1153万例文収録!

「TEST PLATE」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > TEST PLATEの意味・解説 > TEST PLATEに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

TEST PLATEの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 343



例文

The propagation stopping performance to the long brittle fracture having a fracture propagation length of ≥1 m is evaluated using a test piece having a width of ≥2 m with a test piece length or a distance between the tips of a tab plate in a test apparatus on which the test piece is placed, of 2.8 times or more of the test piece width.例文帳に追加

試験片幅2m以上の試験片を用いて、き裂伝播長1m以上の長大脆性き裂に対する伝播停止性能を、試験片長さもしくは試験片を取り付ける試験装置のタブ板先端間距離を試験片幅の2.8倍以上として評価する。 - 特許庁

A Charpy impact test is performed relative to a thick steel plate by using each Charpy impact test piece collected from a center part of a plate thickness and a position of a quarter of the plate thickness from the surface, into which press notch is introduced, and the brittle fracture propagation stopping performance is evaluated based on a fracture transition temperature vTrs* obtained by the Charpy impact test of each test piece.例文帳に追加

厚鋼板につき、その板厚の中心部および表面から板厚の1/4の位置から採取しプレスノッチを導入したシャルピー衝撃試験片を用いて、シャルピー衝撃試験を行い、試験片毎のシャルピー衝撃試験にて得られた破面遷移温度vTrs^*に基いて、脆性破壊伝播停止性能を評価する。 - 特許庁

An earth plate 16 is arranged on a load- carrying platform of the running mobile vehicle 9, and the high voltage test device 10 is loaded on the earth plate 16.例文帳に追加

走行移動車9の荷台上に接地板16を配置し、接地板16上に高電圧試験装置10を搭載する。 - 特許庁

The semiconductor testing device including the top plate in contact with a prober, and a test head body for supporting the top plate in the floating state, also includes a fixing means provided between the top plate and the test head body, for fixing the top plate and the test head body after bonding operation between the prober and the top plate.例文帳に追加

プローバに接するトッププレ−トと、このトッププレ−トをフローティング支持するテストヘッド本体とを具備する半導体試験装置において、前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体との間に設けられ前記プローバとトッププレ−トとの結合動作後に前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体とを固定する固定手段を具備したことを特徴とする半導体試験装置である。 - 特許庁

例文

If the upper surface of the heat exchange part 20 comes into contact with the bottom surface of the heat transfer plate 2, the test cassette can be mounted on a different test device as it is.例文帳に追加

また,熱交換部20の上面が伝熱板2底面に接触しさえすれば,異なる試験装置にそのまま装着することができる。 - 特許庁


例文

A holding member 8 provided with recessed parts (bottom receiving part) 9 for holding the bottom of the test tubes inserted in the test tube holding holes is mounted on the bottom plate part.例文帳に追加

また前記底板部の上に、試験管保持孔に挿通された試験管の底部を保持する窪み(底受け部)9を備えた保持部材8を設ける。 - 特許庁

The test generator then propagates a TRI stored in a TRI data structure through the diagram, and determines a test generation plate (430).例文帳に追加

次いで、検査生成装置は、TRIデータ構造に格納されているTRIを、線図を通して伝搬させ、検査生成テンプレートを決定する(430)。 - 特許庁

To provide a polarizer protection film free from light escaping in a heat test and discoloration in a humidity test, also free from the occurrence of a crack after an endurance test, and having high durability, and to provide a polarizing plate.例文帳に追加

耐熱試験での光抜けや耐湿試験での褪色がなく、しかも耐久試験後にクラックの発生がない、高い耐久性を有する偏光子保護フィルム及び偏光板を提供する。 - 特許庁

The lower face of the retention plate 35 is provided with a flange 39, capable of abutting on a flange 24 of the test head part 8, and the flange 39 and the retention plate 35 are formed with pin receivers 40 which receive guide pins 25 of the test head part 8.例文帳に追加

