1153万例文収録!

「Gate Type」に関連した英語例文の一覧と使い方(71ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Gate Typeに関連した英語例文

セーフサーチ:オフ

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

Gate Typeの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3553



例文

Vertical cell transfer transistors Tr1, Tr2 and Tr3 having a channel region consisting of a single crystal silicon layer 18 formed by epitaxial growth, a source-drain region consisting of n-type diffusion regions 14 and 23 formed in upper and lower parts of the single crystal silicon layer 18 and an embedded gate electrode consisting of work line 21 are formed.例文帳に追加

エピタキシャル成長により形成された単結晶シリコン層18からなるチャネル領域と、単結晶シリコン層18の上部と下部に形成されたn型拡散領域14、23からなるソース・ドレイン領域と、ワード線21からなる埋め込み型のゲート電極とを有する縦型セルトランスファトランジスタTr1、Tr2、Tr3が形成される。 - 特許庁

To reduce the number of components in a dropper type series regulator 21 that is composed of discrete components, which stabilizes an output voltage VOUT by controlling the gate of FETQ1, in which an output controller 25 is placed in series with an output line 23, corresponding to the output voltage VOUT detected by a voltage detector 24.例文帳に追加

ディスクリート部品から成り、電圧検出部24で検出された出力電圧VOUTに対応して、出力制御部25が出力ライン23に直列に介在されたFETQ1のゲートを制御することで、前記出力電圧VOUTを安定化するようにしたドロッパ式のシリーズレギュレータ21において、部品点数を削減する。 - 特許庁

Further, the ground conductor is electrically connected to a gate (not shown) of the high electronic mobility transistor 101, drains (not shown) of the coplanar type open-ended line 102a and the high electronic mobility transistor 101, and sources (not shown) of the open-ended line 102b and the high electronic mobility transistor 101 through the bonding wire 106, respectively.例文帳に追加

また、高電子移動度トランジスタ101のゲート(図示せず)とコプレーナ型先端開放型線路102a、および高電子移動度トランジスタ101のドレイン(図示せず)と先端開放型線路102b、高電子移動度トランジスタ101のソース(図示せず)と接地導体が、それぞれボンディングワイヤー106を介して、電気的に接続されている。 - 特許庁

A current mirror type D/A converter circuit is constructed with transistor cells each including a MOS transistor, a gate region of which MOS transistor has folded stripe configuration in a plane view thereof, or a current flowing direction in a channel of which is a folded stripe in plane view.例文帳に追加

この発明は、ゲート領域が平面からみて折れ曲げられたストライブ状になっているMOSトランジスタあるいはゲート領域に流れる電流の方向が平面からみて折り返されるストライプ状のチャネルを有するMOSトランジスタを持つ多数のトランジスタセルを形成して、これらのトランジスタセルを用いてカレントミラー回路形のD/Aを構成するものである。 - 特許庁

例文

The semiconductor integrated circuit device is constituted so as to avoid securing a contact area in advance for arranging a contact for connection to the respective gates of p-MOS transistors 12a, 12b and n-MOS transistors 14a and 14b in the base cell 11, in the gate array type semiconductor integrated circuit device by a master slice system.例文帳に追加

本発明の半導体集積回路装置は、マスタースライス方式によるゲートアレイ型の半導体集積回路装置において、ベースセル11に、p−MOSトランジスタ12a、12b及びn−MOSトランジスタ14a、14bの各ゲートへの接続用のコンタクトを配設するためのコンタクト領域を予め確保しないように構成したものである。 - 特許庁


例文

To provide a laminate molding method, with which a multi-layered molding excellent in drape can be efficiently manufactured by a method wherein the sagging of an injected molten resin is eliminated and, at the same time, a skin material is prevented from being damaged in the neighborhood of a gate in a laminate molding method with a horizontal mold clamping type injection molding machine.例文帳に追加

本発明の目的は、横型締めタイプの射出成形機を使用して貼合わせ成形を行なう方法において、射出した溶融樹脂の垂下がりをなくするとともに、ゲート部付近の表皮材の損傷を防止し、風合の優れた多層成形品を効率的に製造できる貼合わせ成形方法を提供することにある。 - 特許庁

In a trench insulated gate type semiconductor device, a trench surface pattern is provided in which both of the parallel trench parts 9a that are different in the surface spacing of a trench 9 are coupled without crossing with skewed trench parts 9b; and the orientations of the sidewall surfaces of the parallel trench parts 9a are equivalent orientations {100} that are orthogonal to the orientation (100) of a principal surface.例文帳に追加

