「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(284ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor testing device comprises the probe needle 20 for obliquely pressing the terminal for external connection of the semiconductor device, a hollow storage section 30 for storing the probe needle 20 appearably, a rotating mechanism for rotating the probe needle 20 pressed to the terminal, and a high friction section 22a disposed in a part of a side surface of the tip 22 of the probe needle 20.例文帳に追加

本発明に係る半導体試験装置は、半導体装置の外部接続用の端子に斜めに押圧するプローブ針２０と、プローブ針２０を出没可能に収容する、中空の収容部３０と、端子に押圧したプローブ針２０を回転させる回転機構と、プローブ針２０の先端部２２の側面の一部に設けられた高摩擦部２２ａとを具備する。 - 特許庁

In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.例文帳に追加

切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁

To enable a prescribed movement of the seal breaker of a lid part even if any region of the seal breaker is pushed down, in a testing appliance constituted so that the seal member of the liquid container housed in a case main body is ruptured by the breaking projection provided to the seal breaker by pushing the seal breaker and a developing solution in the liquid container is developed up to a detection part.例文帳に追加

ケース本体に収容された液体容器のシール部材が、蓋部のシールブレイカーを押すことによりこれに設けられた破断突起で押し破られ、液体容器内の展開液が検出部まで展開されるようにした試験用具において、シールブレイカーのいずれの部位を押し下げた場合でも、シールブレイカーが規定された動きを行うこと可能にする。 - 特許庁

As a result of clinical testing, a temperature rise of ≥1°C is not admitted in the segments of organisms irradiated with ultrasonic waves when output of ultrasonic vibrations is smaller than 10 mW/cm^2 and the dental plaque is sufficiently not removed and conversely, the temperature rise of ≥1°C is confirmed in the segments irradiated with the ultrasonic waves when the output is greater than 100 mW/cm^2.例文帳に追加

臨床実験の結果、超音波振動の出力が10mW/cm^2より小さい場合には、生体に対して超音波が照射された部分に１℃以上の温度上昇が見られなかったものの、歯垢が充分に除去されず、これと逆に100mW/cm^2より大きい場合には、超音波の照射部分に１℃以上の温度上昇が確認された。 - 特許庁

The semiconductor device includes two or more bonding pads 11, made up of a bonding unit 11a formed on a semiconductor chip and each as an electrode for bonding of an external connection wire or a bump, and a projection unit 11b formed in a projected state from the bonding unit 11a to the inner part of the face and having a probe contact unit, to which a testing probe is made to contact.例文帳に追加

半導体装置は、半導体チップ１０の上に形成され、それぞれが外部接続用のワイヤ又はバンプをボンディングする電極であるボンディング部１１ａと、該ボンディング部１１ａから面内に突き出して形成され、検査用プローブが接触されるプローブ接触部を含む突き出し部１１ｂとを有する複数のボンディング用パッド１１を備えている。 - 特許庁

A shutter open/close control section 105 that the thermostatic bath 2 has monitors whether temperature inside the thermostatic bath 2 exceeds the upper limit of allowable temperature for permitting deviation from a temperature for testing an original IC device D, when the fan 100 generates self heat generation by high-speed rotation, and operates a timer 105e, when the temperature exceeds the upper limit.例文帳に追加

恒温槽２に備えられたシャッタ開閉制御部１０５は、ファン１００が高速回転することによって自己発熱が発生した場合、恒温槽２の内部の温度が本来ＩＣデバイスＤを試験すべき温度よりも外れることが許容される許容温度の上限よりも超えたか否かを監視し、超えたときには、タイマ１０５ｅを作動させる。 - 特許庁

This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.例文帳に追加

この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省

Contracting Parties which do not have a nuclear installation in their territory, insofar as they are likely to be affected in the event of a radiological emergency at a nuclear installation in the vicinity, shall take the appropriate steps for the preparation and testing of emergency plans for their territory that cover the activities to be carried out in the event of such an emergency.例文帳に追加

自国の領域内に原子力施設を有しない締約国は、近隣の原子力施設における放射線緊急事態の影響を受けるおそれがある限りにおいて、自国の領域に係る緊急事態計画（緊急事態の際に実施される活動を対象とするもの）を準備し及びその試験を行うため、適当な措置をとる。 - 経済産業省

To provide a semiconductor inspecting device and a semiconductor inspecting method capable of shortening testing time whereby suppressing an increase in inspection cost while preventing destruction of a semiconductor device by preventing spikes from being generated when power supply voltage is changed, even if the semiconductor device to be inspected is a semiconductor device for IEEE 1394.例文帳に追加

もし、被検査用半導体装置がＩＥＥＥ１３９４用半導体装置の場合であっても、テスト時間を短縮し、検査コストの増加を抑えることができるとともに、電源電圧切り替え時のスパイクの発生を抑え、半導体装置の破壊を防止することができる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

Since the Asia Common Skill Standard Initiative for IT technicians proposed by Mr.Takeo Hiranuma, Minister of Economy, Trade and Industry, was adopted at the October 2000 ASEAN Meeting of Economic Ministers and the Ministers of People’s Republic of China, Japan and Republic of Korea, Japan has been practicing mutual accreditation with testing agencies in Asian countries based on standardization of skills tested(Fig.3.2.28).Further expansion of member countries is expected in the future.例文帳に追加

2000年10月のASEAN+日中韓経済閣僚会議で、平沼経済産業大臣が提案を行ったアジアITスキル標準化イニシアティブが採択されたことを受け、これまでアジア各国の試験実施機関と試験のスキル標準ベースでの相互認証を行ってきており（第3-2-28表）、今後も締結国の更なる拡大が期待されるところである。 - 経済産業省

In April 2009, the South Korean government, when they are selling or importing lithium-ion to South Korea, announced that testing and inspection will be required for obtaining certification procedures regarding safety regulation batteries to South Korea. From July, for certification procedures relating to safety regulation, there had not been any trial period planned and it was limited to only a few domestic labs in South Korea, resulting in the possible interference of import products from Japan.例文帳に追加

2009年4月、韓国政府は、リチウムイオン電池を販売又は韓国に輸入する際に、試験・検査を行うことを義務づける安全規制に係る認証手続を7 月から課すと公表したが、準備期間がほとんど無い上に、試験・検査機関が韓国国内の少数の機関に限定され、日本からの輸出を妨げる可能性があった。 - 経済産業省

Conducting an electrical test as a job lot by arranging contact pins 102 of the contact-fixing board 103 of a semiconductor testing device 106 corresponding to the all electrodes of solder bumps 108 of a plurality of semiconductor devices 107 on a wafer level CSP body 101 makes possible the use of the same board 103 to the other smiconductor devices.例文帳に追加

半導体テスト装置１０６のコンタクト固定基板１０３におけるコンタクトピン１０２を、ウエハレベルＣＳＰ本体１０１上の複数の半導体デバイス１０７における半田バンプ１０８の全電極に対応して配置することにより、一括して電気的試験を行うことにより、同じコンタクト固定基板１０３を他の半導体デバイスに対しても使用可能にする。 - 特許庁

To provide a heat characteristic testing method of a temperature regulating material capable of simply and rapidly evaluating the temperature characteristics or heat quantity moving characteristics of the temperature regulating material especially useful for the temperature regulating material for relaxing the temperature change of a material due to the temperature change of an outside environment by utilizing a phase changing substance, and a heat characteristic tester of the temperature regulating material.例文帳に追加

相変化物質を利用して外部環境の温度変化による材料の温度変化を緩和するための温度調節材料を評価するのに特に適した、温度調節材料の温度特性または熱量移動特性の評価を、簡便、迅速かつ再現性良く評価することができる温度調節材料の熱特性試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To dispense with a troublesome operation for inserting a pair of electrodes into sample liquid stored in each storage recessed part, to prevent the pair of electrodes from being brought into contact with each other in the sample liquid, and to test many sample liquids efficiently and stably, in a testing device using a test plate where many storage recessed parts for storing the sample liquid are provided.例文帳に追加

サンプル液を収容させる収容凹部が多数設けられた試験用プレートを用いた試験用装置において、各収容凹部内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなく、またサンプル液中において一対の電極が接触するのを防止し、多数のサンプル液の試験が効率よく安定して行えるようにする。 - 特許庁

The method for testing an electronic circuit 16 comprises selection of an input signal using a first multiplexer 208, selection of an signal to be input to the first multiplexer 208 using at least one of other multiplexers 202, 204, 206, and control of at least one of other multiplexers 202, 204, 206, using a selection signal output from a control circuit 222.例文帳に追加

