「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(70ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, test data is recorded in the outer peripheral writing area of the second recording layer based on the recording power value of the inner periphery OPC, an asymmetry value is obtained from its reproduced signal, and an outer peripheral recording power value is obtained for the second recording layer based on the obtained asymmetry value and the coefficient of the optical disk.例文帳に追加

そして、内周ＯＰＣの記録パワー値に基づいて第２記録層の外周試し書き領域にテストデータを記録し、その再生信号からアシンメトリ値を求め、求められたアシンメトリ値と光ディスクの係数に基づいて第２記録層の外周記録パワー値を求める。 - 特許庁

The final-stage selector inputs a bit output one stage before, the final-stage corresponding bit signal of parallel data from a serial output buffer resistor 4, and the first-stage bit output of a serial input shift resistor 2, and selects the output of the first-stage bit output of the serial input shift resistor 2 in conformation to a test signal.例文帳に追加

終段セレクタは、１段前のビット出力と、シリアル出力バッファレジスタ４からのパラレルデータの終段対応ビット信号と、シリアル入力シフトレジスタ２の初段のビット出力とを入力し、テスト信号に対応してシリアル入力シフトレジスタ２の初段ビットの出力を選択する。 - 特許庁

In the dynamic circuit of the input portion 11 of the flip-flop circuit having the constitution with the scan, the number of serial connection stages of a MOS transistor applied with an input of a data signal D is set less than the number of the serial connection stages of the MOS transistor applied with a test input signal SI.例文帳に追加

スキャン付き構成を有するフリップフロップ回路の入力部１１のダイナミック回路において、データ信号Ｄの入力が加わるＭＯＳトランジスタの直列接続段数を、テスト入力信号ＳＩが加わるＭＯＳトランジスタの直列接続段数よりも少なく設定する。 - 特許庁

It is possible to obtain, regarding read voltage characteristics with respect to a moving distance in the disk radial direction, a read characteristics profile having a peak by tracing and reading the test data while moving the composite magnetic head (read head) which is forcibly made eccentric in a radial direction.例文帳に追加

そこで、複合磁気ヘッド（リードヘッド）のディスク半径方向の移動距離に対する読出電圧特性を同じ複合磁気ヘッドを強制偏心させた状態でテストデータをトレースして半径方向に移動させながら読出すことによりピークを持つ読出特性プロファイルを得ることができる。 - 特許庁

To provide an optical disk drive and its control method in which a laser diode is controlled stably without affecting to other data by recording a test pattern in at least one region out of a run-in area and a run-out area of a recording unit block and detecting the characteristics of the laser diode.例文帳に追加

記録単位ブロックのラン−イン領域とラン−アウト領域のうち少なくとも一つにテストパターンを記録し、レーザーダイオードの特性を検出することで、他のデータに影響を及ぼすことなく、レーザーダイオードを安定的に制御する光ディスクドライブ及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

In the verification of the logical operation of the information processor, the verification of the logical operation is realized with high accuracy, by generating more transaction competitive patterns by making an I/O emulator work together with a test program, and also by automatically preparing input data to the I/O emulator.例文帳に追加

情報処理装置の論理動作の検証において、Ｉ／Ｏエミュレータとテストプログラムを連動させ、且つＩ／Ｏエミュレータへの入力データは自動で作成することで、より多くのトランザクション競合パターンを発生させることにより、論理動作の検証を高精度に実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, a semiconductor integrated circuit design method and a semiconductor integrated circuit design program capable of reducing the number of test patterns with respect to a semiconductor integrated circuit including an internal clock domain having data path dependency operated in the same frequency.例文帳に追加

同一の周波数で動作するデータパス依存関係を有する内部クロックドメインを含む半導体集積回路に対して、テストパターン数を削減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法及び半導体集積回路設計プログラムを提供すること - 特許庁

To provide a semiconductor tester equipped with a means for applying the data of an HIFIX adapting condition to individual HIFIX itself in HIFIX equipped with constitution for measuring a plurality of DUTs at the same time to enable the test control corresponding to the mounted HIFIX.例文帳に追加

複数個のＤＵＴを同時測定する構成を備えるＨＩＦＩＸにおいて、個々のＨＩＦＩＸ自体にＨＩＦＩＸ適用条件の情報を付与する手段を備えて、装着されるＨＩＦＩＸに対応した試験管理を可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and method for testing simultaneously a column of a semiconductor memory and a redundant column by adding temporarily an additional parallel signal bit giving wider band width during test mode operation to an input/output data bus connected to a semiconductor memory.例文帳に追加

試験モード動作中により広い帯域幅を与える追加の並列信号ビットを半導体メモリに連結された入出力データ・バスに一時的に追加することによって、半導体メモリの列と冗長列とを同時に試験するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

To provide a DNA microarray and a detecting kit therefor in which test operations for a quantitative analysis using the DNA microarray is extremely simplified, and correction data can be obtained when nucleic acid having a target base sequence included in a sample is determined and measured.例文帳に追加

ＤＮＡマイクロアレイを利用する定量分析に付随する、検定作業を著しく簡便化し、検体中に含まれる目的の塩基配列を有する核酸の定量、測定時に、その補正データを取得することが可能なＤＮＡマイクロアレイと、その際に利用さる検定用キットの提供。 - 特許庁

The memory tester provided with an ALPG 2 which generates a test pattern for digital signals based on vector data VD is enabled to verify the function of a DUT 100a having an A/D-converting function by adding a D/A converter 4 to the inside or outside of the tester.例文帳に追加

デジタル信号のテストパターンをベクタデータＶＤに基づいて発生させるＡＬＰＧ２を備えるメモリテスタの構成に、テスタ内蔵の、または、テスタ外部に設けられたＤＡ変換器４を追加して、ＡＤ変換機能を有するＤＵＴ１００ａの機能の検証を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device of a design system which makes it possible to set read/write operation and refresh operation in a close state, and makes the accuracy of test and quality improvement realizable in the semiconductor storage device having a memory cell which requires refresh for holding data.例文帳に追加

データ保持のためにリフレッシュを要するメモリセルを有する半導体記憶装置において、リード／ライト動作とリフレッシュ動作とを接近した状態に設定することを可能とし、テストの精度、品質向上を実現可能とする設計方式の半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

During an analysis of recorded data, conductivity measured relative to a reference well 16 holding only a cell proliferation medium is subtracted from conductivity measured relative to another well 16, thereby improving the display of test results obtained by monitoring and recording cell culture.例文帳に追加

記録されたデータの分析の間に細胞増殖培地のみを保持する基準ウェル（１６）に対して測定された導電率を他のウェル（１６）に対して測定された導電率から減算することによって、細胞培養を監視および記録することによって得られるテスト結果の表示を改良する。 - 特許庁

A reference image recording apparatus records a test pattern image on the electronic paper being a calibration object and derives paper calibration data for correcting variations in the finish of the recording image due to the electronic paper being the calibration object on the basis of the finish of the image (refer to Figure 2 (A)).例文帳に追加

基準としての画像記録装置により校正対象の電子ペーパにテストパターン画像を記録し、該画像の仕上がりに基づいて校正対象の電子ペーパに起因する記録画像の仕上がりの変動を補正するためのペーパキャリブレーションデータを導出する（（Ａ）参照）。 - 特許庁

Average resistance values and compression strength values in interpenetration of a drill 22 are separately measured with respect to the test pieces cut from a plurality of woods: from these correlation data, the relational expression of the average resistance values and the compression strength values in interpenetration of the drill 22 into the woods is calculated.例文帳に追加

複数の木材から切り出した試験片について、ドリル２２貫入時の平均抵抗値と圧縮強度値とが別々に測定され、これらの相関データから、木材へのドリル２２貫入時の平均抵抗値と圧縮強度値との関係式が求められている。 - 特許庁

To provide an image-measuring-machine calibration scale capable of obtaining image data, having uniform and full brightness and enabling clear reading of the coordinate values of a plurality of points on the calibration scale in an oblique test, using a vision measuring machine, in a three-dimensional length measurement system and an incident-light illumination.例文帳に追加

三次元測長系および落射照明を有する画像測定機の斜め検査において、一様かつ十分な明るさの画像データを得ることができ、校正スケールの複数点の座標値を明確に読み取ることができる画像測定機用校正スケールを提供する。 - 特許庁

A pulse current amplitude value applied to the write element of a magnetic head to be tested is set to a saturation state current value with which a magnetic field having sufficient magnitude to reverse all magnetic moment included in one bit area can be generated, test data is written, and asymmetry A_asym is measured.例文帳に追加

被試験磁気ヘッドのライト素子に印加するパルス電流振幅値を１ビット領域に含まれる磁気モーメントをすべて反転させるのに十分な大きさの磁界を発生させることが可能な飽和状態電流値に設定してテストデータを書き込み、非対称性Ａ_asymを計測する。 - 特許庁

In a semiconductor memory device in which write-in and read- out of data are performed for a memory array in accordance with address information, the device is provided with an address converting circuit 23 generating new address information by performing some change for one part or all of the address information in accordance with a control signal for test.例文帳に追加

アドレス情報に応じてメモリアレイに対してデータの書き込み及び読み出しが行われる半導体集積回路において、テスト用制御信号に応じて、アドレス情報の一部又は全てに一定の変更を施して新たなアドレス情報を生成するアドレス変換回路２３を設ける。 - 特許庁

It is inspected whether the border-out positioned in the vicinity of the outer peripheral part where disturbance in reproduction characteristics is easily generated can be smoothly acquired when the drive is a type of drive actually reading out the border-out by verifying whether the drive can recognize that addition of data is impossible in the test disk 10.例文帳に追加

また、テストディスク１０が追記不可であることを認識できるかを検証することにより、ドライブが実際にボーダ・アウトを読み出すタイプのものである場合にも、再生特性に乱れが生じやすい外周部近傍位置にあるボーダ・アウトを円滑に取得できるかを検査する。 - 特許庁

The scan test circuitry comprises at least one scan chain having a plurality of scan cells, with the scan chain being configured to operate as a serial shift register in a scan shift mode of operation and to capture functional data from at least a portion of the additional circuitry in a functional mode of operation.例文帳に追加

スキャンテスト回路は、複数のスキャンセルを有する少なくとも１つのスキャンチェーンを備え、スキャンチェーンは、スキャンシフト動作モードではシリアル・シフトレジスタとして動作し、機能動作モードでは追加回路の少なくとも一部分からの機能データを捕捉するように構成される。 - 特許庁

To provide a packet destination address generating method and system that logically generates a destination address given to a pseudo packet transmitted for a load test with respect to each component of an Internet type data communication network and to provide a recording medium with recorded a packet destination address generating program.例文帳に追加

インターネット型データ通信網を構成する各構成要素に対する負荷試験用に送信される擬似パケットに付与される宛先アドレスを論理的に生成するパケット宛先アドレス生成方法および装置とパケット宛先アドレス生成プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

An interface test circuit 20 is bus-connected to the CPU 13, and includes a selection circuit 22 for selecting one of the interface circuits 11a-11d and selecting whether input or output of data is performed to each of the one set of external terminals related to the selected interface circuit.例文帳に追加

インタフェーステスト回路２０は、ＣＰＵ１３にバス接続され、インタフェース回路１１ａ〜１１ｄの一つを選択し、選択されたインタフェース回路に係る１組の外部端子のそれぞれに対してデータの入力あるいは出力を行うかを選択する選択回路２２を備える。 - 特許庁

A receiving condition detector 112 in the receiver 113 detects the display condition such as frame drop out, etc., at reproducing the received test data and forms and sends information about the receiver, including the display condition, the processing power of the CPU, etc., to the transmitter 104.例文帳に追加

受信装置１１３の受信状態検出部１１２は、受信テストデータをリアルタイムに再生した際にフレーム落ち等の表示状態を検出し、該表示状態及びＣＰＵの処理能力等を含む受信装置に関する情報を作成して前記送信装置１０４に送出する。 - 特許庁

An image analysis part 32 analyzes the image data of the test chart read by a scanner 17, and detects a position where the number of dotted defective images per unit area is equal to or under a previously set number as a position where the occurrence of the dotted defective images is equal to or under a predetermined condition.例文帳に追加

画像解析部３２は、スキャナ１７により読み取られたテストチャートの画像データを解析して、単位面積当たりの点状欠陥画像の個数が予め定められた個数以下となった位置を、点状欠陥画像の発生が所定条件以下となる位置として検出する。 - 特許庁

The photographing control part 17 of the MR photographing device 100A generates the image data of the image of a part including the tip part of the puncturing needle in the test body 1 on the basis of the information of the position of the puncturing needle holder 50 specified by the detector 3 and the information of the moving distance of the puncturing needle by the linear encoder.例文帳に追加

MR撮影装置１００Aの撮影制御部１７は、ディテクタ３により特定された穿刺針ホルダ５０の位置の情報と、リニア・エンコーダによる穿刺針の移動距離の情報とに基づいて、被検体１における穿刺針の先端部を含む部位の画像の画像データを生成する。 - 特許庁

To enable an operator of a medical technology apparatus to test and to input viscerally data of the treating site close to a patient by processing images in real time, and to reduce as much as possible or fully omit operational inputs using an indicating apparatus such as keyboards or a mouse.例文帳に追加

リアルタイムの画像処理により医療技術装置の操作者に検査および／または治療部位の直感的な患者近くでの入力を可能にし、キーボードまたは例えばマウスの如き指示装置による操作入力を最小限に低減しあるいは完全に省略する。 - 特許庁

At the time of inspection when a test image printed to the peripheral surface 8a of the conveyance belt 8 is captured by the image sensor 201, a height H1 of the ejection surface 3a is determined so that image data obtained when the peripheral surface 8a of the conveyance belt 8 is imaged by the image sensor 201 shows a focused image.例文帳に追加

搬送ベルト８の外周面８ａに印字されたテスト画像を画像センサ２０１で撮像する検査時において、吐出面３ａの高さＨ1は、画像センサ２０１が搬送ベルト８の外周面８ａを撮像したときに得られる画像データが合焦画像を示すように決められている。 - 特許庁

To provide a digital control software fault simulation test device for integrating a plant simulation device and a high pressure core spray controller by providing data, and for applying software safety analysis and estimated derived association new fault mode by a hardware input/output module and a deterministic network communication interface.例文帳に追加

ハード入出力モジュールと確定性ネットワーク通信インターフェースにより、データを提供して該プラント模擬装置と該高圧炉心注水制御装置を統合し、ソフト安全解析と推定派生関連新故障モードを応用できるディジタル制御ソフト故障模擬テスト装置を提供する。 - 特許庁

Serial test pattern data latched by a front stage flip-flop (for example, flip-flop 12a) are latched by a rear stage flip-flop (for example, flip-flop 13a), in synchronization with a first clock signal, by the flip-flops 12a, 13a, and 14a connected in series over a plurality of stages.例文帳に追加

複数段にわたって直列に接続されたフリップフロップ１２ａ、１３ａ、１４ａによって、第１のクロック信号に同期して、前段のフリップフロップ（例えば、フリップフロップ１２ａ）にラッチされたシリアルのテストパターンデータが後段のフリップフロップ（例えば、フリップフロップ１３ａ）にラッチされる。 - 特許庁

To make light a tester body instead of a conventional, large-scale tester, to accommodate the tester in a compact, strong package, to carry and install the tester easily, to perform unmanned test operation independently without receiving any power supply, and to automatically transmit data by radio for achieving remote monitoring.例文帳に追加

従来の大掛かりな装置でなく、装置本体が軽量かつ、コンパクトで頑丈なパッケージに収められており、持ち運びや、設置に容易であり、しかも、電力供給を受けずに無人独自で試験運転ができ、データも自動的に無線転送して遠隔監視を可能にする。 - 特許庁

To enable a user to exactly judge the time of expansion works by calculating a coefficient of file performance from evaluation test data in the past, simulating file performance in the future by using the coefficient, development predicted for the future, traffic conditions, office conditions and presenting simulation result to the user.例文帳に追加

過去の評価試験データからファイル性能の係数を算定し、その係数と今後の開発予測とトラヒック条件、事業所条件を使用して将来のファイル性能をシミュレーションしてその結果をユーザに提示し、ユーザに的確な増設工事時期の判定ができるようにする。 - 特許庁

We employed five indices in our analysis: the entry rate; the exit rate; the Tokyo Stock Price Index (TOPIX); the lending rate 21); and the index of wages. We statistically tested causal connections (Granger causality test) between indices by applying the vector auto regression (VAR) model to long-term chronological data for each index.例文帳に追加

分析対象として、「開業率」、「廃業率」、「東証株価指数」、「貸出金利」、「賃金指数」という5種類の指標を採用し、各々の長期時系列データを用いてVARモデルを適用することで、各指標間の因果関係を統計的に検証した（Grangerの因果性テスト）。 - 経済産業省

Thus, inter-task communication to synchronize devices is not needed any more, and because the time of the inter-task communication for one test cycle can drastically be reduced compared with the conventional testing method, data transfer quantity per unit time is increased and a high load can be given to the network.例文帳に追加

これにより、装置間の同期を取るためのタスク間通信の必要がなくなり、従来の試験方法と比較して、１テストサイクル中のタスク間通信の時間を大幅に減少させることができるので、単位時間あたりのデータ転送量が増加し、ネットワークに高い負荷を与えることができる。 - 特許庁

An acceleration information detector 11 of an acceleration detector 10 measures the acceleration of the longitudinal (or horizontal) direction generated by walking of a test subject with at least an uniaxial acceleration sensor, and transmits the acceleration data showing this acceleration to a wireless control part 12.例文帳に追加

加速度検出装置１０の加速度情報検出部１１は、少なくとも１軸の加速度センサにより、被験者が歩行することによって生ずる前後方向（または、左右方向）の加速度を計測し、この加速度を表わす加速度データを無線通信制御部１２に送信する。 - 特許庁

A pulse current amplitude value applied to the write element of a magnetic head to be tested is set to an un-saturation state current value with which a magnetic field having magnitude in which magnetic moment included in one bit region does not become a saturation state is generated, test data is written, and asymmetry A_asym is measured.例文帳に追加

被試験磁気ヘッドのライト素子に印加するパルス電流振幅値を１ビット領域に含まれる磁気モーメントが飽和状態とならない大きさの磁界を発生させる未飽和状態電流値に設定してテストデータを書き込み、非対称性Ｂ_asymを計測する。 - 特許庁

A packet generation part 23 of an identification function verifying part 20 generates test packet data TPKT and outputs it to a switching part 16, by referring to a combination table 22 for specifying the combination of identifiers to be used for each packet classification and an identifier setting register 21 for specifying the value of each identifier.例文帳に追加

識別機能検証部２０のパケット生成部２３では、パケット種別毎に使用する識別子の組み合わせを規定する組み合わせテーブル２２と各識別子の値を規定する識別子設定レジスタ２１を参照し、試験パケットデータＴＰＫＴを生成して切換部１６に出力する。 - 特許庁

Next, the normal printed matter to be reference is selected (step S21), a test normal printed matter is selected (step S22), an acquiring device S acquires these images (step S23), and a discrimination threshold T_ps is calculated on the basis of detection strength of electronic watermark detected from the acquired image data (step S24).例文帳に追加

次に、基準となる正規品の選択（ステップＳ２１）、及び、テスト正規品の選択（ステップＳ２２）を行い、取込機器Ｓによりこれらの画像を取り込み（ステップＳ２３）、取り込まれた画像データから検出された電子透かしの検出強度をもとに、判別しきい値Ｔ＿ｐｓを求める（ステップＳ２４）。 - 特許庁

In pull-down circuits 3.1-3.n of a SRAM chip 1, an external power source voltage Vcc is kept at the minimum standard voltage Vr at the time of data retention, while an internal voltage Vi of power source wiring L1-Ln is pulled down in response to a test signal TE1 made a 'H' level.例文帳に追加

ＳＲＡＭチップ１のプルダウン回路３．１〜３．ｎは、外部電源電圧Ｖｃｃがデータリテンション時の最小規格電圧Ｖｒにされるとともにテスト信号ＴＥ１が「Ｈ」レベルにされたことに応じて、電源配線Ｌ１〜Ｌｎの内部電圧Ｖｉを最小規格電圧Ｖｒにプルダウンする。 - 特許庁

To shorten time which is taken for file deletion without increasing the burden of a worker or changing the structure of a controller 3 connected with an IC tester 1 in the case of deleting two or more files in which test procedures and data of the IC tester are stored.例文帳に追加

ＩＣテスタにおける試験手順やデータが記憶された２つ以上のファイルを削除する際に、作業者の負担を増やすことなく、また、ＩＣテスタ１に接続されている制御装置３の構成を変更することなく、ファイル削除にかかる時間を短縮することである。 - 特許庁

The psychological test device analyzes input image data, calculates a predetermined characteristic variable, stores a plurality of comment configuration sentences configuring a comment sentence for the subject, inputs whether an image drawn in the previous test is pertinent to each of the plurality of comment configuration sentences, and prepares a discriminant with the calculated characteristic variable as a description variable and an input pertinent degree as a target variable for each of the plurality of comment configuration sentences.例文帳に追加

心理検査装置は、入力される画像データを解析し、所定の特性変量を算出し、被検者に対するコメント文を構成するコメント構成文を複数格納し、今回以前の検査で描かれた画像が複数のコメント構成文の各々に該当するか否かを入力し、複数のコメント構成文の各々について、算出される特性変量を説明変量とし、入力される該当度を目的変量として、判別式を作成する。 - 特許庁

This is the control method of the optical laser disk drive being characterized in that the laser diode is controlled such that a test pattern is recorded in at least one of a header and a tail of the recording unit block including data area having predetermined size, input/output characteristics of the laser diode are detected using the recorded test pattern, and target output is generated on the basis of the detected input/output characteristics.例文帳に追加

一定の大きさを有するデータ領域を含む記録単位ブロックの先端と後端のうち少なくとも一つにテストパターンを記録し、前記記録されたテストパターンを用いてレーザーダイオードの入出力特性を検出し、前記検出された入出力特性に基づいて前記レーザーダイオードが目的とする出力を発生させるように前記レーザーダイオードを制御することを特徴とする光ディスクドライブの制御方法を構成する。 - 特許庁

In the information processor 101 provided with an FPGA 102, a CPU 103, etc., first configuration data for setting a logical circuit required for displaying a normal function of the information processor 101 to the FPGA 102 and second configuration data for setting a test function for testing another integrated circuit of the CPU 103 or the like to the FPGA 102 are prepared.例文帳に追加

ＦＰＧＡ１０２とＣＰＵ１０３等とを備えた情報処理装置１０１において、ＦＰＧＡ１０２に対して情報処理装置１０１の通常の機能を発揮させる際に必要な論理回路を設定する第１のコンフィグレーションデータ、およびＦＰＧＡ１０２に対してＣＰＵ１０３等の他の集積回路のテストを行うためのテスト機能を設定する第２のコンフィグレーションデータを用意する。 - 特許庁

This semiconductor memory device is provided with a first non-volatile memory 14 having a first external interface and capable of recording one bit data in one memory cell; a second non-volatile memory 12 having a test terminal interface and capable of recording a plurality of data in one memory cell; and a control means 13 having a second external interface and for controlling a physical status inside the second non-volatile memory.例文帳に追加

半導体記憶装置は、第１外部インターフェイスを有し１つのメモリセルに１ビットのデータを記録することが可能な第１不揮発性メモリ１４と、テスト端子インターフェイスを有し１つのメモリセルに複数のデータを記録することが可能な第２不揮発性メモリ１２と、第２外部インターフェイスを有し前記第２不揮発性メモリ内部の物理状態を制御するように構成された制御手段１３とを具備する。 - 特許庁

The timing when the plurality of operation clocks inside the semiconductor integrated circuit have a prescribed phase relation is detected by a phase relation detection circuit, and a trigger signal is outputted, and an input timing of a test pattern, a start timing of the verification program and a comparison timing with the expectation data are used as a relative timing based on a trigger timing.例文帳に追加

半導体集積回路内部の複数の動作クロック１、２が所定の位相関係になるタイミングを位相関係検出回路により検出し、トリガー信号を出力して、試験パターンの入力タイミング、検証プログラムの開始タイミング、期待値データとの比較タイミングを、前記トリガータイミングを基準とした相対タイミングとする。 - 特許庁