トレンチ9の表面間隔の異なる平行トレンチ部分9a同士は斜行トレンチ部分9bによって交差すること無く連結されるトレンチ表面パターンを備え、前記平行トレンチ部分9aの側壁面の面方位が、前記主面の面方位(100)と直交する等価な面方位{100}であるトレンチ絶縁ゲート型半導体装置。 - 特許庁

Two P-type MOS Trs are serially connected between a node 106A of the signal line and the Vcc, a source S is connected to the Vcc together with a gate G electrode and a substrate, and a drain D is connected to D of a Tr 111B in a Tr 111A and S of the Tr 111B is connected to the signal line, together with the G electrode and the substrate.例文帳に追加

信号線のノード106AとVcc間には2つのP型MOSTrが直列に接続され、Tr111AではソースSがゲートG電極や基板と共にVccに、ドレインDがTr111BのDに接続され、Tr111BのSはG電極及び基板と共に信号線に接続されている。 - 特許庁

In an insulating gate type semiconductor device 1 having a current density of ≥1,600 A/cm^2, a metal plate 8 is used as a means for connecting an electrode 2 covering the surface of an element region er with leads 13, 14, 15 and a fixing area of the electrode and the metal plate is 25% or larger in an area of an overlapping part 2o of the electrode.例文帳に追加

1600A/cm^2以上の電流密度を有する絶縁ゲート型半導体装置1において、素子領域erの表面を覆う電極2とリード13、14、15との接続手段接続手段として金属プレート8を用い、電極と金属プレートとの固着面積を電極の重畳部2oの面積の25%以上とする。 - 特許庁

例文

The memory cell array is provided with a first memory cell area where data are written according to whether or not electrons 90 are injected into a floating gate 29 of a memory transistor 23 and a second memory cell area where data are written according to whether or not a p-type impurity area 55 functioning as a channel area is formed in a memory transistor 43.例文帳に追加

メモリセルアレイは、メモリトランジスタ23のフローティングゲート29に電子90が注入されるか否かでデータの書き込みが行われる第1のメモリセル領域と、メモリトランジスタ43にチャネル領域として機能するp型の不純物領域55が形成されるか否かでデータが書き込まれる第2のメモリセル領域とを有している。 - 特許庁

例文

Using a thin film 50 of crystalline sapphire formed on a substrate 1 as a seed, a single crystal silicon layer 7 is formed from a low melting point metal layer of molten polysilicon through heteroepitaxial growth and the single crystal silicon layer 7 is employed in a top gate type MOSFET of an electrooptic device, e.g. a display section-peripheral drive circuit integrated LCD.例文帳に追加

基板1に形成した結晶性サファイア薄膜50をシードにして多結晶シリコン等を溶解した低融点金属層からヘテロエピタキシャル成長により単結晶シリコン層7を形成し、この単結晶シリコン層7を表示部−周辺駆動回路一体型のLCDなどの電気光学装置のトップゲート型MOSTFTに用いる。 - 特許庁

To provide a thin film transistor type liquid crystal display the manufacturing processes of which are simplified by constituting a bridge part connecting divided gate lines or source lines from the same material as the pixel part, and in which a favorable contact state of the lines can be obtained by forming the bridge part via a hole formed in an insulating film.例文帳に追加

本発明は、分断形成したゲート配線あるいはソース配線を接続する橋絡部を画素部と同一材料で構成することで製造工程を簡略化し、絶縁膜に設けた孔を介して橋絡部を形成することで良好にコンタクトすることができるようにした薄膜トランジスタ型の液晶表示装置の提供を目的とする。 - 特許庁

When introducing p-type impurities, a p-n junction diode is formed from this p+ impurity region 13 and n- impurity region 6, so that even if the p-n bonding diode is made conducting by reverse bias and even if a transistor is conducted by applying voltage to a gate electrode 5, no current will flow from a bit line 19 to the source line 17a.例文帳に追加

p型の不純物が導入される場合、このp+不純物領域13とn−不純物領域6とによってpn接合ダイオードが形成されるので、ゲート電極5に電圧を与えてトランジスタを導通させてもこのpn接合ダイオードが逆バイアスされて導通せず、ビット線19からソース線17aへ電流が流れない。 - 特許庁

