「TEST PLATE」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

On a liquid crystal panel housed in a case a test pattern A consisting of #-shaped vertical and horizontal lines via a light shielding plate is displayed, and the pattern is included.例文帳に追加

遮光板を介してケースに収納された液晶表示パネルに対し、＃状の縦線・横線からなるテストパターンＡを表示させ、これをを取り込む。 - 特許庁

One end of a pair of arms for pinching a test piece 10 is fixed on a base plate 15 by a pin 19 to be freely rotatable about the pin.例文帳に追加

試験片１０を挟むための一対のアームの一端はベース板１５にピン１９でその軸のまわりで自由に回動できるように固定されている。 - 特許庁

A semiconductor device tester e7 which can perform burn-in test of a wafer 401 not yet diced into chip size comprises a circuit substrate 303, a film 305, a positioning plate 307, and a retaining plate 309.例文帳に追加

チップサイズに分割される前のウェハ４０１をバーンイン試験することが可能な半導体デバイス試験装置ｅ７は，回路基板３０３，フィルム３０５，位置決め板３０７，押さえ板３０９を含む構成を有する。 - 特許庁

A testing equipment e7 for semiconductor device, which performs a burn-in test of a wafer 401 that is not divided into chip size pieces yet, has a configuration including a circuit board 303, a film 305, a positioning plate 307, and a retainer plate 309.例文帳に追加

チップサイズに分割される前のウェハ４０１をバーンイン試験することが可能な半導体デバイス試験装置ｅ７は，回路基板３０３、フィルム３０５、位置決め板３０７、押さえ板３０９を含む構成を有する。 - 特許庁

The test kit for the bio-derived sample includes test paper for the bio-derived sample and a recording plate provided with an examination result housing part having a housing part capable of housing an examination result display means, which displays the examination result by the test paper, at every examination result.例文帳に追加

本発明に係る生体由来試料用検査キットは、生体由来試料用試験紙と、前記試験紙による検査結果を表示する検査結果表示手段を、検査結果毎に収容することができる収容部を有する検査結果収容部を備えた記録板とを備えていることを特徴とする。 - 特許庁

The test machine is constituted such that a plurality of cam plates 9, 10, 11 which are provided with oval holes for regulating the moving directions are selectively adopted to the cam plate mounting part 4, and by exchanging these cam plates, the durability test can be performed with a single operation lever durability test machine 1 by reciprocating the operation lever 5 in the various directions.例文帳に追加

移動方向規制用長穴の方向性が異なる複数のカム板９，１０，１１を選択的にカム板取付部４に装着するように構成し、カム板の取り替えにより、単一の操作レバー耐久試験機１で操作レバー５を様々な方向に往復移動させて耐久試験を行えるようにする。 - 特許庁

The terminal member 20 for the test to be mounted on the wiring board 5 is provided with a support plate 22 provided with terminal hole portions 22a having a predetermined inner diameter and a pair of test terminal pins 21 which are inserted into the terminal hole portions 22a of the support plate 22 and where positive and negative sides are connected respectively.例文帳に追加

このテスト用端子部材２０は、配線基板５に取り付けられるテスト用端子部材２０であって、所定の内径を有する端子用穴部２２ａが設けられた支持板２２と、支持板２２の端子用穴部２２ａに挿入され、正側および負側がそれぞれ接続される一対のテスト用端子ピン２１とを備えている。 - 特許庁

In this semiconductor testing device provided with a docking block, which is to be connected to a performance board and mounted to a handler base plate or the performance board, and a test socket mounted to the docking block, a docking plate for mounting the test socket is arranged, while a plate type docking base having a fitting hole, into which the docking plate is inserted and fitted, is arranged in the docking block.例文帳に追加

パフォマンスボードに接続されハンドラーベースプレートあるいは前記パフォマンスボードに取付けられるドッキングブロックと、このドッキングブロックに取付けられるテストソケットとを具備する半導体テスティング装置において、前記テストソケットが取付けられるドッキングプレートと、このドッキングプレートが挿入嵌め合わされて取り付けられる嵌合孔を有する板状のドッキングベースとを有するドッキングブロックを具備したことを特徴とする半導体テスティング装置である。 - 特許庁

