータの上書きを行うものである。 - 特許庁

The testing device includes a panel receptacle having a rectangular panel receptacle surface for receiving a tabular test object, a probe unit with a probe block having a plurality of contacts to be depressed by an electrode on the test object, and a plurality of protective members located at the outside of the panel receptacle surface.例文帳に追加

検査装置は、平板状被検査体を受ける矩形のパネル受け面を有するパネル受けと、前記被検査体の電極に押圧される複数の接触子を有するプローブブロックを備えるプローブユニットと、前記パネル受け面の外側に位置された複数の保護部材とを含む。 - 特許庁

The test device 1 of the semiconductor integrated circuit 10 testing the semiconductor integrated circuit 10 by applying a voltage to a semiconductor element of the semiconductor integrated circuit 10 includes a voltage application part 2, a breakdown detection part 3, and a test voltage determination part 4.例文帳に追加

半導体集積回路１０の試験装置１は、半導体集積回路１０の半導体素子に電圧を印加することによって半導体集積回路１０を試験するものであり、電圧印加部２、ブレークダウン検出部３及び試験電圧決定部４を備えている。 - 特許庁

The bending test for testing the number of times of bending of wires before disconnection due to bending is performed individually for wire 1 comprising the wire harness, then based on the individual results of the bending test for each wire, the bending life span for the whole wire harness is estimated.例文帳に追加

屈曲により断線に至るまでの屈曲回数を試験する屈曲試験を、前記ワイヤーハーネスを構成する各電線１に対して個別に行い、その各個別の電線１の屈曲試験結果に基づいて、前記ワイヤーハーネスの全体の屈曲寿命を推測する。 - 特許庁

The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.例文帳に追加

ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁

The electrical tester (1) of the invention for testing the electrical test piece (2) preferably a wafer (3) has a contact region (12) in which the electrical test piece (2) directly contacts the contact apparatus (5), and is provided with an electrical connection mechanism (7) associated with a support mechanism (8).例文帳に追加

本発明は、電気試験片(2)と接触可能な接触装置(5)を直接接触させるための接触領域(12)を有しかつ支持機構(8)が関連付けられている電気接続機構(7)を備えた、電気試験片(2)、好ましくはウェハ(3)を試験するための電気試験装置(1)に関する。 - 特許庁

To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.例文帳に追加

不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

The testing machine with the pressure-resistant chamber is constituted so that a flexible partition wall for isolating the space around a test piece and the space in another pressure-resistant chamber under a hermetic closure is provided and the fluid, which constitutes the special environment, is injected in the space around the test piece within the partition wall.例文帳に追加

耐圧室付き試験機は、試験片周囲の空間と他の耐圧室内の空間とを密封状態で隔絶する可撓性隔壁を設け、当該隔壁内の試験片周囲の空間に特殊環境を構成する流体を注入してあることを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing power conversion apparatus, capable of conducting a noise test equivalent to a combined noise test without using a finished-product power converter in the power conversion equipment, and applicable to various types of power converters, in a versatile manner.例文帳に追加

組み合わせノイズ試験と同等のノイズ試験を、電力変換装置における最終製品の電力変換器を用いずに行なうことができるとともに、様々なタイプの電力変換器に汎用的に適用できる電力変換装置の試験装置を提供することである。 - 特許庁

The semiconductor testing device, where a test head turns so that a face mounting the performance board is inclined, includes: a sensor for outputting a detection signal by being previously inclined in a turning direction and detecting the inclination of the test head; and a board fixing part for fixing the performance board according to the detection signal.例文帳に追加

パフォーマンスボードを載せた面が傾くようにテストヘッドが旋回される半導体試験装置において、旋回方向に予め傾けられ、テストヘッドの傾きを検出して検出信号を出力するセンサと、検出信号に応じてパフォーマンスボードを固定するボード固定部とを備える。 - 特許庁

To provide a testing method by which the deterioration state of the sealing part of a double-glazing unit may be recognized with a smaller number of test specimens for a durability test for investigating such deterioration of the double-glazing unit with lapse of time that a desiccant gradually absorbs moisture and dew condensation is liable to occur in a hollow layer.例文帳に追加

乾燥剤が徐々に吸湿して、中空層が結露しやすくなるという複層ガラスの経年劣化を調べるための耐久性試験について、少ない試験体数で、耐久性試験による複層ガラスの封着部の劣化状態が把握できる試験方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、データジェネレータ１２からＤＵＴ４０に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ５１で比較してパス／フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ１８にバースト転送して試験効率を向上する。 - 特許庁

To disclose a technology for accurately testing the characteristics of a memory array by rechanging reference voltage and timing to be adjusted for a test of memory cells in particular in a software manner without requiring a different process regarding a test mode controller that utilizes a nonvolatile ferroelectric memory.例文帳に追加

本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用したテストモード制御装置に関し、特にメモリセルのテストのため調整されるレファレンス電圧及びタイミングを別途のプロセスなくソフトウェア的に再変更し、メモリセルアレイの特性を正確にテストするようにする技術を開示する。 - 特許庁

In this immunity testing device, a horn antenna for radiating a test radio wave toward a test apparatus is equipped with a pyramid horn 22 for 1GHz; and a coaxial waveguide converter 24 mounted directly on the pyramid horn 22, capable of feeding a signal in the 1GHz band.例文帳に追加

妨害排除能力試験装置において、供試機器に向けて試験用電波を放射するホーンアンテナは、１ＧＨｚ用の角錐ホーン２２と、この角錐ホーン２２に直接装着されて１ＧＨｚ帯の信号を給電可能な同軸導波管変換器２４を備える。 - 特許庁

The circuit comprises an input terminal T13 of a testing input clock signal CK1 connected to an end of a common bus circuit 2 and a test input/output circuit 3A with an output terminal T32 of an output clock signal CKO retuned from the other end of the common bus circuit 2 in test operation.例文帳に追加

共通バス回路２の一端に接続されテスト用入力クロック信号ＣＫＩの入力端子Ｔ３１と、テスト動作時に共通バス回路２の他端から返送される出力クロック信号ＣＫＯの出力端子Ｔ３２とを有するテスト入出力回路３Ａを備える。 - 特許庁

To provide a test method whereby a specimen, which is preferably protected from direct contact to a worker or exposure to the outer environment from the viewpoint of hygiene like a specimen to be used in testing an infectious bacterium or virus, can be safely and effectively handled and treated; and a test kit.例文帳に追加

感染性の細菌やウイルスの検査などに用いられる検体のように、衛生上の見地から取り扱い者に触れたり、外部環境に露出することが望ましくないような検体を安全に、かつ効率よく取り扱い、処理することが可能な検査方法および検査キットを提供する。 - 特許庁

To obtain a test circuit for a clock generating circuit that can perform sampling accurately equivalent to modulation cycles to shorten a measurement period and conduct an accurate function test of down-spread control as one modulating function of a spectrum spread clock generator (SSCG) by accurately testing a center frequency.例文帳に追加

正確に変調周期分のサンプリングが可能で測定期間を短くすることができ、中心周波数を正確にテストすることでＳＳＣＧの変調機能の一つであるダウンスプレッドコントロールの機能テストを正確に行うことができるクロック生成回路のテスト回路を得る。 - 特許庁

To provide a generating method and the like generating both or either test programs and/or test pattern programs used in each of plurality of semi-conductor testing devices of different programming languages, in which processing lines are simple and vainness is removed, without artificial technique.例文帳に追加

プログラム言語が異なる複数の半導体試験装置のそれぞれで用いるテストプログラム及びテストパタンプログラムのいずれか又は両者を生成するための生成方法等であって、人為的な手法ではなく、処理工程がシンプルで無駄を取り除いた生成方法等を提供する。 - 特許庁

Also, the conference room reservation engine testing framework is provided with a Koumoku Factory class 16 for selecting an optimal concrete class corresponding to the contents of the test item from among concrete classes constituted by succeeding the classes 17, 18, and 19 defined as abstract classes, based on a test item definition file 20.例文帳に追加

また、会議室予約エンジン試験フレームワークは、抽象クラスとして定義されたクラス１７，１８，１９をそれぞれ継承してなる具象クラスの中から、試験項目定義ファイル２０に基づいて、試験項目の内容に対応した最適な具象クラスを選択するKoumokuFactoryクラス１６を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor test interface capable of minimizing the number of connector contact points to enhance signal integrity in a high-speed transmission signal, capable of simplifying a semiconductor test interface to enhance maintainability of a semiconductor testing device, and capable of easily dealing also with tests of DUTs different each other.例文帳に追加

コネクタ接点の数を最小化して高速伝送信号の信号無欠性を向上させ、半導体テストインタフェースを単純化して半導体テスト装置のメンテナンス性を向上させ、お互い異なるＤＵＴのテストにも簡便に対応することが可能な半導体テストインタフェースを提供。 - 特許庁

A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.例文帳に追加

前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁

To provide a testing method capable of checking the characteristic of a DLL circuit resulting from an internal operation of an integrated circuit device having a built-in DLL circuit, and to provide an integrated circuit device allowing the test.例文帳に追加

ＤＬＬ回路を内蔵する集積回路装置の内部動作に起因するＤＬＬ回路の特性をチェックできる試験方法及びかかる試験ができる集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a shock testing device having a simply-constructed low-cost safety mechanism capable of surely preventing a weight from dropping in replacement of a test piece.例文帳に追加

試験片交換時等に重錘が落下してくることを確実に防止することができ、極めて簡単な構成でかつ低コストで形成することができる安全機構を備えた衝撃試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a multi spindle corotation testing device capable of simultaneous reproduction test for a plurality of bearings for driven pulleys and moreover capable of surely recognizing a radial load concerning the bearings for driven pulleys.例文帳に追加

複数の従動プーリの軸受に対して再現試験を同時におこなうことができ、また従動プーリの軸受にかかるラジアル荷重を的確に確認できる多軸同時回転試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing run-flat durability evaluation with the inputs to a tire being approached that of a general road so as to properly perform a traveling test of pneumatic rubber run-flat tire with safety wheels.例文帳に追加

中子式ランフラットタイヤの走行試験を適切に行うことができるように、タイヤへの入力を一般路に近づけたランフラット走行耐久性評価試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a performance evaluation method of a processed oil that allows the evaluation result of a laboratory level in a simplified testing machine to be adapted to the finishing machine of an actual machine, is precise and reliable, and has short test evaluation time.例文帳に追加

簡易型試験機による実験室レベルの評価結果が、実機の加工機に適応でき、精度および信頼性が高く、試験評価時間の短い加工油の性能評価方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a call-processing load test apparatus and a method therefor, enabling easy call-processing load testing, in which all radio resources are used uniformly, even when a base station is provided with a large amount of radio resources.例文帳に追加

基地局装置の無線リソースが多い場合でも、全無線リソースを均等に使用する呼処理負荷試験を容易に行うことができる呼処理負荷試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

To simultaneously operate scan tests on a plurality of LSI chips, without having to install dedicated test circuit in all the LSI chips, in testing a multi-chip package LSI carrying a plurality of LSI chips.例文帳に追加

複数のＬＳＩチップを搭載するマルチチップパッケージＬＳＩのテストにおいて、すべてのＬＳＩチップに専用のテスト回路を設けることなく、複数のＬＳＩチップのスキャンテストの同時実行を可能にする。 - 特許庁

To provide a method of measuring OTF of a lens at some spatial positions, spatial frequencies, orientations, and defocus positions, a lens testing system using one chart, and to provide a method of generating the test chart.例文帳に追加

１枚のチャートにより、いくつかの空間位置、空間周波数、方向及びデフォーカス位置でレンズのＯＴＦを測定する方法、レンズ試験システム、更に、テストチャートを生成する方法を開示する。 - 特許庁

To detect short-circuiting between even bits and between odd bits and prevent increase in the testing time without making the circuit scale larger when checking the memory by using a self-test circuit.例文帳に追加

自己テスト回路を用いてメモリのテストを行う際に、回路規模の増大を抑制しつつ、偶数ビット同士や奇数ビット同士のショート不良を検出するとともに、テスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing cracking of a power generation cell in which a cracking test of a circular flat plate type power generation cell is performed under the same temperature condition as that of an actual fuel cell stack.例文帳に追加

円形平板型の発電セルを、実際の燃料電池スタックと同じ温度条件下おいて割れ試験を行うことができる発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a balancing machine capable of making a person superficial in knowledge and experience as to each degree of vibration mode of a testing object correct easily unbalance in the each degree of vibration mode and carry out a balance test easily.例文帳に追加

試験体の各次数の振動モードに関する知識や経験が浅い者でも、各次数の振動モードの不釣合いの修正を容易に行うことができて、釣合い試験を容易に行う。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for diaphragm type pressure regulator for a gas fuel engine capable of measuring flow-rate characteristic by carrying out test of an individual pressure regulator before fitting the same onto an actual engine.例文帳に追加

実際のエンジンに組み込む前に圧力レギュレータ単体で試験を行ってその流量特性を求めることができるガス燃料エンジン用のダイヤフラム式圧力レギュレータの試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a main signal load testing device etc., capable of conducting a load test in the device even if the difference between the packet transfer processing capability in the device and the packet transmission and reception capability of a CPU is ≥255 times.例文帳に追加

装置内のパケット転送処理能力とＣＰＵのパケット送受信能力の差が２５５倍以上であっても、装置内での負荷試験が可能な主信号負荷試験装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a game nail height testing device for a game board which efficiently tests the propriety of the height of the game nail driven into the game board without complicating a post processing process after a test.例文帳に追加

検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of reproducing a high-temperature test to be evaluated without using an environmental testing machine, and having productivity with reduced disturbance, compared with a conventional evaluation method.例文帳に追加

本発明は環境試験機を使用しなくても高温試験を再現して評価することができ、従来の評価方法に比べて生産性を妨げない評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To effectively prevent generation of date faults caused by cross contamination, while shortening or eliminating the testing time of the cross contamination test time which takes a long time for reducing cost for samples, reagents, etc to be borne by customer.例文帳に追加

時間のかかるクロスコンタミネーション試験の試験時間を短縮あるいは省略し、試料，試薬などの顧客の費用負担を軽減し、クロスコンタミネーションが原因となるデータ不良を効率的に防止する。 - 特許庁

The system has a monitor means, which is suitable for monitoring document processing peripheral apparatuses, and a test means which is suitable for testing monitored processings by pre-selected determination criteria.例文帳に追加

本発明のシステムは、文書処理周辺装置を監視するのに適した監視手段、および監視された処理を予め選択された判定基準に対してテストするのに適したテスト手段を有する。 - 特許庁

This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The test technique comprises a memory cell, a built-in self-testing cell, a comparing cell and a signature cell, and the signature cell contains one set of first conductive paths at a first level and one set of second conductive paths at a second level.例文帳に追加

メモリセルと、内蔵自己テストセルと、比較セルと、シグナチャセルとを有し、該シグナチャセルは、第一レベルの１組の第一導電性経路と、第二レベルの１組の第二導電性経路と包含している。 - 特許庁

To provide a governor rope lifting tool enabling to conduct lifting work of a governor rope easily and securing safety of an operator, and a device for testing an elevator governor capable of conducting a test of the elevator governor accurately.例文帳に追加

業者の安全性が確保でき、かつ容易にガバナロープの引上げ作業が行えるガバナロープ引上げ治具及び精度良くエレベータ調速機の試験が行えるエレベータ調速機試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing apparatus by which a sufficient load is loaded onto a very small specimen sampled in an actual-machine structure and by which a test is made in a spot sampling the specimen.例文帳に追加

実機構造物において採取したより微小な供試体に対して十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行える材料試験装置を提供することである。 - 特許庁