The current detecting circuit is formed of a p-type output MOS transistor M1 as an element to be protected, a clamping circuit 1 for clamping a gate-source voltage of the output MOS transistor M1, a detecting circuit 2 for detecting operation of the clamping circuit 1, and a comparator circuit 3 for comparing the reference potential Vref and potential of output signal Out.例文帳に追加

本発明の電流検知回路は、被保護素子であるp型の出力MOSトランジスタM1と、出力MOSトランジスタM1のゲート・ソース間電圧をクランプするクランプ回路1と、クランプ回路1が動作したことを検出する検出回路2と、基準電位Vrefと出力信号Outの電位を比較するコンパレータ回路3で構成されている。 - 特許庁

To provide a trap type gate door having a long service life being smoothly opened/closed without causing the sudden rotation of arm means and the door and the generation of unpleasant sound caused by the crash of the arm means even when manual force applied to the door is larger than normal regardless of the season as a result of eliminating temperature dependency.例文帳に追加

温度依存性をなくし得る結果、季節に拘わらず、扉にかける手動力が通常より大きい場合においても、アーム手段及び扉に急激な回動を生じさせることなしに、スムーズに扉を開閉することができ、アーム手段の激突による不快音の発生をなくし得、寿命の長い跳ね上げ式門扉を提供すること。 - 特許庁

In the fabricating method for the cold cathode device having a field emission cold cathode comprising a cathodic bus bar formed on a substrate and silicon electrically connected to the cathodic bus bar and a gate electrode arranged away from the electron emission cold cathode, a process is provided of adding an n-type impurity in an electron emitting area of the field emission cold cathode.例文帳に追加

基板に形成された陰極母線及び該陰極母線に電気的に接続されるシリコンからなる電界放出冷陰極を有すると共に、前記電界放出冷陰極から離間して配設されるゲート電極を有する冷陰極装置の作製方法において、前記電界放出冷陰極の電子放出領域にn型の不純物を添加する工程を備える。 - 特許庁

Writing of information is performed only once by generating a photochromic phenomenon by two photon absorption at a core layer in which information is to be written by using gate light GL introduced as a wave light to the core layer and data light WL on which information is superimposed and which is introduced from an interface of a plane type optical waveguide and forming a scattering factor of the wave light.例文帳に追加

情報を書き込むコア層に導波光として導入したゲート光GLと、情報が重畳され平面型光導波路の界面から導入したデータ光WLとにより、情報を書き込むコア層に、2光子吸収によるホトクロミック現象を生じさせ、導波光の散乱要因を形成することにより、1度だけ情報の書込を行う。 - 特許庁

A mechanism 10 for suppressing propagation is constituted to be installed to a farm field travelling apparatus 1 equipped with a machine body frame 2 formed in a gate type crossing over a planted crop row in a farm field and a pair of crawlers 3 mounted on both sides of the machine body frame 2 to suppress propagation of objects inhibiting growth of farm crops between crop roots and/or the crop roots of the farm crop C.例文帳に追加

本発明の繁殖抑制機構10は、圃場に植設された農作物列を跨ぐ門型に形成された機体フレーム2と、該機体フレーム2の両側部に設けられた一対のクローラ3とを備えた圃場走行装置1に装備され、農作物Cの列の株間又は/及び株際における農作物生育阻害対象の繁殖を抑制するように構成されている。 - 特許庁

A gate type reader 16 reads in a contactless state an analyte management number given to each analyte when the analyte sampled at customer facilities is sent from a business office and a processing part 10 confirms that the analyte to be sent is present in a box for transportation according to the read analyte management number and request information stored in a request information storage part 14.例文帳に追加

顧客施設において採取した検体を営業所から発送する時点において検体毎に付与された検体管理番号をゲート型リーダ16により非接触で読み取り、処理部10において、読み取られた検体管理番号と依頼情報記憶部14に記憶されている依頼情報に基づいて発送すべき検体が輸送用ボックスの中に存在することを確認する。 - 特許庁

A gate type RFID reader 7 installed at a library exit reads in the ID information about a book 2 carried out by the user and collates it with the ID information sent from the RFID-reader-mounted lending portable terminal 11 to prevent a book 2 without borrowing record registration in the RFID-reader-mounted lending portable terminal 11 from being carried out.例文帳に追加

また、図書館出口に設けられたゲート式RFIDリーダ7が利用者が持ち出す図書2のID情報を読み込んで、RFIDリーダ付貸出用携帯端末11から送信されてきたID情報と照合して、RFIDリーダ付貸出用携帯端末11に借用記録として登録されていない図書2が外部に持ち出されることを防止する。 - 特許庁