A correction plate 6 is arranged between the measuring lens 1 and the reference spherical reflecting mirror 7, and spherical aberration of a test transmission wavefront acquired by transmission through the measuring lens 1 and the correction plate 6 is measured actually, and the thickness of the correction plate 6 is calculated based on the measured value and the correspondence relation.例文帳に追加

測定用レンズ１と基準球面反射鏡７との間に補正板６を配置し、測定用レンズ１および補正板６を透過してなる被検透過波面の球面収差を実際に測定し、その測定値と上記対応関係とに基づき、補正板６の厚みを算定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a base plate with a semiconductor framework referred to as a CSP arranged on it and a second upper layer wiring for test provided for a function test, and capable of downsizing overall planar size.例文帳に追加

ＣＳＰと呼ばれる半導体構成体をベース板上に配置し、その上に、ファンクションテストのために設けられたテスト用の第２の上層配線を有する半導体装置において、全体としての平面サイズを小さくする半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a ceramic heater for a semiconductor manufacturing and test device aiming at the improvement of corrosion resistant property of an electrode part of the same and whole part of a base plate at a semiconductor manufacturing and test process.例文帳に追加

半導体製品の製造・検査工程において、半導体製造・検査装置用セラミックヒータの電極部分およびセラミック基板全体の耐腐食性を向上させることを目的とする半導体製造・検査装置用セラミックヒータを提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic flat-plate load testing apparatus for flexibly controlling the load applied to a sinking test ground, reducing the workload of a testing person, and which is able to suppress errors, in a test result, due to the capability and individual difference in the testing person.例文帳に追加

沈下する試験地盤に対して柔軟な荷重制御が可能であり、試験員の労力を減らし、かつ、試験員の能力や個人差による試験結果の誤差を極力抑えることが可能な自動平板載荷試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a method and a device for evaluating a slide characteristic of a foam molded article capable of measuring quantitatively a sound generated by slide between the foam molded article or a test piece mainly composed thereof and a metal plate or a resin plate.例文帳に追加

発泡成形品又はそれを主体とする試験片と金属板又は樹脂板との摺動により発生する音を定量的に測定することができる発泡成形品の摺れ特性評価方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A mounting plate 20 is obliquely attached to a support frame 10, and a test piece 3 with the pressure sensitive adhesive tape 1 adhered on an upper face of an adherend piece 2 is mounted on an upper face of the mounting plate and it is prevented from slipping off by a stopper 22.例文帳に追加

支持枠（１０）に載置プレート（２０）が傾斜して取り付けられ、載置プレートの上面の上に被着体片（２）の上面に粘着テープ（１）を貼着した試験片（３）が載置されストッパ（２２）でずり落ち防止されている。 - 特許庁

To minimize the test time, the timing generators reused in the 2nd step have programming modifications from the time plate implemented in the 1st step to the time plate implemented in the 2nd step carried out at a minimum frequency.例文帳に追加

テスト時間を最小限にするために、第２のステップで再使用されるタイミング発生器は、第１のステップの間に実施されるタイムプレートから第２のステップに対して実施されるタイムプレートへのプログラミング変更を最小限の回数だけ課す。 - 特許庁

To provide a fireproof floor which can pass a fireproof test for one hour specified in JIS A1304 even when using a floor member formed of a thin ALC or PC plate.例文帳に追加

厚さの薄いＡＬＣ又はＰＣからなる床材を使用しても、ＪＩＳ Ａ１３０４に規定する耐火１時間の試験に合格しうる耐火床を提供する。 - 特許庁

To provide a method for calibrating a write head for producing a printing plate by which an image forming system can be quickly and simply adjusted without errors based on test exposure.例文帳に追加

迅速、容易にかつ誤りなく、テスト露光に基づいて画像形成システムを調整することができる、版を作成する書き込みヘッドを較正する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a multiwell filter plate having plural wells each containing a film holding a sample such as cells on the film, used in a multiwell test apparatus.例文帳に追加

マルチウェル検査装置に使用される膜上の細胞等の試料を保持するための膜を各々が含む複数のウェルを具備するマルチウェルフィルタプレートを提供する。 - 特許庁

To eliminate a release defect in a high temperature and high humidity test of an AR (antireflection) coating 30 disposed on an inside surface of a light transmission plate of a liquid crystal display device with a front light attached thereto.例文帳に追加