保持板35の下面にはテストヘッド部8のフランジ24と当接可能なフランジ39を設け、フランジ39と保持板35にはテストヘッド部8のガイドピン25を受けるピン受け40を形成する。 - 特許庁

例文

To provide a press unit for a necessary and enough pressure strength and to minimize the stress to a print plate in an in-circuit test or a function test of the print plate with mounted components.例文帳に追加

部品を実装したプリント板のインサーキット・テストまたはファンクション・テストにおいて、被測定プリント板に与えるストレスを最小限に抑えながら、必要かつ充分な加圧力を与えるプレスユニットを提供する。 - 特許庁

例文

A short circuit plate equipped with a short circuit contact for using at the withstand voltage test is fitted to the wire connection device, and a contact capable of easily attaching and detaching a test wire for using at the electrical circuit verification test (sequence test) is fitted to the wire connection device.例文帳に追加

耐電圧試験実施時に使用する短絡接触子を備えた短絡板が結線装置に設けられ、そして、電気回路検証試験(シーケンス試験)時に使用する試験配線が容易に着脱できる接触子を結線装置に備える。 - 特許庁

After conducting a slump test, a barrier device 16 is placed on a base plate 10 so as to surround a concrete sample C on the base plate.例文帳に追加

スランプ試験を実行した後に、台板10上のコンクリート試料Cを囲繞するようにして、バリア装置16を台板上に載置する。 - 特許庁

To provide an assembling device of a cutter for a metallic material test piece in which replacement of a cutter is easy, cutting edge is not damaged and accurately and easily arranged, and provide the cutter for the plate tension test piece and a manufacturing method of the plate tension test piece.例文帳に追加

本発明は、刃物の交換が容易で、且つ刃先を傷めず、刃先を正確に、簡単に揃える金属材料試験片用カッタの組立装置を提供し、平板引張試験片用カッタ及びそれによる平板引張試験片の作製方法を提供する。 - 特許庁

At least one inspection reception element is arranged at a section corresponding to a test plate, and the own point is possessed.例文帳に追加

一個以上の受検素子をテストプレートの対応する区域に配置し、且つその自分の地点を有する。 - 特許庁

In the ground test method, after the ground test machine 1 is vertically downward rotated and interpenetrated in the state that the load plate 3 is directed downward from the ground 15 and the load plate 3 is positioned at prescribed depth in the ground 16, a quantity of settlement of the ground test machine 1 is measured in the state that a weight 13 is mounted on the load mounting plate 4.例文帳に追加

地盤試験機1を地上15から荷重板3を下方に向けた状態で鉛直下方へ回転貫入してこの荷重板3を地盤16中の所定深度に位置させた後、載荷板4上に重り13を載置した状態の地盤試験機1の沈下量を測定する地盤試験方法。 - 特許庁

The two actuators Act1, Act2 apply a force in the horizontal direction to a test piece 11 through a loading plate 12.例文帳に追加

2本のアクチュエータAct1及びAct 2は、載荷板12を介して試験片11に水平方向に力を加える。 - 特許庁

DEFORMATION CHARPY IMPACT TEST PIECE AND QUALITY CONTROL METHOD OF BRITTLE FRACTURE PROPAGATION STOPPING CHARACTERISTIC OF THICK STEEL PLATE例文帳に追加

変形シャルピー衝撃試験片および厚鋼板の脆性破壊伝播停止特性の品質管理方法 - 特許庁

Four compression coil springs 38 are disposed vertically between the support plate 32 and the retention plate 35, with the compression coil springs 38 energizing the retention plate 35 toward a test head part 8.例文帳に追加

支持板32と保持板35の間に、4個の圧縮コイルばね38を垂直方向に向けて配置し、保持板35を圧縮コイルばね38によりテストヘッド部8側に付勢する。 - 特許庁

After a positive type resist is coated on a test substrate and it is brought into a focus by using a mask original plate for a test pattern to expose at a plurality of parts, development is carried out to form the test patterns composed of remaining patterns at the plurality of parts on the test substrate, respectively (step S11).例文帳に追加

テスト基板上にポジ型レジストを塗布し、テストパターン用マスク原版を用いてフォーカスを振って複数個所に露光した後、現像を行なって、テスト基板上の複数個所にそれぞれ残しパターンからなるテストパターンを形成する(ステップS11)。 - 特許庁

When a test mode is executed, a drive circuit and a pre-charge circuit apply second plate-line voltage to a plate line while applying a fixed potential to a bit line.例文帳に追加

駆動回路及びプリチャージ回路は、テストモードを実行する際、ビット線に固定電位を与えつつプレート線に第2のプレート線電圧を印加する。 - 特許庁

To provide a thin plate gripping jig for stably pinching a thin plate material as a test piece to be supplied for a tensile testing without damaging it.例文帳に追加

引っ張り試験に供される試験片としての薄板材を傷付けることなしに安定に挟持することのできる薄板掴み治具を提供する。 - 特許庁

Test patterns 100 of a number (P1-P6) corresponding to the number of a plurality of plate-like members 300 are recorded in a carriage moving direction on a recording medium 16 supported on the platen plate 200 (A1).例文帳に追加

プラテン板200上に支持される記録媒体16上に、複数の板状部材300の数に応じた数(P1〜P6)のテストパターン100を、キャリッジ移動方向に記録する(A1)。 - 特許庁

A concrete test piece 12 is immersed in a water tank 14 containing pure water, and an anode plate 22 and a cathode plate 24 are positioned on both sides thereof.例文帳に追加

純水を収容する水槽14にコンクリート試験片12を浸漬し、その両側に陽極側電極板22および陰極側電極板24を配設する。 - 特許庁

To provide an elliptically polarizing plate which includes an optical compensation plate formed of a liquid crystal layer, which is thin, which hardly induces cracks caused by a foreign substance in a cold impact test, and which hardly induces wrinkles caused by shrinkage of a linearly polarizing plate in a heat test.例文帳に追加

液晶層からなる光学補償板を有し、薄肉でかつ、冷熱衝撃試験において異物に起因するクラックが発生しにくく、耐熱試験において直線偏光板の収縮に起因する皺も発生しにくい楕円偏光板を提供する。 - 特許庁

When the test piece 58 is slid, the plate spring 44 is deformed and the resistance of the strain gage is changed, and thereby a resistance force when test piece 58 is moved can be acquired.例文帳に追加

試験片58が摺動すると板ばね44が変形してストレインゲージの抵抗が変化するので、試験片58を移動させたときの抵抗力を求めることができる。 - 特許庁

Dispensation of a test body is executed by moving it vertically with respect to a sample table 16 for holding plural test bodies in the circumferential direction, and by oscillatingly rotating the upper surface of a plate table 1.例文帳に追加

検体を周方向に複数保持するサンプルテーブル16に対して上下移動し、プレートテーブル1上を首振り回転することで検体の分注を行う。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display polarizing plate exhibiting improvement in reduction of polarizing characteristics and color change in a wet heat durability test and a dry heat durability test.例文帳に追加

湿熱耐久性試験および乾熱耐久性試験において、偏光特性の低下および色変化が大いに改良した液晶ディスプレイ用偏光板を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizing plate having small degradation in polarization characteristics and causing no change in color in a wet heat durability test and a dry heat durability test.例文帳に追加

湿熱耐久性試験および乾熱耐久性試験において、偏光特性の低下が少なく、しかも色変化が起こらない偏光板を提供すること。 - 特許庁

The predetermined internal diameter of the terminal hole portions 22a of the support plate 22 is substantially equal to the outer diameter of the test terminal pins 21, and the terminal member 20 for the test is mounted on the wiring board 5 in a state the test terminal pins 21 are inserted into the terminal hole portions 22a of the support plate 22.例文帳に追加

そして、支持板22の端子用穴部22aの所定の内径は、テスト用端子ピン21の外径と実質的に等しくなるように構成されており、テスト用端子ピン21が支持板22の端子用穴部22aに挿入された状態で、配線基板5に取り付けられる。 - 特許庁