A semiconductor device 100 is of a BiCMOS type in which in PMOS and NMOS regions 18 and 20, as in prior art BiCMOS semiconductor device, a P+-region 48 (source/drain region), an N+-region 44 (source/drain region) and a gate electrode 40 are silicided in their surface layers, for example, as a silicide layer 70.例文帳に追加

本半導体装置100は、BiCMOS半導体装置であって、PMOS領域18及びNMOS領域20では、従来のBiCMOS半導体装置と同様に、P^+ 領域48(ソース/ドレイン領域)、N^+ 領域44(ソース/ドレイン領域)及びゲート電極40の表層がシリサイド化され、例えばCoSiからなるシリサイド層70が形成されている。 - 特許庁

In a circuit having a current mirror circuit (4) with a plurality of current routes structured with a P channel MOSFET and a plurality of N channel MOSFETs connected to the current routes, the MOS type reference voltage generation circuit has N channel MOSFETs: N3, N4 serially connected to the P channel MOSFET for temperature compensation of which gate is connected to an output terminal of the reference voltage.例文帳に追加

PチャネルMOSFETで構成される複数の電流経路を有するカレントミラー回路(4)と、それ等の電流経路に接続された複数のNチャネルMOSFETを有する回路において、ゲートが基準電圧の出力端子に接続された温度補償用NチャネルMOSFET:N3,N4を上記PチャネルMOSFETと直列に接続したMOS型基準電圧発生回路。 - 特許庁

A dielectric breakdown protective element constituted of an insulation gate type field effect transistor is replaced with an equivalent circuit using a bipolar transistor, and a current flowing from the drain of the dielectric breakdown protective element to a substrate is expressed by a first current source by an impact ionization current and a second current source by the current based on an electron / hole pair thermally generated in a depletion layer.例文帳に追加

絶縁ゲート型電界効果トランジスタにより構成される静電破壊保護素子を、バイポーラトランジスタを用いた等価回路に置き換え、静電破壊保護素子のドレインから基板に流れる電流を、インパクトイオン化電流による第1電流源と、空乏層において熱的に発生する電子・正孔対に基づく電流による第2電流源とによって表す。 - 特許庁

In an MIS type semiconductor device in which a polycrystalline silicon film is used for a gate electrode, the average particle size of polycrystalline silicon particle in the lower area 14 of the polycrystalline silicon film is larger than that in the upper area 15 thereof, and the polycrystalline silicon film has no peak of oxygen concentration and nitrogen concentration in the film thicknesswise direction.例文帳に追加

ゲート電極に多結晶シリコン膜を用いたMIS型半導体装置において、多結晶シリコン膜の下部領域14の多結晶シリコン粒の平均的な粒径が多結晶シリコン膜の上部領域15の多結晶シリコン粒の平均的な粒径よりも大きく、かつ膜厚方向において多結晶シリコン膜中に酸素濃度及び窒素濃度のピークが存在しない。 - 特許庁

To remove residues after patterning an electrode film on one principal surface side of a wafer without affecting the other principal surface side even if a curvature is generated on the wafer in a method of manufacturing an insulation gate type semiconductor device that includes a step of forming an Al-based alloy electrode film on the one principal surface of a thin wafer of 200 μm.例文帳に追加

200μm以下の薄いウエハの一方の主面にAl系合金電極膜を形成する工程を有する絶縁ゲート型半導体装置の製造方法において、ウエハに反りが生じても他方の主面側に影響を及ぼさずに一方の主面側の電極膜のパターニング後の残渣除去ができる絶縁ゲート型半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The active matrix substrate includes a substrate 10; signal wiring 11 formed on the substrate 10; scanning wiring 13 intersecting the signal wiring 11; a bottom gate type thin film transistor 14 operating in response to a signal applied to the scanning wiring 13; and a pixel electrode 15 capable of being electrically connected to the signal wiring 11 via the thin film transistor 14.例文帳に追加

本発明によるアクティブマトリクス基板は、基板10と、基板10上に形成された信号配線11と、信号配線11に交差する走査配線13と、走査配線13に印加される信号に応答して動作するボトムゲート型の薄膜トランジスタ14と、薄膜トランジスタ14を介して信号配線11に電気的に接続され得る画素電極15とを備えている。 - 特許庁

