「To sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

SAMPLE TREATING DEVICE FOR HIGHLY SENSITIVE ANALYSIS OF IMPURITIES IN SILICEOUS SAMPLE TO BE ANALYZED, AND ANALYZING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

珪素質分析試料中の不純物高感度分析のための試料処理器及びそれを用いた分析方法 - 特許庁

The sample distribution device takes out the sample of the determined kind from a storage means, and provides it to the user.例文帳に追加

試供品配布装置は、決定された種類の試供品を、収容手段から取り出して利用者に提供する。 - 特許庁

To provide a sample container rotating device capable of rotating a sample container without complicating a driving mechanism.例文帳に追加

駆動機構が複雑化することなく、試料容器を回転させることが可能な試料容器回転装置を提供する。 - 特許庁

The sample container in which the liquid sample is sealed by a cover allowed to be pierced is arranged in a vial holding part 3.例文帳に追加

バイアル保持部３に貫通可能なカバーによって液体試料が封入された試料容器が配置されている。 - 特許庁

As a result, the visibility of the sample, when the position desired to be observed of the sample is visually confirmed, can be improved.例文帳に追加

その結果、標本の観察したい位置を目視で確認する際の標本の視認性を向上させることができる。 - 特許庁

To ionize a sample by chemical ionization by flowing the sample and a reagent gas into an ion source at a pressure below 0.1 Torr.例文帳に追加

0.1Torr未満の圧力で、サンプルおよび試薬ガスをイオン源へと流すことにより、化学イオン化によってサンプルをイオン化する。 - 特許庁

To provide a sample holder cleaning container for cleaning sample holders, such as microarrays, tissue pieces, and slide glasses.例文帳に追加

マイクロアレイ、組織切片、スライドグラスなどの試料ホルダーを同時に洗浄するための、試料ホルダー洗浄容器を提供する。 - 特許庁

For example, if you are connecting to the database sample on your local installation of the bundled Derby database, your Database URL will look like this:例文帳に追加

たとえば、バンドルされた Derby データベースのローカルインストール上のデータベース sample に接続する場合、データベース URL は次のようになります。 - NetBeans

To provide a sample analysis method which enables the rapid and accurate analysis of the isoform contained in a sample.例文帳に追加

試料中に含まれるアイソフォームの解析を、迅速かつ正確に行うことができる試料解析方法を提供する。 - 特許庁

To quickly search the position of a sample when the desired observation position on the sample is not in the field of observation.例文帳に追加

試料上の所望の観察位置が観察野内に入っていない場合にそのいち早い探索を可能にする。 - 特許庁

The sample is subjected to the microanalysis in the vacuum chamber, or is loaded onto a load station, when mounted on the sample support.例文帳に追加

サンプル支持体に装着されると、サンプルは、真空チャンバー内でマイクロ分析を受けるか、又はロードステーションにロードされる。 - 特許庁

To provide a sample vaporizing chamber having an inlet dealing with any filled sample.例文帳に追加

本発明は、いかなる試料注入にも対応できる注入口を備えた試料気化室を提供することを目的とする。 - 特許庁

To reduce an influence caused by resonance of a support device for supporting a sample, when detecting vibration of the sample.例文帳に追加

供試体の振動を検出する際に、その供試体を支持する支持装置の共振の影響をできるだけ少なくする。 - 特許庁

To obtain the clear luminous image of a living sample even if weak light emitted from the living sample is observed over a long period of time.例文帳に追加

生体試料からの微弱な発光を長期間観察しても生体試料の鮮明な発光画像を得る。 - 特許庁

As for the sample base 33, a rectangular parallelepiped-shaped groove 34 is formed perpendicular to the upper face of the sample base 33.例文帳に追加

試料ベース３３には、該試料ベース３３の上面に対し、垂直に直方体状の溝３４が形成されている。 - 特許庁

To accurately detect existence or nonexistence of a sample container in a measuring chamber by a simple composition in a sample emission measuring device.例文帳に追加

試料発光測定装置において、測定室内の試料容器の有無を簡単な構成で高精度に検出する。 - 特許庁

The image decoder is also provided with an up-sample circuit 60 that receives the image output data and applies up-sample processing to the image output data.例文帳に追加

画像復号化装置１は、画像出力データを受けてアップサンプルを行なうアップサンプル回路６０をさらに備える。 - 特許庁

In this liquid expansion member, an expansion flat surface 52A is formed at the bottom of a cover plate 52 to cover the sample 42 held onto slide glass 40 and also to let the reagent 56 expanded to allow the sample 42 to be immersed in the reagent 56 supplied to the sample 42.例文帳に追加

スライドガラス４０上に担持されたサンプル４２を覆うと共に、サンプル４２に供給された試薬５６をサンプル４２が浸漬するように展開させる展開平坦面５２Ａをカバープレート５２の底面に形成する。 - 特許庁

An electron microscope has: an electron beam lens-barrel 1 in order to irradiate an electron beam 1a to a sample 11; a sample stage 3 to support the sample 11; a scattered electron detector 6 in order to detect backscattered electrons discharged from the sample 11; and a focused ion beam lens-barrel 2 in order to irradiate the sample 11 with a focused ion beam 2b.例文帳に追加

試料１１に電子ビーム１ａを照射するための電子ビーム鏡筒１と、試料１１を支持する試料台３と、試料１１から放出される後方散乱電子を検出するための散乱電子検出器６と、試料１１に集束イオンビーム２ｂを照射するための集束イオンビーム鏡筒２とを有する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The sample holder 14 allows the sample surface 32a of the sample stand 32 to approach the incident surface 20a of the light guide member 20 accompanied by the mounting to the sample holder housing part 22 and brings the peripheral part 34b of the support member 34 into contact with the upper inner surface of the sample holder housing part 22 to cut off disturbance light.例文帳に追加

試料ホルダ１４は、試料ホルダ収容部２２への装着に伴って、導光部材２０の入射面２０ａに対して試料台３２の試料面３２ａを近接させるとともに、支持部材３４の周囲部３４ｂを試料ホルダ収容部２２の上部内面に当接させて外乱光を遮光する。 - 特許庁

The surface of the sample that is a hard film is adsorbed and fixed on the film-like sample-holding surface of a fixing plate and processed by a cutting blade from the through-hole provided to the fixing plate, to prevent the sample processing trouble caused by the deformation of the soft substrate at the time of pressing of the cutting blade to the sample, and thereby enables a desired sample processing.例文帳に追加

硬質な膜である試料表面を固定板のフィルム状試料保持面に吸着固定し、固定板に設けられた貫通穴側から切削刃により加工することにより、切削刃を試料に押し付けた際の軟質基板の変形による試料加工不具合を防止し、所望の試料加工を可能とする。 - 特許庁

To provide a method for treating the surface of a three-dimensional polymer sample, comprising setting a conductive metal grid on a sample table and injecting plasma ions into the surface of the three-dimensional polymer sample, to modify the surface of the polymer sample and improve the electric conductivity of the surface of the polymer sample, and to provide equipment therefor.例文帳に追加

伝導性をもった金属グリッドを試料台上に設置して立体高分子試料の表面にプラズマイオン注入が行われるようにすることで、高分子表面改質を成し、これにより高分子表面の電気伝導度を向上させる方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method allowing any person to manufacture a proper sample slide as a sample by controlling a degree of dryness as parameter related to the manufacturing method for sample slide and provide a sample slide manufacturing device capable of stabilizing quality of the sample slide and enabling mass production.例文帳に追加

標本スライドの作製方法に係る関連パラメータとしての乾燥度を制御することによって、誰にでも検体として適当な標本スライドを作製できる方法と、その標本スライドの品質が安定しており、更に大量生産をも可能とする標本スライド作製装置とを提供すること。 - 特許庁

In the simulation processor 12, a sample image from the pattern image information stored in the main storage device 11 is extracted, the extracted image is decomposed into a pattern per unit and a plurality of scale/angle images, a scale/angle image to be a sample color scheme is added to the sample image, and the sample image is colored with respective colors to prepare a sample display image.例文帳に追加

シミュレーション処理装置１２では、主記憶装置１１に記憶された柄画像情報からサンプル用の画像が抽出されて単位当たりの柄と複数の尺角画像に分解され、該サンプル用の画像にサンプル配色となる尺角画像が追加され、それぞれに色付けされて、サンプル用の表示画像が作成される。 - 特許庁

To acquire a distance from a probe to a test sample, to drive the probe at a optimal probe speed proportional to the distance, and to stop driving the probe when the distance from the probe to the test sample becomes zero.例文帳に追加

プローブから試料までの距離を取得し、その距離に応じた最適なプローブ速度でプローブ駆動し、プローブから試料までの距離がゼロになった時にプローブ駆動を停止させる。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of observing a sample surface by easily detecting potential contrast of the sample surface based on a capacitance difference of the sample by irradiating the sample with charged particles through a dielectric material, while the sample is arranged in the atmosphere; and to provide a sample observation method using the same.例文帳に追加

本発明は、試料を大気中に置きながらも、誘電体を介して荷電粒子を試料に照射することにより、その静電容量差から容易に試料表面の電位コントラストを検出し、試料表面の観測を可能とした荷電粒子線装置及びこれを用いた試料観測方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To accurately produce a thin film of the water-containing sample, and enable image observation with regard to a thin film sample observation system for a water-containing sample including a living sample, a cooling sample holder, and a thin film sample observation method.例文帳に追加

本発明は生物試料を含む含水試料の薄膜試料観察システム及び冷却試料ホルダ並びに薄膜試料観察方法に関し、含水試料の薄膜を精度よく作製し、像観察を行なうことができる含水試料の薄膜試料観察システム及び冷却試料ホルダ並びに薄膜試料観察方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

When a minimum blood sample volume is detected, the test strip is moved with respect to the blood sample extraction site, so that a bending surface of the test strip faces the blood sample, movement of the blood sample to a measurement site on the strip is facilitated utilizing the surface tension of the blood sample droplet, and blood glucose in the sample is measured at this measurement site.例文帳に追加

最小限の血液検体量が検出されると、テストストリップの屈曲面が血液検体に対向するように、テストストリップが血液検体採取部位に関して移動され、血液検体小滴の表面張力を利用して、テストストリップ上の測定地点への血液検体の移動を促進し、この測定地点で検体中の血糖が測定される。 - 特許庁

The sample storing container is constituted by forming a reinforcement 3 constituted of a large number of protrusions so as to surround a sample storing section around the sample storing section 2 storing the commercial sample constituted of a film and attaching a film having a function as a lid to an opening side with the commercial sample stored in the above sample storing section.例文帳に追加

フィルムで構成した商品見本を収納する見本収納部２の周囲に見本収納部を囲むように多数の突起で構成した補強体３を成形し、前記見本収納部内に商品見本を収納した状態で開口側に蓋としての機能を持つフィルムを添着することにより構成した見本収納器である。 - 特許庁

An estimation sample selecting section 112 computes the distance between the voice sample of an unspecified speaker of a voice database 109 and the voice sample of a specific speaker of a task voice database, selects the voice sample of a voice database that has a smaller distance to the voice sample of the specific speaker and transmits the sample and a writing start text to a parameter estimating section 111.例文帳に追加

推定サンプル選択部１１２では音声データベース１０９の不特定話者の音声サンプルとタスク音声データベースの特定話者の音声サンプルとの間の距離計算を行い、特定話者の音声サンプルに距離が近い音声データベース側の音声サンプルを選択し、その書き起こしテキストと共にパラメータ推定部１１１に引き渡す。 - 特許庁

The pre-processing of the sample for this atom probe device is composed of a step for cutting a sample desired observation region into a block shape using an FIB device, a step for transferring the block-shaped cut sample to a sample substrate to fix the same and a step for processing the block-shaped sample fixed on the sample substrate into a needle tip shape by FIB etching processing.例文帳に追加

本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、ＦＩＢ装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をＦＩＢエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁

In addition, the sample holder having a sample holding space arranged between two electron beam-permeable films arranged oppositely to each other, and the supply passages for supplying the sample to the sample holding space is provided, in at least either of the supply passage and the sample holding space, with a filter structure separating a constituent in the sample.例文帳に追加

また、電子線が透過する対向配置された２つの膜の間に設けられた試料保持空間と、該試料保持空間に試料を供給するための供給路とを有する試料保持体において、該供給路及び該試料保持空間のうちの少なくとも一方に試料中の構成物を分別するフィルター構造を備える。 - 特許庁

To provide a fixing method which can be used to fix a sample in an electron beam of a type in which a voltage is applied to the sample.例文帳に追加

半導体ウエハなどの試料に電圧を印加する方式の電子線装置において、試料に印加する電圧を試料の固定にも利用するようにすること。 - 特許庁

To reduce cost necessary for liquid sample transfer, to improve transfer accuracy, and to transfer accurately a very small quantity of the liquid sample.例文帳に追加

液体試料移し替えに掛かる費用を低減するとともに、移し替え精度を向上し、微少量の液体試料を精度良く移し替えることを可能にする。 - 特許庁

The dewer 50 holding the medium R to cover the sample S is thus used to thereby simply control the sample S to a desired temperature.例文帳に追加

試料Ｓが覆われるように媒体Ｒを保持するデュワ５０を用いることにより、簡便に試料Ｓを所望の温度に調節することができる。 - 特許庁

When a sample to be measured is introduced into a sample chamber 62, active species to be measured and water vapor quickly permeate the membrane 60, to be brought into contact with an electrolyte 58.例文帳に追加

測定する試料が試料チャンバ62に導入されると、測定する活性種と水蒸気は迅速に膜60を浸透して電解質58と接触する。 - 特許庁

To provide a suction cup for sucking a target sample with relatively large suction force and reducing the damage to the target sample to be sucked.例文帳に追加

比較的高い吸着力で対象試料を吸着しつつ、吸着する対象試料の損傷を抑制する吸着盤を提供する。 - 特許庁

An injection valve 8 has a sample storage loop 5 to be connected to a mobile phase channel feeding a sample to a detector of a liquid chromatographic device.例文帳に追加

インジェクションバルブ８は、液体クロマトグラフ装置の検出器に試料を供給する移動相流路に接続される試料貯留ループ５を有する。 - 特許庁

To evaluate a photoelectric effect based on the measurement of the light reflected from a sample by allowing polarized light to enter the sample to which voltage is applied.例文帳に追加

電圧を印可した試料に偏光した状態の光を入射し、試料で反射した光の測定に基づき電気光電効果の評価を行う。 - 特許庁

This sample is charged to a loop 17 and then delivered to the detection part and thus the sample purification to the analysis can be processed by the full automation.例文帳に追加

この試料を試料ループ１７に充填し、続いて、検出部へ送液することにより試料精製から分析までを全自動で処理できる。 - 特許庁

A timing signal TMf (TMs) is supplied to a sample hold section corresponding to a selected format to sample and hold signal levels in a feedthrough period and a signal period.例文帳に追加

選択したフォーマットに対応するサンプルホールド部にタイミング信号ＴＭf（ＴＭs）を供給してフィードスルー期間や信号期間の信号レベルをサンプルホールドする。 - 特許庁

A video decoding unit resulting from adding a sequence header to each GOP of an MPEG video signal corresponds to 1 Sample 'of the QuickTime and an audio decoding unit corresponds to 1 Sample'.例文帳に追加

ＭＰＥＧビデオの各ＧＯＰにシーケンスヘッダが付加されたビデオ復号単位がQuickTime の１Sampleと対応され、オーディオ復号単位が１Sampleと対応される。 - 特許庁

The sample comprising a transparent substrate is subjected to laser interference exposure in a state where tensile stress is applied to the sample fixed on a roll to carry out stretching.例文帳に追加

透明基板からなるサンプルは、延伸するためにロールに固定され引っ張り応力が加えられた状態で、レーザ干渉露光が行われる。 - 特許庁

In this electron beam application device, the sample holding mechanism to hold the sample by applying a negative voltage to the sample has a support pedestal where the negative voltage is applied and which supports the sample from its lower part and a pressing part to press the sample from its upper part while the negative voltage is applied to the sample, and the pressing part is formed along the fringe part of the sample.例文帳に追加

上記目的を達成するための一態様として、電子線応用装置内にて、試料に負電圧を印加して試料を保持する試料保持機構において、負電圧が印加されると共に前記試料を下部から支持する支持台と、前記試料を上部から押圧する押圧部を有し、当該押圧部は前記試料の縁部に沿って形成されていると共に、前記負の電圧が印加されることを特徴とする試料保持機構を提案する。 - 特許庁

An image covering a broad range is acquired of a mounted sample and part of testing equipment around the sample to evaluate the positioning while keeping the sample off contact, and processed to compare the relative position on the image by geometric analysis to determine whether or not the sample is properly positioned.例文帳に追加

試料に非接触に位置決めを判定すべく、載置した試料とその周辺の装置の一部について広域の画像を取得し、それを処理して画像上にて幾何学的な解析により相対位置を比較することで、試料位置の合否を判断する。 - 特許庁