「sample analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an automatic analyzer capable of realizing the control of temperature of a standard solution and a diluted sample with high accuracy in electrolyte analysis while inhibiting the impairing of the processing performance of a colorimetric analyzing part when the electrolytic analyzing part is used.例文帳に追加

電解質分析部使用時の比色分析部の処理能力の低下を抑えつつ、電解質分析において高精度の標準液および希釈試料の温度制御を実現できる自動分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for collecting a measurement sample while suppressing influence on a structure of a concrete skeleton, and easily measuring a total salt content (kg/m^3) at low cost by measurement of a total chloride ion content wherein meaning of an analysis value is clear.例文帳に追加

コンクリート躯体の構造上の影響を抑えて測定試料を採取し、かつ分析値の意味が明確な全塩化物イオン量の計測により、全塩分量（ｋｇ／ｍ^３）を簡易・ローコストで測定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pretreating method for metal analysis and its device capable of preventing recontamination such as re-oxidation of the surface of a sample in a sputtering process, and thus providing a correct analyzed value always even when the sputtering is repeated.例文帳に追加

スパッタリングの過程で生ずる再酸化などの試料表面の再汚染を防止し、それによりスパッタリングを繰り返しても常に正しい分析値を与えることのできる金属分析の予備処理方法および装置を提供する。 - 特許庁

A sample of blood containing CTCs, or other cells of interest, is stained with fluorescent markers for image analysis and scanned to identify the presence and location within the cartridge of target cells or subcellular elements.例文帳に追加

ＣＴＣ、または関心の対象である他の細胞を含む血液のサンプルを、画像分析のため蛍光マーカーで染色し、スキャンして、カートリッジ内における標的細胞または細胞より小さい要素の存在および場所を識別する。 - 特許庁

In the analysis of nitrous nitrogen and nitric nitrogen, potassium iodide solution and titanium trichloride solution are selectively injected to each sample solution, are passed through a mixer 5 and a vaporization separator 6, and are converted into nitrogen monoxide gas.例文帳に追加

亜硝酸性窒素，硝酸性窒素の分析では、それぞれ試料溶液に対しヨウ化カリウム溶液，三塩化チタン溶液を選択的に注入し、混合器５，気化分離器６を通過させて一酸化窒素ガスに転換する。 - 特許庁

An analysis part 54 evaluates the sample waveform data on a voltage, the amount of delay, and the shape of the waveform, and for the transmitter expressing some trouble, stops its operation or corrects the operating condition as necessary.例文帳に追加

解析部５４はサンプル波形データについて電圧、ディレイ量、波形形状について評価を行い、何らかの不具合が発覚した送信器については必要に応じてその動作の停止あるいは動作条件の補正を行う。 - 特許庁

In the ascorbic acid analysis method, a sample to be examined that may contain ascorbic acid, free radical, and a diketo reaction agent are brought into contact one another to optically analyze the generation of a furfural condensation product from dehydroascorbic acid and the diketo reaction agent.例文帳に追加

前記アスコルビン酸分析方法は、アスコルビン酸を含む可能性のある被検試料と、フリーラジカルと、ジケト反応化剤とを接触させ、デヒドロアスコルビン酸とジケト反応化剤とからのフルフラール縮合体の生成を光学的に分析する。 - 特許庁

An operation of the plasma torch 6 is stopped in the case of chemical morphologic analysis, the sample is soft-ionized by the sonic spray ion source 3 in the condition therein, and the generated ion is analyzed mass-spectrometrically by the mass spectrometer.例文帳に追加

化学形態別分析の場合は、誘導結合プラズマトーチ６の作動が停止され、その状態において、試料をソニックスプレイイオン源３によりソフトにイオン化することによって生成されたイオンを質量分析計で質量分析する。 - 特許庁

In the analysis of ammonia nitrogen, a sodium hypochlorite solution is injected to the sample solution, is passed through the mixer 5 and the vaporization separator 6 to obtain a gas constituent, which is supplied to the heating oxidation furnace 7 for converting to a nitrogen monoxide gas.例文帳に追加

アンモニア性窒素の分析では、試料溶液に対して次亜塩素酸ナトリウム溶液を注入し、混合器５，気化分離器６を通過させてガス成分を得、加熱酸化炉７に供給して一酸化窒素ガスに転換する。 - 特許庁

To provide a sampling bag for gas analysis which can measure a large-sized sample without cutting, collect such outgas that the bag size does not change even after reuse, and precisely collect the outgas to constant capacity.例文帳に追加

大型の試料を断裁することなく測定が可能で、再利用を行ってもバッグ寸法が変わらないアウトガスの補集が可能で、アウトガスの一定容量補集を精度良く行うことができるガス分析用サンプリングバッグを提供すること。 - 特許庁

To sample quickly a slice specimen processed for analyzing by observation, instrumental analysis or the like by means of TEM or STEM, a foreign matter or a defect existing on the surface of a semiconductor wafer or the like or inside thereof.例文帳に追加

本発明の目的は、半導体ウェハ等の表面や内部にある異物や欠陥などをＴＥＭもしくはＳＴＥＭで観察や分析など解析するために加工された薄片試料を迅速に採取することに関する。 - 特許庁

To provide a sample analyzer which enables confirmation of the position of a pipette of dispensing section not depend on instruction directed a start of a position confirmation operation from the operator, and to prevent the pipette from being damaged or the credibility of analysis results from declining.例文帳に追加

使用者による位置確認動作の開始の指示によることなく分注部のピペットの位置確認を行うことができ、ピペットの破損や測定結果の信頼性低下を防止することができる検体分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a multilayer thin-film analysis and a measuring apparatus for applying white X rays to a sample surface at an extremely low angle and for determining a multilayer film structure useful for specification of a thin film, a multilayer film, or the like by selecting a depth.例文帳に追加

試料表面に極く低角に白色Ｘ線を入射し、薄膜や多層膜等の特定化に有用な多層膜構造を深さを選択しながら決定できる多層薄膜分析方法および測定装置を提供する。 - 特許庁

Then, the determined physical property ratio is multiplied by the physical property of the core sample taken out of the healthy part of the reinforced concrete member becoming a target of structural analysis to determine the physical property of the reinforced concrete member having caused ASR.例文帳に追加

そして、求めた物性比に、構造解析の対象となる鉄筋コンクリート構造物の健全部分から取り出したコアサンプルの物性値を乗じて、ＡＳＲを発症した鉄筋コンクリート部材の物性値を決定する。 - 特許庁

To provide a quantum line-supported atomic force microscopic method and a quantum line-supported atomic force microscope capable of performing simultaneously shape observation and elemental analysis in the atomic level by using the atomic force microscope, analyzing the chemical state on the sample surface, and performing the elemental analysis or chemical state analysis with respect to a biosample with a resolution in the atomic level because of being operable even in liquid.例文帳に追加

原子間力顕微鏡を使って原子レベルでの形状観察と元素分析とを同時に行うことができ、さらには試料表面の化学状態を分析することが可能となり、また、液体中でも動作可能であるため生体試料に対する元素分析や化学状態分析を原子レベルの分解能で行うことが可能な量子線支援原子間力顕微法および量子線支援原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When performing depth direction analysis of at least one metal element of Ga, In, Cu, Au or Ag in a sample using monocrystal silicon as a base material by a mass spectrometry method by using oxygen as primary ion, at least a deeper domain than a domain where the sample is oxidized by oxygen as primary ion, is reformed beforehand as a diffusion suppression domain for suppressing diffusion of the metal element resulting from oxidation of the sample.例文帳に追加

一次イオンに酸素を用いて単結晶シリコンを母材とする試料中のＧａ、Ｉｎ、Ｃｕ、Ａｕ或いはＡｇの少なくとも一つの金属元素の深さ方向分析を二次イオン質量分析法によって行う際に、前記試料が前記一次イオンとしての酸素により酸化される領域より少なくとも深い領域を、予め試料の酸化に伴う前記金属元素の拡散を抑制する拡散抑制領域に改質しておく。 - 特許庁

This analysis method for discriminating whether an object sample is a material including hemoglobin or not is characterized as follows: the object sample and a hemoglobin standard material are irradiated with a laser; a Raman spectrum is measured; and a peak appearing in the Raman spectrum of the object sample is compared with a peak originated in a hem (complex compound formed by coordinating iron ion on porphyrin) portion in a Raman spectrum of the hemoglobin standard material.例文帳に追加

対象試料がヘモグロビンを含む物質であるか否かを判別する分析方法において、該対象試料およびヘモグロビン標準物質にレーザーを照射し、ラマンスペクトルを測定し、該対象試料のラマンスペクトルに現れているピークを、該ヘモグロビン標準物質のラマンスペクトルにおけるヘム（ポルフィリンに鉄イオンの配位した錯体化合物）部分由来のピークと比較することを特徴とするヘモグロビンを含む物質の分析方法を特徴とする。 - 特許庁

The microchip 1 comprises: a substrate 30; a flow channel 23 which is formed inside the substrate 30 and whose outlet is made up as an aperture 9c; and an analysis section 10 which includes a portion of a flat surface of the substrate 30 and where an object liquid to be measured spills out of the aperture 9c and remains on the flat surface of the substrate 30 as an analysis sample.例文帳に追加

マイクロチップ１は、基板３０と、基板３０の内部に形成された流路２３と、基板３０の平坦な表面の一部からなり、流路２３の出口が開口９ｃとして形成され、その開口９ｃから溢れ出た測定対象液が基板３０の平坦な表面にとどまって分析試料となる分析部１０とを備えている。 - 特許庁

To provide an analysis device allowing an easy and quick visual fluorescence analysis of trace Se contained in environmental water such as clean water, a variety of drainages, underground water, river water, and water eluted from soil, and capable of bringing back a sample thereof so as to quantify with high accuracy, and a visual fluorescence analytical method and a two-step analytical method for the trace Se in the environmental water, using the same.例文帳に追加

上水、各種排水、地下水、河川水、土壌溶出水などの環境水中に含まれる微量Seを、簡便、迅速に目視蛍光分析し、その試料を高精度で定量するために持ち帰ることができる分析器具およびそれを用いる環境水中の微量Seの目視蛍光分析法および二段分析方法を提供する。 - 特許庁

Pulse NMR measurement is performed relative to the sample having a different heat history after melting, concerning a semicrystalline resin, especially the PPS resin, and analysis is performed by two component attenuation curves having each different relaxation time to an acquired ^1H spin-spin relaxation attenuation curve, to thereby enable analysis of the molecular mobility and the higher-order structure of the semicrystalline resin.例文帳に追加

半結晶性樹脂、とりわけPPS樹脂について、溶融後熱履歴の異なる試料に対して、パルスNMR測定を行い、得られる^1Hのスピン−スピン緩和減衰曲線に対して緩和時間の異なる二成分減衰曲線で解析を行うことにより、半結晶性樹脂の分子運動性および高次構造解析が可能となる。 - 特許庁

When a user records text and data extracted therefrom in an objective table 4 as sample learning data and inputs the two pieces of the data to the device, a plurality of pieces of text data inputted from a text input part 1 are analyzed by a text analysis part 2 operating as referring to a dictionary 3, and are outputted as a plurality of pieces of analysis data.例文帳に追加

ユーザがサンプル学習データとして、テキストとそこから抽出されるデータを目的テーブル４に記載し、この２つのデータを装置に入力すると、テキスト入力部１から入力された複数のテキストデータが、辞書３を参照しながら動作するテキスト解析部２により解析され、複数の解析データとして出力される。 - 特許庁

A sample is pulverized, and resulting pulverized powder 1 is used for analysis in a state that the powder 1 is embedded into a conductive material 2, in a energy spectral analysis method of a charged particle where energy of the charged particle is dispersed into its spectral components in an Auger electron spectroscopy or an X-ray electron spectroscopy to be measured.例文帳に追加

オージェ電子分光法又はＸ線電子分光法の如く荷電粒子をエネルギー分光し、測定する荷電粒子エネルギー分光分析方法において、試料を粉砕し、この試料粉砕物１を導電性物質２に埋め込んだ状態で分析に供することを特徴とする、荷電粒子エネルギー分光分析方法。 - 特許庁

In photographing of the original image, it is defocused to photograph a defocused image together, the sampling conditions are determined according to the image data size of the original image to sample the defocused image based on the determined sampling conditions, an image analysis is conducted based on the sampled image data, and the original image is processed and corrected based on the analysis result.例文帳に追加

または，原画像の撮影時，焦点をずらしてデフォーカス画像もあわせて撮影し，原画像の画像データサイズに応じてサンプリング条件を設定し，設定されたサンプリング条件に基づきデフォーカス画像をサンプリングし，サンプリングされた画像データに基づき画像解析を行い，その解析結果に基づき原画像の画像処理補正を行うことを特徴とする。 - 特許庁

Sample information, analysis conditions, and instructions such as commencement and cessation of an analysis which are input and set on an operational display by the primary controlling and processing section 41 are thereby transmitted also to the secondary controlling and processing section 43, and commencement and cessation of data collection are performed simultaneously in the primary GC device 1 and the secondary GC device 3 with a single operational instructions or input.例文帳に追加

これにより、第１制御・処理部４１による操作画面上で入力設定された試料情報や分析条件などや分析開始、分析中止などの指示が第２制御・処理部４３にも転送され、一度の操作指示や入力で１次ＧＣ装置１と２次ＧＣ装置３でのデータ収集開始、中止を同時に行うことができる。 - 特許庁

The automatic analysis apparatus includes a sampling apparatus 100 for sampling a sample for diluting to an appropriate magnification, an ion chromatographic apparatus 200 for analyzing boron and an SO_4^2- ion by an ion chromatographic analysis, and a data-processing apparatus 300 for controlling sampling time and dilution rate and for automatically calibrating the apparatus and for performing data processing by incorporated data processing software.例文帳に追加

試料を採取して該試料を適切な倍率に希釈するためのサンプリング装置１００と、イオンクロマトグラフ分析によりほう素及びＳＯ_4^2-イオンを分析するイオンクロマトグラフ装置２００と、サンプリング時間及び希釈率を制御し、内蔵するデータ処理ソフトウエアにより装置の自動校正及びデータ処理をするデータ処理装置３００とを含むこととした。 - 特許庁

In the analysis method of the very small quantity of impurity in a gas using a mass spectroscope for separating the very small quantity of impurity in a sample gas by a separation column 2 of a gas chromatograph, ionizing the very small quantity of impurity at an ion source section 19, and separating mass, pressure in the ion source section 19 from the separation column 2 is kept higher than an atmospheric pressure for analysis.例文帳に追加

ガスクロマトグラフの分離カラム２で試料ガス中の微量不純物を分離し、当該微量不純物をイオン源部１９でイオン化し、質量分離する質量分析装置を用いるガス中の微量不純物の分析方法において、 前記分離カラム２から前記イオン源部１９の圧力を、大気圧よりも高く維持しながら、分析を行う。 - 特許庁

The common sample holder for a scanning electron microscope device and a focused ion beam device is set mountable on a scanning electron microscope device with an electron beam backscatter pattern measurement function and on a focused-ion beam device with a microsampling function, and enables a crystal orientation analysis and microsampling, without having to remount a sample.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡装置と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダーは、電子線後方散乱パターン計測機能を有した走査型電子顕微鏡装置と、マイクロサンプリング機能を装備した集束イオンビーム装置とに装着可能で、試料の載せ替え作業をせずに結晶方位解析とマイクロサンプリング加工が可能であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a micro flow passage for optical measurement and a micro fluid chip capable of controlling routes of incident and outgoing lights to enhance resolution of light, in the optical measurement, and capable of executing accurate analysis with a micro amount of sample, without being affected by bubbles contained in the sample.例文帳に追加

光学的測定を行う際に、入出射光の経路を最適に制御して、光の分解能を向上させることができ、さらには、試料中に含有される気泡の影響を受けることなく、微量サンプルで、正確な分析を実現することができる光学測定用マイクロ流路及びマイクロ流体チップを提供することを目的とする。 - 特許庁

While changing wavelengths of light, the light is applied to a sample, radiated fluorescence is measured to obtain a spectrum, spectral flatness to which characteristics inherent in the spectrophotofluorometer are added is performed by using the obtained spectrum, and a range of wavelengths allowed to be used for sample analysis is superposed to the flattened spectrum and displayed.例文帳に追加

上記課題を解決するために、試料に波長を変化させながら蛍光を測定してスペクトルを得、このスペクトルを用いて分光蛍光光度計固有の特性を加味したスペクトルの平坦化を行い、画面に表示された平坦化されたスペクトル上に、試料の分析のために使用可能な波長の範囲を重ねて表示する構成とした。 - 特許庁

In total reflection fluorescent X-ray analysis, a collimator for specifying the incident position and angle of an X-ray and a superconducting spectral element are integrated and brought close to or into contact with a sample, to thereby remove necessity of each independent alignment for the sample, the spectral element and the incident X-ray when performing the total reflection local fluorescent X-ray measurement.例文帳に追加

本願発明においては、Ｘ線の入射位置、角度を規定するためのコリメータと超伝導分光素子を一体化し、これを試料に近接あるいは接触させることにより、全反射局所蛍光Ｘ線測定を行うに際して試料、分光素子、入射Ｘ線各々独立のアライメントの必要性を排除した。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope or a sample inspection method using the scanning electron microscope which is high in reliability of an element spectrum of a sample or accuracy of quantification thereof by means of suppression of a system peak by regulating an amount of electrons scattering on an objective lens diaphragm to control electrons which deviate from a main electron beam trajectory and are irradiated beyond analysis points.例文帳に追加

本発明は対物レンズ絞り上で散乱する電子の量を制限し、主電子線軌道から外れ、分析点以外に照射される電子を制御することでシステムピークを抑制し、試料の元素スペクトルの信憑性または定量精度の高い走査電子顕微鏡または走査電子顕微鏡による試料検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an external standard substance for ^1HNMR capable of securing the quantitativeness of the ^1HNMR even if it is not selected for each sample, an NMR sample tube and a capillary into which the external standard substance for ^1HNMR is put, and an analysis method using the external standard substance for ^1HNMR.例文帳に追加

本発明は、試料毎に選定しなくても、^１ＨＮＭＲの定量性を確保することが可能な^１ＨＮＭＲ用外部標準物質、該^１ＨＮＭＲ用外部標準物質が入れられているＮＭＲ試料管及びキャピラリー並びに該^１ＨＮＭＲ用外部標準物質を用いる分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

By determining the number of shots for assigning sample shots from shots S1 to S32, an array of the sample shots, degree of regression analysis used for calculation of a displacement model about a substrate alignment mark PAM based on a temperature distribution on upper surface of a first holding section 26, and by executing EGA processing, the array of the shots S1 to S32 is estimated.例文帳に追加

ＥＧＡの処理条件として、ショットＳ１〜Ｓ３２からサンプルショットに指定するショットの数と、サンプルショットの配置と、基板アライメントマークＰＡＭの変位モデルの算出に用いる回帰分析の次数とを、第１保持部２６上面の温度分布に基づいて決定し、ＥＧＡ処理を実行してショットＳ１〜Ｓ３２の配列を推定する。 - 特許庁

A column chromatograph operation is performed to a sample as an object by using a polar filler, preferably a filler carrying one kind or two or more kinds of mixtures selected from among aminopropyl silane, cyanopropyl silane, 2,3-dihydroxypropyl silane, to thereby collect separately PCB in an insulation oil sample and the interfering component for PCB analysis.例文帳に追加

極性を有する充填剤、好ましくはアミノプロピルシラン、シアノプロピルシラン、２，３−ジヒドロキシプロキシプロピルシランから選ばれる１種または２種以上の混合物を担持した充填剤を利用して試料を対象にカラムクロマトグラフ操作を行うことにより、絶縁油試料中のＰＣＢとＰＣＢ分析の妨害成分とを分離して採取する。 - 特許庁

The IR spectrum information and chemical analysis of a sample are determined using an IR source 310, a sampling accessory 330 having a sample volume, a light-dispersing element 350, a focal plane array (FPA), constituted so as to detect a dispersed light beam, a processor 380 and display 390 for controlling the FPA and displaying an IR spectrograph.例文帳に追加

サンプルのＩＲスペクトル情報および化学分析は、ＩＲ源（３１０）と、サンプル・ボリュームを配置するサンプリング・アクセサリ（３３０）と、光分散要素（３５０）と、分散光ビームを検出するように構成された焦平面アレイ（ＦＰＡ）と、ＦＰＡを制御し、ＩＲスペクトログラフを表示するためのプロセッサ（３８０）およびディスプレイ（３９０）とを使用して決定される。 - 特許庁

At this time, a dispensation control unit 98 controls extrusion dispensing operation in the case where a sample amount necessary for analysis is a predetermined liquid amount or below capable of achieving desired dispensing precision and dispenses a sample amount of the specimen in the reaction container along with an extrusion liquid so that a dispensing amount may become the maximum dispensing amount defined by the volume of the reaction container.例文帳に追加

このとき、分注制御部９８は、分析に必要なサンプル量が所望の分注精度を達成できる所定液量以下の場合に押出し分注動作を制御し、分注量が反応容器の容量によって定まる最大分注量以下となるように、サンプル量の検体を押出し液とともに反応容器内に分注する。 - 特許庁

The maximum particle size of the inclusion present on the inspection reference area of the metal sample is measured on the basis of the result due to emission spectral analysis and statistical processing based or an extreme value statistical method is performed using the maximum particle size to measure the estimated maximum particle size of the inclusion present on an area for performing the estimation of the metal sample.例文帳に追加

この発光分光分析による結果に基づいて、金属試料の検査基準面積に存在する介在物の最大粒径を測定し、この最大粒径を用いて極値統計法に基づく統計処理を行うことにより、金属試料の予測を行う面積に存在する介在物の推定最大粒径を測定する。 - 特許庁

A sample form which color determination and MRI photography can be performed is photographed under different conditions to obtain plural MRI images, whose image data are processed by 1st independent component analysis and decomposed into L independent component images; and N points on the sample are selected and training samples which are a combination of independent component image luminance values and color components (normally three) are generated.例文帳に追加

本発明は、色の決定とMRI撮影が可能なサンプルについて、条件を変えて複数のMRI画像を撮影し、その画像データに第一の独立成分分析を行って、L個の独立成分画像に分解し、サンプル上からN点を選び、L個の独立成分画像輝度と色成分（通常3個）の組である訓練サンプルを作成する。 - 特許庁

This preparation method of the sample for atom probe analysis has a step for preparing a ridged and grooved structure by performing etching machining of FIB onto both of a base needle 2 and an implantation sample piece 1, a step for bonding mutual members, and a step for sticking by deposition processing of FIB so that the ridged and grooved structure has an engaged form.例文帳に追加

本発明のアトムプローブ分析用試料の作製方法は、ベース針２と移植試料片１の双方にＦＩＢのエッチング加工によって凹凸構造を作製するステップと、互いの部材を接合させるステップと、前記凹凸構造が噛合い形態となるようにＦＩＢのデポジション加工によって接着するステップとを踏むものとした。 - 特許庁

This mass spectroscope for conducting MS^n analysis wherein a sample eluted from the separation means for separating the sample a component by a component is ionized, and wherein an optional mass number of an ion is cloven to be mass-spectroscopically analyzed is provided with a database for storing correlation information between the isomer existence ratio and a specified ionic strength ratio in every of isomers.例文帳に追加

試料を成分ごとに分離する分離手段から溶出される試料をイオン化し、任意の質量数のイオンを開裂させ、質量分析するＭＳ^n 分析を行う質量分析装置において、異性体存在比とマススペクトル内の特定イオン強度比との相関情報が異性体ごとに格納されたデータベースを備えたことである。 - 特許庁

The elemental analysis apparatus for measuring an element in a sample melted in an inert gas atmosphere comprises: a secondary treatment passage for performing a given secondary treatment of a sample gas obtained by the melting treatment; and a decomposition treatment part containing a platinum-carbon catalyst and a heating means in the secondary treatment passage.例文帳に追加

不活性ガス雰囲気で融解処理された試料中の元素を測定対象とする元素分析装置であって、前記処理によって得られたサンプルガスに対して所定の二次処理を行うサンプルガス二次処理流路を設け、該サンプルガス二次処理流路中に、白金炭素触媒を収容し加熱手段を有する分解処理部を配設することを特徴とする。 - 特許庁

In the analyzing instrument X equipped with a reaction space 4 for making a specific component in a sample react with reagents and used at the time of analysis of the specific component, two reagent parts 51 and 52, which contain reagents and dissolve them when the sample is supplied to the reaction space 4, are formed to the prescribing surface for prescribing the reaction space 4 in a mutually facing state.例文帳に追加

試料中の特定成分と試薬を反応させるための反応空間４を備え、特定成分を分析する際に利用される分析用具Ｘにおいて、反応空間４を規定する規定面に、試薬を含み、かつ反応空間４に試料が供給されたときに溶解する２つの試薬部５１，５２を、互いに対面するように形成した。 - 特許庁

In the analysis method, application of γ rays 12 to a sample atomic nucleus 40 to be measured causes a (γ, n) reaction in the atomic nucleus 40 in a sample 31 to be measured, and the nuclide of the atomic nucleus 40 is identified by measuring energy (spectra) of neutrons 41 generated in this case by the radiation detector 15.例文帳に追加

この分析方法においては、被測定試料原子核４０にγ線１２が照射されることによって、被測定試料３１中の原子核４０に（γ、ｎ）反応を生じさせ、この際に発生する中性子４１のエネルギー（スペクトル）を放射線検出器１５によって測定することによって、原子核４０の核種を特定する。 - 特許庁

The environmental information server operates the concentration of each harmful substance on the sample based on the measurement data by the detection device inputted from a user terminal, and, if the sample has a concentration over a threshold relative to some harmful substance, analyzes the contamination state, produces the countermeasure, and outputs the contamination state, the analysis result and the countermeasure to the user terminal.例文帳に追加

環境情報サーバは、試料について各有害物質の濃度をユーザ端末機から入力された検出装置の測定データに基づいて演算し、試料がいずれかの有害物質について閾値以上の濃度である場合、汚染状態を解析し対策を作成し、汚染状態、解析結果及び対策をユーザ端末機に出力する。 - 特許庁

In this method for measuring a quantity of an impurity in a gas sample filled in an analytical cell 12 for laser absorption spectroscopic analysis, a characteristic representative value in absorption of the gas sample is calculated under prescribed pressure, and the quantity of the impurity is determined quantitatively based on a preliminarily defined formula with respect to change of a characteristic as a function of the impurity.例文帳に追加

レーザー吸収分光分析の分析セルを充満させたガス試料中の不純物量を測定するこの方法は、所与圧力で、ガス試料の吸収の特性代表値を計算し、不純物量の関数としての特性の変化に対してあらかじめ定められた法則に基づいて不純物を定量化することにある。 - 特許庁