To provide convenience and comfortability by enabling the smooth take-in/out of a card by making an accommodated sleeve abut on an IC card system apparatus such as an automatic ticket gate without the need for taking out a conventional railway commutation ticket holder and an exclusive holder of a security card by forming a pocket for a noncontact type IC card at a sleeve of a jacket such as a suit.例文帳に追加

この発明はスーツなどの上着の袖部分に非接触型ICカード用のポケットを備え付けることで、従来乗車定期券入れやセキュリティーカードなどの専用ホルダーをポケットなどから取り出すことなく収納された袖部分を自動改札機などのICカードシステム機器に当てることによりスムーズに出入りできるようにし、利便性と快適性を提供することを目的とする。 - 特許庁

The active matrix substrate includes a substrate 10, the signal wire 11 formed on the substrate 10, the scanning wire 13 intersecting the signal wire 11, a bottom-gate type thin film transistor 14 operating responding to a signal applied to the scanning wire 13, and a pixel electrode 15 electrically connectable to the signal wire 11 via the thin film transistor 14.例文帳に追加

本発明によるアクティブマトリクス基板は、基板10と、基板10上に形成された信号配線11と、信号配線11に交差する走査配線13と、走査配線13に印加される信号に応答して動作するボトムゲート型の薄膜トランジスタ14と、薄膜トランジスタ14を介して信号配線11に電気的に接続され得る画素電極15とを備えている。 - 特許庁

In an epitaxial crystal substrate for a gallium nitride field effect transistor, the epitaxial crystal formed on the substrate 101 comprises a highly pure first buffer layer 107, including a channel layer which is in contact with a side interface of the substrate between a gate layer 108, a second buffer layer 106, an insulating layer 104 having an opening 104A, and a p-type semiconductor crystal layer 103.例文帳に追加

GaN系FET用エピタキシャル結晶基板において、下地基板101の上に設けられるエピタキシャル結晶が、ゲート層108の下地基板側界面に接するチャネル層を含む高純度な第1の緩衝層107と、第2の緩衝層106と、開口部104Aを有する絶縁層104と、p伝導型半導体結晶層103とを有している。 - 特許庁

In a circuit having a current mirror circuit (4) with a plurality of current routes structured with a P channel MOSFET and a plurality of N channel MOSFETs connected to the current routes, the MOS type reference voltage generation circuit has N channel MOSFETs: N3, N4 for temperature compensation of which gate is connected to an output terminal of reference voltage serially connected to the P channel MOSFET.例文帳に追加

PチャネルMOSFETで構成される複数の電流経路を有するカレントミラー回路(4)と、それ等の電流経路に接続された複数のNチャネルMOSFETを有する回路において、ゲートが基準電圧の出力端子に接続された温度補償用NチャネルMOSFET:N3,N4を上記PチャネルMOSFETと直列に接続したMOS型基準電圧発生回路。 - 特許庁

To provide a by-pass gate on the abnormal water level in a waterway protecting a screen circulating type dust collector and preventing the rise of the water level upstream of the dust collector by rapidly opening a by-pass waterway with small power to discharge inflow water as it is untreated to the outside of the dust collector without receiving much flowing water resistance at the occurrence of the abnormal water level.例文帳に追加

異常水位発生時において流水抵抗をあまり受けることなく、小さな動力で迅速にバイパス水路を開放して流入水を未処理のまま除塵機外へ放出するようにしてスクリーン循環式除塵機を保護するとともに除塵機の上流側の水位の上昇を防ぐようにした水路における異常水位時のバイパスゲートを提供すること。 - 特許庁

In the variable gain amplifier, a drain terminal D3 of a 1st FET 22 and an emitter terminal E3 of a 1st bipolar type transistor 23 are connected in cascade, an information signal is input from the gate terminal G3, a control signal is input from a base terminal G3, and the information signal controlled by the above control signals is output from a collector terminal C3.例文帳に追加

第1の電界効果トランジスタ(以下、第1のFETという。)22のドレイン端子D3と、第1のバイポーラ型トランジスタ23のエミッタ端子E3とをカスケードに接続し、ゲート端子G3から情報信号を入力し、ベース端子G3から制御信号を入力し、上記制御信号により制御された情報信号をコレクタ端子C3から出力することで実現する。 - 特許庁

By applying anticorrosion potential to the emitter electrode 116 in a state that this field emission type electron emission element 100 is immersed in the etching solution 160 having a dissolution ratio of the gate electrode 110 to an unnecessary electron emission material 118 is 1:10 or more, the dissolution of the emitter electrode 116 is suppressed, and the unnecessary electron emission material 118 is dissolved and removed.例文帳に追加

ゲート電極110と、不要な電子放出材料118との溶解比が1対10以上のエッチング液160中に電界放出型電子放出素子100を浸した状態で、エミッタ電極116に防食電位を印加することによって、エミッタ電極116の溶解を抑制するとともに、不要な電子放出材料118を溶解し、除去する。 - 特許庁

The reference voltage source circuit of this invention comprises: a first pair field effect transistor circuit having gates with different conduction polarities; a second pair field effect transistor circuit having gates of the same conduction type with different impurity concentrations; and a synthesizing circuit for composing differences between work functions of the gate electrodes of the first and second pair field effect transistor circuits at an optional ratio.例文帳に追加

基準電圧源回路は、導電型の極性が異なるゲートを有する第1のペア電界効果トランジスタ回路と、同一の導電型で不純物の濃度が異なるゲートを有する第2のペア電界効果トランジスタ回路と、第1及び第2のペア電界効果トランジスタのゲート電極の仕事関数差を任意の比で合成するための合成回路から構成される。 - 特許庁

Each of the memory cells 50 in the nonvolatile semiconductor storage device comprises an n-type source region 16a and a drain region 16c that are formed on the main surface of a semiconductor substrate 1; and stack gate electrodes 37a, 37b mutually independently formed on the main surface of the semiconductor substrate 1 sandwiched between the source and drain regions 16a, 16c.例文帳に追加

本発明の不揮発性半導体記憶装置におけるメモリセル50の各々は、半導体基板1の主表面に形成されたn型のソース領域16aおよびドレイン領域16cと、ソース領域16aとドレイン領域16cとに挟まれる半導体基板1の主表面上に、互いに独立して形成されたスタックゲート電極37a、37bとを備えている。 - 特許庁

Since incident ion charges escape through the first and second P-type diffusion layers 7 and 11 at dry etching for the formation of the metal wirings, charge up will not take place on the first and second gate electrodes 4 and 6 or the characteristics will not become unbalanced by charge up and thereby no difference appears in the characteristics between transistors.例文帳に追加

上記構成をとることにより金属配線を形成する時のドライエッチングを行っても、入射イオン電荷が第一のP型拡散層7および第二のP型拡散層11を通じて逃れるので第一のゲート電極4と第二のゲート電極6がチャージアップしない、あるいはチャージアップしてもアンバランスが生じないためトランジスタ間の特性に差が発生しない。 - 特許庁

The polysilicon film formed like an island as a semiconductor layer 1a constituting a TFT 30 as a switching element is heated by means of a sheet-fed semiconductor manufacturing device using a resistance-heating-type heater as a heat source under temperature conditions for releasing film stress occurring in oxidative reaction on the surface of the polysilicon film to form a gate insulation film 2 made of the silicon oxide film.例文帳に追加

スイッチング素子としてのTFT30を構成する半導体層1aとして島状に形成されたポリシリコン膜に、抵抗加熱式のヒータを熱源とする枚葉式の半導体製造装置を用い、ポリシリコン膜の表面に酸化反応時に発生する膜応力を解放する温度条件で加熱を行ってシリコン酸化膜からなるゲート絶縁膜2を形成する。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a channel region having a heterojunction of a first semiconductor region of a gallium nitride or an indium gallium nitride and a second semiconductor region of an indium aluminum nitride, a gate electrode facing the heterojunction from one side of the channel region, and a third semiconductor region of a gallium nitride containing a p-type impurity and facing the heterojunction from the other side of the channel region.例文帳に追加

窒化ガリウム又は窒化インジウムガリウムの第1半導体領域と窒化インジウムアルミニウムの第2半導体領域のヘテロ接合を有するチャネル領域と、そのチャネル領域の一方側からヘテロ接合に対向しているゲート電極と、そのチャネル領域の他方側からヘテロ接合に対向しているp型の不純物を含んでいる窒化ガリウムの第3半導体領域を備えている。 - 特許庁

The MOS field effect transistor type quantum dot light-emitting element comprises a semiconductor substrate, a tunnel SiO_2 layer formed on the semiconductor substrate, a quantum dot which includes Ge nucleus within Si shell formed on the tunnel SiO_2 layer, a control SiO_2 layer formed on the quantum dot and tunnel SiO_2 layer, and a gate electrode layer formed on the control SiO_2 layer.例文帳に追加