フロントライト付き液晶表示装置の導光板内側表面に設けられたＡＲ被膜３０の高温高湿試験での剥がれ欠陥を無くす。 - 特許庁

One ends of a pair of arms for sandwiching a test piece 10 are fixed to a base plate 15 with pins 19, in such a way as to be freely tunable about the axes of the pins 19.例文帳に追加

試験片１０を挟むための一対のアームの一端はベース板１５にピン１９でその軸のまわりで自由に回動できるように固定されている。 - 特許庁

To provide a method and system for identifying and managing a metal plate testpiece which correctly detect a barcode, and correctly process and test the testpiece.例文帳に追加

バーコードの正確な検出を行い、正確な試験片の加工・試験を行うことができる、金属板試験片識別管理方法およびシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving a function to prevent probe card warpage, while keeping a moving function of a top plate, by improving a test head side holding structure.例文帳に追加

テストヘッド側保持構造を改良して、トッププレートの移動機能を保持したまま、プローブカード反り防止機能が向上された半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

First, when identification information such as a variety and a lot of the plate material in use is input, a profile, which becomes a base, is read out from the identification information, and a test curving is performed.例文帳に追加

先ず、使用している版材の種別やロットなどの識別情報が入力されると、識別情報からベースとなるプロファイルが読み出され試験彫刻が行われる。 - 特許庁

For fluctuation of the beam diameter of the reflection scattering light, a remedy is possible by controlling the slit width of the slit plate and so it can respond to the test of a variety of polygon mirrors.例文帳に追加

反射散乱光のビーム径の変動に対しては、スリット板のスリットの幅を調整して対処可能であり、多様のポリゴンミラーの試験に対応することができる。 - 特許庁

To provide a method for measuring a polarization optical property of an optics system under test more simply without using any optical element such as a wave plate, a polarizer or the like, in comparison with conventional methods.例文帳に追加

波長板や偏光子などの光学素子を使用しないで被検光学系の偏光光学特性を従来よりも単純に計測する方法に関する。 - 特許庁

To provide a method for determining brittle crack propagation inhibiting performance of high-strength steel plates which greatly improves miniature testing method and its evaluation method, and simply/easily estimates arrest performance of any high-strength steel plate with thickness of 50 mm or more without conducting any large test such as ESSO test or double tensile test to inspect performance of high-strength steel plates.例文帳に追加

高強度厚鋼板の脆性き裂伝播停止性能の判定において、小型試験法およびその評価方法を大幅に改善し、ＥＳＳＯ試験や二重引張試験の大型試験を行うことなく、板厚５０ｍｍ以上の高強度厚鋼板のアレスト性能を簡便な手法で推定して、高強度厚鋼板の性能を検査する。 - 特許庁

The apparatus for testing a liquid crystal panel includes: a test board to transmit light to a liquid crystal panel which is placed thereon; a polarizer plate fixing unit rotatably formed on the test board and having a groove where a polarizer is inserted; and a stopper formed at the test board to fix the polarizer fixing unit at a desired position.例文帳に追加

本発明に係る液晶パネル検査装置は、液晶パネルが置かれて前記液晶パネルに光を出力する検査台と、該検査台に回転可能に形成されて偏光板が挿入される溝を有する偏光板固定部と、前記検査台に形成されて前記偏光板固定部を所望の位置に位置させるストッパーとで構成される。 - 特許庁

The apparatus is provided with a stock table 1 which carries the specific volume of steel fiber reinforced concrete test piece thereon, a tilting table 4 which makes the concrete test piece carried on the stock table flow down into a container bucket 5 together with washing water, and a separating plate 9 which makes the steel fibers stick thereto magnetically and separates them from the concrete test piece flowing down in the container bucket.例文帳に追加

定量の鋼繊維補強コンクリート試料を流し込むストックテーブル１と、ストックテーブル上に流し込まれたコンクリート試料を洗浄水とともにコンテナーバケット５内に流下させる傾斜テーブル４と、コンテナーバケット内に流下するコンクリート試料中の鋼繊維を磁力で吸着し、分離させるセパレータ板９とを備えてなる。 - 特許庁

The position-classified threshold value determination part 53 searches the threshold value storage part 47 based on information about the body thickness of the test subject acquired by the body thickness information acquisition part 52 to determines relation between the position on the top plate and the threshold value according to the body thickness of the test subject.例文帳に追加

