「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(266ページ目) - Weblio英語例文検索

A dicing substrate 30 for test which is used for testing a semiconductor wafer includes: a main body portion 31; thin portions 321 and 322 extending from the main body portion 31 and being relatively thinner than the main body portion; and a bump 33 provided in the thin portions 321 and 322.例文帳に追加

半導体ウェハの試験に用いられる試験用個片基板３０は、本体部３１と、本体部３１から延在すると共に、本体部よりも相対的に薄い薄肉部３２１，３２２と、薄肉部３２１，３２２に設けられたバンプ３３と、を備えている。 - 特許庁

The method for testing the wire bonded connection comprises the steps of forming the bonding wire of a bonding head having a bonding tool and a wire clamp relating to the bonding tool by the operation of a pressure and an ultrasonic wave and/or a heat, connecting the wire to the surface of the board.例文帳に追加

圧力及び超音波及び／又は熱の作用の下で、ボンディングツールを具備するボンディングヘッドとボンディングツールと関連するワイヤクランプとによって形成されたボンディングワイヤと基板表面との間のワイヤボンド接続をテストする技術が提供される。 - 特許庁

A braking indication signal (a pseudo signal) is transmitted from an ECU between vehicles to a VSC-ECU via an engine ECU on a vehicle 12 side by a complex indication by combining predetermined switching operations with detected values of sensors for operating an actuator to realize a testing process.例文帳に追加

所定のスイッチ操作やセンサの検出値の組み合わせによる複雑な指示により、車両１２側で、ブレーキ指示信号（擬似信号）を、車間ＥＣＵから、エンジンＥＣＵを介してＶＳＣ・ＥＣＵへ送信してブレーキアクチュエタを作動させ、検査工程を実現する。 - 特許庁

An image covering a broad range is acquired of a mounted sample and part of testing equipment around the sample to evaluate the positioning while keeping the sample off contact, and processed to compare the relative position on the image by geometric analysis to determine whether or not the sample is properly positioned.例文帳に追加

試料に非接触に位置決めを判定すべく、載置した試料とその周辺の装置の一部について広域の画像を取得し、それを処理して画像上にて幾何学的な解析により相対位置を比較することで、試料位置の合否を判断する。 - 特許庁

The testing device includes a hydrophobic face 18 for keeping the contact face between the droplet 36 of the sample solution and the surface of the plate 12 in the specific sector 16, and a shaking device 34 for changing the shape of the droplet 36 of the sample solution which is dripped into the specific sector 16.例文帳に追加

検査装置には、サンプル液の液滴３６とプレート１２の表面との接触面を特定領域１６内に保つ疎水面１８と、特定領域１６内に滴下されたサンプル液の液滴３６を変形させるための加振装置３４を備える。 - 特許庁

An MPU 8 watches the state of an ejecting button 5 under the condition that a test compact disk is not loaded at startup, and when it is detected that the ejecting button 5 is pushed continuously or multiply within a prescribed period of time, the optical disk device 1 is laid under a testing operation.例文帳に追加

ＭＰＵ８は起動時にテスト用のコンパクトディスクが搭載されていない状態でイジェクト釦５の状態を監視し、所定時間内に連続又は多重にイジェクト釦５が押されたことが検出されると、光ディスク装置１は試験動作状態となる。 - 特許庁

To provide a production facility for hot-rolled steel plate of a high strength steel having little unevenness of mechanical testing characteristics in the length direction and the width direction, e.g. even in the case of being such comparatively thin steel plate thickness of ≤30 mm, and its production method.例文帳に追加

例えば鋼板厚さが３０ｍｍ以下のような比較的板厚が薄い場合であっても、長さ方向及び幅方向に機械的試験特性にばらつきが少ない高強度鋼の熱間圧延鋼板の製造設備、及び製造方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the light quantity of light received by a light-receiving part 23 becomes smaller than a threshold light quantity set in advance in this case, so that a testing result that there is the game nail 14 which is too long due to defective nailedting into the surface 10A, on the game board 10.例文帳に追加

そのため、この場合には、受光部２３が受光する光の光量が予め設定した閾値光量よりも少なくなることから、遊技盤１０上には打ち込み不良で長すぎる遊技釘１４があるという検査結果を導くことができる。 - 特許庁

A testing device 11-1 for a touch panel comprises a circuit board; A rows and B columns of electrodes 13-1 to 13-16 arranged in a matrix on the circuit board; and switch elements 14 each of which is arranged between each electrode and ground and connects each electrode to the ground.例文帳に追加