MOS電界効果トランジスタ型量子ドット発光素子は、半導体基板と、該半導体基板上に形成されたトンネルSiO_2層と、該トンネルSiO_2層上に形成されたSi殻内にGe核を内包した量子ドットと、該量子ドット上及び前記トンネルSiO_2層上に形成されたコントロールSiO_2層と、該コントロールSiO_2層上に形成されたゲート電極層と、を有する。 - 特許庁

In reading, specified voltages are applied to word lines and source lines to set the voltage of the bit line BL according to the threshold voltage of a selected memory cell, the level change of a node ND0 is detected with a stepwise varying level type read signal VBLA3H applied to the gate of a high-withstand voltage transistor N1, thereby judging the voltage of the bit line BL.例文帳に追加

読み出しのとき、ワード線およびソース線にそれぞれ所定の電圧を印加することにより、選択メモリセルのしきい値電圧に応じてビット線BLの電圧が設定され、高耐圧トランジスタN1のゲートに階段状にレベルが変化する読み出し信号VBLA3Hを印加しながら、ノードND0のレベル変化を検出することにより、ビット線BLの電圧を判定する。 - 特許庁

Second lower insulating films 54 of the second side wall portions 46 have a thickness thicker than that of silicon thermal oxidation films 34 of the first side wall portions 26 by the thickness of silicon oxide films 62 on an upper surface 12A of a p-type semiconductor substrate 12, and the silicon oxide films 62 do not have a part covering the side walls of the second gate electrodes 42 from a side.例文帳に追加

第2サイドウォール部46の第2下部絶縁膜54は、P型半導体基板12の上表面12Aの上表面12Aの上表面12A上においてシリコン酸化膜62の分だけ第1サイドウォール部26のシリコン熱酸化膜34よりも厚肉とされ、該シリコン酸化膜62は第2ゲート電極42の側壁を側方から覆う部分を有しない。 - 特許庁

The MONOS type memory cell of the nonvolatile semiconductor memory device includes a tunnel insulating film formed on the active region of a semiconductor substrate, a charge storage film formed continuously on the active region and an element isolation insulating film and having a function of storing electric charges, a block insulating film formed on the charge storage film, and a control gate electrode formed on the block insulating film.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置のMONOS型メモリセルは、半導体基板の活性領域上に形成されるトンネル絶縁膜と、活性領域上及び素子分離絶縁膜上に連続的に形成される電荷を蓄積する機能を有する電荷蓄積膜と、電荷蓄積膜上に形成されたブロック絶縁膜と、ブロック絶縁膜上に形成されるコントロールゲート電極とを備える。 - 特許庁

The FFS mode liquid crystal display includes a transparent common electrode, a conductive reflection structure formed in a structure to be connected to the transparent common electrode, and a transparent pixel electrode of a slit type having a large number of slits above the structure, wherein the transparent common electrode is formed on a region including a data line and a gate line and has a structure of connecting unit pixel regions to one another.例文帳に追加

本発明によるFFSモード液晶表示装置は、透明共通電極と、透明共通電極と接続される構造で形成された導電性反射構造物と、その上部に多数のスリットを有するスリットタイプよりなる透明画素電極とを備え、透明共通電極は、データラインとゲートラインの上部を含む領域に形成され、各単位画素領域が互いに連結される構造を有する。 - 特許庁

The transistor-type ferroelectric memory includes a IV semiconductor layer 10, an oxide semiconductor layer 20 formed on the IV semiconductor layer 10, a ferroelectric layer 30 formed on the oxide semiconductor layer 20, a gate electrode 40 formed on the ferroelectric layer 30, and a source region 12 and a drain region 14 which are formed on the IV semiconductor layer 10.例文帳に追加

本発明にかかるトランジスタ型強誘電体メモリは、IV族半導体層10と、前記IV族半導体層10の上方に形成された酸化物半導体層20と、前記酸化物半導体層20の上方に形成された強誘電体層30と、前記強誘電体層30の上方に形成されたゲート電極40と、前記IV族半導体層10に形成されたソース領域12およびドレイン領域14と、 を含む。 - 特許庁

At the examination place, a gate type reader 24 reads in a contactless state the analyte management number of the received analyte and a laboratory server 20 confirms that the sent analyte is the same as the received analyte according to the read analyte management number and the analyte management number of the analyte present when it is sent from a business office system 2 to an examination place system 6 through a network 4.例文帳に追加

