「Example of a defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a carriage stop position adjusting apparatus which eliminates a read defect by eliminating an image read position shift due to, for example, misalignment of an optical axis through easy adjusting operation.例文帳に追加

画像読取装置において、簡単な調整作業で、例えば光軸ずれに基づく画像読取位置ずれをなくして読取不良を解消するキャリッジ停止位置調整装置を提供する。 - 特許庁

In such case, the buyer may claim for the termination of a contract (or for compensation) if the buyer cannot perform the purpose of the sales contract due to a defect in the subject item, for example, where, the buyer was not aware of such defect upon conclusion of the sales contract (hereinafter referred to as "liability for defects" under Article 570 of the Civil Code. 例文帳に追加

この場合、買主は、目的物の欠陥（瑕疵）により売買契約の目的が達せられない場合において、売買締結時に瑕疵について買主が知らなかったのであれば、契約解除（や損害賠償）の請求ができる（これを法律上「瑕疵担保責任」という（民法第５７０条））。 - 経済産業省

For example, although a PDP sustain circuit requires a high element breakdown voltage, because the IGBT can reduce the voltage drop at the time of conduction with little dependence of the element breakdown voltage, the defect of the IGBT can be compensated by combining the sustain circuit with the AC-type PDP.例文帳に追加

例えば、素子耐圧が高いことが要求されるPDPのサステイン回路に、素子耐圧にあまり依存せずに導通時の電圧降下を小さくできるIGBTの欠点を、AC型PDPと組み合わせることで補うことができる。 - 特許庁

A storage element B for storing the defect information, the characteristic information, and the product information of a solid state imaging element A mounted on the solid state imaging apparatus 100 is arranged, for example, on the same chip 110.例文帳に追加

固体撮像装置１００に搭載される固体撮像素子Ａの欠陥情報、特性情報および製品情報等を記憶した記憶素子Ｂを、例えば、同一チップ１１０上に配置する。 - 特許庁

To enable lightweight smooth open-close door operation at a low cost by the disposal of a small slider section in consideration of the defect of a conventional example which has used a large-sized expensive sliding rail in a device in which a sliding door is installed to a storage box so that the opening section of the storage box is fully opened freely.例文帳に追加

収納ボックスに、その開口部が全開自在となるようスライド扉を取り付ける装置にあって、大型で高価なスライドレールを用いている従来例の欠陥に鑑み、小さなスライダ部の配設で軽量かつ安価で円滑な開閉扉操作を可能とする。 - 特許庁

To quickly and surely extract a defective by monitoring a sheet subjected to a folding process for example and being conveyed to a stacker to thereby detect a defect before being discharged to the stacker, and to quickly and surely carry out an adjustment of a folding timing of a folding machine and a replacement of parts.例文帳に追加

スタッカーに排出する前、例えば折り加工を終えてスタッカーに向けて搬送されているシートを監視して不良を検出することによって、不良品の抜き取りはもちろん、折り機の折りタイミングの調整や部品交換などが迅速、且つ、確実に行えるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for growing and apparatus for growing a low- defect single crystal capable of inhibiting a large number of defects generating from directly upon a seed crystal for example in conventional methods for growing silicon carbide single crystals (SiC).例文帳に追加

例えば従来の炭化珪素単結晶（ＳiＣ）の成長方法において、種結晶直上から多数発生していた欠陥を抑制することができる低欠陥の単結晶の成長方法及び成長装置を提案する。 - 特許庁

For example, the invention enables to evaluate a deep level due to a defect level or the like within a band gap of the organic material by obtaining variation of capacitance of the organic material with respect to the energy of an incident light, resulting in enabling to evaluate properties and reliability of the device.例文帳に追加

例えば、入射光のエネルギに対する有機材料のキャパシタンスの変化量を求めることで有機材料のバンドギャップ内準位の欠陥などに起因した深い準位を評価でき、デバイスの特性・信頼性を評価することが可能となる。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of making a defect due to data loss, caused by an error in data writing to, for example, storage means, less liable to occur than conventional technologies.例文帳に追加

例えば記憶手段へのデータ書き込みエラー等を原因とするデータ損失による不具合を、従来の技術よりも生じにくくすることが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Also, for example, when a reproduced RF signal is inputted to the AGC circuit, particularly the transient response of the AGC generated before and after the defect detection (before and after the period of D) can be suppressed.例文帳に追加

また、例えばＡＧＣ回路に、再生されたＲＦ信号が入力される場合、特に、ディフェクト検出の前後（Ｄの期間の前後）で発生するＡＧＣの過渡応答を抑制することができる。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detecting technique using an ultrasonic flaw detector and the Lorentz force capable of identifying correctly defect positions of piping with high workability and, for example, implementing life assessment of thermal electric power plant with a high degree of accuracy.例文帳に追加

配管の欠陥位置を作業性よく正確に特定でき、例えば、火力発電設備の寿命診断を精度良く行うことが可能な超音波探傷装置およびローレンツ力を用いた超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device that responds to inspection of a fillet weld section between a socket section of a small diameter elbow and a pipe, for example, and detects a defect occurring so as to become substantially parallel to an elbow-side boundary near the elbow-side boundary of the fillet weld section.例文帳に追加

例えば小口径エルボのソケット部と配管との隅肉溶接部の検査に対応することができ、隅肉溶接部のエルボ側境界付近でエルボ側境界に対しほぼ平行方向となるように生じた欠陥を検出することができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical system with which the occurrence of the fogging of a lens, for example, an image defect or the like can be prevented even when it is exposed to high-humidity environment repeatedly or for a long time, and to provide an endoscope equipped with the optical system.例文帳に追加

高湿度の環境に繰り返しまたは長時間曝された場合でも、レンズの曇りや、例えば画像不良等の発生を防止し得る光学系、および、かかる光学系を備える内視鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a fixing structure of an elongated member for a vehicle which prevents generation of malfunction (for example insulation defect in an electric line) by heat influence and is widely applicable and inexpensive, and also to provide an elongated member fixing tool used for the same.例文帳に追加

熱影響による機能障害（例えば電線における絶縁不良）の発生を防止しつつ、汎用性が高く安価な車両用長尺部材固定構造とそれに用いる長尺部材固定具を提供する。 - 特許庁

To solve the defect of discoloration with the use of a cationic electrodeposition paint in the electrodeposition of plated products (for example, silver plating and copper plating) susceptible to the influence of discoloration and failure of external appearance and to use an amino resin having no problem of toxicity and discoloration as a crosslinking agent.例文帳に追加

変色や外観不良の影響を受けやすいメッキ製品（例えば銀メッキ、銅メッキ等）の電着塗装にカチオン型電着塗料を用いて、変色の欠点を解消し、且つ、毒性や、変色の問題が無い、アミノ系樹脂を架橋剤に用いることを目的とする。 - 特許庁

In the case, for example, where it is detected by this inspection that a light emitting element Gp of the light emitting element array Lb has the pixel defect, light emission of the light emitting element array Lb is stopped, and the light emitting element array La is made to emit light.例文帳に追加

この検査によって、例えば発光素子列Ｌｂの発光素子Ｇｐに画素欠陥があることが検出された場合には、発光素子列Ｌｂの発光を停止し、発光素子列Ｌａを発光させる。 - 特許庁

To eliminate the adverse influence that the dimensional fluctuation of a resist pattern induced by consequence of the degradation in the transmittance of a defect correction portion exerts on device quality when a design pattern dimension is reduced like, for example, about 1 μm in the dimension value on the photomask.例文帳に追加

デザインパターン寸法がフォトマスク上の寸法値で例えば約１μｍという様に縮小されるときに、欠陥修正部分の透過率低下に起因して生じるレジストパターンの寸法変動がデバイス品質に悪影響を及ぼす点を改善する。 - 特許庁

To provide a toner for full color development in which image formation stable for a long period of time (for example, 200,000 sheets) by using toners of respective colors is possible and the occurrence of a fixing defect, such as an offset, can be suppressed.例文帳に追加

各色のトナーを用いて非常に長期間（例えば２０万枚）安定した画像形成が可能であり、しかもオフセット等の定着不良が生じるのを抑制することができるフルカラー現像用トナーおよびフルカラー画像形成装置を提供することである。 - 特許庁

To obtain granular silica causing no foams in a silica glass product in processing the silica glass product, consequently having neither a problem of giving rise to crystal defects of silica in the use of it as a crucible for pulling up, for example, single crystal silicon nor a defect of deformation at a high temperature and a method for producing the granular silica.例文帳に追加

シリカガラス製品に加工した際に、シリカガラス製品中に気泡が生じず、従って、例えば単結晶シリコンの引上げ用ルツボとしての使用にあたってシリカの結晶欠陥を引起こす等の問題がなくかつ高温で変形するという欠点もない粉粒状シリカ及びその製造法を提供する。 - 特許庁

For example, when an operating condition in the operation data is door lock switch ON despite the fact that a door lock switch must be OFF based on the signal data from the signal device 1, the possibility of any defect between the signal device 1 and the calculation apparatus 2 or the defect of the calculation apparatus 2 itself is considered to be high.例文帳に追加

例えば信号装置１からの信号データに基づけばドアロックスイッチはＯＦＦであるにもかからわず、作動データ中の作動条件がドアロックスイッチＯＮであれば、信号装置１と演算装置２との間での何らかの異常、演算装置２自体の異常の可能性が高いと考えられる。 - 特許庁

To obtain a compound semiconductor substrate that can form a high- resistant compound semiconductor buffer layer of reduced crystal defect on an Si substrate and can provide high-frequency devices, for example, ESFET, HEMT, or the like, of good properties formed thereon.例文帳に追加

Ｓｉ基板上に結晶欠陥の少ない、高抵抗の化合物半導体バッファ層を形成し、その上に形成されるＭＥＳＦＥＴやＨＥＭＴ等の高周波デバイスにおいて良好な特性を持つ化合物半導体基板を提供する。 - 特許庁

By using a short wavelength laser of UV rays at ≤360 nm wavelength, for example, by using the fourth order harmonic waves of a YAG laser, only the upper electrode near the short circuit defect can be removed with good accuracy without adding influences on the lower films.例文帳に追加

発振波長が３６０ｎｍ以下の紫外線である短波長レーザー、例えばＹＡＧレーザーの第４高調波を用いれば、下層膜に影響を与えずに短絡欠陥周辺部の上部電極のみを精度良く除去することができる。 - 特許庁

The hollow part 12 is set to have a plurality of kinds of widths, so that sectional areas can be made different from one another; and the mass per unit area or rigidity is made nonuniform, for example, by a difference in mutual separation distance between bulkhead parts 13 or the thicknesses of the bulkheads 13, so that the sound insulation defect can be suppressed.例文帳に追加

中空部１２の幅が複数種となるようにして断面積を異ならせる他、隔壁部１３の相互離間距離若しくは厚みを異ならせること等によって面密度若しくは剛性を不均一として遮音欠損を抑制することができる。 - 特許庁

Thus, for example, even when a defect is present during the resin injection molding of a shear pin, conductivity between the vehicle body side bracket 11 and the vehicle body side is ensured, and the conductivity to the vehicle body side can be enhanced.例文帳に追加

これにより、例えば、剪断ピンの樹脂インジェクション成形時に不備があったとしても、車体側ブラケット１１と車体側との通電を確実なものにすることができ、車体側との通電性を向上することができる。 - 特許庁

To provide a defect detection method and detector capable of detecting, for example, microdefects caused on a reduction roll circumferential surface in inspection, so that a steel sheet (rolled material) of good surface quality can be produced, and to provide a grinding device and grinding method for achieving this method.例文帳に追加

表面品質のよい鋼板（圧延材）を製造できるようにするため、例えば検査時に圧延ロール外周表面に生じた微小の欠陥を検出することができる欠陥検出方法、装置並びにその方法を実現できるような研削装置、研削方法を得る。 - 特許庁

To dissolve a defect that, for example, a part for evoking attention other than a face arises and appearance of a contrast emphasized wall, etc. is dirtily emphasized depending on the case since attributes of divided areas are not considered when gradation compensation is performed by dividing an image into areas.例文帳に追加

画像を領域に分割して階調補正を行う際に、分割した領域の属性を参酌しないため、例えば顔以外に注目を喚起する部分が生じてしまう上、コントラスト強調された壁などは場合によっては見た目が汚く強調されてしまう欠点を有する。 - 特許庁

To provide a heat-shrinkable polyolefin film which is free from a defect in appearance such as a fish eye, capable of a center seal by an organic solvent, excellent in waist strength and impact resistance, and used suitably for, for example, shrinkable packaging, shrinkable bundling packaging, and a shrinkable label.例文帳に追加

フィッシュアイなどの外観上の不具合がなく、かつ有機溶剤によりセンターシールが可能である上、優れた腰強度及び耐衝撃性を有し、例えば収縮包装、収縮結束包装、収縮ラベルなどの用途に好適に用いられるポリオレフィン系熱収縮性フィルムを提供すること。 - 特許庁

To provide an ultraviolet irradiation device which can cure good an ultraviolet curable ink adhered on a recording medium without resulting in the defect of skinning that only a surface of the ink is cured at the time of printing (for example, monochrome color printing) in which a film thickness of the ink adhered to the recording medium becomes relatively thick.例文帳に追加

記録媒体に付着させるインクの膜厚が比較的に厚くなる印刷（例えばモノカラー印刷）の際に、記録媒体上に付着された紫外線硬化型インクを、インクの表面のみが硬化する皮張りという不具合を招くこともなく、良好に硬化させることのできる紫外線照射装置を提供する。 - 特許庁

To provide an amine compound as a charge transporting substance which can form a printed image excellent in clarity without image defects (for example, a dot defect in the halftone and formation of fogging) even when a number of prints are made with the use of an image-forming devices mounting short wavelength laser beams, an electrophotographic photoreceptor, and an image-forming device.例文帳に追加

短波長レーザ光を搭載した画像形成装置を用いて多数枚プリントしても、画像欠陥（例えばハーフトーン部のポチ欠陥やかぶりの発生）が無く、鮮鋭度に優れたプリント画像を形成できる電荷輸送物質としてのアミノ化合物、電子写真感光体、画像形成装置の提供。 - 特許庁

Preferred embodiments of the present invention can be used to rapidly navigate to one single bit cell in a memory array or similar structure, for example to characterize or correct a defect in individual bit cells in the memory array or similar structure.例文帳に追加

例えばメモリ・アレイまたは類似の構造内の個々のビット・セルの欠陥を特徴づけまたは補正するために、本発明の好ましい実施形態を使用して、メモリ・アレイまたは類似の構造内の単一のビット・セルへ迅速にナビゲートすることができる。 - 特許庁

To provide a condensation-crosslinkable silicone composition which enables rapid crosslinking and also does not exhibit problems, for example, yellowing, surface stickiness, a slow vulcanization rate, or stability when stored, or a defect of incompatibility with an ordinary aminosilane-based binder, and of which the use does not generate health concern.例文帳に追加

迅速な架橋が可能であるとともにたとえば、黄変、表面粘着、緩慢な加硫速度、貯蔵の際の安定性の問題又はアミノシランベースの通常の結合剤との不相溶性の欠点を示すものではなく、さらにその使用は健康面における懸念を生じない、縮合架橋性のシリコーン組成物を提供することである。 - 特許庁

The method may be used in a processing level, for example, the presence of the defect in the coating layer formed on the semiconductor substrate is determined in manufacture of the electronic device to decide the capability of further processing for the device, or the necessity of removal from the processing.例文帳に追加

本方法は、処理レベルにおいて使用してもよく、例えば、電子装置の製造において半導体基板上に形成された被覆層が欠陥を有するか否かを判断することができ、従って、その装置をさらに処理可能であるのか、処理から除外しなければならないのかを決定することができる。 - 特許庁

When the diameter of the opening 28 is made, for example, 1 to 2 μm larger than the diameter of the lower columnar electrode 10, fringing of an inner wall surface bottom part of the opening 28 is suppressed by a side face of the lower columnar electrode 10 even in case of occurrence of an exposure defect to the plating resist film 27 for columnar electrode formation, thereby reducing deformation of the shape of the upper columnar electrode 11.例文帳に追加

開口部２８の直径を下部柱状電極１０の直径より例えば１〜２μｍ大きく形成すると、柱状電極形成用メッキレジスト膜２７に露光不良が生じても、開口部２８の内壁面底部に発生する裾引きが下部柱状電極１０の側面で抑制され、上部柱状電極１１の形状が歪になるのを軽減できる。 - 特許庁

To provide a sealing material filling discontinuous part of the subject to be coated with the sealing agent without leaving a space before electrodeposition coating and preventing defect of the sealing agent after electrodeposition coating such as pin-hole or crack, etc., and capable of being coated after electrodeposition with other coating agent, (for example, coating with a coating agent used for body coating of an automobile).例文帳に追加

電着塗装前に、不連続部を有する被着体の不連続部を隙間無くシーリング材で充填することができるとともに、電着塗装後におけるシーリング材の穴あきや切れ等のシール不具合を防止することができるだけでなく、電着塗装後に、シーリング材に塗装（例えば、自動車用の車体塗装に用いる塗料による塗装）することができるシーリング材を提供する。 - 特許庁

Those optical circuits are composed of a semiconductor waveguide (for example, silicon Si, indium phosphate InP, gallium arsenide GaAs, etc.), and defect increasing processing by impurity doping, low-temperature growth, ion implantation, etc., is performed on the first arm waveguide 103 to increase the absorption coefficient of the first arm waveguide 103.例文帳に追加

これらの光回路を半導体導波路（例えばシリコンＳｉ、リン化インジウムＩｎＰ、ヒ素化ガリウムＧａＡｓ等）で構成し、第１アーム導波路１０３に不純物ドーピング、低温成長やイオン注入等による欠陥増大を行うことによって第１アーム導波路１０３における吸収係数を高める。 - 特許庁

To provide a system and method for defect inspection which can discriminate various shaped scratches from adhered foreign substances, generated on the surface of any processed subject to be inspected, when implementing of grinding or polishing, such as Chemical Mechanical Polishing (CMP) on the processed subject (for example, insulating film on semiconductor substrate) is conducted, in the manufacturing of semiconductor or magnetic head.例文帳に追加

半導体製造や磁気ヘッド製造において、被加工対象物（例えば、半導体基板上の絶縁膜）に対してＣＭＰなどの研磨または研削加工を施した際、その表面に生じる様々な形状を有するスクラッチと付着する異物とを弁別して検査することができるようにした欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and its method capable of executing inspection by discriminating an adhering foreign matter from scratches having various shapes generated on the surface when abrading or grinding such as CMP or the like is applied to a processing object (for example, an insulating film on a semiconductor substrate) in semiconductor manufacture or magnetic head manufacture.例文帳に追加

半導体製造や磁気ヘッド製造において、被加工対象物（例えば、半導体基板上の絶縁膜）に対してＣＭＰなどの研磨または研削加工を施した際、その表面に生じる様々な形状を有するスクラッチと付着する異物とを弁別して検査することができるようにした欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

In the fault analyzing method of the semiconductor device, the shape defect (existence of disconnection part 13, for example) in the contact part between gate wiring 4A and wiring 8B is detected by irradiating the contact part with light and observing the direction component of reflected light by a polarizing method using a polarized microscope 20.例文帳に追加

本発明の半導体装置の故障解析方法は、偏光顕微鏡２０を用いた偏光法により、ゲート配線４Ａと配線８Ｂ間のコンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を当該コンタクト部に光を照射し、その反射光の方向成分を観察することで、上記コンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を検出することを特徴とする。 - 特許庁

For example, when a chemical substance is described merely by its name or its chemical formula in a publication and the description does not show the manufacturing process clearly enough that a person skilled in the art is able to manufacture the substance on the basis of the common general knowledge as of the filing, the chemical substance is not included in "cited inventions"(Note that this does not mean that the claim violates the enablement requirement under Article 36(4)(i) where the publication is a patent application claiming the chemical substance as one of the alternatives described in the Markush form). Even though the prior art constitutes an incomplete expression or there is a defect in some of the prior art, it can be cited in assessing the novelty and the inventive step, when the person skilled in the art can readily understand the technical features of the claimed invention based on common technical knowledge or empirical rules. 例文帳に追加

したがって、例えば、刊行物に化学物質名又は化学構造式によりその化学物質が示されている場合において、当業者が本願出願時の技術常識を参酌しても、当該化学物質を製造できることが明らかであるように記載されていないときは、当該化学物質は「引用発明」とはならない（なお、これは、当該刊行物が当該化学物質を選択肢の一部とするマーカッシュ形式の請求項を有する特許文献であるとした場合に、その請求項が第36条第4項第1号の実施先行技術に不完全な表現が含まれるか又は一部の先行技術に瑕疵があったとしても、当業者が技術常識や経験則に基づき容易に発明の技術的特徴を理解することができる場合は、新規性及び進歩性を判断する際に引用することが可能である)。 - 特許庁