Before mounting a test lens, a check plate 65 is mounted as a tool for focus checking on a lens mount 6.例文帳に追加

レンズマウント6に、被検レンズを装着する前にフォーカスチェック用の治具としてチェックプレート65を装着する。 - 特許庁

A test body 10 produced from an actual structure is measured and plate thickness distribution of the measurements is statistically processed.例文帳に追加

実構造物から作成した試験体10を実測してその実測値の板厚分布を統計処理する。 - 特許庁

It is evaluated whether scoring occurs easily between the bolt 60 and the plate 26, based on the test result.例文帳に追加

この試験結果に基づき、ボルト60と、プレート26との間でかじりが発生し易いかどうかを評価する。 - 特許庁

A mounting table 6, a cooling tube (auxiliary cooling device) 7 and a heating plate 8 are disposed inside of a test tank 2.例文帳に追加

試験槽2の内部に載置台6、冷却チューブ(補助冷却装置)7及び加熱板8が設置されている。 - 特許庁

In this testing device using the test plate 10 where many storage recessed parts 11 for storing the sample liquid 1 are provided, the pair of electrodes 12, 13 extending to the inside in the storage recessed part on the test plate are provided, and a pair of lead parts 14, 15 corresponding to the test plate are provided to be connected to the pair of electrodes provided in the storage recessed part.例文帳に追加

サンプル液1を収容させる収容凹部11が多数設けられた試験用プレート10を用いた試験用装置において、この試験用プレートにおける収容凹部にその内部に伸びた一対の電極12,13を設けると共に、この収容凹部に設けられた一対の電極に接続させるようにして、試験用プレートに対応する一対のリード部14,15を設けた。 - 特許庁

This test instrument 14 for matched impedance of a printed circuit board has an upper plate 26 holding the printed circuit board, a matched impedance circuit trace 36 which is elongated from a test position on the printed board which needs an impedance test, and a spring probe transmitting a test signal from the test position on the printed circuit board to the matched impedance circuit trace is elongated via a hole 33 of the upper plate.例文帳に追加

プリント回路基板の整合インピーダンステスト用器具(14)は、前記プリント回路基板を支持する上端プレート(26)を有し、整合インピーダンステストを必要とする前記プリント回路基板上にあるテスト位置から延びる整合インピーダンス回路トレース(36)を有し、前記プリント回路基板上のテスト位置から前記整合インピーダンス回路トレースにテスト信号を伝送するスプリングプローブが、上端プレートにある穴(33)を通して延びる。 - 特許庁

An electrode plate 11 composed of the image carrier and an electrode plate 12 which is parallel thereto are arranged and a test pattern TN developed with toner is formed on the electrode plate 11 as the image carrier.例文帳に追加

像担持体で構成される電極板11とこれに平行に電極板12が配置され、像担持体である電極板11の上にトナーで現像されたテストパターンTNが形成される。 - 特許庁

The light incident face of the optical plate 62 adheres to, or comes close to, the test piece 3 at an immunochromatographic test instrument 2 placed on a mounting part 12 for the test instrument when the mounting part 12 is covered with the lid part 30.例文帳に追加

ファイバ光学プレート62の光入射面は、試験用具載置部12が蓋部30にて覆われることにより、試験用具載置部12に載置された免疫クロマト試験用具2の免疫クロマト試験片3に密着もしくは近接する。 - 特許庁

The single atomic layer deposition apparatus comprises a reaction vessel 106 comprising an upper plate 30 and a lower plate 40 and internally provided with a reaction chamber 20 and the test piece holder 50 for supporting a test piece 60 to be loaded in the reaction chamber 20.例文帳に追加

上板30及び下板40を備え、内部に反応室20が設けられる反応容器106及び反応室20内部にロードされる試片60を支持する試片ホルダー50を備える単原子蒸着装置である。 - 特許庁

The IC tester is a system which has both shafts provided on side face opposite to the test board and groove into which this shaft is inserted, in addition, it is equipped with a rotary plate which rotates to even up or nearly right the test board and a cylinder installed in this rotary plate to support the plate.例文帳に追加

本装置は、テストボードの対向する側面に設けられる軸と、この軸が挿入される溝を有し、回転により、テストボードを水平またはほぼ直立にさせる回転プレートと、この回転プレートに取り付けられ、回転プレートを支えるシリンダとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

To efficiently perform a plate load test of ground in a hole bottom of a borehole with high accuracy by use of the borehole.例文帳に追加

ボーリング孔を利用して、その孔底面での地盤の平板載荷試験を効率良く、また精度良く行えるようにする。 - 特許庁

The test specimen for skill evaluation (1) includes a first and a second steel plates (2, 3), which are connected using a backing plate (8).例文帳に追加

技能評価用試験片(1)を、第1、2の鋼板(2、3)から構成し、裏当て金(8)によってこれらを接続する。 - 特許庁

To make it easy to load and unload a disk in a head/disk test device where a pneumatic bearing plate is provided in the vicinity of the disk.例文帳に追加

空気軸受板をディスクに近接して設けたヘッド/ディスク試験装置において、ディスクの着脱を容易にする。 - 特許庁

To eliminate the use of positioning activity during test, while making it possible to inspect defects at marginal part of glass plate with high precision.例文帳に追加

ガラス板縁部における欠点を高精度に検査することを可能としつつ、検査時の位置決め作業を不要とする。 - 特許庁

To provide a testing instrument with an upper plate having matched impedance circuit trace to transmit a test signal to a tester in a test at a position with high frequency in a printed board.例文帳に追加

プリント回路基板にある高周波数の場所におけるテストで、テスタにテスト信号を伝送するため、整合インピーダンス回路トレースを有する上端プレートを含むテスト用器具である。 - 特許庁

The X-ray CT apparatus introducing a top plate on which a test subject is placed into a base and photographing the test subject to acquire a tomographic image includes a winding shaft, a support means, and an arithmetic part.例文帳に追加

被検体を載置した天板を架台内に導入して、被検体を撮影し断層像を取得するX線CT装置において、巻き軸と、支持手段と、演算部とを有している。 - 特許庁

When a test piece 58 is fixed on the under side of the load pedestal 48 and the laterally sliding surface plate 22 is slid, the test piece 58 to which the load is applied is pressed on the road surface 14 and slid.例文帳に追加

荷重台座48の下側に試験片58を固定し、横スライド定盤22をスライドさせると、荷重の作用した試験片58が路面14に押し付けられながら摺動する。 - 特許庁

In the tip end area of a long stainless steel base plate 10, a plurality of test pieces 70 are collected which are parallel to the width direction TD of the base plate 10.例文帳に追加

ステンレス鋼からなる長尺状の基板10の先端部の領域において基板10の幅方向TDに平行な複数本の試験片70を採取する。 - 特許庁

After the corrosion test, corrosion product in a steel plate clad section is removed, a plate thickness decrement is measured by a micrometer, thereby measuring the maximum corrosion depth of an evaluation part.例文帳に追加

腐食試験後、鋼板合わせ部の腐食生成物を除去し、マイクロメーターで板厚減少量を測定することにより、評価部分の最大腐食深さを測定する。 - 特許庁

The bottom plate has a plurality of internal apertures which are aligned with the contact pads of the printed circuit board and separated by bottom plate stanchions which are aligned with the contact pads of the test device.例文帳に追加

底板は、テスト・デバイスのコンタクト・パッドと揃った底板支柱によって分離され、プリント回路基板のコンタクト・パッドと揃った複数の内部開口を有する。 - 特許庁

例文

The test lead connection terminal 10 includes a panel plate 11 made of an insulating material and a wiring section 12 made of a conductive material on a top surface of the panel plate 11.例文帳に追加

試験用リード接続端子10は、絶縁材料からなるパネル板11と、パネル板11の表面に形成された導電材料からなる配線部12とを具備する。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS