「a Scan」に関連した英語例文の一覧と使い方(46ページ目) - Weblio英語例文検索

First, a detection data per a single scan is obtained in a polar coordinate system and stored in a two-dimensional coordinate system with the distance direction and the azimuth direction set as two axes (S101).例文帳に追加

まず、１スキャン分の探知データを極座標系で取得し、距離方向と方位方向とを二軸とする二次元座標系で記憶する（Ｓ１０１）。 - 特許庁

An image output system comprises a server 30, a protocol conversion BOX 31 having a protocol conversion unit 33 or the like, and an image output engine 35 having a scan unit 39 or the like.例文帳に追加

画像出力システムは、サーバ30と、プロトコル変換部33等を有するプロトコル変換BOX31と、スキャン部39等を有する画像出力エンジン35とを備える。 - 特許庁

To avoid the generation of a timing violation, and to dispense with setting of an expectation in a burn-in test determination device of a semiconductor integrated circuit having a scan test function.例文帳に追加

スキャンテスト機能を有する半導体集積回路のバーンインテスト判定装置において、タイミング違反の発生を回避し、期待値の設定を不要にする。 - 特許庁

To provide a scan test circuit for inserting a test point for improving controllability, where not only a degeneration fault test but also a delay fault test are brought into view.例文帳に追加

縮退故障テストだけでなく遅延故障テストまでも視野に入れた、制御性向上の為のテストポイントを挿入するスキャンテスト回路を提供すること。 - 特許庁

To perform a precise defect inspection by eliminating the influence of a fluctuation in scale factor of a mapping projection optical system and also in scan sensitivity of a multi-beam optical system.例文帳に追加

写像投影光学系の拡大率の変動やマルチビーム光学系の走査感度の変動の影響を解消して精度のよい欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

To provide a scan mail transmitting system in which no problem occurs even when used in a mode of being connected to a mail server via a dial-up router etc.例文帳に追加

メールサーバにダイアルアップルータ等を介して接続される形態で使用しても問題が生ずることがないスキャンメール送信システムを、提供する。 - 特許庁

In this flip-flop circuit for scan path test, a gate circuit 230 is provided in the following stage of a latch circuit comprising a master latch part 210 and a slave latch part 220.例文帳に追加

マスタラッチ部２１０とスレーブラッチ部２２０とからなるラッチ回路の後段にゲート回路２３０を設けて、スキャンパステスト用のフリップフロップ回路を構成する。 - 特許庁

To provide a flip-flop circuit capable of preventing a signal supplied to a shift resistor and the like from passing therethrough even when the clock skew is generated in a scan test.例文帳に追加

スキャンテスト時に、クロックスキューが発生した場合であっても、シフトレジスタなどに供給される信号が通り抜けることがないフリップフロップ回路を提供する。 - 特許庁

A dialogue control part 3 transmits a series of inspection conditions (expert plan) to a scan control part 5 being divided into a plurality of elements with respective identification numbers added thereto.例文帳に追加

対話制御部３は、一連の検査条件（エキスパートプラン）を、それぞれ識別番号を付加した複数のエレメントに分割してスキャン制御部５に転送する。 - 特許庁

To provide a scanner unit and network scanner system in which a mail server is used to easily and efficiently read a document with a designated scan parameter.例文帳に追加

メールサーバを用いて指定された走査パラメータによる原稿読み取りを簡便かつ能率的に可能にするスキャナ装置とネットワークスキャナシステムを提供する。 - 特許庁

The movable mirror 441 serves as a deflector which is supported by a torsional beam as a rotary shaft and is constituted so as to deflect an optical beam emitted from a light source and scan an area to be scanned.例文帳に追加

可動ミラー４４１は回転軸となるねじり梁で支持され、光源からの光ビームを偏向して被走査領域を走査する偏向器となる。 - 特許庁

A first and a second memories (M1, M2) record a part of output from the line sensor (14) as data, and forwards the data to a third memory (M3) after finishing the reciprocating scan.例文帳に追加

第１，第２メモリ(M1,M2)は、走査中にラインセンサー(14)からの出力の一部をデータとして記録し、往復走査の終了後に第３メモリ(M3)へデータを転送する。 - 特許庁

To enable a multifunctional machine to store a scan data file in a designated folder, even if the address of the designated folder of a PC previously designated changes.例文帳に追加

ＰＣの予め指定されている指定フォルダのアドレスが変化しても、多機能機がスキャンデータファイルを指定フォルダ内に格納することを可能とすること。 - 特許庁

Light from a light source 21 passes through a collimator lens 22, the reference scale 10, and the scan plate 23, and a vernier striped pattern is detected by a detector array 24.例文帳に追加

光源２１からの光は、コレメートレンズ２２、基準尺１０および走査板２３を通過して、検出器配列２４により、バーニヤ縞模様が検出される。 - 特許庁

An amorphous silicon 10 is scan-irradiated with a beam pattern 11 including a plurality of recessed patterns 11a in a first scanning direction 12 (a first crystallization process).例文帳に追加

非晶質シリコン１０に、複数の凹パターン１１ａを含むビームパターン１１を、第１のスキャン方向１２にスキャン照射する（第１の結晶化工程）。 - 特許庁

To acquire a structure capable of reducing greatly area overhead, in a semiconductor integrated circuit having a test constitution using a partially-rotating type scan circuit.例文帳に追加

部分ローテート型スキャン回路を用いたテスト構成の半導体集積回路において、面積オーバーヘッドを大幅に削減することが可能な構造を得る。 - 特許庁

To provide a method and instrument for processing projection data collected in a helical scan executed along a spiral track to a scanned object.例文帳に追加

走査されている物体に対する螺旋軌道に沿って実行されるヘリカル・スキャンにおいて収集される投影データを処理する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The characteristic of a recording dot formed on a recording medium by a recording scan of the preceding recording head among a plurality of times of record scans is detected.例文帳に追加

複数回の記録走査の内、先行する前記記録ヘッドの記録走査によって前記記録媒体上に形成された記録ドットの特性を検出する。 - 特許庁

A light spot S is moved in a reading sub scan direction in an overlapping part M on a contact glass 5 of line image sensors 1, 2 of respective reading optical systems A, B.例文帳に追加

光スポットＳを、各読取光学系Ａ，Ｂのラインイメージセンサ１，２のコンタクトガラス５上における重合部分Ｍにて、読取副走査方向に移動させる。 - 特許庁

To easily set a slice area in each scan in the case of performing scanning a plurality of times while moving a couch in a magnetic resonance imaging apparatus.例文帳に追加

磁気共鳴イメージング装置において、天板を移動しながら複数回に分けて撮影を行う場合に、各撮影におけるスライス領域を容易に設定する。 - 特許庁

To provide an optical scanner that is configured at a low cost where a plurality of resolutions are provided and that can scan a size of an object over a wide variety.例文帳に追加

複数の解像度を有し、広範囲の物体サイズの走査を行うことができる、コストを抑えて構成可能な光学スキャナ装置を提供する。 - 特許庁

A scanworking display lamp and a scan-abnormality display lamp are connected to a drive controlling circuit to control a fabric inspection motor.例文帳に追加

検反モータ１３を制御する駆動制御回路２３には走査中表示ランプ４３及び走査異常表示ランプ４４が信号接続されている。 - 特許庁

A coordinator selection unit 212 selects, on the basis of a result of the scan process, a device having a communication range to which at least the device 102 belongs.例文帳に追加

コーディネータ選択部２１２は、スキャン処理の結果に基づいて、デバイス１０２が少なくとも属している通信範囲を有するデバイスを選択する。 - 特許庁

To enhance precision for specifying a fault position while reducing the number of wires and design man-hours, in a method of specifying a fault position in a scan chain.例文帳に追加

スキャンチェーンにおける故障位置特定方法において、配線数の減少、設計工数の減少を図りながら、故障位置特定の精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a display device module in which scan lines, data lines and dummy lines are effectively disposed on a narrow area of a mother substrate, and to provide a method for manufacturing the display device module.例文帳に追加

母基板の狭い領域にスキャンライン、データライン及びダミーラインを効果的に配置した、表示素子モジュール及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Upon the receipt of a scan request from an application 101, a scanner driver 102 makes a request to a scanner 200 for compression table information for data expansion.例文帳に追加

スキャナドライバ１０２はアプリケーション１０１からのスキャン要求を受けとるとスキャナ２００に対して、データ伸長のための圧縮テーブル情報を要求する。 - 特許庁

To provide an image reading apparatus that saves a user selecting a color of an opposite part placed at an opposing position of a reading part in a batch scan or the like.例文帳に追加

バッチスキャン等において、読取部の対向位置に配置される対向部の色をユーザが選択する手間を省くことができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a high quality display picture with a simple circuit constitution by making a dual scan system of a two pieces selection system realizable.例文帳に追加

デュアルスキャン方式の液晶表示装置では、セグメント駆動回路を上下の画面で別々に設けることが必要になり回路構成が複雑になる。 - 特許庁

The respective sizes of a document D in a subscan direction and a main scan direction are detected by using a read scanner 12 for reading image information on the document D.例文帳に追加

原稿Ｄの画像情報を読み取る読取スキャナ１２を用いて、原稿Ｄの副走査方向及び主走査方向の各サイズを検出する。 - 特許庁

To resolve a command shortage of a TAPC controlling a boundary scan function in regard to an ICE(an in-circuit emulator) using a JTAG interface.例文帳に追加

ＪＴＡＧインタフェースを用いるＩＣＥ（インサーキットエミュレータ）に関し、バウンダリスキャン機能を制御するＴＡＰＣの命令不足を解消することを目的とする。 - 特許庁

To provide a delay fault detection circuit that can reliably detect a delay fault in a test circuit adopting a scan test method.例文帳に追加

スキャンテスト方式を採用するテスト回路において、遅延性故障を確実に検出することができる遅延性故障検出回路を提供する。 - 特許庁

To prevent a stripe, where characteristics differ from those at other parts, from being generated in the joint of a scan when manufacturing a thin-film semiconductor in a laser recrystallization system.例文帳に追加

レーザ再結晶化方式で薄膜半導体を製造する際に、スキャンの継ぎ目に特性が他の部分と異なるスジが生じないようにする。 - 特許庁

When the alignment film in a bright point area 51 (pixel opening regarding a bright point) is irradiated with laser light, a scan with the laser light is made in a rubbing direction.例文帳に追加

輝点領域５１（輝点に係る画素開口）内の配向膜にレーザー光を照射するにあたり、ラビング方向にレーザー光を走査する。 - 特許庁

While using this augmented set, a look-up table(LUT) for mapping a scan color coordinate to a printer color coordinate is constructed inside the memory of a computer (86 and 88).例文帳に追加

この増補集合を使用してコンピュータのメモリ内に、スキャナカラー座標をプリンタカラー座標にマップするためのルックアップテーブルを構築する（８６、８８）。 - 特許庁

To provide a phased array antenna capable of obtaining a large beam scan angle while reducing a gain change with small reactance phase shift amount of a variable reactance element.例文帳に追加

可変リアクタンス素子の少ないリアクタンス変移量で利得変化が少なく大きなビーム走査角を得ることができるフェーズドアレイアンテナを提供する。 - 特許庁

To scan a job inputted from a client, and to prevent virus infection and secondary infection in a document print server capable of submitting a job.例文帳に追加

ジョブサブミット対応可能なドキュメントプリントサーバにおいて、クライアントから投げ込まれたジョブに対して、ウィルスチェックを行い、ウィルス感染の防止と二次感染を防ぐ。 - 特許庁

To provide a system, method, and computer program product for performing a scan operation on a sequence of single-bit values using a parallel processing architecture.例文帳に追加

並行処理アーキテクチャを使用して単一ビット値のシーケンスに対してスキャン演算を実施するためのシステム、方法及びコンピュータ製品を提供すること。 - 特許庁

To obtain a higher resolving power by controlling an average distance constantly between the tip part of a microwave resonator and a sample in a scan type microwave microscope.例文帳に追加

走査型マイクロ波顕微鏡におけるマイクロ波共振器の先端部と試料との間の平均距離を一定に制御して高解像度を得る。 - 特許庁

To disclose a method for performing a scan base test on a circuit using one or more test clock control structures, and a computer readable medium.例文帳に追加

１つ又はそれ以上のテストクロック制御構造を用いて回路のスキャンベースのテストを実施するための方法及びコンピュータ可読媒体が開示される。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.例文帳に追加

回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit design device capable of reducing delay of a semiconductor integrated circuit when using a spare cell as a scan cell.例文帳に追加

スペアセルをスキャンセルとして用いた際に、半導体集積回路の遅延を軽減することが可能な半導体集積回路設計装置を提供する。 - 特許庁

A reset operation, address operation and maintaining discharge operation are performed by applying a driving waveform to a scan electrode in the state that the maintaining electrode is biased to a grounding electrode.例文帳に追加

維持電極を接地電圧にバイアスした状態で，走査電極に駆動波形を印加して，リセット動作，アドレス動作及び維持放電動作を行う。 - 特許庁

A maximum value in estimated values of variance held in a variance estimated value register within a given time period from scan start is held in a maximum value hold register 38.例文帳に追加

スキャン開始から一定の時間内に分散推定値レジスタに保持された分散の推定値のなかの最大値を最大値ホールドレジスタ３８に保持する。 - 特許庁

The detection rate of a delay fault by a test circuit adopting a scan test method can be thus improved in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

これにより、スキャンテスト方式を採用するテスト回路を用いた半導体集積回路の遅延性故障の検出率を向上させることができる。 - 特許庁

Blanking times accompanying a rise and a fall of a scan wiring voltage are shortened, so the transfer speed of the video signal, i.e. a dot clock is reducible.例文帳に追加

走査配線電圧の立下げと立上げに伴うブランキング時間を低減できるので、映像信号の転送速度すなわちドットクロックを低減できる。 - 特許庁