タッチパネルの検査装置１１−１を基板と、基板上にマトリクス状に配列されたＡ行Ｂ列の電極１３−１〜１３−１６と、各電極とグラウンドとの間に配設され各電極を接地接続させるスイッチ素子１４とを用いて構成する。 - 特許庁

In the resin magnet configured by binding and integrating magnetic powder with a coupling resin, its bending strength in a testing method of plastic bending characteristics (JIS K7171) is ≥75MPa, and its rupture distortion in bending has a value of ≥1.0%.例文帳に追加

磁性粉末を結合樹脂によって結合して一体化した樹脂磁石において、プラスチック−曲げ特性の試験方法（ＪＩＳ Ｋ７１７１）による曲げ強さ７５ＭＰａ以上、曲げ破壊ひずみが１．０％以上を有することを特徴とする樹脂磁石。 - 特許庁

The apparatus for measuring exhaust gas particles is provided with a gas extracting device 36 capable of testing an internal combustion engine 16 in a transient state and certifying it, and includes a partial-flow dilution tunnel 38, mass flow rate sub controllers 80 and 60, and an air flow control device 110 for transient dilution.例文帳に追加

過渡的状態下で内燃機関１６を試験し、証明できるガス抽出装置３６が提供され、部分流ダイリューショントンネル３８、主および従質量流量コントローラ８０、６０、および過渡的希釈用空気流制御装置１１０を含む。 - 特許庁

In the filter holder 6, the inner diameter of a gas flow passage is gradually increased from the upstream side to the downstream and is throttled to a small diameter near the downstream for generating turbulence in the high-temperature gas flow, and at least a filter 81 for testing is set to the region where the turbulence cannot be extinguished.例文帳に追加

フィルタホルダ６では、上流から下流にかけてガス流通路の内径を順次大きくし下流近傍で小径に絞って高温ガス流に乱流を起こし、その乱流の消滅しない領域に少なくとも前記試験用フィルタ８１をセットする。 - 特許庁

To provide an active energy ray-curable resin composition which enables a nano convex/concave structure to be formed, the nano convex/concave structure having good water repellency and high durability even under conditions of accelerated weatherability testing, and to provide a nano convex/concave structure and a water-repellent article each using the active energy ray-curable resin composition.例文帳に追加

良好な撥水性と、耐候性促進試験条件下でも高い耐久性を有するナノ凹凸構造体を形成できる活性エネルギー線硬化性樹脂組成物、及びそれを用いたナノ凹凸構造体と撥水性物品の提供。 - 特許庁

Further, the combination of the metal material having resistance in the surface stress corrosion cracking is discovered by observing the state of the surface stress corrosion cracking of the stainless steel test piece by removing the plurality of the test pieces (set) in a time series by using the testing apparatus for evaluating it.例文帳に追加

さらに、その評価試験装置を使用し、複数の試験片（組）を時系列に取り外して、ステンレス鋼試験片の外面応力腐食割れ状況を観察することにより、外面応力腐食割れに抵抗性のある金属材料の組み合わせを見出す。 - 特許庁

To provide a sequence control circuit that can perform a higher speed operation as compared with the conventional practice and to provide a pattern generating device capable of generating a high speed pattern by providing the sequence control circuit to it, and a semiconductor testing device provided with the pattern generating device.例文帳に追加

従来よりも高速動作が可能なシーケンス制御回路を提供するとともに、当該シーケンス制御回路を備えることで高速なパターン発生が可能なパターン発生装置、及び当該パターン発生装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a loading testing device capable of loading having a large mass by a deadweight having a small mass, preventing the deadweight or a device from being damaged even if a specimen is broken, and preventing fragments from being scattered to the periphery when a ring piece is broken.例文帳に追加

少ない質量の重錘で大きな質量の載荷をすることができ、しかも試験体の破壊が生じても重錘や装置を損傷させることなく、環片の破壊時、破片が周囲に飛散することもない載貨試験装置を得ることを課題とする。 - 特許庁

A first power shutdown switch (WTR1) is provided between a power supply line (VDD) and an internal power supply line (VDDM1) which is exclusive for a circuit block (BLK1), and has a current supply capability such that an on-state current is raised to an amplitude capable of protecting an external testing environment.例文帳に追加

第１電源遮断スイッチ（ＷＴＲ１）は、電源線（ＶＤＤ）と回路ブロック（ＢＬＫ１）専用の内部電源線（ＶＤＤＭ１）との間に設けられ、オン電流が外部試験環境を保護可能な大きさになる電流供給能力を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can be suitably used for a measurement device, such as a semiconductor integrated circuit testing set and the like, in which junction temperature and jitters hardly fluctuate, even if the frequency of an inputted clock fluctuates, and high accuracy is demanded on time.例文帳に追加

入力されるクロックの周波数が変動してもジャンクション温度及びジッタが殆ど変動せず、時間的に高い精度が要求される半導体集積回路試験装置等の測定装置で用いて好適な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a dark fiber supervisory testing method and apparatus capable of preventing disabled optical transmission utilizing a dark fiber in advance due to deterioration in the dark fiber by properly supervising the optical transmission characteristic of the dark fiber and informing a user of the dark fiber about it.例文帳に追加

ダークファイバの光伝送特性を適確に監視して、ダークファイバの利用者に通知することによりダークファイバを利用した光伝送がダークファイバの劣化により不可能になるような事態を未然に防止し得るダークファイバ監視試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

A material test is performed using a material testing machine 1 equipped with a load/displacement measuring means for applying load to a test piece 2 to measure the load and displacement of the test piece 2 and a continuity detection means for detecting the presence of continuity and the test piece 2 having a thin film pattern formed thereto.例文帳に追加

試験片２に荷重を加えてその荷重、変位を測定する荷重／変位測定手段と導通の有無を検知する導通検知手段を備えた材料試験装置１と薄膜パターンが形成された試験片２を用いて材料試験を行う。 - 特許庁

The measuring electrode 19d is positioned between the insertion hole on the housing 1 and each of a plurality of clip pieces in the terminal fitting 19, so that end of the core wire 35 in the lead 33 can enter therein, but the measuring electrode 19d is made to contact the end of a continuity testing conductor.例文帳に追加

測定用電極１９ｄを、ケース１に設けた挿入孔２７と端子金具１９の複数の挟持片との間に、リード線３３の芯線３５の端部の進入を許容するが、導通試験用導体の端部と接触するように配置する。 - 特許庁

In the case of starting IP connection service from a service provider to a user home via an ATM network 100, an ATM line simple IP connection testing device 10 is directly connected to an ATM line connected to the user home to execute an IP connection test.例文帳に追加

サービスプロバイダから、ユーザ宅へＡＴＭ回線網１００を介してＩＰ接続サービスを開始するとき、ユーザ宅に導入されているＡＴＭ回線にＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験装置１０を直接接続し、ＩＰ接続試験を実施する。 - 特許庁

In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.例文帳に追加

トランス１０の１次側コイルＬ１の端子Ｔ１と２次側コイルＬ２の端子Ｔ５とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗Ｒ１０に流れる電流を制限するための制限抵抗Ｒ１を、２次側コイルＬ２と、端子Ｔ５との間に設ける。 - 特許庁

In mod p groups, an even h is chosen of value approximately (9/16)(log_2n)^2, values r and n are determined using sieving and primality testing on r and n, and a value t is found to compute p=tn+1 where p is prime.例文帳に追加

ｍｏｄ ｐ群において、偶数ｈが約（９／１６）（ｌｏｇ_2ｎ）^2の値として選択され、値ｒとｎは、ｒとｎに対するふるいと素数性テストを使用して判定され、値ｔが、ｐが素数の場合に、ｐ＝ｔｎ＋１を計算するために見出される。 - 特許庁

A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加

ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁

A processing crack is intentionally applied onto the coat membrane of the spectacle lens by using at least one method among following methods (1) to (3), and the spectacle lens is inputted into an acceleration testing machine for weather resistance or the like as long as an optional period, and then the coat membrane adhesive performance of the spectacle lens is evaluated.例文帳に追加

下記（１）から（３）の少なくとも一つの方法を用いて眼鏡レンズのコート膜上に意図的に加工クラックを施し、該眼鏡レンズを耐候性等の加速試験機へ任意の期間投入した後、該眼鏡レンズのコート膜密着性能を評価する。 - 特許庁

To provide a forming method and forming device of an elastic-body break surface for rapidly and surely forming a desired broken-out surface suitable for analysis on an elastic body serving as a testing object, without requiring worker skills, and to provide an analysis method of the elastic body.例文帳に追加

作業者の熟練を必要とせずに、試験対象となる弾性体に対して分析に適した所望の破断面を迅速かつ確実に形成することができる、弾性体破断面の形成方法及び形成装置、弾性体の分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit for testing cores for which requires fewer development man-hours the rise of cost is suppressed, and which easily copes with version-up of the core by the updating an instruction set held by an instruction memory inside a core without adding the correction to the inside of a core.例文帳に追加

開発工数が少なくて済み、コストを抑えることができるとともに、コア内部に修正を加える必要がなく、コア内部の命令メモリが保持する命令セットを更新してコアのバージョンアップを行う際の対処が容易であるコアテスト回路を提供する。 - 特許庁

We agreed that supervisors should have strong and unambiguous mandates, sufficient independence to act,appropriate resources, and a full suite of tools and powers to proactively identify and address risks, including regular stress testing and early intervention. 例文帳に追加

我々は，強固で明確なマンデート，行動に当たっての十分な独立性，適切な資源，定期的なストレステスト及び早期介入を含めたリスクを事前に特定し対処するための一揃いの手法と権限を監督当局が持つべきであることに合意した。 - 財務省

Therefore, the “period during which the patented invention was unable to be worked” means either “the period of time spent conducting the testing necessary to obtain a disposition plus the period between the date on which the disposition was filed for and the date of the disposition”, or “the period between the date of patent registration and the date of the disposition”, whichever is shorter. 例文帳に追加

このため、処分を受けるのに必要な試験に要した期間と処分の申請から処分を受けるまでの期間を合わせた期間のうち、特許権の設定登録の日以降の期間が、｢特許発明の実施をすることができなかった期間｣となる。 - 特許庁

In this heat degradation testing machine for performing a heat degradation test of a plurality of test pieces S, while circulating heated air in a test vessel 1, a plurality of cells 5 openable at the upper and lower ends and capable of storing the test pieces S respectively in the test vessel 1 are provided.例文帳に追加

試験槽１内で加熱した空気を循環させながら複数の試験片Ｓの熱老化試験を行うようにした熱老化試験機において、試験槽１内に試験片Ｓをそれぞれ収容可能な、上下が開口する複数のセル５を設置する。 - 特許庁

A DB retrieving part 9 retrieves a test execution situation stored in the DB 8, and a test place to a test object program module is presented by such a manner that information notified a test place outputting part 10 is supplied to a program module testing device 11.例文帳に追加

ＤＢ検索部９によってＤＢ８に記憶された試験実施状況が検索され、試験箇所出力部１０に通知された情報がプログラムモジュール試験装置１１に供給されることで試験対象プログラムモジュールに対する試験箇所が提示される。 - 特許庁

The testing vessel 5 is arranged with the first and second gas feedback ducts 21, 22 having tip openings 21a, 22a arranged in the vicinity of a front wall 9 inner than horizontal guide rails 12, 13, and having rear end openings connected to the gas suction ports 18, 19.例文帳に追加

試験槽５には先端開口２１ａ、２２ａが水平案内レール１２、１３よりも前壁９の近傍に配置され、後端開口が気体吸い込み口１８、１９に接続されている第１、第２気体還流用ダクト２１、２２が配置されている。 - 特許庁

When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.例文帳に追加

テスト用サーバ３からテスト出力データ６とハッシュ値７とが返されると、テスト結果判定手段１ｃにより、テスト出力データ６と、テスト仕様書１ｄに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁

Based on a potential detected at one GND terminal by the GND sense line 6 during inspection of the device 12 to be measured, a potential correction circuit 8 corrects a potential level of a testing signal input for the inspection from the semiconductor sensor 10 into the device 12 to be measured.例文帳に追加

被測定デバイス１２の検査中にＧＮＤセンスライン６で検知した１つのＧＮＤ端子における電位に基づいて、電位補正回路８が検査のために半導体テスタ１０から被測定デバイス１２に入力されるテスト信号の電位レベルを補正する。 - 特許庁

Then, an image quality degradation notification controlling section 107 orders the image forming section 102 to print out a record medium on which a pattern image for testing is formed when the comparison determination section 106 determines that the toner cartridge 40 is the one filled with non-genuine toner.例文帳に追加

そして、画質劣化通知制御部１０７は、比較判定部１０６による判定結果が、非純正品トナーが充填されたトナーカートリッジ４０である場合に、テスト用のパターン画像が形成された記録媒体を、画像形成部１０２に印字出力させる。 - 特許庁

Thereby, since all the processes to be performed up to the bump formation can be implemented in a fab line, the problems of contamination etc. will not occur; and tests for electrical characteristics can be preformed, using inexpensive probe cards by using the bumps for testing as test objects.例文帳に追加

これにより、バンプ形成までの全ての過程がファブライン（ｆａｂ ｌｉｎｅ）で成されるため、汚染などの問題が発生せず、テスト用バンプをテスト対象にすることによって、低廉なテスト用プローブカードを用いて電気的な特性テストを遂行することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit mounting a non-volatile memory capable of performing characteristic testing of the non-volatile memory via an external terminal, and further of preventing a surge voltage from being communicated to the non-volatile memory even in the case that the surge voltage is applied to the external terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリを搭載した半導体集積回路において、外部端子を通して不揮発性メモリの特性テストを実施し、更に、その外部端子にサージ電圧が印加された場合であっても、そのサージ電圧が不揮発性メモリに伝わることを防止する。 - 特許庁

This semiconductor testing apparatus is provided with a plurality of holding implements 11 for respectively holding a plurality of semiconductor packages 10, a test board 12 where the plurality of holding implements 11 are arranged, and a fluid feed portion 13 for feeding fluid F for heating or cooling the semiconductor packages 10.例文帳に追加

複数の半導体パッケージ１０をそれぞれ保持する複数の保持治具１１と、複数の保持治具１１が配置されるテストボード１２と、半導体パッケージ１０を加熱又は冷却するための流体Ｆを供給する流体供給部１３とを備える。 - 特許庁

To provide a link layer device with testing circuit for eliminating usual inconvenience by enabling to measure the AC timing by a link layer device single body and enabling to measure by changing measuring conditions such as temperature and source voltage by using a general purpose board.例文帳に追加

リンク層デバイス単体でＡＣタイミング測定ができるようにし、これにより従来の不都合を解消でき、かつ、汎用ボードを使用して温度、電源電圧等の測定条件を変えてその測定できるようにしたテスト回路付きリンク層デバイスを提供すること。 - 特許庁

The system for generating cryptographic keys includes: a calculation unit for reconstructing a large number of small primes; a sieving unit for checking the divisibility of an integer by small primes; a recoding unit for changing the representation of an integer; and a primality testing unit.例文帳に追加

暗号鍵の生成システムは、多数の小さい素数を再構成するための演算ユニット、小さい素数によって整数が割り切れるかを点検するための篩ユニット、整数の表現を変えるための再符号化ユニット、及び素数性判定テストユニットを備える。 - 特許庁

A device for testing the thermal fatigue crack development includes a heating furnace capable of covering and heating the whole test body relative to a circular test body, a cooling pipe bonded to the test body, and a coolant sending mechanism for circulating a coolant into the cooling pipe.例文帳に追加

環状の試験体に対して、その試験体の全体を覆って加熱可能な加熱炉と、 前記試験体と結合される冷却用パイプと、 その冷却用パイプのパイプ内に冷媒を流す冷媒送流機構とを備える熱疲労き裂進展試験装置である。 - 特許庁

Then, in the automatic testing devices 11-1m, the operation test of a call processing is executed with the user side systems 31-3n according to the procedure and contents of the test described in the test file and log information obtained in the execution process is stored.例文帳に追加

そして、自動試験装置１１〜１ｍにおいて、上記試験用ファイルに記述された試験の手順と内容に従い、ユーザ側システム３１〜３ｎとの間で呼処理の動作試験を実行し、その実行過程で得られるログ情報を蓄積するようにしたものである。 - 特許庁

To provide a gear testing apparatus dispensing with re-adjustment after the revolution of either one of a drive shaft or a follower shaft is adjusted, capable of continuously changing a parameter, enabling the reduction of trouble and the shortening of time in a test and capable of performing a test nearer to mounting.例文帳に追加

駆動軸と従動軸とのいずれかを回動調整した後の再調整を不要で、連続的にパラメータを変化させることができ、かつ試験の手数、時間を短縮することが可能で、より実裝に近い試験が出来る歯車試験装置を提供する。 - 特許庁

When the testing device 100 transmits the signal to be measured, a mobile terminal RLC control part 109 notifies an RLC part 152 of the transmission stop of a signaling signal, and on the basis of the notice, the RLC part 152 stops transmitting the signaling signal and transmits only the signal to be measured.例文帳に追加

被測定用信号の伝送の際、移動端末ＲＬＣ制御部１０９は、ＲＬＣ部１５２にシグナリング信号の送信停止を通知し、ＲＬＣ部１５２は、この通知に基づいてシグナリング信号の送信を停止し、被測定用信号のみを送信する。 - 特許庁