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Test Isの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 12773



例文

A differential signal VRx1 between a test pattern signal VRx being an output from an input buffer 10 and an external reference voltage Vref applied by an LSI tester, and the like is applied to CDR12 to generate a clock signal CLK2.例文帳に追加

入力バッファ10の出力であるテストパタン信号VRxとLSIテスタ等より印加される外部基準電圧Vrefとの差動信号VRx1がCDR12に印加され、クロック信号CLK2が生成される。 - 特許庁

In addition, a first test circuit (224 or the like) arranged inside the IC is installed, and provides information corresponding to at least one receiver trip level characteristic relative to the first receivers in the first pad.例文帳に追加

さらに、IC内部に配置された第1のテスト回路(224等)が設けられており、第1のパッドの第1の受信器に関する少なくとも1つの受信器トリップ・レベル特性に対応する情報を提供するようになっている。 - 特許庁

A device to which network equipment to be tested is connected determines a state of the network equipment from a value of its address and reports a server device for controlling test of the network equipment of connection information indicating the determined state of the network equipment.例文帳に追加

試験対象のネットワーク機器が接続される装置は、該ネットワーク機器の状態を、そのアドレスの値から判別し、判別したネットワーク機器の状態を示す接続情報をネットワーク機器の試験を制御するサーバ装置へ通知する。 - 特許庁

To provide a two-component developer, which is excellent in dot reproducibility, does not cause adhesion of a carrier, has high developing performance under various environments, has a sufficient image density and can maintain these characteristics even after a durability test.例文帳に追加

ドット再現性に優れ、キャリア付着の発生が無く、種々の環境においても現像性が高く、十分な画像濃度を有し、かつ耐久によってもこれらの特性を維持できる二成分系現像剤を提供すること。 - 特許庁

例文

Discharge circuits 4, 6 for discharging the accumulated charge in a cable connected to a measuring object are provided, and operation of the discharge circuits 4, 6 is controlled by a low-order program according to a test instruction by a control program.例文帳に追加

本発明は、測定対象に接続されたケーブルの蓄積電荷を放電させる放電回路4、6を設け、制御プログラムによる試験の指示に対応して、この放電回路4、6の動作を下位のプログラムにより制御する。 - 特許庁


例文

In order to form the color adjusting characteristic curve and/or the process adjusting characteristic curve, a computer 5 for ascertaining image forming data having the function of a test pattern and/or transmitting the same is provided to the pre-printing stage 1.例文帳に追加

色調整特性データおよび/またはプロセス調整特性データを生成するために、印刷前段階1には、テストパターンの役目をする画像形成情報をつきとめるおよび/または転送するコンピュータ5が備えられている。 - 特許庁

To provide a test facilitation circuit settled without proportioning an increase in the number of pins of a tester 90 with the number K of a DUT side output appropriable terminals even in the case that the number of the same measurement L is increased, and to provide the tester.例文帳に追加

同測数Lを増加させた場合であってもテスタ90のピン数の増加をDUT側の出力専用端子の数Kに比例させずに済むことができる試験容易化回路およびテスタ等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining whether a test chicken is avian influenza-resistive or not by elucidating relation between Mx gene type possessed by a chicken individual and the avian influenza-resistivity of the chicken individual and based on the obtained information.例文帳に追加

ニワトリ個体が持つMx遺伝子型と当該ニワトリ個体のトリインフルエンザウイルス抵抗性との関係を明らかにし、得られた知見を基に、被検トリについて、トリインフルエンザウイルス抵抗性か否かの判定方法の提供を課題とする。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of confirming whether desired TDM data is normal or not without rearranging the TDM data stored in a memory in a multiplexed format, such as a concentrated arrangement type and a distributed one.例文帳に追加

集中配置型及び分散配置型などの多重化形式でメモリ内に格納されているTDMデータを配置し直すことなく、所望のTDMデータが正常であるか否かを確認することが可能な試験回路を提供する。 - 特許庁

例文

To provide an inkjet printer having such a test pattern as a decision can be made simply whether a failed print nozzle is present or not, and a failed print nozzle, if any, can be determined at a glance.例文帳に追加

印字不良な印字ノズルがあるか否かを簡便に判定できるようにして、さらに印字不能な印字ノズルがある場合には何番目の印字ノズルであるかを、ひと目でわかるテストパターンを有するインクジェットプリンタを提供すること。 - 特許庁

例文

Thus, the holding test for judging whether the DSP core 4 precisely stops the operation can be conducted since the DSP core 4 itself can recognize the inner state of the DSP core 4 when the operation is resumed.例文帳に追加

従って、動作再開時のDSPコア4の内部状態をDSPコア4自身が認識することができるので、DSPコア4が正しく動作を停止しているか否かを判定するホールドテストを実施することが可能になる。 - 特許庁

The circuit is provided further with a control signal selecting register 113 capable of controlling, from the external terminal, the directional control signal supplied from the test-objective block 202, and the registers 106, 113 are connected respectively on the same scan chain.例文帳に追加

さらに、テスト対象ブロック202から供給される方向制御信号を外部端子から制御可能な制御信号選択用レジスタ113を備え、レジスタ106、113をそれぞれ同一スキャンチェーン上で接続する。 - 特許庁

A test signal set so as to give a specific and individual change predetermined in accordance with the direct current voltage state of the communication path corresponding to the control instruction is transmitted to the communication path from the communication controller.例文帳に追加

通信制御装置から、当該制御命令に対応して被試験通信路の直流電圧状態に予め定められた特定個別の変化を与えるように設定されている試験信号を、当該被試験通信路に送出する。 - 特許庁

To reduce defectives in a voltage breakdown test or the like, and further to provide a metalized film which is used suitably to a small-sized capacitor and fit the safety standard, and the capacitor using the metalized film.例文帳に追加

耐電圧テスト等における不良率を少なくするとともに、さらに小型の安全規格に適合したコンデンサに好適に用いられる金属蒸着フィルム、およびその金属蒸着フィルムを用いてなるコンデンサを提供する。 - 特許庁

To provide a photographic processing device capable of appropriately correcting an exposure condition by accurately detecting the density of each band body formed by test printing, even when the density of the band body is to be measured automatically using a densitometer.例文帳に追加

テストプリントによって形成された帯体の濃度を濃度計を用いて自動的に測定する場合でも、各帯体の濃度を正確に検出して、適正な露光条件の補正を行うことが可能な写真処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sealing material for a liquid crystal display element which can be hardened with light and which is excellent in adhesion property to a glass substrate of the liquid crystal display element subsequent to a temperature cycle test, and a liquid crystal display element using the sealing material.例文帳に追加

光により硬化させることができ、冷熱サイクル試験後においても液晶表示素子のガラス基板との接着性に優れた液晶表示素子用封口剤、及び、これを用いてなる液晶表示素子を提供する。 - 特許庁

In a FCRAM, when receiving a mode register set detecting signal bMSET generated by a command detecting circuit and a detecting signal AILTC<;7>; of arbitrary one bit VA<;7>; of an address signal input, a mode register set or test mode entry is switched in accordance with a logic level of the signal AILTC<;7>;.例文帳に追加

FCRAM において、コマンド検知回路で生成されたモードレジスタセット検知信号bMSET とアドレス信号入力の任意の1ビットVA<7> の検知信号AILTC<7>を受け、信号AILTC<7>の論理レベルに応じてモードレジスタセットまたはテストモードエントリを切り換える。 - 特許庁

By analyzing a source code to be tested, a change in an input/output interface can be reflected, and input-related information including an input value (test case) and an output value (expectation value) or input/output relationship information after the change is created.例文帳に追加

テスト対象ソースコードを解析して、入出力インタフェースの変更を反映することができ、入力値(テストケース)と出力値(期待値)を含む入力関係情報又は変更後入出力関係情報を作成する。 - 特許庁

In a test stage, the image pickup object 10 is tentatively made to flow to a conveyance direction C, and rotated only at a predetermined angle at a position 10a of the turn table T1, and made to pass through the linear visual field area F of a line sensor 20 so as to be imaged.例文帳に追加

テスト段階では、試験的に撮像対象物10を搬送方向Cに向かって流し、ターンテーブルT1の位置10aで所定角度だけ回転させ、ラインセンサ20の線状視野領域Fを通過させて撮像する。 - 特許庁

A discharge pulse generator 32 is disposed on a test board 31 such that it can approach a position corresponding to the central part of a probe card 33 freely or can recede therefrom freely thus correcting the transmission path length of a discharge pulse generated from the discharge pulse generator 32.例文帳に追加

テストボード31上に放電パルス発生器32をプローブカード33の中心部と対応する位置に対して近接および離間自在に配し、放電パルス発生器32による放電パルスの伝送経路の長さを補正する。 - 特許庁

To provide a decorative sheet which has an un-cured or semi-cured curable resin layer for forming a hard coat layer and hardly generate an appearance defect even if a thermal cycle test is carried out after laminated on a base body by a post-cure method.例文帳に追加

ハードコート層を形成するための未硬化又は半硬化の硬化性樹脂層を有し、ポストキュア法により基体に貼り合わせた後に冷熱サイクル試験をしても外観不良が生じにくい化粧シートを提供する。 - 特許庁

When a leakage current having a breaking level or a exciting current generated by pushing the test button 04 flows in a ZCT 5, a leakage signal is amplified through a transforming element 6 and a circuit 7, and a voltage ec0 across an integrating capacitor C0 starts to rise.例文帳に追加

ZCT5に遮断レベルの漏電電流(又はテストボタン04押圧による励磁電流)が流れると、漏電信号は変換素子6,回路7を経て増幅され回路8の積分コンデンサC0の電圧e_c0が上昇を始める。 - 特許庁

To provide a laminated ceramic capacitor using CaTiO_3/CaZrO_3 based ceramic hardly causing short-circuit defects or the deterioration of insulation resistance in a high temperature load test even if the content of Ti is increased, and a manufacturing method therefor.例文帳に追加

Tiの含有割合が高められたとしても、高温負荷試験における短絡不良や絶縁抵抗の劣化が生じ難い、CaTiO_3 /CaZrO_3 系セラミックスを用いた積層セラミックコンデンサ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Also, a visual characteristic of an observer and the information of an observation condition which are preset and stored in a storing section 16 are read out and the line pair density in the test patterns [n] is determined on the basis of the above readout information.例文帳に追加

また、予め設定されて記憶部16に記憶されている観察者の視覚特性及び観察条件の情報が読み出され、この読み出された情報に基づきテストパターン[n]内のラインペア密度が決定される。 - 特許庁

To provide a support device and method for outputting test data covering a branch and a computer program for making a computer function as the support device even when a program code using the arithmetic result of a mathematical equation as branch conditions is included in a program.例文帳に追加

プログラムに数式の演算結果を分岐条件が含まれている場合も分岐を網羅する試験データを出力できる支援装置、支援方法及びコンピュータを前記支援装置として機能させるコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To solve the problem that it is difficult to accurately or surely observe the presence/absence of the generation of any erroneous operation since the test of the erroneous operation of a microcomputer due to such an external factor as a noise used to be operated only by the observation of an oscilloscope in a conventional manner.例文帳に追加

ノイズ等の外的要因によるマイクロコンピュータの誤動作を試験する場合、従来はオシロスコープの観測のみにより行っていたので、誤動作の発生の有無を正確に、確実に観測することが困難である。 - 特許庁

In the impact applying process using a simulating drop apparatus for simulating the robot arm inclined and fallen by its own weight, an impact is applied to a to-be-impacted object 14 by dropping a drop means 10 having an attached test skin member 11.例文帳に追加

自重により傾動落下するロボットアームを模擬する模擬落下装置を用い、先ず、衝撃付与工程により、試験用表皮部材11を取り付けた落下手段10を落下させて被衝突体14に衝撃を付与する。 - 特許庁

To provide an image information processor by which an image from an image preserving device is determined as the same one from a plurality of image generating apparatuses when receiving medical images belonging to the same test are received, and also to provide a medical network system, and a program for the computer of a medical image processor.例文帳に追加

複数の画像発生装置から同一検査に属する医用画像を受信したときに画像保存装置側で同一検査と判断できるようにした画像情報処理装置及び医用ネットワークシステムを提供する。 - 特許庁

A liquid phase-type thermal shock test device comprises a high- temperature tank 1 and a low-temperature tank 2 to add thermal stress to an object to be measured 6 and is provided with a control means 5 to control the surface temperature of the object to be measured 6 in each of the tanks 1 and 2 to control thermal stress.例文帳に追加

被測定対象物6に熱ストレスを加える高温槽1と低温槽2とを有し、各槽1,2における被測定対象物6の表面温度を管理して熱ストレスを制御する制御手段5を設ける。 - 特許庁

This magnetizer for magnetic particle test comprises a means structured so that air within a bowl-shaped portion of the inspecting object is exhausted with the inspecting object submerged in magnetic particle liquid, and the means causes the particle liquid to get in to the interior of the bowl-shaped portion.例文帳に追加

検査物を磁粉液中に水没させた状態で、検査物の椀形部分内部の空気を排気するように構成された手段を有し、これにより椀形部分内部にまで磁粉液が入り込むようにする。 - 特許庁

In order to perform a (p) well variation test, the memory device is provided with an IPL decoding logic circuit 60, a reference voltage generator 70, an IPL voltage reference multiplexer 80, a (p) well voltage feedback circuit 90, and a differential amplifier circuit 36.例文帳に追加

pウェル変化テストを実行するために、メモリ・デバイスには、IPLデコード論理回路60、基準電圧発生器70、IPL電圧基準マルチプレクサ80、pウェル電圧フィードバック回路90、差動増幅器回路36が設けられる。 - 特許庁

To provide a traction dolly apparatus which prevents a vehicle tire from being caught by a guide rail after the vehicle collides against a collision wall face at a test time, when the vehicle is made to collide against the collision wall face while being travelled along the guide rail.例文帳に追加

車両をガイドレールに沿って走行させながら衝突壁面に衝突させる試験時において、車両が衝突壁面に衝突した後に車両のタイヤがガイドレールに引っ掛かることのない、牽引ドーリ装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits capable of measuring the frequency characteristics of the power current of an object to be measured at any timing regardless of whether a test pattern is impressed onto the object to be measured or not.例文帳に追加

被測定対象に対して試験パターンを印加しているか否かに拘わらず、任意のタイミングで被測定対象の電源電流の周波数特性を測定することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor storage device wherein an examination time can be reduced by interrupting the test at the time when any bits are not non-defective articles, and changing the procedure and judgment when there is a write/delete disabled bit.例文帳に追加

書込/消去不能のビットがある場合に、全ビットが良品でないときにはその時点でテストを中断し、手順や判断を変更して試験時間を短縮できるような不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

When a level change of the detected noise signal received by the receiver 8 is according to a level change of the noise applied to the test object 1, a discriminator 7 determines that the noise applied to a detection position propagates.例文帳に追加

判別器7は、受信機8で受信されたノイズ検出信号のレベル変化が、試験対象物1に印加したノイズの印加レベルの変化に追従したものであった場合、検出位置に印加したノイズが伝搬したと判定する。 - 特許庁

By turning on the MOS transistor P15 in the test mode, the MOS transistors P11 and P12 can be turned off and the through current to flow via the MOS transistors P11 and P12 is cut.例文帳に追加

テストモードの際に、このMOSトランジスタP15をオン状態にすることにより、MOSトランジスタP11及びP12をオフ状態にすることができ、MOSトランジスタP11及びP12を介して流れる貫通電流をカットする。 - 特許庁

In an initial stage, in a test recording signal recorded area on the first recording layer of a double-layer optical disk 1, recording is performed by a laser beam having a level varied stepwise only by erasing power of a DC erasing means 5 (DC erasing).例文帳に追加

最初の段階では、2層光ディスク1の一層目記録層のテスト記録信号記録領域を、DC消去手段5が消去パワーのみでレベルを段階的に可変させたレーザ光により記録する(DC消去する)。 - 特許庁

A control unit 12 measures the time T1 from when test character data are displayed on a monitor 36 by a video control unit 38 until when a singing voice signal input by a microphone 25 is output to a DSP 24c.例文帳に追加

制御部12が映像制御部38によってテスト用の文字データをモニタ36に表示させた時からマイク25によって入力された歌唱音声信号がDSP24cに出力されるまでの時間T1を計測する。 - 特許庁

The multifunction machine 1 prints one copy of a plurality of copies by a test function, and makes a user check the printing result when the predetermined information is included in the printing job transmitted from the information processing apparatus 3.例文帳に追加

複合機1では、情報処理装置3から送信された印刷ジョブに所定の情報が含まれている場合には、お試し機能によって、複数部数のうちの1部だけを印刷し、利用者に印刷結果を確認させる。 - 特許庁

In the clock generating apparatus, the plurality of characteristics set in the voltage controlled oscillator 16 are sequentially selected and a test voltage is provided by a voltage controller 18, thereby various oscillation characteristics being identified.例文帳に追加

このクロック生成装置では、電圧制御発振器16に設定されている複数の発振特性が順次選択されて、電圧制御器18により試験電圧が与えられることで各発振特性について同定される。 - 特許庁

A semiconductor storage device is equipped with the RAM (random access memory) (10), the ODT (on die termination) circuit (30), and a JTAG (joint test action group) circuit (20).例文帳に追加

本発明の半導体記憶装置は、RAM(Random Access Memory)(10)と、ODT(On Die Termination)回路(30)と、JTAG(Joint Test Action Group)回路(20)と、を具備している。 - 特許庁

To provide a precision gauge mark position creating jig free from breaking a test piece when forming a dent as a gauge mark position at which a rod end of an extensometer is to be fixed, and capable of improving a positional accuracy of the dent.例文帳に追加

伸び計のロッド先端を固定する標点位置としてのくぼみを形成する際に試験片を破損させることがなく、かつ、くぼみの位置の精度の向上を図った精密標点位置の作成治具を提供する。 - 特許庁

A control part 50 forms patch toner images for yellow and magenta at screen angles of 90° and 45° by image forming parts Pa, Pb when a test image measuring mode is instructed, and then transfers and superposes the patch toner images on an intermediate transfer belt 51.例文帳に追加

制御部50は、テスト画像測定モードが指令されると、画像形成部Pa、Pbによりスクリーン角度が90度と45度のイエローとマゼンタのパッチトナー像を形成して、中間転写ベルト51に転写して重ね合わせる。 - 特許庁

As a method for quantitatively detecting a ratio of a gene-recombinant product contained in a test soybean sample by using a polymerase chain reaction, a pair of nucleic acid primers composed of an oligonucleotide of a specific base sequence containing a new base sequence is used.例文帳に追加

被験ダイズ試料に含まれる遺伝子組換え体の割合をポリメラーゼ連鎖反応を用いて定量的に検知するための方法として、新規な塩基配列を含む、特定な塩基配列のオリゴヌクレオチドからなる核酸プライマー対。 - 特許庁

Detection of EBV in a test fluid or tissue specimen using antibodies, monoclonal and polyclonal, directed to the peptide, which have the characteristics of detecting both native and denatured intact, functional EBNA-1 protein is also part of the present invention.例文帳に追加

このペプチドに対するモノクローナル及びポリクローナル抗体を使用し、天然及び変成させた無傷の機能的EBNA−1蛋白質の両方を検出検査液もしくは組織検体中に含まれるEBVの検出。 - 特許庁

The method for extracting a nucleic acid of the invention comprises a process of bringing test samples into contact with sodium N-lauroyl sarcosinate (LSS) and the concentration of LSS is preferably 0.1 to 0.2 mass% upon extraction of a nucleic acid.例文帳に追加

核酸抽出方法は、N−ラウロイルサルコシン酸ナトリウム(LSS)を検試料に接触させる工程を有し、特に前記N−ラウロイルサルコシン酸ナトリウム(LSS)の核酸抽出時の濃度が0.1〜0.2質量%であることが望ましい。 - 特許庁

The super-high temperature measuring apparatus is characterized by arranging a test piece composed of carbon material in a super-high temperature atmosphere, installing an ohmmeter which measures electric resistance accurately, and measuring a temperature from a measured resistance value.例文帳に追加

本発明の超高温度測定装置は、超高温度雰囲気中に炭素材料からなる試験片を配置し、電気抵抗を正確に測定する抵抗計を設け、測定された抵抗値から温度を測定することを特徴とする。 - 特許庁

An optical conversion bridge 40 of the enterprise transmits a start packet whose length is shorter than a packet length of an Ethernet (R) frame to a subscriber side optical conversion repeater 50 via the optical fiber transmission line 20 in the case of conducting a loopback test.例文帳に追加

事業者側の光変換ブリッジ40は、ループバック試験の際にイーサネット(登録商標)フレームのパケット長よりも短い起動パケットを光ファイバ伝送路20を介して宅内側の光変換リピータ50に送信する。 - 特許庁

To detect an abnormality in human mitochondrial DNA which is used for diagnosis or the like for familial nephropathy due to an abnormality in mitochondrial DNA relevant to familial nephropathy by detecting a specific abnormal amino acid in the specific position of the base sequence of the human mitochondrial DNA of a test subject.例文帳に追加

家族性腎症関連ヒトmtDNA変異に関する新規情報の提供、並びに該mtDNAの変異検出法、該検出法を利用した家族性腎症の診断法及び診断用試薬キットの提供。 - 特許庁

例文

In the ADSL system, an in-station device 10 is provided with two SELs 13-i and 14-i, separately for each internal ADSL circuit, and a circuit test interface 15 for leading in the ADSL circuits from these selectors.例文帳に追加

ADSLシステムにおいて局内装置10が、内部のADSL回線で回線毎に二つのSEL13−i,14−iとこれらセレクタからADSL回線を引き込む回線試験インタフェース15とを設けている。 - 特許庁




  
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