「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(71ページ目) - Weblio英語例文検索

A flash memory having hierarchical bit line configuration is provided with column reset/bit line test transistor regions 4a commonly to a plurality of cell blocks 3a sharing upper layer bit lines MBL0, MBL1, etc., so that data lines DL connected with sense amplifiers can be selectively disconnected from the upper layer bit lines.例文帳に追加

階層ビット線構成を有するフラッシュメモリにおいて、上層ビット線ＭＢＬ０，ＭＢＬ１，…を共有している複数のセルブロック３ａに対して共通にカラムリセット兼ビット線テストトランジスタ領域４ａを設け、センスアンプが接続されるデータ線ＤＬを上層ビット線から選択的に切り離し得るようにした。 - 特許庁

The server 21 reads the material test data and the material identification number from the wireless tag chip 1 stuck to each the already cut pipe to be delivered, and collates them with a material standard value previously registered in a database 213, retrieved with the material identification number as a key to generate a material management recording table.例文帳に追加

そして、サーバ２１が、納品される切断済みの個々の配管に貼付された無線タグチップ１から材料試験データおよび材料識別番号を読み取り、この材料識別番号をキーに検索される予めデータベース２１３に登録された材料規格値と照合して、材料管理記録表を生成する。 - 特許庁

To provide a system for analyzing walking and proposing an exercise menu with a simple structure which is easy and inexpensive to measure and control the data, detecting the walking ability including indexes of symmetric property by measuring the walking performance which a test subject can perform on a daily basis, and proposing a suitable exercise menu.例文帳に追加

被験者が日常的に行うことのできる歩行動作の測定を行って対称性の指標を含む歩行能力を検出し、適切な運動メニューを提案することができる、簡易な構成で測定操作やデータ管理が容易かつ低廉な歩行解析及び運動メニュー提案システムを提供する。 - 特許庁

When acquiring design data of a design object circuit having a function corresponding to a customer need, this circuit testing device 100 generates a circuit testing mechanism 110 enabling failure detection corresponding to whether an object circuit 102 designated as a test object is an OR circuit or an AND circuit, in the design object circuit.例文帳に追加

回路試験装置１００は、顧客ニーズに応じた機能を備えた設計対象回路の設計データを取得すると、この設計対象回路のうち、試験対象に指定された対象回路１０２がＯＲ回路かＡＮＤ回路かに応じて、故障検出を可能にするための回路試験機構１１０を生成する。 - 特許庁

The arithmetic unit 16 selects the optical conditions of a focusing lens 8, variable multi-aperture 10, beam deflecting electrode 11, and objective lens 12 based on data inputted in the input unit 17, and calculates automatically processing scanning conditions of the focusing ion beam 4 on the test piece 2 corresponding to the optical conditions selected.例文帳に追加

演算装置１６は、入力装置１７に入力されたデータに基づいて、集束レンズ８、可変マルチアパーチャ１０、ビーム偏向電極１１及び対物レンズ１２の光学条件を選択し、かつ選択された光学条件に応じた集束イオンビーム４の試料２上での加工走査条件を自動的に算出する。 - 特許庁

The degree of freedom of a characteristic matrix to be identified is made to be larger than the measuring degree of freedom to be actually measured at measuring points in an oscillating test, and thus, the number of values of mode characteristic computed based on the measuring data is made to be smaller than the number of values of mode characteristic computed based on the characteristic matrix.例文帳に追加

加振試験で測定点において実際に測定される測定自由度よりも同定する特性行列の自由度を大きくし、これにより測定データに基づいて算出されるモード特性の値の数を特性行列に基づいて算出されるモード特性の値の数よりも少なくする。 - 特許庁

In normal operation, the reference voltage Vrw is set to reference voltage Vri1 from an internal reference voltage generating circuit 206 by a data write-in current adjusting circuit 200, on the other hand, in test operation, the voltage is set to reference voltage Vre1 applied to a reference voltage external input terminal 202 from the outside.例文帳に追加

基準電圧Ｖｒｗは、データ書込電流調整回路２００によって、通常動作時には、内部基準電圧発生回路２０６からの基準電圧Ｖｒｉ１に設定される一方で、テスト動作時には、基準電圧外部入力端子２０２に外部より印加された基準電圧Ｖｒｅ１に従って設定される。 - 特許庁

The repair circuit comprises: a repair address detection part for determining the presence of a defect on the basis of a plurality of test data signals output from a memory block and storing an address corresponding to a memory block determined to be defective; and an anti-fuse part for electrically programming repair addresses stored in the repair address detection part.例文帳に追加

メモリブロックから出力される複数のテストデータ信号によって不良の可否を判断し、不良と判断されたメモリブロックに該当するアドレスを格納するリペアアドレス検出部と、リペアアドレス検出部に格納されたリペアアドレスを電気的にプログラミングするアンチヒューズ部とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

A test at a different gas concentration is executed for each corrosive gas with a determined alloy composition, a calibration curve is created, and a plurality of travel distance data for each concentration indicating results where a relationship between a travel distance of three stimulus values traveling on the calibration curve is obtained for each concentration are stored (S7).例文帳に追加

決定した合金組成で、各腐食性ガス毎に、異なるガス濃度による試験を実施して、較正曲線を作成し、較正曲線上を移動する３刺激値の移動距離と曝露時間との関係を濃度別に求めた結果を示す濃度別の複数の移動距離データを保管する（Ｓ７）。 - 特許庁

The primary differential value of a gradation value at the corresponding position of the test pattern and a neighbor reading pixel position are calculated from reading image data (S84) and the corresponding position of the unit less than one pixel of the reading pixel pitch can be obtained by referring to a multi dimensional table by making the primary differential value as an input value (S86).例文帳に追加

また読取画像データから、テストパターンの対応位置及び隣接読取画素位置における階調値の一次微分値を算出し（Ｓ８４）、この一次微分値を入力値として多次元テーブルを参照することにより読取画素ピッチの１画素未満単位の対応位置が求められる（Ｓ８６）。 - 特許庁

The flow analysis and the kneading extrusion test relative to plural resin materials with a segment constitution of the biaxial kneading extruder having plural sizes are executed beforehand to generate a database, and hereby data corresponding to the condition desired by the user are provided, and the segment constitution optimum for the condition is also proposed.例文帳に追加

あらかじめ複数のサイズの二軸混練押出機のセグメント構成における複数の樹脂材料に対する流動解析および混練押出テストを実施することによりデータベースを作成し、ユーザーの希望する条件に対応するデータを提供するとともに、その条件に最適なセグメント構成を提案する。 - 特許庁

The candidate providing part 132 extracts the results of failure confirmation tests regarding the procured software entities that were actually ordered in the past from the recorded data file 124, correlates the extracted test results to the order receiving candidate and provides the correlation to the order side terminal 30.例文帳に追加

候補者提供部１３２は、受注候補者について、実績データファイル１２４から過去において実際に受注された調達ソフトウェアの実体についての不良確認試験の試験結果を抽出し、抽出した試験結果と受注候補者とを対応付けて、発注者用端末３０に提供する。 - 特許庁

A test signal is imparted to each of the analog circuits 12-14 when testing, the alternating current signal output from the terminal 19 of the integrated circuit 11 is converted into a digital signal in an ADC 24, and the digital data is fast-Fourier-transformation-processed to detect a frequency component included in the alternating current signal, in a DSP 26.例文帳に追加

テスト時には、アナログ回路１２〜１４へ試験信号を加え、集積回路１１の端子１９から出力される交流信号をＡＤＣ２４においてディジタルデータに変換し、ＤＳＰ２６において、上記ディジタルデータに対し高速フーリエ変換演算を行って交流信号に含まれる周波数成分を検出する。 - 特許庁

An analog input signal S26Ai from a simulation analog signal generator and a reference analog signal S26Si are compared, the reference analog signal S26Si and the analog input signal S26Ai are arithmetically processed or a function is provided on the basis of an arithmetic process result, and an input output characteristic test is carried out on the basis of data acquired by the process.例文帳に追加

模擬アナログ信号発生装置からのアナログ入力信号Ｓ２６Ａｉと基準アナログ信号Ｓ２６Ｓｉとを比較し、基準アナログ信号Ｓ２６Ｓｉとアナログ入力信号Ｓ２６Ａｉとを演算処理し、または演算処理結果を関数化し、この処理によって得られたデータを基に入出力特性試験を行う。 - 特許庁

The logic comparator where the expected values are consistent with the output data in all the output cycles of test patterns is detected further by a comparison result determination circuit, and the tested semiconductor circuit is a nondefective at the timing of the expected value input into the logic comparator, when the corresponding logic comparator exists.例文帳に追加

さらに比較結果判定回路にて試験パターンの全出力サイクルにおいて出力データと期待値が一致している論理比較器を検出し、該当する論理比較器があればその論理比較器に入力された期待値のタイミングで被試験半導体回路が良品であることを判定する。 - 特許庁

To automatically set an optimum operating frequency channel by evaluating a reception state actually made among access points by using a radio wave available for ordinary data communication as a test radio wave in the case of setting the operating frequency channel for each radio access point placed at a plurality of places.例文帳に追加

複数箇所に配置されている各無線アクセスポイント毎に、その使用周波数チャンネルを設定する場合に、テスト用電波として通常のデータ通信で使用可能な電波を用いて各アクセスポイント間で実際に行った受信状況を評価することによって、最適な使用周波数チャンネルを自動設定できるようにする。 - 特許庁

When reading out data, the test device 600 outputs the chip enable-signal/CE to the semiconductor memories 1-8, and switches selectively the logic level of the selecting signal/GE0 outputted to the semiconductor memories 1-4 and the logic level of the selecting signal/GE0 outputted to the semiconductor memories 5-8 to a L level.例文帳に追加

データの読出時、テスト装置６００は、Ｌレベルのチップイネーブル信号／ＣＥを半導体記憶装置１〜８へ出力し、半導体記憶装置１〜４へ出力する選択信号／ＧＥ０の論理レベルと、半導体記憶装置５〜８へ出力する選択信号／ＧＥ０の論理レベルとを選択的にＬレベルに切換える。 - 特許庁

The logic simulation device uses an instruction level simulator 2 for pre- and post-processing instruction groups of a test program 26 wherein machine language instructions are combined and a logic simulator 5 for an instruction group to be tested, and carries out logic simulation while transferring exchange data between the instruction level simulator 2 and logic simulator 5.例文帳に追加

論理シミュレーション装置は、機械語命令を組み合わせた試験プログラム２６の前後処理命令群には命令レベルシミュレータ２を用い、試験対象命令群には論理シミュレータ５を用いて、命令レベルシミュレータ２と論理シミュレータ５の間で交換データを転送しながら論理シミュレーションを実行している。 - 特許庁

When a user uses a user interface to instruct automatic adjustment of a plurality of the image readers 10 to a system control means 16, the system control means 16 uses an image read control means 12 to read a prescribed test original from each of the image readers 10 and to obtain image data made to correspond to each image reader 10.例文帳に追加

ユーザがユーザインタフェースによりシステム制御手段１６に複数の画像読取装置１０の自動調整を指示すると、システム制御手段１６は画像読取制御手段１２を用いて所定の試験原稿をそれぞれの画像読取装置１０により読み込み、各画像読取装置１０に対応づけた画像データを得る。 - 特許庁

Then, the voltage is applied to the voltage application position arranged identically to Process S2 to make flow current into the test piece, and potential difference actual measurement data is obtained by measuring the difference in potentials for the plurality of combinations with the cracks of the potential difference measurement position placed therebetween for the potential difference measurement position arranged identically to Process S2 (Process S4).例文帳に追加

その後、工程Ｓ２と同一に配置された電圧印加位置に電圧を印加して試験体に電流を流し、工程Ｓ２と同一に配置された電位差測定位置に対して、その電位差測定位置のき裂を挟んだ複数の組み合わせについての電位の差を測定して電位差実測データを求める（工程Ｓ４）。 - 特許庁

In this semiconductor storage device, only the sense amplifiers SA1-SAn are activated in the process 2 for the disturbance cell without activating a column system (the switch part YSW4 and input/output control circuit IOC), so that a test time can be shortened as much as no read of the data from the disturbance cell.例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置によれば、処理２において、ディスターブセルに対して、カラム系（スイッチ部ＹＳＷ４、入出力制御回路ＩＯＣ）を活性化させないで、センスアンプＳＡ１〜ＳＡｎのみ活性化させることにより、ディスターブセルからデータを読み出さない分だけ、テスト時間を短縮できる。 - 特許庁

In normal operation of an elevator governor before starting an operation test, a worker gradually raises a rotation speed of a governor sheave 2 using an electric drill 5 and stores the operation sound emitted by the over-speed switch 3 and the rope catcher 4 in starting of operation respectively in the speedometer 6 as reference operation sound data.例文帳に追加

動作試験開始前のエレベータ調速機の正常動作時、作業者は、電気ドリル５を用いて調速機シーブ２の回転速度を徐々に上昇させて過速スイッチ３及びロープキャッチ４がそれぞれ作動開始時に発する動作音を基準動作音データとして速度計６に記憶させる。 - 特許庁

When shmoo plot measurement, function data log measurement and fail bit map measurement are performed, part of a command included in a device test program, which is to be transferred to the thermostatic bath part 20 or tester part 20, is skipped (not transferred) according to the information stored in a shmoo condition table storage part 13 (or a structure corresponding thereto).例文帳に追加

但し、シュムプロット測定、ファンクションデータログ測定、及びフェイルビットマップ測定を行う場合には、シュム条件テーブル記憶部１３（又はこれに相応する構成）に記憶された情報に応じて、デバイステストプログラムに含まれ、恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送する命令の一部をスキップする（転送しない）。 - 特許庁

In the test method of the semiconductor element 5 provided with an input/output circuit, when a writing signal conflicts with a read signal, expectation values are corrected according to a level difference between the expectation values of the writing signal and the read signal, and the corrected expectation values are compared with conflicting data for determination.例文帳に追加

入出力回路を備えた半導体素子の試験において、書き込み信号と読み出し信号とが衝突したときには、書き込み信号と読み出し信号の期待値とのレベル差により期待値を補正し、補正した期待値と衝突データとを比較判定する半導体素子の試験方法、及び半導体試験装置が得られる。 - 特許庁

The control part 10 makes an injury/disease name display part 2001 of a medical examination information display screen 2000 display the injury/disease name information of the electronic medical record data 11c, and makes a test information display part 2003 display eyesight value information or intraocular pressure information, and makes a thumb nail display part 2007 display the thumb nail of the schema diagram.例文帳に追加

制御部１０は、電子カルテデータ１１ｃの傷病名情報を診療情報表示画面２０００の傷病名表示部２００１に表示させ、視力値情報や眼圧情報を検査情報表示部２００３に表示させ、シェーマ図のサムネイルをサムネイル表示部２００７に表示させる。 - 特許庁

An inverted drawing 2a in a form with the position (feature point coordinate of each line) of road boundary line, facility line, leader line, etc., in a real drawing 1a obtained from the existing large scale map/facility database inverted in the north-south direction of the area is generated, and the map/facility application is tested based on this inverted drawing data for test.例文帳に追加

既存の大規模な地図・設備データベースから得られる実図面１ａの道路境線，設備線や引出線などの位置（各線の特徴点座標）を当該エリアの南北方向に反転させた形の反転図面２ａを作成し、このテスト用の反転図面データに基づいて地図・設備用アプリケーションのテストを行なう。 - 特許庁

To provide an image processor which can obtain digital image data of good image quality by correcting resolution of image deteriorated by imaging main faces of an imaging object in a state where a perpendicular line of a main face of the imaging object and an optical axis extending to the imaging direction in an un-parallel status, and to provide a test device.例文帳に追加

撮像対象物の主面の垂線と、撮像方向に伸びる光軸とが非平行な状態で撮像対象物の主面を撮像することによって低下した画像の解像度を補正し、画質の良いデジタル画像データを得ることができる画像処理装置及び検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, it is possible to operate the test display of marks corresponding to the states of the virtual devices 21... by a pseudo data generating part 77.例文帳に追加

次いで、制御用ホストコンピュータ７上に作画環境とともに画面データのランタイム環境およびＰＬＣ３…の模擬動作環境を立ち上げ、ランタイム部７６で画面データを制御用ホストコンピュータ７用の機械語に翻訳・実行することで、擬似データ生成部７７による仮想的なデバイス２１…の状態に応じたマークをテスト表示する。 - 特許庁

The at least one STA card module (40) includes a generic region adapted for interfacing with an additional STA card module (40) over the dual data bus (62), and a resource specific region (64) adapted for self test of at least one ATE station resource (16, 18).例文帳に追加

少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）は、デュアルデータバス（６２）を通じて追加のＳＴＡカードモジュール（４０）とインターフェースするように適合されているジェネリックな領域、および少なくとも１つのＡＴＥステーションリソース（１６、１８）のセルフ試験するように適合されているリソース特有の領域（６４）を含む。 - 特許庁

Article 169 (1) The Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism, when conducting an examination pursuant to paragraph (1) of the Article 29 of the Act applied mutatis mutandis in compliance with paragraph (4) of the Article 78 of the Act, shall put on public notice by way of Official Gazette the data and place of conducting the examination, submission term of the competence test application pursuant to paragraph (1) of the preceding Article, and other matters required. 例文帳に追加

第百六十九条　国土交通大臣は、法第七十八条第四項において準用する法第二十九条第一項の規定により試験を行う場合は、試験の期日及び場所、前条第一項の技能検定申請書の提出時期その他必要な事項を官報で公示する。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

When call display tables are not generated at equipment execution, the nurse call controller is provided with a temporary call display table which generates call display data for test, which includes common corridor lamp numbers and bed numbers corresponding to preliminarily set ward numbers, for each nurse call slave machine to confirm the operation at execution.例文帳に追加

ナースコール制御機は、機器施工時に呼出表示テーブルが作成されていないとき、各ナースコール子機ごとに仮に設定された病室番号に対応する集合廊下灯番号、ベッド番号を含む試験用呼出表示データを作成して、施工時の動作確認を行うための仮呼出表示テーブルを備える。 - 特許庁

The IC tester gives a test pattern signal to a device to be measured, judges good or bad of the device by comparing the output data obtained from the device to be measured and the pattern signal of expected value, and makes an expected value pattern generation circuit 36 constituted with a hardware generate the expected value pattern signal.例文帳に追加

被測定デバイスに対してテストパターン信号を与え、該被測定デバイスから得られる出力データと期待値パターン信号との比較によって、当該被測定デバイスの良否を判定するＩＣテスタであって、前記期待値パターン信号をハードウエアで構成された期待値パターン発生回路３６から発生するＩＣテスタ。 - 特許庁

This automatic penetrometer, which comprises a liftable or lowerable platform 4 which is lifted/lowered along a support 3, a chuck 5 which is arranged on the platform 4, a penetration rod 7 which is held by the chuck 5, and a rotary drive means 6 for rotatively driving the chuck 5, acquires test data through a process for making a penetration rod 7 penetrate into ground.例文帳に追加

本発明は、支柱３に沿って昇降する昇降台４と、この昇降台４に配置されたチャック５と、このチャック５に保持された貫入ロッド７と、前記チャック５を回転駆動する回転駆動手段６とを有し、貫入ロッド７を地中に貫入する過程で試験データを得るものである。 - 特許庁

In this communication network system constituted of a server 1 which stores a web page carried in a hyper test format and a connection terminal 3 which reads a web page through an electric communication line 2 in the server 1, when the web page is read by the connection terminal 3, the look-ahead of the other Web page is operated in the priority order of category data.例文帳に追加

ハイパーテキスト形式で記載されたウェブページを記憶したサーバ１と、サーバ１に電気通信回線２を介してウェブページを読み込む接続端末３とからなる通信ネットワークシステムにおいて、接続端末３によりウェブページを読み込むときに、カテゴリデータに優先順位をつけて他のＷｅｂページを先読みする。 - 特許庁

An image processing server 22a transmits image data for test to a plurality of image processing servers 21a-21c of pre-stage, acquires the results of image processing, and selects any one image processing server as a process execution server from among the image processing servers of pre-stage for which a determination is made that the results exceed a reference value.例文帳に追加

画像処理サーバー２２ａは、前段の複数の画像処理サーバー２１ａ〜２１ｃにテスト用画像データを送信し、画像処理された結果を取得し、その結果が基準値以上と判断された前段の画像処理サーバーの中から、いずれか１つの画像処理サーバーを処理実行サーバーとして選択する。 - 特許庁

A control unit 200 defines an impulse signal outputted from an impulse generating circuit 101 as a signal to be processed, in place of an input digital audio signal from the outside, in a test mode and the data path unit 100 applies only signal processing selected from among the plurality of kinds of signal processing to the signal to be processed in each sampling period.例文帳に追加

制御部２００は、テストモードでは、外部からの入力デジタル音声信号に代えて、インパルス発生回路１０１が出力するインパルス信号を処理対象信号とし、サンプリング周期毎に、データパス部１００により、複数種類の信号処理のうち選択された信号処理のみを処理対象信号に施す。 - 特許庁

When the scan speed of a laser beam is not fixed because of aberration property or the like of an fθ lens 120, the degree of unevenness of the scan speed of the laser beam is preliminarily measured by test exposure, and the frequency of a clock signal for reading out image data in one scanning of the laser beam is corrected in accordance with this degree.例文帳に追加

ｆθレンズ１２０の収差特性などによりレーザビームの走査速度が一定とならない場合に、テスト露光によりレーザビームの走査速度の不均一の度合を測定しておき、その度合に応じてレーザビームの１走査中における画像データを読み出すためのクロック信号の周波数を補正する。 - 特許庁

To provide an abnormality detection system in which an abnormality in the physical position of a product on a wafer or an unusual phenomenon can be detected even when an inspector has not looked map data actively or when the abnormality of a product in a unit of test, e.g. in a unit of lot, does not reach a specified abnormal reference level.例文帳に追加

検査者がマップデータを能動的に見なかった場合、またはロット単位等の試験単位における製品の異常が所定の異常基準値に達していない場合であっても、ウェーハ上における製品の物理位置的な異常または異常らしき現象を検出することができる異常検出システム等を提供する。 - 特許庁

An operation determination section 12 of the control device 10 determines an operation situation of the test device 20, a hammer driving section 13 controls operation of an actuator hammer 100, a setting input section 14 inputs an impact strength or automatic/manual setting, and a display section 16 displays inputted data or a determination result of operation.例文帳に追加

制御装置１０の動作判定部１２は試験装置２０の動作状況を判定し、ハンマー駆動部１３はアクチュエータハンマー１００の動作を制御し、設定入力部１４は打撃強度や自動・手動等の設定を入力し、表示部１６は入力されたデータを表示したり動作の判定結果等を表示する。 - 特許庁

The process of collecting the data from the pixels of the first group and the second group includes the execution of a mathematical operation, such as defining a matrix for multiplying pixels of the first group, comparing and subtracting pixel values at both sides of a coordinate axis which divides the test pixels to two parts to produce a difference, and comparing the difference and a threshold.例文帳に追加

第１グループおよび第２グループのピクセルからデータを収集することは、数学的演算を実行することを含み、例えば第１グループのピクセルの乗算をするためのマトリックスを定義し、テストピクセルを二等分する座標軸の両側のピクセル値を比較、減算し、この差とスレッショルドとを比較する。 - 特許庁

To provide a current-carrying control method and heat reserving time, and a heat reserving floor heater for controlling current-carrying by using this method, requiring no acquisition of temperature data by a current-carrying test before starting use after construction, and reducing electric power consumption in a heat reserving floor heating system using a latent heat reserving material.例文帳に追加

潜熱蓄熱材を用いた蓄熱式床暖房システムにおいて、施工後使用開始前の通電試験による温度データ取得を必要とせず、消費電力が少ない蓄熱時の通電制御方法およびその方法を用いて通電制御を行う蓄熱式床暖房装置を提供する。 - 特許庁

During the three months of the internship, students tackle practical tasks, such as learning production technology, collecting test data, developing software programs and integrating work. In some cases, students contributed to practical work, for example by conducting a functional evaluation of carbide alloy and even publishing the results at an academic convention and by developing an image recognition software program.例文帳に追加

3ヶ月という長期の現場では、生産技術・実験データ収集・プログラム開発・積算業務などの実践的な課題に取り組んでおり、中には、超硬合金の機能性評価を行い学会発表まで発展したもの、画像認識プログラムを作成したものなど、実務の一端を担う事例も出てきている。 - 経済産業省

The semiconductor device with the plurality of semiconductor storage devices mounted thereon for using test input data for inspection having a bit length of the divided data bit width, and the inspecting method thereof are constituted so that memory selection signals can be enabled for the all of the semiconductor storage devices or the arbitrary plurality of semiconductor storage devices, to write the plurality of semiconductor storage device simultaneously by one write operation.例文帳に追加

複数の半導体記憶装置を搭載し、データビット幅を分割したビット長のテスト入力データを用いて検査を行う半導体装置およびその検査方法であって、メモリ選択信号を全ての半導体記憶装置あるいは任意の複数の半導体記憶装置に対してイネーブルにすることが可能な構成にし、１度の書き込み動作で、同時に複数の半導体記憶装置に書き込みを可能とするものである。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit 1 comprising both the functional hardware having the prescribed functions and the CPU for implementing the prescribed functions by executing software programs is provided with both a first storage part 6 for storing test data generated by the CPU for verifying the functions of the semiconductor integrated circuit 1 and a second storage part 7 for storing verification result data on the results of verification on the functions of the semiconductor integrated circuit 1.例文帳に追加

所定の機能を有する機能ハードウェアと、ソフトウェアのプログラムを実行することにより所定の機能を実現するＣＰＵとからなる半導体集積回路１において、ＣＰＵが生成した半導体集積回路１の機能検証を行うためのテストデータを格納する第１の記憶部６と、半導体集積回路１の機能検証の結果に関する検証結果データを格納する第２の記憶部７とを備えるように構成される。 - 特許庁

18. In relation to inventory valuation procedures, the audit team tested the data that the audit client prepared for the items whose net realizable value are lower than their book value and ascertained whether those valuation losses were appropriately booked or not. They failed to check the completeness of the data or to perform a further substantive test on a sample basis. 例文帳に追加

・ 棚卸資産の評価の妥当性について、被監査会社が作成した、帳簿単価が正味売却価額（単価）を下回っているものを抽出したデータに基づいて検討しているが、当該データから算出された金額が、評価損として計上されていることを確認するだけで、サンプルベースでテストを実施するなど当該情報の正確性の検討や、すべての該当するアイテムが含まれているかなどの網羅性の検討を実施していない。 - 金融庁