「test object」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

An adder 22 sums a signal received by an input terminal C20 resulting from being given to a test object element and fed back from an output terminal A18 and a signal given to the test object element and subjected to phase/amplitude adjustment by a phase delay device 12 and a multiplier 13 and subjected to phase inversion.例文帳に追加

試験対象素子に入力した出力端子Ａ１８からの信号が帰還され入力端子Ｃ２０に入った信号と、試験対象素子に入力した信号を位相遅延器１２および乗算器１３により位相／振幅を調整した信号を、位相反転し加算器２２で加算する。 - 特許庁

To provide a technique of a compact turning device for a heavy object where the distance between the center of gravity of the heavy object such as a test head and the axis of a turning fulcrum is reduced, and a turning arm and a drive device are constructed so that the length in the axial direction of the turning fulcrum of the heavy object is smaller.例文帳に追加

テストヘッド等の重量物の重心及び旋回支点の軸線上間が短縮され、かつ旋回アーム及び駆動装置が重量物の旋回支点の軸線方向の長さを短く構成すると共にコンパクトな重量物の旋回装置の技術を提供する。 - 特許庁

By the airtightness test management system 10, test position data on a position different from the site of a house 102 are included in compound data on the prescribed house 102 if the airtightness inspector unjustly performs airtightness test at a place different from the house 102 that is a test object by using a digital manometer 11, and a basis on such an unjust act is recorded as compound data.例文帳に追加

本発明の気密検査管理システム１０によれば、気密検査員が検査対象の住居１０２とは別の場所でデジタルマノメータ１１を用いて気密検査を不正に行った場合には、所定の住居１０２の複合データにおいてその住居１０２の所在地と別の位置の検査位置データが含められ、このような不正行為の根拠が複合データとして記録される。 - 特許庁

The semiconductor device includes a SRAM 12 being a test object circuit, an input terminal 13 to which a tester clock signal Tc1 is input from the outside, a BIST circuit 11 performing a logical test of the SRAM 12 for each cycle of the tester clock signal Tc1, and an output terminal 15 outputting a test result signal Ts indicating a test result in the BIST circuit 11 to the outside.例文帳に追加

テスト対象回路であるＳＲＡＭ１２と、外部からテスタクロック信号Ｔｃｌを入力する入力端子１３と、テスタクロック信号Ｔｃｌのサイクル毎にＳＲＡＭ１２の論理的なテストを行うＢＩＳＴ回路１１と、ＢＩＳＴ回路１１におけるテスト結果を表すテスト結果信号Ｔｓを外部に出力する出力端子１５と、を備える。 - 特許庁

When the code error rate measuring apparatus 10 conducts a code error rate measurement test of an object 13 to be measured, the error detector 12 outputs the control signal on the basis of a result of bit error detection and automatically adjusts the amplitude of the test data signal, an offset voltage, and a phase relation between the test data signal and the clock signal.例文帳に追加

符号誤り率測定装置１０は、被測定物１３の符号誤り率測定試験に際して、エラー検出器１２は、ビットエラーの検出結果に基づいた制御信号を出力し、テストデータ信号の振幅及びオフセット電圧、並びに、テストデータ信号とクロック信号との位相関係を自動調整する。 - 特許庁

Eddy current flaw detection due to a plurality of test frequencies is applied to a relative test object, provided with a plurality of slits different in residual wall thickness to obtain a calibration curve group, showing the correlation of the phase difference of an ECT signal between two different test frequencies, with respect to the respective slits and the residual wall thickness.例文帳に追加

残存する肉厚が異なる複数のスリットを設けた対比試験体に対して複数の試験周波数による渦電流探傷を実施し、各スリットについての２つの異なる試験周波数間のＥＣＴ信号の位相差と残存する肉厚との相関を示す校正曲線群を得る。 - 特許庁

Following this, the test lens fitted with first and second gel object 16, 21 made of the same transparent material and adhering closely to adhesion surfaces 18, 23 on the front side and the rear side of the test lens L, is arranged on the nose piece 9 similarly to the above, and a second power of the test lens L sandwiched by both gel objects 16, 21 is measured.例文帳に追加

ついで被検レンズＬの表側及び裏側の密着面１８，２３にそれぞれ同じ材質の透明な第１及び第２のゲル体１６，２１を密着させたものを前記と同様ノーズピース９上に配置し、両ゲル体１６，２１に挟まれた同被検レンズＬの第２のレンズ度数を測定する。 - 特許庁

The multi-chip package 1 has integrated circuits IC1, IC2 including an internal cell which is a test object, and IC1 has an internal input terminal 7A connected to the external terminal 8A for the test, a separation multiplex circuit 5 connected thereto, and a scanning control circuit 3 for controlling a scan path test signal in the internal cell.例文帳に追加

マルチチップパッケージ１は、テスト対象となる内部セルを含む集積回路ＩＣ１、ＩＣ２を有し、ＩＣ１は、テスト用外部端子８Ａに接続された内部入力端子７Ａ、これに接続された分離多重回路５、及び内部セルのスキャンパステスト信号を制御するスキャン制御回路３を有する。 - 特許庁

This plastic discriminating device comprises a sampling part 2 for sampling a test piece 1 from the discriminating object including plastic, a discriminating part 3 comprising a detecting part 4 for discriminating the kind of plastic included in the test piece 1, and a supplying part 5 for supplying the test piece 1 to the detecting part 4 from the sampling part 2.例文帳に追加

プラスチックを含む識別対象物から試験片１をサンプリングするサンプリング部２と、試験片１に含まれるプラスチックの種類を識別する検出部４を備えた識別部３と、試験片１をサンプリング部２から検出部４へ供給する供給部５とを備えるプラスチック識別装置とすればよい。 - 特許庁

The wiring testing machine 100 includes a producing machine 10 for test data, a package testing machine 20 forming with a test jig 21 using a spring probe and test jig 41 using a conductive rubber 42, a flying prober 30 using a probe 31 of the flying prober, and an object 50 to be tested composed of wiring substrates and others.例文帳に追加

本発明の布線検査機１００は、検査データ作製機１０と、スプリングプローブを使った検査治具２１と、導電ゴム４２を使った検査治具４１とで構成された一括検査機２０と、フライングプローバのプローブ３１を用いたフライングプローバ３０と、配線基板等からなる被検査体５０とで構成されている。 - 特許庁

Synchronization test of the breaker into which the input command signal has been input at the earliest timing is performed by one synchronization test device 700 and start of the synchronization test device 700 by input of a breaker input signal from another line is blocked until an inputting operation of an object breaker is finished.例文帳に追加

１台の同期検定装置７００で、最も早いタイミングで投入指令信号が入力された遮断器の同期検定を行ない、対象遮断器の投入動作が終了するまで他の回線からの遮断器投入信号の入力による同期検定装置７００の起動をブロックする。 - 特許庁

In the capacitor test device 1, a series resonance circuit is formed, by connecting a coil 12 series to the capacitor 11 of the test object, and then the test electric power of a high frequency and the high voltage is applied to the capacitor 11 by generating a resonance condition with applying electric power with the high frequency from an applied electric power generating part 2.例文帳に追加

コンデンサ試験装置１において、試験対象となるコンデンサ１１に対してコイル１２を直列に接続して直列共振回路を構成し、印加電力生成部２から高周波電力を印加しつつ共振状態を発生させて、コンデンサ１１に対して高周波かつ高電圧の試験電力を印加する。 - 特許庁

The test system includes a test object circuit which outputs an output signal based on the input signal having been input, signature operation circuits 110, 111, and 112 which store signatures in which a value of the output signal outputted from the test object circuit is compressed, and a built-in CPU 120 which processes the signature outputted from the signature operation circuit according to the input from the outside.例文帳に追加

本発明の第１の態様にかかるテストシステムは、入力された入力信号に基づいて、出力信号を出力するテスト対象回路と、テスト対象回路から出力された出力信号の値を圧縮したシグネチャを記憶するシグネチャ演算回路１１０、１１１、１１２と、シグネチャ演算回路より出力されたシグネチャを外部からの入力に応じて処理する内蔵ＣＰＵ１２０を備えるものである。 - 特許庁

In this method, under use of at least one spatial arrangement of the radiation source 11, the detector 13, and a test object 58 substituted for a subject 18 to be scanned, a filter for providing optimum filter processing and back projection of the projection data of the test object for tomographic image display in a given arrangement and by means of repeated reconstruction technique and test projection is determined.例文帳に追加

本発明の方法においては、放射線源（１１）と検出器（１３）と走査すべき対象（１８）の代わりの試験対象（５８）との少なくとも１つの同じ空間的配置の使用下で、試験投影および反復式の再構成技術によって、与えられた配置において断層撮影表示のための試験対象の投影データの最適なフィルタ処理および逆投影を与えるフィルタが決定される。 - 特許庁

This magnetizer for magnetic particle test comprises a means structured so that air within a bowl-shaped portion of the inspecting object is exhausted with the inspecting object submerged in magnetic particle liquid, and the means causes the particle liquid to get in to the interior of the bowl-shaped portion.例文帳に追加

検査物を磁粉液中に水没させた状態で、検査物の椀形部分内部の空気を排気するように構成された手段を有し、これにより椀形部分内部にまで磁粉液が入り込むようにする。 - 特許庁

To provide a vibration testing device, capable of applying vibration in three orthogonal axial directions to an object to be tested, further, allowing vibration test of the object during use and reducing the size of the device.例文帳に追加

直交する三軸方向への振動を被試験体に加えることができ、さらに、被試験体の使用状態での振動試験を可能とするとともに、装置の小型化を図ることを可能とする振動試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits capable of measuring the frequency characteristics of the power current of an object to be measured at any timing regardless of whether a test pattern is impressed onto the object to be measured or not.例文帳に追加

被測定対象に対して試験パターンを印加しているか否かに拘わらず、任意のタイミングで被測定対象の電源電流の周波数特性を測定することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

The IC tester which tests an object under test is improved in such a way that the object is mounted on a performance board and that a signal is transferred via the POGO pin of a POGO pin block connected to the performance board.例文帳に追加

本発明は、被試験対象をパフォーマンスボードに搭載し、このパフォーマンスボードに接続するポゴピンブロックのポゴピンを介して信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

A liquid phase-type thermal shock test device comprises a high- temperature tank 1 and a low-temperature tank 2 to add thermal stress to an object to be measured 6 and is provided with a control means 5 to control the surface temperature of the object to be measured 6 in each of the tanks 1 and 2 to control thermal stress.例文帳に追加

被測定対象物６に熱ストレスを加える高温槽１と低温槽２とを有し、各槽１，２における被測定対象物６の表面温度を管理して熱ストレスを制御する制御手段５を設ける。 - 特許庁

To provide an inspection device which inspects the electric properties of an object of inspection such as an semiconductor wafer, is capable of surely carrying out a probe aligning operation after a test head is operated, and inspecting the object of inspection with proper accuracy.例文帳に追加

半導体ウエハなどの被検査体の電気的特性を検査する検査装置において、テストヘッド操作後における針合わせ作業を確実に行い、適正な精度を維持した検査を行うことが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

In this MCM M1, a test is performed by successively repeating a procedure of supplying the power source to only a testing object bare chip among plural bare chips and of not supplying the power source to the other bare chips by changing the testing object bare chip.例文帳に追加

このＭＣＭにおいて、複数のベアチップのうち、被試験ベアチップのみに対しては電源供給を行い、その他のベアチップに対しては電源供給を行わない手順を、被試験ベアチップをかえて順次繰返し、試験を行う。 - 特許庁

The detector for detecting a radiation heat absorptive film which faces an object under test for detecting the temperature of the object is operated, to detect the quantity of radiation heat transmitted through the radiation heat absorptive film, thereby detecting the contamination of the film.例文帳に追加

非検体に対向する輻射熱吸収フィルムの温度を検知することで非検体の温度を検知する温度検知装置に於いて、輻射熱吸収フィルムを透過する輻射熱量を検知することで、フィルムの汚れを検知する。 - 特許庁

The pressure roller 5 which is rotatably pivoted on an oscillatory arm 4 oscillated around an oscillatory shaft 3 is provided so as to be capable of coming into contact with and separating from the rubber sheet 2 of the object under test fixed on a pedestal 1a and becoming a viscoelastic object.例文帳に追加

台座１ａ上に固定した被試験体であって粘弾性体となるゴムシート２に対して揺動軸３を中心に揺動する揺動アーム４に回転自在に軸支された押圧ローラ５が接離可能に設けられる。 - 特許庁

The system also includes many clients for communicating with the data model, and the clients have (1) a cord for selectively reading the test data from the data object stored in the data model, and (2) a cord for reading the summary of the test data stored in the tree structure.例文帳に追加

上記システムはまた、データモデルと通信する多数のクライアントを含み、クライアントは（１）データモデルに格納されたデータオブジェクトから試験データを選択的に読み込むコードと、（２）ツリー構造に格納された試験データのサマリーを読み込むコードとを有する。 - 特許庁

Therefore, it can carry out continuously about all these test contents, even if it is the case where there are two or more inspection specifications according to the model of the control object controlled by the ECU 100, i.e., test contents shown by this inspection specifications.例文帳に追加

そのため、ＥＣＵ１００により制御される制御対象の機種に応じた検査仕様書，つまりこの検査仕様書で示される検査内容が複数ある場合であっても、これら全ての検査内容について連続的に実施することができる。 - 特許庁

By visually editing the input or output object and the input or output information according to operation on test items or a verification order, a test specification and a manual can be created.例文帳に追加

前記入力対象または出力対象と前記入力情報または出力情報を試験項目の操作または検証の順番に従ってビジュアル的に編集していく事によって試験仕様書およびマニュアルを作成することができる - 特許庁

To provide a device for testing an insulation monitor which is prevented from being affected by the insulation monitor being a test object, by separating the device for testing from the insulation monitor physically and electrically, and thus can properly perform a test of the insulation monitor.例文帳に追加

絶縁監視装置と物理的・電気的に切り離すことで、試験対象である絶縁監視装置の影響を受けることがなく、それにより、絶縁監視装置の試験を適正に行うことができる絶縁監視装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

The structural formula to be determined which includes N unknown numbers is hypothesized for the surface of the material, and a hypothetical numerical experiment relating to the indentation test is carried out for the material as the object.例文帳に追加

Ｎ個の未知数を含む、決定しようとする構成式を仮定した材料表面を対象とした、押し込み試験に関する仮想数値実験を行う。 - 特許庁

To provide a leak test device for detecting gas to be inspected, leaking from an inspecting object even if the amount of the gas is extremely small by largely improving the sensitivity.例文帳に追加

感度の大幅な向上を図ることにより、被検査体から漏出する検査用ガスが微少量であっても検出することが可能なリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

A data inversion circuit 15 stores an effect that bit inversion data which can specify inversion of write data bit by bit to a test object address and a data section 13 are set up by a CPU 18.例文帳に追加

データ反転回路15は、ＣＰＵ18により検査対象アドレスとデータ部13への書込みデータのビット毎に反転を指定できるビット反転データとが設定されると記憶する。 - 特許庁

In the middle of conveyance of a test object, for example, a paper sheet printed matter 153, the front and back printed surfaces thereof are illuminated respectively by illumination light sources 14, 15 and 24, 25.例文帳に追加

被検査物、例えば、枚葉印刷物１５３を搬送する途中で、その表裏の印刷面を照明光源１４，１５と２４，２５によりそれぞれ照明する。 - 特許庁

To provide a shearing jig capable of highly accurately executing a shearing test by applying load an object to be tested without bringing about a problem of bending moment or unbalanced load and having a simple structure.例文帳に追加

曲げモーメントや偏荷重の問題を招くことなしに供試体に負荷を加えて剪断試験の高精度な実行を可能とする簡易な構造の剪断治具を提供する。 - 特許庁

To provide a network band measuring instrument for recognizing the average band width of a route to be a communication object without using a test packet.例文帳に追加

試験パケットを使用することなく、通信対象となる経路の平均帯域幅を知ることができるネットワーク帯域測定装置を提供する事を目的とする。 - 特許庁

A verification section 7 reads out data actually stored in each object address of RAM 1 to 4, to compare each memorized datum with the test data as expected values.例文帳に追加

照合部７は、ＲＡＭ１〜４の夫々の対象アドレスに実際に記憶されたデータを読み出し、記憶データの夫々と期待値としてのテストデータとを照合する。 - 特許庁

To obtain a distributed object development system which eliminates the need of development of an application for test and can separate development environments of client and server applications.例文帳に追加

テスト用アプリケーションの開発を不要にし、かつクライアントおよびサーバアプリケーションの開発環境を分離することができる分散オブジェクト開発システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a surface inspection device which can continuously detect with a simple structure, any flaw on surface of such a test object as rolled steel plates with a high degree of accuracy.例文帳に追加

圧延鋼板等の検査対象の表面における疵を簡単な構成で連続的に且つ高精度に検出することのできる表面検査装置の提供を図る。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for ultrasonic non-destructive testing which includes an elongate strip of ultrasound transmissive material coupled at a proximal end to an object under test.例文帳に追加

近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The method is characterized in that for the electroorganic reaction, negative and positive electrodes are immersed in solution of the test object and are energized using a power supply unit.例文帳に追加

有機電解反応が、被験物質の溶液に陰電極、陽電極を浸漬し、電源供給装置を用いて通電することを特徴とする感作性発現検定方法。 - 特許庁

At DTM communication, a DL layer 17 notifies a voice communication state representing whether it is in voice call with a test object terminal 5 or not to a GRR layer 13.例文帳に追加

ＤＴＭ通信を行う際、ＤＬ層１７は、試験対象端末５との音声通話中であるか否かを表す音声通信状態をＧＲＲ層１３に通知する。 - 特許庁

To correct scattering in an X-ray computed tomography sufficiently taking account of individual proportion of an examination object while dispensing with an additional test scanning.例文帳に追加

付加的なテスト走査なしですませながらも検査対象の個別的なプロポーションを十分に考慮してＸ線コンピュータ断層撮影における散乱補正を行う。 - 特許庁

In the driver layer 3, the pseudo-data response part 6 returns the pseudo-data delivered from the application layer 2 to the test object application 4 as the data delivered from the hardware layer 7.例文帳に追加

ドライバ層３において、疑似データ応答部６は、アプリケーション層２から渡された疑似データを、ハードウェア層７から渡されたデータとして試験対象アプリケーション４へ返す。 - 特許庁

The reference value is a coefficient of variation determined based on the standard deviation and the mean value which are related to a plurality of pixel values obtained from the fixing member for supporting a test object.例文帳に追加

その基準値は、被検体を支える固定部材から得られる複数の画素値に関する標準偏差と平均値とに基づいて決定される変動係数である。 - 特許庁

In this case, the degree of contribution of each acceleration sensor to the inertia forces is required to be calculated in a test mode in the state where the external force is not applied to the measuring object.例文帳に追加

その場合、測定対象物に外力が加わっていない状態の試験モードで慣性力に対する各加速度センサの寄与度を算定する必要がある。 - 特許庁

To provide a control method etc. of an optical image capturing apparatus including a compensation optical system permitting the imaging at proper resolution corresponding to the aberration of a test object.例文帳に追加

被検査物の収差に応じた適正な分解能で撮像することが可能となる補償光学系を備えた光画像撮像装置の制御方法等を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic test equipment easily performing flaw detection of an outer surface of a cylindrical object to be measured without performing complicated operation such as disassembly.例文帳に追加

分解等の煩雑な作業を行うことなく、円筒状の被測定物の外表面を容易に探傷することができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