位置別閾値決定部５３は、体厚情報取得部５２により取得された被検体の体厚の情報にもとづいて閾値記憶部４７を検索することにより、被検体の体厚に応じて天板上の位置と閾値との関係を決定する。 - 特許庁

This in-urine physical component classification device is characterized by having a means for image picking up the test solution on a translucent plate or in a flow cell and by equipping the means with an auto-focusing function for focusing automatically on the physical component in the test solution.例文帳に追加

透光板上もしくはフローセル中の被検液を撮像する手段を有し、かつ前記手段において被検液中の有形成分に焦点を自動に合わせる自動合焦機能が装備されることを特徴とする尿中有形成分分類装置。 - 特許庁

The false blast impact system 1 is constituted so as to test the bursting condition of the safety bursting plate by applying the false blast impact to the safety bursting plate 2 and equipped with a cylindrical pressure container composed of two layers, that is, an air compression part 11 and an open part 12.例文帳に追加

擬似爆風衝撃装置１は、安全破裂板２に擬似爆風衝撃を与えてその安全破裂板の破裂条件を試験する装置であり、空気圧縮部１１と開放部１２の２層からなる円筒状圧力容器を備えている。 - 特許庁

The conductivity probability is found by putting a porous sheet sample and a stainless plate in order on a stainless plate on which an iron powder is uniformly placed, pressing the sample held between two stainless plates and then performing continuity test between the stainless plates.例文帳に追加

前記導通確率は、鉄粉を均一にのせたステンレス板の上に、多孔性シートのサンプルおよびステンレス板をこの順序でのせ、前記２枚のステンレス板に挟まれたサンプルをプレスした後、前記ステンレス板間の導通試験を行うことにより求める。 - 特許庁

To provide a moisture-proof coating method of polarizing plate which prevents time deterioration even in an endurance test in an environment of high temperature and high humidity and does not strip a retardation film from a glass substrate, and to provide a polarizing plate manufactured by the method.例文帳に追加

高温高湿の環境下における耐久試験においても経時的な劣化を防ぎ、位相差フィルムとガラス基板が剥離することのない偏光板の防湿コーティング方法及びその方法により製造された偏光板を提供する。 - 特許庁

The inspecting apparatus for a semiconductor device for testing durability of the semiconductor device against a temperature, comprises: a match plate; and a contact module connected with the match plate, and having a radiating part radiating the heat generating from the semiconductor device to the outside and a test part for press-contact of lead wires of the semiconductor device.例文帳に追加

このように正確なテストが行われ、テスト時発生する半導体素子の熱によって良品の半導体素子を不良品と判定する誤判定が抑制されることにより、生産性向上及び費用を節減することができる。 - 特許庁

The adhesive sheet 54 does not corrode a silver plate 56 in a metal corrosion test where 1 g of the adhesive sheet and the silver plate 56 are placed in a container 52 having a volume of 50 mL and the container 52 is sealed and kept at 85°C for one week.例文帳に追加

その粘着シート５４は、容積５０ｍＬの容器５２に該粘着シート１ｇと銀板５６とを収容し、該容器５２を密閉して８５℃に一週間保持する金属腐食性試験において、銀板５６を腐食させないことを特徴とする。 - 特許庁

When a rotating power is transferred from a driving spindle unit 11 to the driven spindle through test pieces 11a, 12a, since the rotary plate 15 rotating in a body crosses a magnetic flux of a permanent magnet 18a of the magnet plate 18, a rotational resistance is generated in the rotary plate 15 by electromagnetic induction, and the driven spindle 12 is braked.例文帳に追加

駆動スピンドルユニット１１から試験片１１ａ、１２ａを介して従動スピンドルに回転動力が伝達されると、一体に回転する回転プレート１５が磁石プレート１８の永久磁石１８ａの磁束を横切るため、電磁誘導により回転プレート１５に回転抵抗が生じ、従動スピンドル１２にブレーキがかかる。 - 特許庁

For the ceramic heater for a semiconductor manufacturing and test device composed of a ceramic base plate containing nitride ceramics and a heater resistor formed in the ceramic base plate, an evaporated film including nitride ceramics is formed on the surface of the ceramic base plate.例文帳に追加

