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n layerの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6825



例文

In the method, an n-type single-crystal silicon wafer 21 is placed on a first placing surface 50A of a first substrate tray 50 covered by an i-type amorphous silicon layer 28, in a step of forming an HIT-structure.例文帳に追加

本実施形態に係る太陽電池の製造方法では、HIT構造の形成工程において、n型単結晶シリコンウェハ21は、i型非晶質シリコン層28によって覆われた第1基板トレー50の第1載置面50A上に載置される。 - 特許庁

To provide an optical information recording medium having a high reflectance (initial reflectance) and a high C/N and, further, being provided with a recording layer having a low jitter value formed by a hole making method on which a recording mark is formed by irradiation with a laser beam.例文帳に追加

反射率(初期反射率)が高く、高C/N比を有し、さらには低ジッター値を有するレーザー光の照射によって記録マークが形成される孔開け方式による記録層を備えた光情報記録媒体を提供すること - 特許庁

The break down voltage of a body contact diode region 13, in which a body contact region 12 and n-type semiconductor layer 3 form a pn junction, is smaller than that of a MOSFET region 14 forming a MOSFET structure.例文帳に追加

ボディコンタクト領域12とn形半導体層3とでpn接合が形成されたダイオード構造を構成するボディコンタクトダイオード領域13の耐圧を、MOSFET構造が構成されたMOSFET領域14の耐圧よりも小さくしてある。 - 特許庁

In a transistor operating in a bipolar mode, a thickness of an N-type buffer layer 4 is set to 20 to 40 μm or preferably 40 μm, a peak concentration is set to 1×1015-1×1016 cm-3 or preferably 1×1016 cm-3.例文帳に追加

バイポーラモードで動作するトランジスタにおいて、Nバッファ層4の層厚を20μm〜40μm、好ましくは40μmとし、ピーク濃度を1×10^15cm^−3〜1×10^16cm^−3、好ましくは1×10^16cm^−3とする。 - 特許庁

例文

To provide a magnetoresistive effect element, a magnetoresistive effect head, a magnetoresistive conversion system, and a magnetic recording system, wherein a sense current is prevented from flowing to a vertical bias layer, noise is little in a reproduction waveform, and a S/N ratio and a bit error rate are execellent.例文帳に追加

センス電流が縦バイアス層に流れることを防止し、再生波形のノイズが少なく、(S/N)比及びビットエラーレートが良好な磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気抵抗変換システム及び磁気記録システムを提供する。 - 特許庁


例文

A process of injecting polymerizable composition into a hollow tube, thereafter, polymerizing the composition so as to form a layer is repeatedly carried out, and first to n-th layers 30 to 33 having high/low distribution of refractive index are successively formed from the outside of the diameter to the center.例文帳に追加

中空管の中に重合性組成物を注入後、重合させて層を形成させる工程を繰り返し行い、径の外側から中心に向かって屈折率の高低分布を有する第1〜第n層30〜33を順に形成する。 - 特許庁

The wiring electrodes and the substrate electrodes are bonded through a bonding material such as solder, etc. Preferably the bonding material has a lower tensile strength than those of the substrate electrode and the wiring electrode and is a solder material or it has an insulation layer in the gap between the n-type and p-type rod-like elements.例文帳に追加

望ましくは接合部材は基板電極と配線電極に比べ、引っ張り強度が低い、さらに接合部材はハンダ材料である、あるいはn型棒状素子とp型棒状素子との間隙には絶縁層を有する。 - 特許庁

To solve a problem in which a current path through which minority carrier (hole) that is injected from a collector electrode flows is narrowed by a depletion layer located between a P-type body region and an N-type low- concentration drift region to increase a resistance (JFET resistance) component.例文帳に追加

p型ボディ領域とn型低濃度ドリフト領域との間の空乏層のためにコレクタ電極側から注入される少数キャリア(正孔)が流れる電流路が狭くなり、抵抗(JFET抵抗)成分が大きくなってしまう。 - 特許庁

In the LINK layer of the DEV, DEV cycle timer by a created beacon (n-1) is compared with PNC cycle timer received from the PNC and its difference value is employed for correcting the DEV cycle timer to be combined with the PNC cycle timer.例文帳に追加

DEVのLINK層では、作成されたビーコン(n−1)によるDEVサイクルタイマと、PNCから受信したPNCサイクルタイマとを比較して、その差分値を用いて、PNCサイクルタイマに合わせ込むようにDEVサイクルタイマを補正する。 - 特許庁

例文

The n-type GaN semiconductor region 17, the active layer 19, and the p-type GaN semiconductor region 21 are mounted to a principal surface 13a, and disposed in a direction of a predetermined axis Ax orthogonal to the principal surface 13a.例文帳に追加

n型GaN系半導体領域17、活性層19及びp型GaN系半導体領域21は、主面13a上に搭載されており、また主面13aに直交する所定の軸Axの方向に配置されている。 - 特許庁

例文

A CPU reads the data of N-th layer in two-dimensional(2D) CAD data in S33 and stores (x) and (y) coordinates of drawing data on x-y plane in the 2D CAD data as one condition in 3D analytic data as they are in S34.例文帳に追加

CPUは、S33で、2次元CADデータの第N層のデータを読込み、S34で、2次元CADデータ中のx−y平面上の線図データであるx,y座標をそのまま3次元解析データ中の一条件として記憶する。 - 特許庁

The photoelectric conversion parts 3 include color filters 44 of either one of R, G, B respectively on a light incident side, and each includes a charge accumulation part 33 formed of a part of the N-type semiconductor layer 32 and accumulating charges generated in response to incident light.例文帳に追加

光電変換部3は、R,G,Bのいずれかのカラーフィルタ44が光入射側に配置され、各々が、N型半導体層32の一部の領域からなり入射光に応じて生成された電荷を蓄積する電荷蓄積部33を有する。 - 特許庁

The N pole and the S pole are disposed at least on one surface of a soft base and a non-magnetic magnetism-attracting substance layer is disposed on or compounded into the other side of the base to form a soft magnetic piece so that it has multilayer attraction.例文帳に追加

N極とS極を軟性ベースの少なくとも一つの側面に配設し、さらにベースのもう一側に無磁性の磁吸着物質層を配設あるいは複合させて軟性磁石片を形成し、多層磁気吸着が行えるようにする。 - 特許庁

After formation of the first oxide film 4, a polycrystalline silicon film 5, the second oxide film 6, and a nitride film on an n-type epitaxial layer 3, those films are removed, excluding the region where a base region is to be made, and a sidewall nitride film is made at the side.例文帳に追加

n^-型エピタキシャル層3上に第1酸化膜4と多結晶シリコン膜5と第2酸化膜6と窒化膜を形成した後、ベース領域が形成される領域以外のそれらの膜を除去し側面に側壁窒化膜を形成する。 - 特許庁

The polyester film contains what is represented by formula (1), wherein n is an integer of 3 or more, and has a thickness of 20-100 μm, wherein the polyester film has a phosphorus content of 0.30-2.00 wt.% and a melting point of 247°C or more and includes a coating layer provided in a film production process.例文帳に追加

下記式(1)を含有する、厚さ20〜100μmのポリエステルフィルムであり、ポリエステルフィルム中のリン含有量が0.30〜2.00重量%であり、247℃以上の融点を有し、フィルム製造工程内で設けられた塗布層を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor element such as a MOSFET provided with parallel pn layers wherein an n-type region and a p-type region are alternately arranged as a drift layer that prevents concentration of current in a reverse recovery process of a built-in diode so as to enhance the reverse recovery breakdown.例文帳に追加

ドリフト層としてn型領域とp型領域とを交互に配置した並列pn層を備えるMOSFET等において、内蔵ダイオードの逆回復過程における電流集中を防止し、逆回復耐量を向上させる。 - 特許庁

To reduce a threshold current in a nitride semiconductor device where an active layer having a nitride semiconductor containing In is held between p- and n-type cladding layers, and, especially, light emission is made at a wavelength of at least 440 nm.例文帳に追加

Inを含む窒化物半導体を有する活性層を、p型クラッド層、n型クラッド層とで挟まれた構造を有する窒化物半導体素子、特に波長440nm以上で発光するものにおいて、しきい値電流を低減させる構造とする。 - 特許庁

Also, the n-type III-V-based compound semiconductor crystal layer includes a region having composition inclination, and a region for r educing gallium composition ratio X toward an opposite direction from a hetero junction interface by GaXIn1-XP (0≤X≤1).例文帳に追加

また、n形III−V族化合物半導体結晶層を、組成勾配を有する領域を含む構造、Ga_XIn_1-XP(0≦X≦1)でヘテロ接合界面から反対方向に向けてガリウム組成比Xを減少させる領域を含む構造とする。 - 特許庁

The first gate stack is disposed on a first device region (e.g., n-FET device region) in a semiconductor board, and at least includes a gate dielectric layer 14, a metal gate conductor 16, and a silicon-containing gate conductor 18 that are laminated in increasing order.例文帳に追加

第1のゲート・スタックは、半導体基板内の第1のデバイス領域(例えば、n−FETデバイス領域のような)の上に配置され、少なくとも、下から上に、ゲート誘電体層、金属ゲート導体及びシリコン含有ゲート導体を含む。 - 特許庁

The liquid crystal display device includes a liquid crystal display panel, the polarizer assembly including a polarizer and a compensation film, and an adhesive layer adhering the polarizer assembly to the liquid crystal display panel and having an exfoliation force of 16-28 N/25 mm.例文帳に追加

本発明による液晶表示装置は、液晶表示パネルと、偏光板と補償フィルムとを含む偏光板アセンブリと、偏光板アセンブリを液晶表示パネルに接着させ、16〜28N/25mmの剥離力を有する粘着層と、を含む。 - 特許庁

Then, the shape of the magnetism sensor HP is made variable in response to the potential of these electrodes ED1, ED2, via the variation of the width of the depletion layer formed between an n-type semiconductor region 12 and the p-type electrodes ED1, ED2.例文帳に追加

そして、P型の電極ED1およびED2とN型の半導体領域12との間に形成される空乏層の幅変化を通じて、これら電極ED1およびED2の電位に応じて磁気検出部HPの形状を可変とする。 - 特許庁

An N-side electrode 48 is exposed behind the common mesa 45 as a common counter electrode to the P-side electrodes 46, and provided on a contact layer 50 which extends from the rear end face of the laser stripes 44 in the direction of the laser stripes.例文帳に追加

n側電極48が、p側電極46に対する共通対向電極として、共通メサ45の背後で露出し、レーザストライプ44の背後端面側からレーザストライプ方向に延在するコンタクト層50上に設けられている。 - 特許庁

The interface layer may be intentionally added with n-type or p-type impurities for the purpose of canceling the electrical effect of impurities including the compound semiconductor on the connection interface and oxides existing on the surface of Si.例文帳に追加

この界面層には,接続界面の化合物半導体およびSiの表面に存在する酸化物をはじめとする不純物の電気的な影響を相殺する目的でn型またはp型の不純物が意図的に添加されていても良い。 - 特許庁

This radiation-sensitive composition for forming the colored layer contains (A) a coloring agent, (B) an alkali-soluble resin, (C) a polyfunctional monomer, (D) a photopolymerization initiator, and (E) a specified imide compound represented by N-hydroxy phthalimide.例文帳に追加

(A)着色剤、(B)アルカリ可溶性樹脂、(C)多官能性単量体、(D)光重合開始剤、および(E)N−ヒドロキシフタルイミドに代表される特定のイミド化合物を含有することを特徴とする、着色層形成用感放射線性組成物。 - 特許庁

The substantially relaxed nitride interlayers include aluminum and gallium and are conductively doped with an n-type dopant, and the layer of nitride semiconductor material including the plurality of nitride interlayers has a total thickness of at least about 2.0 μm.例文帳に追加

前記実質的に緩和された窒化物中間層は、アルミニウム及びガリウムを含み、n型ドーパントで導電的にドープされ、また前記複数の窒化物中間層を含む前記窒化物半導体材料の層は、少なくとも約2.0μmの全厚を有する。 - 特許庁

An electric field control electrode 10 connected to a gate electrode 8 through an insulating film 9 on semiconductor crystal is formed between the gate electrode 8 and a drain electrode 7 in the field effect transistor having an n-InGaP channel layer 3.例文帳に追加

n−InGaPチャネル層3を有する電界効果型トランジスタにおいて、ゲート電極8とドレイン電極7との間に半導体結晶の上部に絶縁膜9を介してゲート電極8と接続された電界制御電極10を形成する。 - 特許庁

The binder course 13 has 1000-2000 times/mm of dynamic stability, and the block layer 16 is formed by constructing an interlocking block 16a having flexural strength higher than 3.5 N/mm2 and having skid resistance higher than 60 BPN.例文帳に追加

基層13は動的安定度が1000〜2000回/mmであり、ブロック層16は曲げ強度が3.5N/mm^2以上であってすべり抵抗がBPNで60以上であるインターロッキングブロック16aを敷設することにより形成される。 - 特許庁

Trenches 68, 70 are formed on the surface of the epitaxial layer 82, an n^+ region to be a cathode region 64 of the PIN-PD is formed on the surface of the trench 68, and a p^+ region to be an anode region 66 is formed on the surface of the trench 70.例文帳に追加

エピタキシャル層82の表面にトレンチ68,70を形成し、PIN−PDのカソード領域64となるn^+領域をトレンチ68の表面に形成し、アノード領域66となるp^+領域をトレンチ70の表面に形成する。 - 特許庁

To realize an orientation meter constituted so as to make it easy to obtain the orientation state over the whole layer of a coextruded or laminated film by calculating molecular orientation by transmitted light and enabling measurement using the transmitted light without deteriorating an S/N ratio even in a thin film or the like.例文帳に追加

分子配向を透過光により求めることで、共押し出しやラミネートフィルムの全層に渡る配向状態を得易くし、透過光による測定により薄膜等でもS/Nを劣化させずに測定が可能な配向計を実現する。 - 特許庁

In the rubber-coated cloth for the vacuum bag for laminated glass manufacture, a base cloth is a jersey, a rubber layer is provided on one surface of the base cloth, 10% modulus is50 N/cm and elongation in breakage is50%.例文帳に追加

合わせガラス製造用の真空バッグ用ゴム引布において、基布がジャージであり、基布の片面にゴム層を有し、10%モジュラスが50N/cm以下であり、切断時伸びが50%以上であることを特徴とする真空バッグ用ゴム引布。 - 特許庁

In an SOI layer 30, an n^+-type source diffusion region 9 is formed adjacent to the p-type body region 3, and also, a p^+-type body contact diffusion region 7B(7A) is formed adjacent to the p-type body region protrusion 3a.例文帳に追加

SOI層30内において、P型ボディ領域3に隣接してソース側にN^+型ソース拡散領域9が形成されるとともに、P型ボディ領域突出部3aに隣接してP^+型ボディコンタクト拡散領域7B(7A)が形成される。 - 特許庁

The additive for nonaqueous electrolyte of electric double-layer capacitor is composed of a phosphagen compound containing at least two kinds of halogen element represented for formula (I): (NPX_2)_n (where, X is an independent halogen element, and n is an integer of 3-15).例文帳に追加

下記式(I): (NPX_2)_n ・・・ (I)(式中、Xはそれぞれ独立してハロゲン元素であり、nは3〜15の整数である)で表され、且つ少なくとも2種のハロゲン元素を含むホスファゼン化合物からなる電気二重層キャパシタの非水電解液用添加剤である。 - 特許庁

A power semiconductor device is a bipolar-type power semiconductor device constituted by plural layers lamination wherein at least three layers of p-type layer 34, n-type layers 33 and 35 composed of a wide-gap semiconductor material having substantially the same band gap are alternately laminated.例文帳に追加

本発明のパワー半導体素子は、実質的に同じバンドギャップを有するワイドギャップ半導体材料からなるp型層34とn型層33,35とが少なくとも三層交互に、複数層積層されたバイポーラ型のパワー半導体素子である。 - 特許庁

To provide a dye-sensitized solar battery allowing a transparent conductive layer on a translucent substrate to carry an n-type semiconductor electrode regardless of the material of the translucent substrate, and capable of providing practical energy conversion efficiency.例文帳に追加

透光性基板の材質に拘わらず、透光性基板上の透明導電層にn型半導体電極を担持させることができ、かつ実用的なエネルギー変換効率が得られる色素増感型太陽電池を提供することを目的とする。 - 特許庁

The electrically insulating resin sheet includes a sheet-form electrically insulating resin layer with an edge-tear resistance of 220 N/20 mm or greater and a strength retention of tensile strength after 250 hours at 240°C of 55% or greater.例文帳に追加

端裂抵抗値が220N/20mm以上であり且つ240℃で250時間を経た後の引張強度の強度残率が55%以上であるシート状の電気絶縁性樹脂層を備えていることを特徴とする電気絶縁性樹脂シート。 - 特許庁

To provide a semiconductor device whose pattern layout is optimized so that the yield of flattening by CMP is not influenced owing to increase of the integration degree of the semiconductor device having a well contact diffusion layer and a sub-contact diffusion layer disposed between both P- and N-channel transistor arrays arranged facing each other.例文帳に追加

Pchトランジスタ列とNchトランジスタ列とが向かい合って配置された半導体集積回路において、両トランジスタ列間にウェルコン拡散層及びサブコン拡散層が配置された装置の集積度を高めても、CMPによる平坦化を行う際に歩留まりに悪影響のないパターンにレイアウトを最適化した半導体装置を提供する。 - 特許庁

To determine a thin-film multi-layer structure by setting a combined model of film thickness and complex index of refraction, calculating the simulation spectrum thereof, and fitting the simulation spectrum to measured spectrum by using Extended Best Local Minimum Calculation (EBLMC) in the analysis method of a thin-film n-layer structure by using a spectral ellipsometer.例文帳に追加

本発明による分光エリプソメータを用いた薄膜n層構造の解析方法では、膜厚や複素屈折率などの組み合わせモデルを設定し、そのシミュレーションスペクトルを算出して、そのシミュレーションスペクトルと測定スペクトルとのフィッティングを広範囲極小値計算法(EBLMC)を使用して行うことにより、薄膜多層構造を決定する。 - 特許庁

The rectifier element 10 can select a state where the difference in potential between the Schottky electrodes 3, 5 and the cathode electrode 4 changes, thereby applying a current between the Schottky electrode 5 and the cathode electrode 4 and a state where the n^- semiconductor layer 2 between the Schottky electrode 5 and the cathode electrode 4 is made into a depletion layer to disconnect a current path.例文帳に追加

ショットキー電極5およびショットキー電極3と、カソード電極4との電位差が変化することにより、ショットキー電極5とカソード電極4との間に電流を流す状態と、ショットキー電極5とカソード電極4との間に存在するn^-半導体層2を空乏層化することによって電流経路を遮断する状態とを選択可能である。 - 特許庁

In a semiconductor apparatus, on an n-channel region 103 on which a second gate electrode material film (a TiN film) 111 contacting a gate insulating film 105 is not formed as a part of a gate electrode 151, a first gate electrode material film (a polysilicon layer) 107 functioning as an overetching absorption layer is previously formed when etching the second gate electrode material film (the TiN film) 111.例文帳に追加

ゲート絶縁膜105と接する第2ゲート電極材料膜(TiN膜)111がゲート電極151の一部として形成されないnチャネル領域103上に、第2ゲート電極材料膜(TiN膜)111のエッチング時にオーバーエッチング吸収層として機能する第1ゲート電極材料膜(ポリシリコン膜)107を予め形成しておく。 - 特許庁

A piled-up silicon compound layer 12i provided on a P-type source/drain diffused layer 12g of a P-channel MOSFET 12 is formed, in such a way that the boundary between the layers 12i and 12g becomes nearly flat and is nearly flush with the boundary between an N-type well area 12b and a gate insulating film 12c.例文帳に追加

たとえば、PチャネルMOSFET12のP型ソース/ドレイン拡散層12g上に設けられる、Coシリサイド膜からなる積み上げ構造のシリコン化合物層12iを、P型ソース/ドレイン拡散層12gとの界面が、略平坦で、かつ、N型ウェル領域12bとゲート絶縁膜12cとの界面と略同じ高さとなるようにする。 - 特許庁

In addition to n-type impurity regions 33b and 33c functioning as a channel forming region 33a and a source region or a drain region, a semiconductor layer 33 has an impurity region 33d where boron is added below the channel forming region 33a, i.e., in the vicinity of the surface of the channel forming region 33a on the side touching an insulating layer 32.例文帳に追加

半導体層33は、チャネル形成領域33aとソース領域又はドレイン領域として機能するn型を示す不純物領域33b、33cとに加えて、チャネル形成領域33aの下方、ここではチャネル形成領域33aの絶縁層32と接する側の表面付近にボロンが添加された不純物領域33dを有している。 - 特許庁

The method of growing a compound semiconductor, in which an InxGayAl1-x-yN layer (0≤x, y≤1) is grown on a GaAs substrate includes a process of adding group V elements, having an atomic radius larger than that of N, in a density that ranges from 1×1017 to 1×1023 cm-3, to the InxGayAl1-x-yN layer.例文帳に追加

本発明では、GaAs基板上に、In_xGa_yAl_1-x-yN層(0≦x,y≦1)を成長させる化合物半導体の成長方法において、該In_xGa_yAl_1-x-_yN層に、原子半径がNよりも大きいV族元素を1×10^17cm^-3から1×10^23cm^-3までの濃度範囲だけ添加する工程を含む化合物半導体の成長方法を提供する。 - 特許庁

The solar cell includes first and second electrodes 111 and 119 spaced apart from each other, and a photoelectric conversion layer 115 which is a layer adapted to form a pn junction between the first electrode 111 and the second electrode 119 and is made up of a p-type material including an organic material and a n-type material 116 including organic nanowires.例文帳に追加

互いに離隔されるように配置される第1電極及び第2電極111、119と、前記第1電極111と第2電極119との間でpn接合を形成する層であって、有機物を含むp型物質及び有機ナノワイヤーを含むn型物質116からなる光電変換層115と、を備える。 - 特許庁

In a rectifying element 10, a state that a current between a Schottky electrodes 5 and a cathode electrode 4 flows by changing a potential difference between Schottky electrodes 5, 3 and a cathode electrode 4, or a state that a current path is cut off by changing an n^-type semiconductor layer 2 existing between the Schottky electrode 5 and the cathode electrode 4 into a depletion layer is selectable.例文帳に追加

整流素子10は、ショットキー電極5、3と、カソード電極4との電位差が変化することにより、ショットキー電極5とカソード電極4との間に電流を流す状態と、ショットキー電極5とカソード電極4との間に存在するn^-半導体層2を空乏層化することによって電流経路を遮断する状態とを選択可能である。 - 特許庁

The negative electrode for a nonaqueous electrolyte secondary battery includes a negative electrode active material layer containing a negative electrode active material, a polyvinylidene fluoride component (A), a styrene butadiene component (B), a nonionic surfactant (C) having an HLB of 10-15, and N-methylpyrrolidone (D); and a foil-shaped negative electrode current collector having the negative electrode active material layer provided on at least one principal surface of the collector.例文帳に追加

非水電解質二次電池用負極は、負極活物質と、ポリフッ化ビニリデン系成分(A)と、スチレンブタジエン系成分(B)と、HLBが10〜15の非イオン系界面活性剤(C)と、N−メチルピロリドン(D)と、を含む負極活物質層と、この負極活物質層を少なくとも一方の主面に有する箔状の負極集電体と、を備える。 - 特許庁

The manufacturing method of the semiconductor device provided with a CMP treatment process for performing CMP treatment on the insulating inter-layer film 8 is provided with a process for forming an erosion induction part N producing erosion during a CMP treatment process on an area corresponding to a projection face M out of the irregular face formed on the insulating inter-layer film 8 before the CMP treatment process.例文帳に追加

絶縁層間膜8にCMP処理を行うCMP処理工程を備える半導体装置の製造方法であって、CMP処理工程の前に絶縁層間膜8上に形成される凹凸面のうちの凸面Mに対応する領域に、CMP処理工程時にエロージョンを発生させるエロージョン誘引部Nを形成する工程を備える。 - 特許庁

The ZnSe light emitting element which emits the light from an emitting surface 16 to an exterior includes an n-type ZnSe substrate 1 having a self-activation luminescent center SA, an active layer 4 formed on the substrate 1, and an Al layer 9a disposed on a surface at an opposite side to the emitting surface 16 to reflect the light to the emitting surface side.例文帳に追加

出射面16から光を外部に出射するZnSe系発光素子であって、自己活性発光中心SAを含むn型ZnSe基板1と、n型ZnSe基板1の上に形成された活性層4と、出射面16と反対側の面に位置し、光を出射面側に反射するAl層9aとを備える。 - 特許庁

The device is provided with an n-well layer 2 provided on the top part of a p-type silicon substrate 1, a p-type residual substrate 1a provided on the layer 2 on the top part of the substrate 1 and having an impurity concentration distribution uniform in the depth direction, and an MOS transistor element provided in this residual substrate 1a.例文帳に追加

P型シリコン基板1の上部に設けられたNウェル層2と、P型シリコン基板1の上部においてNウェル層2の上に設けられた、不純物濃度分布が深さ方向に均一であるP型の残存基板1aと、この残存基板1a内に設けられたMOSトランジスタ素子とを具備することを特徴としている。 - 特許庁

The heat-developable silver halide photosensitive material is provided on a support with a layer containing an organic silver salt and photosensitive silver halide grains and a reducing agent, and the layer containing the photosensitive silver halide grains contains at least one kind of N-containing compound having a pair of halogen atoms represented by the formula.例文帳に追加

支持体上に有機銀塩、感光性ハロゲン化銀粒子及び還元剤を含有する層を有する熱現像ハロゲン化銀感光材料において、該感光性ハロゲン化銀粒子を含有する層に、下記一般式(1)で表されるハロゲン原子対を伴う含窒素化合物の少なくとも1種を含有することを特徴とする熱現像ハロゲン化銀感光材料。 - 特許庁

例文

This photoelectric conversion element is composed by arranging two of the semiconductor electrodes by facing the surfaces of the semiconductor electrodes to each other through an electrolyte layer abutting them, and is characterized in that one of the semiconductor electrodes has a metal oxide semiconductor layer having n-type conductivity and the other semiconductor electrode is the above type electrode.例文帳に追加

また、二つの半導体電極を、それに接した電解質層を介して互いの半導体電極表面を対面させて配置した光電変換素子であって、一方の半導体電極がn型伝導性の金属酸化物半導体層を有し、他方の半導体電極が前記半導体電極であることを特徴とする光電変換素子である。 - 特許庁




  
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