「scan path」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Based on a timing analysis under the logic BIST mode, a scan flip-flop with a selector is arranged with insertion at a place where a testing error occurs, and the path where the timing error occurs is pipelined.例文帳に追加

ロジックＢＩＳＴモードにおけるタイミング解析に基づいてタイミングエラーの発生箇所に、セレクタ付きスキャンフリップフロップを挿入配置することで、そのタイミングエラー発生パスをパイプライン化する。 - 特許庁

To reduce a storage capacity relating to dummy data to be stored in data registers, which is necessary when sharing a configuration information path and a scan chain, in a reconfiguration arithmetic circuit.例文帳に追加

再構成演算回路にて構成情報バスとスキャンチェーンを共用する場合に必要であったデータｒｅｇに記憶させるためのダミーデータに係る記憶容量を削減する。 - 特許庁

To perform a delay test while considering influences of crosstalk by using a scan path of a semiconductor integrated circuit in a circuit where data is exchanged between circuits belonging to different clock domains.例文帳に追加

異なるクロックドメインに属する回路間でデータの授受がある回路において、半導体集積回路のスキャンパスを用いてクロストークの影響を考慮した遅延試験を行うことができる。 - 特許庁

Selectors S2-S4 are provided to connect directly the inputs of the flip-flops F1-F4 constituting the scan path circuit 23 to an scan input D0, all the flip-flops F1-F4 are set once to the same value (1 or 0 in all), and are shift-output thereafter to specify a failure portion.例文帳に追加

前記スキャンパス回路２３を構成する各フリップフロップＦ２〜Ｆ４の入力をスキャン入力Ｄ０に直結するセレクタＳ２〜Ｓ４を設け、全てのフリップフロップＦ１〜Ｆ４を一旦同じ値（全て「１」または「０」）に設定した後、シフト出力させることで、故障箇所の特定を行う。 - 特許庁

Input image data are stored in an image memory 222A, the data are sequentially read from the memory 222A, and the read data and its color code and a SCAN signal indicating a first path or second path is input as an address of a memory.例文帳に追加

入力した画像データを画像メモリ２２２Ａに保持しておき、その画像メモリ２２２Ａから順次画像データを読出し、その読み出された画像データとその色コード、及び１パス目か２パス目かを示すＳＣＡＮ信号とがメモリ１９０１のアドレスとして入力されている。 - 特許庁

To enable feeding toward a reading part in the state where skewing is solved when conveying a sheet original in a paper conveyance path toward a scan part by providing a paper aligning means in a paper feeding device of ADF.例文帳に追加

ＡＤＦの給紙装置に用紙整合手段を設けて、走査部に向けて用紙搬送路内でシート原稿を搬送する際に、斜行を解消した状態で読取部に向けて送り得るようにする。 - 特許庁

Also, when the shape of the original conveyance path has changed (step S322), it is possible to eject the original as invalid scan (step S326) instead of stopping the original conveyance as the jam (step S324/NO).例文帳に追加

また、原稿搬送路の形状が変化した時に（ステップＳ３２２）、ジャムとして原稿搬送を停止するのではなく（ステップＳ３２４／ＮＯ）、無効スキャンとして排出することも可能である（ステップＳ３２６）。 - 特許庁

To provide a multipower logic circuit which can restrain the leakage current of another logic circuit and perform an accurate scan-path test and a normal operation even supply of power in a certain logic circuit stops.例文帳に追加

ある論理回路の電源の供給が停止しても、他の論理回路のリーク電流を抑え、正確なスキャンパス試験及び通常運転を行うことができる多電源論理回路を提供する。 - 特許庁

The apparatus for the thermal processing of a substrate surface involves irradiating the substrate surface 32 with first and second images 150, 250 to process regions of the substrate surface 32 at a substantially uniform peak processing temperature along a scan path.例文帳に追加

通常基板表面３２を第１および第２像１５０，２５０で照射して基板表面３２の領域をスキャンパスに沿って実質的に均一なピーク処理温度で処理することを含む。 - 特許庁

The scanning bone densitometer also includes a controller (32) moving the X-ray source and the X-ray detector along a transverse scanning path to acquire a plurality of scan images of an object (14) of interest.例文帳に追加

走査型骨密度計は、被検体（１４）の複数の走査画像を収集するために横方向走査経路に沿ってＸ線源及びＸ線検出器を移動するコントローラ（３２）を更に含む。 - 特許庁

The divided writing operation can be realized by making the write path for all the bit cells to store "0" be non-selected, and by performing the writing of only the bit cell units to store "1" that is selected by the scan circuit.例文帳に追加

「０」を記憶させる全ビットセルのＷｒｉｔｅパスを非選択にし、スキャン回路で選択された「１」を記憶させるビットセル単体のみ書き込みを行うことで、分割書き込み動作が実現できる。 - 特許庁

To provide a scan path design method for detecting the failure of the whole semiconductor integrated circuit in a short period of time with less test patterns, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of functional macros.例文帳に追加

複数の機能マクロを装備する半導体集積回路において、より少ないテストパターンで短時間に半導体集積回路全体の故障検出が可能なスキャンパスの設計方法を得ること。 - 特許庁

Differently from the conventional coherent integration, however, an integration path is calculated not for all of the integration paths, but utilizing the different moving dimensions of a target to be detected calculated at the time of performing inter-scan correlation.例文帳に追加

但し、従来のインコヒーレント積分処理とは異なり、積分路を総当たりではなく、スキャン間相関時に算出される検出目標の運動諸元を利用し、積分路を算出する。 - 特許庁

To provide circuit constitution capable of testing integrally both signal body inspection for a hard macro circuit and inspection for a peripheral circuit in the hard macro, as scan path inspection for a circuit including the hard macro.例文帳に追加

ハードマクロ回路に対する単体検査と前記ハードマクロの周辺回路の検査とをハードマクロを含む回路に対するスキャンパス検査として、両検査を一体化して試験できる回路構成を提供する。 - 特許庁

The scan controller applies mutually different effective voltages to two input terminals of each liquid crystal element to bend the optical path of luminous flux to be emitted, and applies the same effective voltage to the two input terminals not to bend the optical path of the luminous flux to be emitted.例文帳に追加

そして、走査制御装置は、各液晶素子に対して、射出される光束の光路を曲げるときには、２つの入力端子に互いに異なる実効電圧を印加し、射出される光束の光路を曲げないときには、２つの入力端子に同じ実効電圧を印加する。 - 特許庁

Because the scan unit 5 changes a position of the mirror housing 55b with respect to the main housing 50a to change an optical path of the laser beam L, it can be commonly mounted for the image forming apparatuses of a plurality of different types in which the positional relationship between the scan unit 5 and the photoreceptor drum 2 is different, thereby reducing the cost of parts.例文帳に追加

スキャンユニット５は、ミラーハウジング５０ｂのメインハウジング５０ａに対する位置を変更してレーザビームＬの光路を変更することにより、スキャンユニット５と感光体ドラム２の位置関係が異なる複数種類の画像形成装置に共通して搭載可能であるので、その部品コストを低減させることができる。 - 特許庁

While changing the destination of emitted beam LB3 along the scan path SP by rotating a rotation body 121 and the optical system around the axis X, the wafer 211 is moved in the radial direction at each station 155.例文帳に追加

軸Ｘを中心に回転体１２１及び光学系を回転させ出射ビーム光ＬＢ３の到達先を経路ＳＰ沿いに変化させる一方、各ステーション１５５では径方向にウェハ２１１を移動させる。 - 特許庁

A document size sensor 7 is disposed at a position eccentric to the front side in a main scan direction orthogonal to a document feeding direction between a document tray 1 and a joint position P2 on a document feeding path H1.例文帳に追加

原稿搬送経路Ｈ１における原稿トレイ１と合流位置Ｐ２との間の原稿搬送方向に直交した主走査方向について前面側に偏った位置に、原稿サイズセンサ７を配置した。 - 特許庁

The switch controlling data is transferred at first to the each FF 13 via the scan path, and the selector 11 is switched by the switch controlling data stored in the each FF 13, to select one out of the two signal lines.例文帳に追加

まず、スキャンパスを介して切替制御用のデータを各ＦＦ１３に転送し、このＦＦ１３に格納した切替制御用のデータによってセレクタ１１を切り替え、２本の信号線の内の一方を選択する。 - 特許庁

Though the extendable configuration above, the image optical path reaches a length required for the lens reduction optical system when the contact head 20 is at the extended position and even the handy scanner can scan a fill size document.例文帳に追加

このような伸縮自在の構成によって、接触ヘッドが延伸位置にある時イメージ光経路はレンズ縮小光学系に必要な長さとなり、手持式でありながらフルサイズ・ドキュメントを走査することが可能となる。 - 特許庁

A laser ablation apparatus 100 having multiple stations 155 disposed along a circular scan path SP centering on a predetermined axis X is adopted to construct a system for manufacturing a plurality of photovoltaic devices simultaneously.例文帳に追加

所定の軸Ｘを中心とする円形の走査経路ＳＰに沿って配列された複数個のステーション１５５を有するレーザアブレーション装置１００によって、光起電デバイスを複数個一括製造するシステムを構築する。 - 特許庁

Consequently displacement of a scan position occurs in the same direction in every optical path of laser light L of every color, and color drift can be well restrained from occurring without using high-planeness mirrors.例文帳に追加

これによって、各色のレーザ光Ｌのどの光路においても、走査位置のずれが同一方向に生じ、平面度の高いミラーを使用することなく良好に色ずれの発生を抑制することが可能となった。 - 特許庁

The input of the combinational circuit 35 is set by an FF 34, and its operating result is selected by a selector 32 to be output to the outside of a semiconductor integrated circuit 31 via a scan path, to which an FF 33 is connected.例文帳に追加

ＦＦ３４より組み合わせ回路３５の入力を設定し、その動作結果をセレクタ３２により選択してＦＦ３３が繋がるスキャンパスを経て半導体集積回路３１の外部に出力する。 - 特許庁

By electrically controlling the path of the electromagnetic wave by the electro magnet circulator of constitution like this, the antenna of an electromagnetic wave scanner is electrically switched to scan an object by the electromagnetic wave without mechanical movement.例文帳に追加

このような構成の電磁石サーキュレータにより、電磁波の経路を電気的に制御することで、電磁波走査装置のアンテナを電気的に切り替えて、機械的な動き無しに、対象物を電磁波で走査することができる。 - 特許庁

A regional connection order decision part 104 decides connection order of the scan path circuit between the respective areas so that a wiring length between the areas divided by the allocation area division part 102 is reduced.例文帳に追加

そして、領域間接続順序決定部１０４は、配置領域分割部１０２によって分割された領域間の配線長が短くなるように、各領域間におけるスキャンパス回路の接続順序を決定する。 - 特許庁

The input/output cell 50 is provided with a switching function of selectively driving a path for transmitting a signal between the input/output cell 50 and the internal logic circuit 110 in the normal mode operation and a path for transmitting a signal between at least one of the input/ output cell 50 and the internal logic circuit and the boundary scan cell.例文帳に追加

入出力セル５０は、ノーマルモード動作時に入出力セル５０及び内部論理回路１１０間に信号を伝播させる経路と、入出力セル５０及び内部論理回路の少なくとも一方並びにバウンダリスキャンセル間に信号を伝播させる経路とを選択的に駆動する切替機能を設ける。 - 特許庁

During the shifting operation of a scan path in time from setting of a write value to the setting completion of a read value in a scan flip-flop for setting a value in a test target memory, a value for a refreshing operation is included in a value passed through a flip-flop for setting a value in a test target memory.例文帳に追加

テスト対象メモリに対し値を設定するスキャンフリップフロップに対し、書き込み値を設定し、その後の一連のシフト動作を介して、読み出し値の設定が完了するまでの間の、スキャンパスのシフト動作中に、テスト対象メモリに対し値を設定するフリップフロップを通過してゆく値に対して、リフレッシュ動作を行わせる値を含ませる。 - 特許庁

The film carrying apparatus 3 is used to read an image formed on a film, and the nip pressure of a pair of first upstream rollers 51 provided just at the upstream side of a scan gate 41a opened linearly on the way of a film carrying path, is set lower than the nip pressure of a pair of first downstream rollers 52 provided just at the downstream side of the scan gate 41a.例文帳に追加

フィルムに形成された画像を読み取るために用いられるフィルム搬送装置３であって、フィルム搬送路の途中にライン状に開口するスキャンゲート４１ａのすぐ上流側に設けられた第１上流ローラ対５１のニップ圧を、スキャンゲート４１ａのすぐ下流側に設けられた第１下流ローラ対５２のニップ圧よりも低く設定した。 - 特許庁

A diffraction element is disposed on an optical path between a light source, not shown, and a lens 144, serving as the exit part of the retina scan type display, so as to be out of an intermediate image plane IP1 between the light source and lens 144.例文帳に追加

図示しない光源と、網膜走査型ディスプレイの出射部であるレンズ１４４との間における光路上に回折素子を、それら光源とレンズ１４４との間に存在する中間像面ＩＰ１から外れた位置に設置する。 - 特許庁

When a register is connected with the scan path depending on the frequency of alteration and setting is altered only for a register where the initialization data is altered, burden on the CPU 11 is lessened, and the initialization data of the register is set quickly.例文帳に追加

レジスタを変更頻度に応じてスキャンパスに接続し、初期化データの変更を行うレジスタのみの設定を変更することで、ＣＰＵ１１に係る負担を軽減でき、レジスタの初期化データの設定を迅速に行うことができる。 - 特許庁

The generation of delay constraint, the insertion of a scan path, and the extraction of the flip flop as the object of hazard check is performed by using the information of the classified flip flops and the delay constraint program, testing problem and hazard check problem are improved.例文帳に追加

分類されたフリップフロップの情報を用いて、遅延制約の生成し、スキャンパスの挿入、ハザードチェック対象のフリップフロップの抽出を行うことで、遅延制約問題、テスト時の問題、ハザードチェックの問題を改善する。 - 特許庁

In a magnetic resonance imaging apparatus 100, an event generating substrate 52 included in a sequence control unit 50 generates an event code to make an instruction for switching a receiving path during a scan, based on imaging conditions that are set in advance of the imaging.例文帳に追加

ＭＲＩ装置１００において、シーケンス制御部５０が有するイベント発生基板５２が、撮像に際して設定される撮像条件に基づいて、スキャン中に受信経路の切り替えを指示するイベントコードを発生させる。 - 特許庁

Laser beam in pulses LB1 emitted as needed from a laser beam source 110 along the axis X is redirected in a direction intersecting with the scan path SP by means of optical systems (123, 125, 127) provided in a laser beam scanning mechanism 120.例文帳に追加

軸Ｘ沿いにレーザ光源１１０から随時出射されるパルス状レーザビーム光ＬＢ１をレーザ光走査機構１２０に設けた光学系（１２３，１２５，１２７）によって経路ＳＰと交差する方向に転向させる。 - 特許庁

To automatically measure the path delay of a combination circuit without any LSI tester in a path delay measuring circuit which compares, with an expected value, an output of the combination circuit fetched in by a capture action using the mechanism of a scan test circuit, and varies the time required for performing the capture action, thereby determining signal transition time of the combination circuit.例文帳に追加

スキャンテスト回路の仕組みを用い、キャプチャ動作により取り込んだ組合せ回路の出力を期待値と比較し、キャプチャ動作を行わせる時間を可変することにより組合せ回路の信号遷移時間を判定するパス遅延測定回路において、ＬＳＩテスタを使用せずに組合せ回路のパス遅延を自動測定する。 - 特許庁

When an image on the image recording medium is read with the visible light, a linear scan with specific detection light is made by using the optical path of the visible light and at least one of foreign matter sticking in the optical path of the visible light and a flaw is detected from the linear continuity of variation of read light quantity data.例文帳に追加

可視光により画像記録媒体上の画像を読み取るに際し、可視光の光路を用いて所定検知光を１次元方向に走査して読み取り、読み取られた光量データの変化の１次元方向の連続性によって、可視光の光路中に付着した異物および傷の少なくとも一方を検知することにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

The input side of combinational circuits 11 and 12 is provided with flip flop (SFF) 21 and 23 for scan diagnosis for diagnosing the operation of each combinational circuit 11 and 12 by performing timing adjustment for a normal operation, and forming a scan path for device diagnosis, and when there is signal wiring 13 having an inter-layer connection part, the input side of signal wiring 13 is also provided with an SFF 22.例文帳に追加

組み合わせ回路１１，１２の入力側に、通常動作時にはタイミング調整を行い、デバイス診断時にはスキャンパスを形成して各組み合わせ回路１１，１２の動作を診断するためのスキャン診断用フリップフロップ（ＳＦＦ）２１，２３を設けると共に、層間接続部を有する信号配線１３があれば、この信号配線１３の入力側にもＳＦＦ２２を設ける。 - 特許庁

The inside state value of a PLL counter 52 is copied to a PLL counter copy 57 by a copy circuit 56, and the inside state value of the PLL counter 52 copied to the PLL counter copy 57 is read through a scan path by a diagnostic processor 300.例文帳に追加

ＰＬＬカウンタ５２の内部状態値をコピー回路５６によってＰＬＬカウンタコピー５７にコピーし、さらに、ＰＬＬカウンタコピー５７にコピーされたＰＬＬカウンタ５２の内部状態値を、診断プロセッサ３００によってスキャンパスを介して読み出す。 - 特許庁

A gate control circuit which controls a prescribed control signal inputted to the clock gate is inserted on the basis of a search result (step st4), and thus the gate clock is controlled to perform a scan path test being a desired test operation.例文帳に追加

探索結果に基づいてクロックゲートに入力される所定の制御信号を制御するゲート制御回路を挿入する（ステップｓｔ４）ことにより、ゲーティッドクロックを制御し、所望のテスト動作であるスキャンパステストを実行することができる。 - 特許庁

Consequently, a control error in the optical path length difference between the reference luminous flux and luminous flux to be detected is found to correct a piezocommand signal outputted at the time of a next fringe scan and a Fizeau surface 43 is precisely driven to increase the interference measurement precision.例文帳に追加

これにより、参照光束と被検光束との間の光路長差の制御誤差を求め、次のフリンジスキャンに際して出力されるピエゾ指令信号を補正し、フィゾー面４３を精度よく駆動して干渉測定精度を高める。 - 特許庁

To provide an inspection method of an integrated circuit capable of surely testing a logic circuit in a short test time with a simple structure by applying it particularly to an integrated circuit of a large-scale logic circuit, in relation to a scan path circuit, an integrated circuit and an inspection method of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、スキャンパス回路、集積回路及び集積回路の検査方法に関し、特に大規模論理回路の集積回路に適用して、簡易な構成により短いテスト時間で論理回路を確実にテストすることができるようにする。 - 特許庁

A transmission control part 210 of an image data selecting part 204 includes a deserializer 210a, a serializer 210b and an LVDS (low voltage differential signaling) transmitting and receiving part 210c, is synchronized with a scan clock, serializes image data and transmits the image data to an LVDS transmission path 40a.例文帳に追加

画像データ選択部２０４の伝送制御部２１０は、デシリアライザ２１０ａ、シリアライザ２１０ｂおよびＬＶＤＳ送受信部２１０ｃを含んでおり、スキャンクロックに同期して画像データをシリアル化してＬＶＤＳ伝送路４０ａに送出している。 - 特許庁

To provide an imaging element and an imaging apparatus, which can simply check a connection state of a path through which a video signal is received/transmitted between LSIs without using boundary scan, or provide an imaging element that can be used for that check.例文帳に追加

バウンダリスキャンを使用せずに、ＬＳＩ間で映像信号の受け渡しをするパスの接続状態を簡潔に確認することの出来る撮像素子及び撮像装置、またはそれに用いる事の出来る撮像素子を実現することを課題とする。 - 特許庁

A diffraction element 116 is arranged at the position which matches an intermediate image plane being present between the light source of the retina scan type display and a light emitting section or shifted from the position of the intermediate image plane on the optical path between the light source of the display and the light emitting section.例文帳に追加

【解決手段】網膜走査型ディスプレイの光源と出射部との間における光路上に、それら光源と出射部との間に存在する中間像面と一致するかまたはその中間像面から外れた位置に回折素子１１６を設置する。 - 特許庁

In the imaging device with a cooling fan for cooling the main body of the imaging device, an intake path for inducting a cooling air to a lid for the scan optical device and a guide form for directing the cooling air toward the upper part of a deflector, are provided.例文帳に追加

画像形成装置本体を冷却するための冷却ファンを有した画像形成装置において、走査光学装置の蓋に冷却風を導入する導入路を設けると共に、偏向器上方に向けて冷却風を導入するガイド形状を設ける。 - 特許庁

By using the latch 1 in a cell or the like, wherein logical circuits are constituted every functional block, the edge trigger operation and the level sense operation are switched flexibly, and hereby a test time for the scan path test is shortened, and simultaneously the fault detection rate can be improved.例文帳に追加

機能ブロック毎に論理回路が構成されているセルなどにラッチ１を用いることにより、エッジトリガ動作とレベルセンス動作とをフレキシブルに切り換えることによって、スキャンパステストのテスト時間を短縮しながら故障検出率を向上させることができる。 - 特許庁