窒化物セラミックを含むセラミック基板と、その内部に設けられた抵抗発熱体とを含んで構成される半導体製造・検査装置用セラミックヒータであって、前記セラミック基板の表面には、窒化物セラミックを含む蒸着膜が形成されていることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミックヒータ。 - 特許庁

A potential applied to a plate line side electrode of a ferroelectric capacitor of the memory cell and a potential applied to a bit line are made the same by providing a plate line signal control circuit 28, thereby inputting the same signal to bit lines and plate lines of each memory cell when a semiconductor memory device is set to a stress test mode.例文帳に追加

半導体記憶装置がストレス試験モードに設定されるとき、各メモリセルのビット線とプレート線とに同じ信号を入力するプレート線信号制御回路２８を設けることにより、当該メモリセルの強誘電体キャパシタのプレート線側電極にかかる電位とビット線にかかる電位を同一にする。 - 特許庁

The linear traveling stator is allowed to travel linearly at a predetermined speed along a linear traveling secondary guide plate and the test piece is pulled at a high speed to continuously measure the elongation and load of the test piece.例文帳に追加

フィルム試験片の一端を荷重測定装置に取付け、他端をリニア走行用固定子に取付け、リニア走行用固定子をリニア走行用二次導板に沿って直線的に所定の速度で走行させ、試験片を高速度で引張り、連続的に伸びと荷重を測定するようにした高速引張試験機。 - 特許庁

Further, the pressure-sensitive adhesive sheet preferably has ≥1.0 N/10 mm pressure-sensitive adhesion measured according to JIS Z 0237 in -15°C circumstance by using a polypropylene plate as the adherend and/or ≤10 mm peeled distance of the test piece end part in the curved surface adhesion test.例文帳に追加

また、上記粘着シートは−１５℃の環境下、ポリプロピレン板を被着体としてＪＩＳ Ｚ ０２３７に準じて測定される粘着力が１．０Ｎ／１０ｍｍ以上、及び／又は曲面接着性試験において試験片端部の剥がれた距離が１０ｍｍ以下であることが好ましい。 - 特許庁

More specifically, the diffusion illumination light source consisting of a straight pipe fluorescent lamp (light source body) 21 provided along the extension direction of the test piece and the diffusion plate 22 interposed between the light source body, and the test piece and diffusing and transmitting the light emitted from the light source body is provided.例文帳に追加

具体的には試験片の伸び方向に沿って設けられた直管蛍光灯（光源体）２１と、この光源体と試験片との間に介装されて該光源体から放射された光を拡散透過する拡散板２２とからなる拡散照明光源を設ける。 - 特許庁

Next, based on the measurement result, corrosion rate of steel and zinc in each test piece and corrosion rate ratio (Fe/Zn) are determined, and the test piece of a corrosion rate ratio of 30 or more is used as a structure having a configuration capable of expressing the durability intrinsically possessed by the zinc-plated steel plate.例文帳に追加

次いで、測定結果をもとに、各試験片での鋼及び亜鉛の腐食速度を、そして腐食速度比（Ｆｅ／Ｚｎ）を求め、腐食速度比30以上の試験片を、亜鉛めっき鋼板が本来有する耐食性を発現することのできる構造を有している構造体とする。 - 特許庁

A printed circuit board according to the present invention comprises: a substrate body; and an inspection test piece part provided on the plate surface of the substrate body and having a soldered part for permitting inspection by an inspection device.例文帳に追加

本発明による印刷回路基板は、基板本体；および基板本体の板面に設けられて検査装置によって検査可能にはんだ付け部を有する検査試片部を含む。 - 特許庁

In an accelerated deterioration test, the planar luminous body 6 moves and scans in the XY directions on the upper plate 36 to uniformly irradiate the entire solar module 2 with pseudo solar light.例文帳に追加

加速劣化試験では、面状発光体６が上面３６上をＸＹ方向に走査移動し、疑似太陽光が前記太陽電池モジュール２の全体に均一に照射される。 - 特許庁

The planar breaking test piece 1 extending in a prescribed extension direction includes a welding bead 2, and a groove-shaped crack 3 parting the welding bead 2 and going through in the plate thickness direction.例文帳に追加

所定の延在方向に延びる板状の破壊試験片１であって、溶接ビード２と、上記溶接ビード２を分断し板厚方向に抜ける溝状のき裂３とを有する。 - 特許庁