「Test Data」に関連した英語例文の一覧と使い方(67ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an optical transmission device which controls the phase difference of an optical signal passed through a data modulation section to a predetermined phase difference without causing a deterioration in a phase-modulated optical signal, and to provide an optical test device having the device.例文帳に追加

位相変調光信号の劣化を生ずることなく、データ変調部を介する光信号の位相差を所定の位相差に制御することができる光送信装置、及び当該装置を備える光試験装置を提供する。 - 特許庁

Then, all input events and state transition actions on the picture are simulated by using data indicating the input events and the state transition actions as arguments, and the arguments are embedded, and the parts are arrayed according to a test scenario.例文帳に追加

前記部品は入力イベントと状態遷移アクションを表すデータを引数とし、、画面への全入力イベントと状態遷移アクションをシミュレートするもので、テストシナリオに従い、引数を埋めかつ部品を配列して使用する。 - 特許庁

The dimension is determined, in such a way that concerning a calibrate pattern which is formed on the wafer and already checked in dimension, a data base is created by finding a polarized state parameter, and the database is searched for on the basis of a polarizing parameter of a test portion.例文帳に追加

ウェハ上に形成された、寸法が確認されている較正パターンについて、偏光状態パラメータを求めてデータベースを作成し、測定試料の偏光パラメータにもとづいてデータベースを検索し、寸法を求める。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for efficiently testing a semiconductor integrated circuit by eliminating a loss time occurring whenever signals of address and data are output to an object under test having an automatic program function.例文帳に追加

自動プログラム機能を有する被試験対象に対してアドレス及びデータを出力する度に生ずる無駄時間を無くすことで効率的に試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The test and measurement device receives the processed signals from the microprocessor, processes the received signal and data and/or information encoded therein, and performs predetermined response processing thereto.例文帳に追加

検査計測装置は処理された信号をマイクロプロセッサから受信し、受信した信号およびその信号に符号化されているデータおよび／もしくは情報を処理し、その処理結果に応じて予め定められた応答処理を実行する。 - 特許庁

To provide a spectrum observation technique and a spectrum observation system, capable of acquiring the data required without missing, in observation of test objects containing a plurality of kinds of materials, containing wavelengths that differ from each other.例文帳に追加

本発明は、励起波長の異なる複数種類の物質を含む被観察物の観察において、必要なデータを欠落無く取得することの可能なスペクトル観察方法及びスペクトル観察システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To prevent the occurrence of redundant transaction for giving test data from a WUSB host to a WUSB device in advance when communication quality investigation in the direction from the WUSB device toward the WUSB host.例文帳に追加

ＷＵＳＢデバイスからＷＵＳＢホストに向かう方向の通信品質調査を行う場合に、ＷＵＳＢホストからＷＵＳＢデバイスに対して事前に試験データを与えるための冗長なトランザクションの発生を抑制する。 - 特許庁

For data that need to be verified, therefore, the exposure time adopted shall be considered appropriate on condition that OECD Test Guidelines 210, US EPA 850.1500 (Fish Life Cycle) or equivalent are followed in the testing.例文帳に追加

したがって、信頼性の確認が必要とされたデータについては、OECDテストガイドライン210、魚類ライフサイクル試験またはこれらに相当する試験法を用いたことが明記されていれば、暴露期間は適切に設定されていると判断するものとする。 - 経済産業省

To provide a device manufacturing processing system, an exposure device and exposure method, measuring test equipment, a measuring inspection method, and a method for manufacturing the device, which can perform the management of data easily while reducing the load of network.例文帳に追加

ネットワークの負荷を低減するとともに、データの管理を容易に行うことができるデバイス製造処理システム、露光装置及び露光方法、測定検査装置及び測定検査方法、並びにデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

When an operator designates test print by operating an operating section 5, a CPU 1 reads in the set values of various setting items stored in an EEPROM 13 and generates bit map image data corresponding to the set values of various setting items.例文帳に追加

オペレータが操作部５を操作してテスト印字を指示すると、ＣＰＵ１は、ＥＥＰＲＯＭ１３に記憶されている各種設定項目の設定値を読み込み、各種設定項目の設定値に対応するビットマップイメージデータを生成する。 - 特許庁

The test pattern data latched by the flip-flops 12a, 13a, and 14a in respective stages are simultaneously outputted to the functional macrocircuit 11 in synchronization with a second clock signal inputted into flip-flops 12b, 13b, and 14b.例文帳に追加

それぞれの段におけるフリップフロップ１２ａ、１３ａ、１４ａにラッチされたテストパターンデータは、フリップフロップ１２ｂ、１３ｂ、１４ｂに入力される第２のクロック信号に同期して同時に機能マクロ回路１１に出力される。 - 特許庁

To provide a sediment material incorporation rate determining software program for designing a soil ground surface layer, allowing quick low-cost presentation of a highly reliable design specification to a customer by promptly reflecting test data having bases of design.例文帳に追加

設計根拠がある試験データを即座に反映させ、顧客対して迅速にかつ低コストで信頼性の高い設計書を提示できる土系グラウンド表層舗装設計のための土砂材料の配合率決定ソフトウェアプログラムを得る。 - 特許庁

The chart image data is formed on a recording medium while changing, for each color, a combination of writing laser light sources for which exposure is started first among a plurality of laser light sources in a laser array L, whereby a plurality of test charts are obtained.例文帳に追加

そして、各色に対する、レーザアレイLにおける複数のレーザ光源のうち最初に露光を開始する書き出しレーザ光源の組み合わせを変えて、チャート画像データを記録媒体上に形成し、複数のテストチャートを得る。 - 特許庁

To solve the problem that test recording is conventionally started with higher power than optimum power for each sync-frame, so that an LPP address cannot be read due to decrease of an AR value in the worst case, thereby invalidating all recorded data.例文帳に追加

テスト記録を各シンクフレーム毎に最適パワーよりも高いパワーで記録開始する従来方法では、ＡＲ値の減少により、最悪の場合、ＬＰＰアドレスが読めないために、記録したすべてのデータが無効とされる事態が発生する。 - 特許庁

A creep rupture test under fixed strain is performed by a test piece of a thermoplastic resin including notches; a life curve relating to a correlation between the amount of strain and creep rupture time is derived from data on the acquired amount of strain and the creep rupture time; and the amount of strain of the thermoplastic resin molding is actually measured, thus predicting the creep rupture life of the thermoplastic resin molding from the life curve.例文帳に追加

ノッチを有する熱可塑性樹脂の試験片を用いて一定歪下でのクリープ破壊試験を行い、取得された歪量とクリープ破壊時間のデータから、歪量とクリープ破壊時間の相関に関する寿命曲線を導出し、熱可塑性樹脂成形品の歪量を実測することにより寿命曲線から熱可塑性樹脂成形品のクリープ破壊寿命を予測する。 - 特許庁

In the substrate for the light emitting panel, a transistor 12 capable of controlling a flowing current according to a voltage which is supplied to a data line DL, a diode (transistor 32) which is connected to the transistor 12 in series and a test line TEST for taking the current flowing in the diode (transistor 32) to outside, are provided for at least one pixel.例文帳に追加

少なくとも１つの画素に対応付けて、データラインＤＬに供給される電圧に応じて流れる電流を制御可能なトランジスタ１２と、トランジスタ１２に直列に接続されたダイオード（トランジスタ３２）と、ダイオード（トランジスタ３２）に流れる電流を外部に取り出すテストラインＴＥＳＴと、を備える発光パネル用基板により上記課題を解決することができる。 - 特許庁

On both ends of a picture reading effective area, the test chart obtained by symmetrically filling a stripe pattern regulated by the same pixel pitch and the same density and a condensing lens position discriminating means 13 discriminating the aberration of the condensing lens 71 of the picture reader by discriminating both of the stripe pattern and the coinciding degree of density from picture data obtained by read-scanning this test chart.例文帳に追加

画像読取有効範囲の両端に、同じ画素ピッチと同じ濃度で規定された縞パターンを対称に記したテストチャートＴと、このテストチャートＴを読取走査した画像データから、縞パターンと、濃度の一致度合いとの双方を判別することによって、画像読取装置Ｆの集光レンズ７１の位置ずれを判別するようにした集光レンズ位置判別手段７６とを備える。 - 特許庁

A content reproducing apparatus 1 stores an appliance identifier ID for identifying the content reproducing apparatus 1 so as not to be rewritten, and also stores an appliance identifier test value VM corresponding to the appliance identifier ID and a right information test value VR for testing right information INF of acquired content data D so as not to be read out separately.例文帳に追加

コンテンツ再生装置１は、このコンテンツ再生装置１を識別するための機器識別子ＩＤを、書き換えられないように記憶すると共に、当該機器識別子ＩＤに対応する機器識別子検査値ＶＭと、取得したコンテンツデータＤの権利情報ＩＮＦを検査するための権利情報検査値ＶＲとを、分離して読み出されないように記憶するようにした。 - 特許庁

The performance test apparatus 102 for connection to electronic equipment 1 during use includes a means for designating the performance which the electronic equipment 1 should exercise and the output data to be outputted by the equipment, a means for requesting the electronic equipment 1 to exercise the designated performance and output the output data, and a means for receiving the output data transmitted from the electronic equipment 1.例文帳に追加

本発明は、電子機器１に接続して使用される動作試験装置１０２であって、電子機器１が実行すべき動作及び出力すべき出力データを指定する手段と、電子機器１に対して、指定された動作の実行及び出力データの出力を要求する手段と、上記電子機器１から送信された上記出力データを受信する手段とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

The number of polygons consisting of the polygon groups arranged in a second direction is decided so that image data corresponding to the polygons positioned at the border sections to the object blocks among polygons consisting of a just before block that is a just before block of the object blocks is stored in a z data cache 126 when a depth test is performed by using image data corresponding to the polygons consisting of the object blocks.例文帳に追加

ポリゴン群を構成するポリゴンの第１の方向に並ぶ数は、対象ブロックを構成するポリゴンに対応する画素データを用いてデプステストが行われるときに、その対象ブロックの直前の対象ブロックである直前ブロックを構成するポリゴンのうち、対象ブロックとの境界部分に位置するポリゴンに対応する画素データを、ｚデータキャッシュ１２６が記憶しているように、決定される。 - 特許庁

The echo waveform data are displayed on a screen by an A scope that is prescribed by a distance direction and echo height in the case of an ultrasonic flaw detection test, and at the same time are displayed on a screen by a B scope that is prescribed by a distance direction and a scanning direction.例文帳に追加

エコー波形データは超音波探傷試験の際の路程方向及びエコー高さで規定されたＡスコープで画面上に表示するとともに路程方向及び走査方向で規定されたＢスコープで画面上に表示される。 - 特許庁

A print scanner 7 is disposed near a discharge port 331 of the finished prints of the photographic processing device A and the discharged test print is positioned in a prescribed scan position and is scanned by this print scanner 7, by which the data on unevenness correction is formed.例文帳に追加

写真処理装置Ａの仕上がりプリントの排出口３３１の近傍にプリントスキャナ７を配設し、排出されるテストプリントを所定のスキャン位置に位置決めして前記プリントスキャナ７でスキャンし、ムラ補正データを作成するように構成した。 - 特許庁

The false magnetic plaster is stuck to and indwelled on the skin with the plaster and has a same external appearance, however, it has no magnetism so as to provide control data in the double blind test for providing a clinical evidence for the magnetic therapy.例文帳に追加

また、偽磁気絆創膏によれば、絆創膏により皮膚に貼り付けられて留置された状態で、外観は同じであるが、磁気を持たないので、磁気治療に臨床的エビデンスをもたらす二重盲検試験にてコントロールデータを得ることが可能となる。 - 特許庁

To solve problems that a simultaneous write access to a number of memory cells connected in parallel in a data line direction, i.e. multiplex selection, is inhibited as a memory function, and in a memory array of the above constitution, a write access time is long and test time cannot be shortened.例文帳に追加

データ線方向に並列に多数接続されたメモリセルへの同時書込みアクセス、すなわち、セル多重選択は、メモリ機能的に禁止であり、前記のような構成のメモリアレイでは、書込みアクセスが長く、テスト時間の短縮が図れない。 - 特許庁

After the test is completed, the frame of the OAM echo request/response stored in a data buffer is read out and "time of transmission request" and "response receiving time" added to the frames are extracted to calculate the delay time between the stations.例文帳に追加

試験終了後、任意の時間に、データバッファに格納されている前記ＯＡＭエコー要求／応答フレームを読み出し、該フレームに付加された前記「要求送信時刻」および「応答受信時刻」を抽出して、ステーション間の遅延時間を計算する。 - 特許庁

Then LUT data for converting density characteristics so that the density of an original image coincides with that of an output image are set up on the basis of the read picture signal and gradation characteristic information stored as the prescribed test pattern.例文帳に追加

次に、読み取った画像信号と当該所定のテストパターンとして記憶している階調特性情報とに基づいて、原画像の濃度と出力画像の濃度とが一致するように濃度特性を変換するＬＵＴのデータを設定する(S4-S5)。 - 特許庁

The method achieved in the printer analyzes image data of a dash in the test pattern irregularly distributed in a process direction in a region of the image receiving member and locates the print head in the printer to detect a missing inkjet in the printer.例文帳に追加

プリンタ内で実現される方法が、受像部材の領域の中のプロセス方向に不規則に分布したテストパターン内の長点の画像データを分析し、プリンタ内のプリントヘッドの位置を識別してプリントヘッド内の行方不明のインクジェットを検出する。 - 特許庁

To shorten a test time when blocks to be erased selected over a plurality of banks are serially selected by a block unit and data are erased in a flash memory in which write/erasure operations and read operation are simultaneously performed.例文帳に追加

書き込み／消去動作と読み出し動作を同時実行可能なフラッシュメモリにおいて、複数のバンクにわたって選択された消去対象選択ブロックをブロック単位でシリアルに選択してデータ消去を行う際、テスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

The verification tool 221 creates a test script 241 for performing the operation verification of the IC chip 311 by using default data 231 and script parametric 232, generates an SAM setting script 244 in order to operate an SAM 271, and supplies them to the SAM control tool 222.例文帳に追加

検証ツール２２１は、デフォルトデータ２３１およびスクリプトパラメータ２３２を利用してICチップ３１１の動作検証を行うテストスクリプト２４１を生成し、SAM２７１を稼動させるためにSAM設定スクリプト２４４を生成し、SAM制御ツール２２２に供給する。 - 特許庁

To solve the problem that the invalidation of all recorded data occurs since an LPP address cannot be read at worst due to a reduction in an AR value in the conventional method for starting test recording by power higher than optimal power for each synchronous frame.例文帳に追加

テスト記録を各シンクフレーム毎に最適パワーよりも高いパワーで記録開始する従来方法では、ＡＲ値の減少により、最悪の場合、ＬＰＰアドレスが読めないために、記録したすべてのデータが無効とされる事態が発生する。 - 特許庁

To easily and quickly perform functional tests on a semiconductor integrated circuit with a small number of probes even when the number of outputs of the circuit is large without preparing any complicated expected value data by reducing the number of terminals for test.例文帳に追加

機能試験に複雑な期待値データを作成する必要がなく、簡単に素早くテストすることが可能で、且つテスト用端子数を減少させることにより、出力数が多くとも簡単に少ないプローブ針数でテストができるようにする。 - 特許庁

To allow an interface tester having plural signal lines for transferring data to surely generate the abnormality, etc., at the desired timing and quickly test an SCSI interface, etc., with a simple configuration.例文帳に追加

本発明は、データの授受を行う複数の信号線を持つインタフェースの試験を行うインタフェース試験機に関し、目的とするタイミングで確実に異常などを発生させ、簡易な構成でＳＣＳＩインターフェースなどの試験を迅速に行うことを目的とする。 - 特許庁

To realize a macro-test circuit in an LSI in which the number of external input terminals for testing is not increased even if the number of input terminals for testing provided in a macro-fashion is increased and the versatility of varying the input pattern of testing data is high.例文帳に追加

マクロに設けられるテスト入力端子の数が増加しても、テスト用の外部入力端子の数が増加することがなく、かつ、テストデータの入力パターンを可変する自由度の大きい、ＬＳＩにおけるマクロテスト回路を実現すること。 - 特許庁

In processes IV, V, a bar code of a component a is read in with bar code reading means 4d, 4e, and at the same time, a characteristics test is made with a characteristics testing means 7a, 7b, whose result is registered in the data base DB in coordination with an ID shown in the bar code.例文帳に追加

工程IV、Ｖでは、バーコード読取手段４ｄ，４ｅで部品ａのバーコードを読み取るとともに、特性検査手段７ａ，７ｂで特性検査を行い、その検査結果をバーコードで示されるＩＤに対応付けて、データベースＤＢに登録する。 - 特許庁

A data processing system on an integrated circuit 42 having a microprocessor 1 and pieces of peripheral equipment 60 and 61 is provided with an emulation unit 50 capable of realizing the debug and emulation of the integrated circuit 42 when this emulation unit 50 is connected to an outside test system 51.例文帳に追加

マイクロプロセッサ１及び周辺装置６０、６１を有する集積回路４２上のデータ処理システムには、外部テストシステム５１に接続するときに集積回路４２のデバッグ及びエミュレーションを可能にするエミュレーションユニット５０が設けられる。 - 特許庁

Referring to the data, designers or engineers correct the test core loading pattern, carry out simulations and draw up a derived core loading pattern design to ultimately complete them as an acceptable core loading pattern design of the core.例文帳に追加

設計担当者又は技術者はそのデータを見て、試験用炉心ローディングパターンを修正し、シミュレーションを実行して、炉心の受け入れ可能炉心ローディングパターンデザインとして最終的に完成するために、派生炉心ローディングパターンデザインを作成する。 - 特許庁

The central processing part 6 generates the lighting control signal for lighting the lamp in a prescribed lighting state and outputs the lighting control signal from the respective communication ports 5a and 5b as control data, when a test signal is inputted from the outside.例文帳に追加

中央処理部６は、外部からテスト信号が入力されると、ランプを所定の点灯状態で点灯させる点灯制御信号を発生すると共に、この点灯制御信号を制御データとして各通信ポート５ａ，５ｂから出力させる。 - 特許庁

To achieve the quantitative evaluation of problem analysis in a product test process, and to reflect the intention of a user on each element for quantitative evaluation, and to automate such operations as the storage, classification and update of a plurality of event data and visualization of the problem.例文帳に追加

製品試験工程等において、問題分析の定量的な評価が行え、定量的評価のための各要素にユーザの意思を反映させるとともに、多数の事象データの蓄積、分類、更新等の作業と問題の可視化を自動化する。 - 特許庁

In Figure 1(a), the data (graph a) on the depth and the phase of the flaw of the flaw signal is acquired, which is obtained by performing flaw detection of an object for inspection of the artificial flaw by a test frequency by which saturated depth becomes shallower than that of the actual flaw for correction to be used as a reference.例文帳に追加

図１（ａ）において、基準として使用する補正用実キズよりも飽和深さが浅くなる試験周波数により人工キズの被検査体を探傷して得られたキズ信号のキズの深さ・位相のデータ（グラフａ）を取得する。 - 特許庁

When the signal 22 is inputted to the uppermost stream I/O device 31 outputting a bus use request signal 21, a try state buffer 303 sends an output from the test part 301 to the processor 1 as a data bus signal 2.例文帳に追加

バス使用要求信号２１を出力した入出力装置のうちの最上流では、バス使用許可信号２２が入力されると、トライステートバッファ３０３が試験部３０１の出力をデータ・バス信号２としてプロセッサ１に送出する。 - 特許庁

In the longest branch fiber, back scattered light information on the branch fiber is singly restored based on a back scattered light waveform generated by reflection of a test light pulse on an FBG (Fiber Bragg Grating) type optical filter, namely waveform data of a folded waveform.例文帳に追加

まず最長の分岐ファイバにおいて、試験光パルスがＦＢＧ型光フィルタで反射されることで生じる後方散乱光波形、すなわち折り返し波形の波形データをもとにその分岐ファイバ単独での後方散乱光情報を復元する。 - 特許庁

To make it possible to perform test recording simply based on medium information recorded in an optical disk, compute optimum recording conditions from compatibility of an optical pickup and an optical disk, and raise performance in recording information data on an optical disk.例文帳に追加

光ディスクに記録された媒体情報に基づいてテスト記録を簡素化して行い、光ピックアップと光ディスクとの相性から最適な記録条件を算出して、情報データの光ディスクへの記録性能を向上させることができるようにする。 - 特許庁

Furthermore, using difference data of a density characteristic depending on the strength of gradation correction only through read of a test chart without gradation correction calculates also calibration use conversion tables when the gradation correction is weak and strong to store the calculated tables to an LUT for use of calibration.例文帳に追加

さらに、グラデーション補正オフのテストチャートの読取のみから、グラデーション補正の強度による濃度特性の差分データを用いてグラデーション補正が弱および強の場合のキャリブレーション用の変換テーブルも算出し、キャリブレーション用のLUTへ格納する。 - 特許庁

A focus deviation detection device according to the present invention detects the focus deviation of an imaging device in a surface defect inspection device inspecting surface defects based on image data that is produced by imaging the surface of a test subject being transported with the imaging device.例文帳に追加

本発明の焦点ズレ検出装置は、搬送される被検査体の表面を撮像装置により撮像した画像データに基づいて、表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、撮像装置の焦点ズレを検出する。 - 特許庁

The system controller 32 of the optical disk compares a β value obtained by recording and reproducing test data on the outer peripheral side PCA at recording power obtained by performing OPC on the inner peripheral side PCA and a recording speed at this time with a β value of the inner peripheral side.例文帳に追加

光ディスク装置のシステムコントローラ３２は、内周側ＰＣＡにてＯＰＣを行って得られる記録パワー及びそのときの記録速度で外周側ＰＣＡにテストデータを記録し、再生して得られるβ値を内周側のβ値と比較する。 - 特許庁