検査所においては、受領した検体の検体管理番号をゲート型リーダ24により非接触で読み取り、ラボサーバ20において、読み取られた検体管理番号と営業所システム2からネットワーク4を介して検査所システム6に送信された発送時点において存在した検体の検体管理番号に基づいて発送された検体と受領した検体が一致していることを確認する。 - 特許庁

The organic semiconductor thin-film transistor of a bottom gate/bottom contact type comprises a flattening layer 7 formed continuously between a source electrode 5 and a drain electrode 6 for moderating a height-level difference between both electrode ends, wherein the flattening layer 7 has control over crystal orientation, thereby forming an organic semiconductor layer over a predetermined portion of the top of the flattened source electrode, the flattening layer, and the drain electrode.例文帳に追加

ボトムゲート・ボトムコンタクト型の有機半導体薄膜トランジスタであって、ソース電極5とドレーン電極6との間に、両電極端の段差を平坦化するように連続的に設けられた平坦化層7をさらに備え、平坦化層7は、結晶配向規制力を有し、平坦化されたソース電極、平坦化層、およびドレーン電極の上部の所定部分に渡って有機半導体層が形成される。 - 特許庁

The semiconductor device has a MIS type field effect transistor having a silicon substrate (1), an insulation film (6) formed on the silicon substrate containing at least one of nitrogen and oxygen, and silicon, a metallic acid nitride film (7) formed on the insulation film containing at least one kind of a metallic atom of zirconium and hafnium, and a gate electrode (8) formed on the metallic acid nitride film.例文帳に追加

シリコン基板(1)と、前記シリコン基板上に形成され、窒素および酸素の少なくとも1種とシリコンとを含有する絶縁膜(6)と、前記絶縁膜上に形成され、ジルコニウムおよびハフニウムの少なくとも1種の金属原子を含む金属酸窒化膜(7)と、前記金属酸窒化膜上に形成されたゲート電極(8)とを具備するMIS型電界効果トランジスタを備える半導体装置である。 - 特許庁

This voltage-driven type power element is equipped with cell blocks 8, provided on the top surface of a semiconductor substrate 2, and provided with gate pads 9 by the cell blocks 8, and provided with main emitter electrodes 10 by cell blocks 8, and equipped with subordinate emitter electrodes 11 constituting current mirrors with the master emitter electrodes 10 provided by the cell blocks 8.例文帳に追加

本発明の電圧駆動型パワー素子は、半導体基板2の表面に設けられた複数のセルブロック8を備え、これら複数のセルブロック8毎にそれぞれ複数のゲートパッド9を設け、前記複数のセルブロック8毎にそれぞれ複数の主エミッタ電極10を設け、そして、前記複数のセルブロック8毎にそれぞれ設けられ前記複数の主エミッタ電極10とカレントミラーを構成する複数の従エミッタ電極11を備えて構成されたものである。 - 特許庁

The gate electrode 1-6 is formed in the exterior of the propagation region 1-5 of the surface acoustic wave which is emitted from the comb type electrodes 1-3 and 1-4, and propagated in the propagation layer.例文帳に追加

基板1−0と、圧電性を有する半導体材料からなる伝搬層1−1と、伝搬層1−1の表面に局所的に形成される一組ないしそれ以上の櫛形電極1−3、1−4と、伝搬層1−1の表面に局所的に形成されるゲート電極1−6からなり、上記ゲート電極1−6が櫛形電極1−3、1−4から放射され伝搬層を伝搬する表面弾性波の伝搬領域1−5の外部に形成される構成とする。 - 特許庁

例文

In a buried bit line type flash memory arranged such that a bit line 5 functioning as source-drain formed by implanting impurity ions into a semiconductor substrate 1 intersects a word line 7 functioning as a gate electrode, a three layer structure ONO film 6 of silicon oxide film/silicon nitride film/silicon oxide film is formed after impurity ions for forming the bit line 5 are implanted and annealing for activation is performed.例文帳に追加

半導体基板1に不純物がイオン注入されて形成されたソース/ドレインとして機能するビットライン5と、ゲート電極として機能するワードライン7とが交差する構成の埋め込みビットライン型フラッシュメモリにおいて、ビットライン5を形成するための不純物のイオン注入及びその活性化のためのアニール処理を行った後に、シリコン酸化膜/シリコン窒化膜/シリコン酸化膜からなる3層構造のONO膜6を成膜する。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS