「sampling probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The blood measuring device is constituted, in such a way that an electrode 33 and an electrode 34 which are immersed in the specimen 2 to be set to continuity are provided at the tip of the sampling probe 28, and that the electrical conductivity across the electrodes 33, 34 in the sampling of the specimen 2 is measured.例文帳に追加

検体２に浸漬されて導通する電極３３，３４をサンプリングプローブ２８の先端に備えて、検体２のサンプリング時における電極３３，３４間の電気伝導度を測定するように構成している。 - 特許庁

To provide a measuring device, in which a hematocrit value can be measured on a specimen in a small amount and simultaneously with the sampling of the specimen, on the basis of the electric conductivity of the specimen, and to provide a sampling probe which is suitably used for the device.例文帳に追加

検体の電気伝導度または電気伝導度に基づいてヘマトクリット値を、少量の検体で且つ検体のサンプリングと同時に測定することが可能な測定装置と、この装置に用いて好適なサンプリングプローブとを提供する。 - 特許庁

After the printing of the serial number, the probe is moved in a return direction to draw the saliva sampling needle out of the test tube and the guide is loaded with the new test tube from a test tube housing case (208).例文帳に追加

シリアル番号の印字後、プローブは戻り方向に移動して、試験管から針が抜かれ、試験管収納ケース（２０８）から新たな試験管が装填される。 - 特許庁

To achieve increase in response speed and enhancement of analyzing accuracy, with a simple treatment technique, with respect to the gas contact surface of a sampling probe.例文帳に追加

サンプリングプローブの接ガス表面に対する簡単な処理技術によって、応答速度の改善と分析精度のアップが達成されるアンモニア分析装置を提供する。 - 特許庁

In side gases are continuously sucked through a vent hole at a side surface of the container through the use of a sampling probe for container analysis and fed to a device for detecting the gasses in the container.例文帳に追加

コンテナ側面にある通気口を利用して、コンテナ分析用サンプリングプローブを用いて内部の気体を連続して吸引し、コンテナ内ガス検知装置に送る。 - 特許庁

Since the interval of sampling points is set short when a probe car travels in a sharply curved road, the traveling track can be precisely grasped at a center.例文帳に追加

また、プローブカーが急カーブの道路を走行した場合には、サンプリング点の間隔が短く設定されるので、センターでは、走行軌跡を正確に把握することができる。 - 特許庁

A voltage sampling part 40 detects a voltage Vc between lead wiring patterns, using a voltage detecting probe 64 brought into contact with the wiring pattern joined with the lead.例文帳に追加

電圧サンプリング部４０は、リードが接合された配線パターンに当接された電圧検出プローブ６４を用いて、リード−配線パターン間の電圧Ｖｃを検出する。 - 特許庁

The thin section of test piece is pulled toward the tip of the probe for sampling and holding by electrostatic attraction, and reverse voltage is given between them when loaded on the TEM sample pedestal to generate repulsive force between them, so that the test piece are to be easily removed from the probe.例文帳に追加

静電引力によってプローブ先端に薄片試料を引き寄せて採取、保持し、ＴＥＭ試料台に載置する際は逆電圧を与えることで両者の間に斥力を生じさせ、容易に試料をプローブから離脱させる。 - 特許庁

A conductor with an insulator formed on the surface is used as a probe for sampling a thin-piece test piece, and a potential difference is given between a conductive part as an electrode and the test piece by a direct current power source to form an electric field between the probe and the test piece.例文帳に追加

薄片試料採取用プローブとして、表面に絶縁体を形成した導電体を用い、導電部を電極として直流電源によって試料との間に電位差を付与することで、プローブと試料の間に電界を形成する。 - 特許庁

This sampling apparatus used in preparing samples for transmission electron microscope observation by a focused ion beam processing apparatus includes a probe which can rotate which its shaft being as an axis of rotation and a rotating means for rotating the probe.例文帳に追加

また、集束イオンビーム加工装置による透過電子顕微鏡観察用試料作製に用いるサンプリング装置は、プローブの軸を回転軸とする回転が可能なプローブと、その回転を行うための回転手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

This lunar surface probe 800 is provided with: a traveling part 801; a vehicle body 802; a sensor pole 803 visual sensor 804, an arm 805 for sampling; a sample storing part 806; and an antenna 807.例文帳に追加

月面探索機８００は、走行部８０１、車体８０２、センサーポール８０３視覚センサ８０４、試料採取用のアーム８０５、試料収納部８０６、およびアンテナ８０７を備えている。 - 特許庁

During a series of test pattern cycles, scanning with a probe pulse 609 of the test pattern is performed so that it is vertical to an equivalent time sampling for re- configuration of DUT waveform.例文帳に追加

一連のテストパターンサイクルの期間中にテストパターンのプローブパルス６０９による走査をＤＵＴ波形の再構成のために等価時間サンプリングと垂直になるように行う。 - 特許庁

To provide a device for pretreating an exhaust gas for analysis that eliminates the need for heating a gas pipe from a sampling probe to a gas measuring device and reduces a size of a dehumidifier to decrease a dew condensation temperature.例文帳に追加

サンプリングプローブからガス測定装置に至る間のガス道管の加熱を不要とし、結露温度を下げる除湿器を小容量化した排ガス分析用前処理装置を提供する。 - 特許庁

An accurate gas sampling result is allowed by coping with a delay from a time point when the engine generates the changed exhaust up to a time point when the moved exhaust reaches a probe position.例文帳に追加

エンジンが変化した排気を発生させたときから、移動した排気がプローブ位置に到達するときまでの遅延に対処することによって、より正確なガスサンプリング結果が可能になる。 - 特許庁

In an ammonia analyzer based on a direct method and an indirect method, a sampling probe 9 used therein is impregnated in a 0.1N aq. soln. of NaOH, and the gas contact surface 9a of the probe 9 is treated to be brought to an alkali state so as not to generate reaction and adsorption of NH3 with respect to the gas contact surface 9a.例文帳に追加

直接法ならびに間接法を基にしたアンモニア分析装置において、これに用いるサンプリングプローブ９の接ガス表面９ａをアルカリ状態に表面処理して、接ガス表面９ａに対するＮＨ_3 の反応ならびに吸着を生じさせないようにしている。 - 特許庁

To provide a device and a method for automatically analyzing, capable of cleaning the residues attached on the inner and outer wall faces of a specimen sampling probe, a reagent dispensing probe, an agitating mechanism and a reactor cleaning mechanism without decreasing processing capability and without increasing special mechanism.例文帳に追加

試料サンプリングプローブ，試薬分注プローブ，攪拌機構，反応容器洗浄機構の内外壁面に付着した残留物を処理能力を損なうことなく、特別な機構を増設することなく洗浄することを可能とする自動分析装置および方法を提供する。 - 特許庁

A probe for a non-destructive determination of a complex dielectric constant of a material and for a near field optical microscope is based on a balance type multi-conductive transmission line structure formed on a dielectric support material which has a definite profile and limits a probe region within a sampling volume of a measuring material.例文帳に追加

材料の複素誘電率の非破壊的決定用及び近接場光学顕微鏡用のプローブは、明確な輪郭を有する、測定材料のサンプリング容積内にプローブ領域を制限する、誘電体支持部材上に形成された平衡型多導体伝送線構造に基づいている。 - 特許庁

Since turbulence is generated in the cleaning water introduction pipe 23, samples adhering to the sampling probe 16 can be washed away cleanly and effectively by means of water flow and air flow.例文帳に追加

これにより、洗浄水誘導パイプ２３内が乱流状態となり、サンプリングプローブ１６に付着した被検試料を水流及び気流によりきれいに、しかも効果的に洗い流すことができる。 - 特許庁

The flowmeter module includes a differential pressure probe which allows for determination of flow rate of the exhaust gas and a gas sampling tube for continuously feeding a sample of the exhaust gas to a gas analyzer.例文帳に追加

当該計器モジュールは、当該排気ガスの流量の測定を許容する差圧プローブと、当該排気ガスのサンプルをガス分析器に対して連続的に送り込むためのガス・サンプリング管とを包含する。 - 特許庁

The generator 20 transmits the testing frame to the POS channel N synchronously with a trigger signal showing a starting time point and an ending time point of the sampling period to be output from the POS probe unit 10.例文帳に追加

フレーム発生装置２０は、ＰＯＳプローブ装置１０から出力される、サンプリング期間の開始時点及び終了時点を示すトリガ信号に同期してＰＯＳ回線Ｎに試験フレームを送信する。 - 特許庁

The ≥1 port located at the lower side than the height of the liquid/air may be used as a sampling port, an access port for a probe or draining, or a supplying port of liquid or gas.例文帳に追加

液体／空気界面高さよりも下側にある１つ以上のポートは、サンプリングポート、または、プローブ或いはドレインのためのアクセスポート、または、液体或いは気体のための供給ポートとして使用されてもよい。 - 特許庁

A sampling probe of a sample suction type analyzer is integrated into a mounting flange where a measuring unit of this light transmission type analyzer is mounted on a pipe through which gas to be measured flows, and when a suction pump of a gas analyzer is operated during measurement by the sample suction type analyzer, exhaust gas passing through a mesh filter 13 of the sampling probe is sucked into a heating conduit 20 and introduced into the gas analyzer.例文帳に追加

光透過型分析計の測定ユニットを被測定ガスが流れる配管に取り付ける取付フランジ部に、試料吸引方式分析計のサンプリングプローブが組み込まれており、試料吸引方式分析計の測定時、ガス分析計の吸引ポンプを作動させると、サンプリングプローブのメッシュフィルタ１３を透過した排ガスが加熱導管２０内に吸引されガス分析計に導入される。 - 特許庁

Sampling is performed by controlling intervals in such a way that the follow distance of the probe in the direction of the shape of the sample may be constant between sampling points divided at regular intervals in the direction of the shape of the sample.例文帳に追加

ローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法において、前記探針の試料形状方向についての追従距離が、該試料形状方向に等間隔で分割した各サンプリング点間で一定となるように間隔制御してサンプリングを行う。 - 特許庁

To set a sampling interval according to the incline of a surface shape while controlling a probe in agreement with the interval, thereby adapting to the surface shape, shortening measurement time, and enhancing measurement accuracy.例文帳に追加

表面形状の勾配に応じてサンプリング間隔を設定するとともに、その間隔にしたがって探針を制御することにより、表面形状に適応し、測定時間の短縮と、測定精度の向上を実現すること。 - 特許庁

Mechanical scans of the probe 10 in a direction perpendicular to an electronic scanning direction enable formation of three-dimensional data sampling areas for the right and left eyes, and projected images of the areas are formed.例文帳に追加

探触子１０を電子走査方向と直交する方向に機械走査させれば、右目用三次元データ取込領域及び左目用三次元データ取込領域を形成でき、それぞれについて投影画像が形成される。 - 特許庁

This NOx analyzer for NOx in exhaust gas of a flue includes an exhaust gas sampling probe arranged in the flue, at least one NOx sensor, and a coexisting gas treating catalyst provided on the upstream of the NOx sensor to treat the coexisting gas in the exhaust gas.例文帳に追加

煙道中に配設した排ガスサンプリングプローブと、少なくとも一のＮＯ_ｘセンサと、該ＮＯ_ｘセンサの上流に設けた排ガス中の共存ガス処理触媒とを含む煙道排ガス中のＮＯ_ｘ分析装置。 - 特許庁

The sampling device includes a board for placing the sample of minute article, a probe for moving the sample of minute article, and electron beam radiating means for charging the sample of minute article.例文帳に追加

前記目的を達成するために本発明は、微小物体試料を載せる基板と、前記微小物体試料を移動させるプローブと、前記微小物体試料を帯電させる電子線照射手段とを備えるサンプリング装置を提供する。 - 特許庁

A probe 10 includes a rod glass 11 of a small rod shape with a diameter at a distal end thereof less than that at the center thereof, and a glass 12 containing a sampling surface 12a with an area greater than a diameter cross section 13 at the distal end 11a of the glass 11.例文帳に追加

プローブ１０は、中央部より先端部の径が小さい棒状のガラス体１１と、ガラス体１１の先端部１１ａの径断面１３よりも大きな面積の採取面１２ａを含むガラス体１２と、を有する。 - 特許庁

A heater 6 is provided to heat a sample gas sucked in a front stage part of a reaction part 2 inside an ammonia gas sampling probe container 1, and a heater control part 17 is provided to control the heater 6 and a temperature of the heater 6 from the control part 17.例文帳に追加

アンモニアガスサンプリングプローブ容器１内の反応部２の前段部に吸入したサンプルガスを加熱するためのヒータ６を設け、ヒータ制御部１７からこのヒータ６と、このヒータ６の温度を制御するヒータ制御部を設ける。 - 特許庁

The device for preheating the exhaust gas for analysis includes a first and a second heat exchanger and a dehumidifier, in which an exhaust gas sampled by the sampling probe passes through the first and the second heat exchanger, the dehumidifier, and the second heat exchanger in the order, to the gas pipe.例文帳に追加

第１、第２の熱交換器と除湿器とを備えて構成し、サンプリングプローブで採取した排ガスは第１の熱交換器、第２の熱交換器、除湿器、第２の熱交換器の順に通過させてガス道管に送出させる。 - 特許庁

For probing the moisture content of the rock mass 13, the relative permittivity measurement allows computing of the moisture content without the need of complicated work for sampling a rock core for each measurement after the probe 7 is brought into contact with a borehole 15 by inserting the tip of the pipe 2 thereinto.例文帳に追加

岩盤の含水量を調べるには、パイプ２の先端をボーリング孔１５に挿通してプローブ７を圧着した後、比誘電率を測定して含水量を算出するだけで済み、測定の度に岩石コアを採取する煩雑な作業が不要となる。 - 特許庁

To provide a POS (PPP over SONET/SDH) probe device, which can store a peak value within sampling time specifying protocol statistic information on POS lines and transfer stored information to PCs and workstations using a communication line management protocol such as SNMP.例文帳に追加

ＰＯＳプローブ装置において、ＰＯＳ回線上のプロトコル統計情報を指定したサンプリング時間内のピーク値を保存し、保存された情報を通信回線の管理プロトコルであるＳＮＭＰ等を用いてパソコンやワークステーションに転送できるようにする。 - 特許庁

In this case, by adjusting so that a purge air amount sucked from an air intake port 17 becomes larger than a purge air amount of instrumentation air discharged from an air discharge port 16, an occupation area of an air layer in the sampling probe becomes smaller, and an optical path length of sampling gas can be secured, to thereby improve measurement accuracy of the light transmission type analyzer.例文帳に追加

このとき、エアー排出口１６から排出される計装空気のパージエアー量よりエアー吸入口１７から吸引されるパージエアー量が多くなるように調整することにより、サンプリングプローブにおける空気層の専有面積が小さくなり、試料ガスの光路長が確保できるので、光透過型分析計の測定精度を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a probe coupling substrate and its manufacturing method, capable of easily analyzing probes, as well as minimizing loss in sampling inspection, to enable quick and inexpensively detection and quantitative analysis of a target matter, when using various surface analyses, and to provide a method for quantitatively analyzing the target matter in a specimen quickly and inexpensively.例文帳に追加

各種表面分析法を用いた場合に、プローブの分析を問題なく行なえ、抜き取り検査でのロスが最小限であり、標的物質の検出や定量を迅速かつ安価に行なえるプローブ結合基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

The buttons may be operable to, e.g., selectively and incrementally adjust the longitudinal position of the cutter within the cannula, initiate a sampling cycle, initiate a clear probe cycle, and initiate a lateral vacuum cycle.例文帳に追加

ボタンは、例えば、カニューレ内のカッターの長手方向位置を選択的かつ漸進的に調節するため、サンプル採取サイクルを開始するため、「プローブ内不要物除去」サイクルを開始するため、および横方向真空サイクルを開始するために動作可能とすることができる。 - 特許庁

A measurement probe 8 is moved to the measurement position of a reference sample 20a by controlling a linear slider 5 when the time of a time interval predetermined by a CPU 1 is passed, and reference sampling for storing spectral data that are output to a RAM 2 by a spectroscope is performed.例文帳に追加

ＣＰＵ１が予め設定した間隔時間の経過時にリニアスライダ５を制御して測定プローブ８をリファレンスサンプル２０ａの測定位置に移動させて、前記分光器が出力した分光データをＲＡＭ２に記憶させるリファレンスサンプリングを行う。 - 特許庁

A system control circuit 19 judges the operation frequency of an electric appliance (such as an insulation type switching power source 42) existing in the periphery of the probe 2 and performing the periodical operation, and sets a sampling frequency in the Fourier transformation so as to become a measure of the operation frequency.例文帳に追加

システム制御回路１９は、超音波プローブ２の周辺に存在し周期的動作を行う電気機器（例えば、絶縁型スイッチング電源４２）の動作周波数を判定し、上記のフーリエ変換におけるサンプリング周波数を上記の動作周波数の約数となるように設定する。 - 特許庁

The micro testpiece processing and observation device are equipped with a focused ion beam optical system and an electron optical system in an identical vacuum device, and separate a micro testpiece including the desired region of the testpiece by a charged particle beam forming process, and have a probe for sampling the micro testpiece separated.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

The exhaust gas introduced from the sampling probe is heat-exchanged with an atmosphere to decrease a temperature in the first heat exchanger, dehumidified and cooled in the dehumidifier, and the exhaust gas passed through the dehumidifier is heat-exchanged with the exhaust gas having passed through the first heat exchanger to increase a temperature thereof in the second heat exchanger.例文帳に追加

第１の熱交換器ではサンプリングプローブから導入した排ガスを大気と熱交換させて降温させ、除湿器では排ガスを除湿、冷却させ、第２の熱交換器では除湿器を通過した排ガスを第１の熱交換器を通過した排ガスと熱交換させて昇温させる。 - 特許庁

In the micro testpiece processing and observation device, a focused ion beam optical system and an electron optical system are equipped in an identical vacuum device, and a micro testpiece including the desired region of the testpiece is separated by a charged particle beam forming process, and a probe for sampling the micro testpiece separated is equipped.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

Further, since a mechanism not separating the fine foreign matter by directly irradiating the fine foreign matter with a laser beam but gasifying and pyrolyzing the foreign matters by the conduction of heat from the sampling probe heated by the laser irradiation is provided, a heating, decomposing and gasifying processes are stabilized and data of high reproducibility is obtained.例文帳に追加

また、レーザ光を微小異物に直接照射し脱離させるのではなく、レーザ照射により加熱された採取プローブからの熱伝導により異物を気化、熱分解する機構を持ち、加熱、分解気化の過程が安定しており、再現性の高いデータを得る。 - 特許庁

This test system is constituted by having a DOP particle generator 20 for providing DOP particles into the filter upstream side casing, and a particle counter 19 for detecting the DOP particles included respectively in the upstream side air and the downstream side air guided from the upstream side detection hole 5 and the sampling probe 8.例文帳に追加

さらに、フィルタ上流側のケーシング内にＤＯＰ粒子を供給するＤＯＰ粒子発生器２０と、上流側検出口５及びサンプリングプローブ８から案内される上流側空気及び下流側空気のそれぞれに含まれるＤＯＰ粒子を検出するパーティクルカウンタ１９とを設けて試験システムを構成する。 - 特許庁

There is provided the automatic analyzer which can suck a sample by a sample dispensation probe 16 at the single sampling position by delivering and moving a sample rack 18 which holds the sample container 17 from a first sampler 60 to a second sampler 80, and moving the sample rack 18 in horizontal and vertical directions of the rack at the fixed position.例文帳に追加

試料容器１７を保持する試料ラック１８を第１のサンプラ６０から第２のサンプラ８０に受け渡し移動して、固定された位置で試料ラック１８をラックの水平方向及び上下方向に移動させることで、単一のサンプリング位置におけるサンプル分注プローブ１６による試料吸引ができる自動分析装置。 - 特許庁