電子回路１６をテストするための方法は、第１のマルチプレクサ２０８を用いる入力信号の選択、少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６を用いる第１のマルチプレクサ２０８に入力されるべき信号の選択、および制御回路２２２から出力される選択信号を用いる少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６の制御を含む。 - 特許庁

To reduce time required for reading data from devices to be controlled, and to return correct data when a read request to the devices to be controlled occurs from a control section during write in a semiconductor-testing device including the control sections having a fast data transfer speed and the devices to be controlled having a slow data transfer speed while having a register or a memory in the inside.例文帳に追加

データ転送速度の速い制御部と内部にレジスタもしくはメモリを有しデータ転送速度の遅い被制御デバイスとを備えた半導体試験装置において、被制御デバイスからのデータの読み出しに要する時間を短縮できるとともに、書込み中に制御部から被制御デバイスに対するリード要求が発生した場合にも正しいデータを返送することができるようにする。 - 特許庁

Test sample mounting devices 13a and 13b for use in a bending testing apparatus for measuring the durability of a test sample by bending the test sample by applying load to the test sample includes shaft sections 22a and 22b turning holding sections 21a and 21b with the bending and enabling the pair of holding sections 21a and 21b to move close to or away from each other.例文帳に追加

荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられる試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂは、前記屈曲に伴い、把持部２１ａ及び２１ｂを回動し、一対の把持部２１ａ及び２１ｂを近接又は離反するように移動可能とする軸部２２ａ及び２２ｂと、を備える - 特許庁

Also, a medium 62 for test being the same as the slave 2 is supplied and adhered closely for the master carrier 3 held at the prescribed position, magnetic transfer is performed for the medium 62 for test, and a supply position of the slave 2 is verified by testing a transfer position of a transfer pattern in a magnetically transferred medium 62' by the transfer position test means 66.例文帳に追加

また、所定位置に保持されたマスター担体３に対してスレーブ媒体２と同一の検査用媒体６２を供給密着させて、該検査用媒体６２に磁気転写を行い、磁気転写がなされた検査用媒体６２’における転写パターンの転写位置を転写位置検査手段６６により検査することによりスレーブ媒体２の供給位置を検証する。 - 特許庁

To provide a method for automatically calibrating a detection level in a measuring part of a shutter testing machine, in which manual adjusting operation of an adjusted value VR is eliminated and an output level of a comparator to electric output (voltage) of reflected light is automatically set just by opening the shutter of a camera, whereby the shutter speed of the camera is easily, speedily and accurately detected.例文帳に追加

人手による調整値VRの調整操作を無くし、カメラのシャッタを開くだけで自動的に反射光の電気出力（電圧）に対するコンパレータの出力レベルを設定できるようにし、これによってカメラのシャッタスピード検出を簡便かつスピーディに精度よく行うことができるようにしたシャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法を提供すること。 - 特許庁

The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.例文帳に追加

半導体試料の主面上に電極１０を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極１０に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１４で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁

A method for inspecting the precision of the tire testing machine has a rotating radius different from a drum 42 and higher circularity than a tire T in place of the tire T, mounts a dummy tire 60 having rigidity capable of maintaining circularity on a spindle shaft 11 even when receiving load in a radial direction, and measure variation load generated by rotating the dummy tire 60 while giving load from the drum 42.例文帳に追加

タイヤＴに代えて、ドラム４２とは異なる回転半径とタイヤＴよりも高い真円度とを有すると共に、荷重を径方向に受ける場合にも真円度を維持可能な剛性を有するダミータイヤ６０をスピンドル軸１１に装着し、ダミータイヤ６０をドラム４２からの荷重を与えた状態で回転させることにより生じる変動荷重を計測する。 - 特許庁

This method for testing the computer system by applying a load includes: receiving of a load specification which identifies at least one resource of the system and specifies the load applied to the resource(s); and applying of the corresponding and specified load to the resource specified by the load specification.例文帳に追加

本発明にかかる負荷を適用することによってコンピュータシステムをテストする方法は、負荷仕様を受け取ることであって、当該負荷仕様が、システムの少なくとも１つの資源を特定し、かつ、当該資源に適用される負荷を指定する、負荷仕様を受け取ることと、および負荷仕様で特定された各資源について、対応する指定された負荷を当該資源に適用することとを含む。 - 特許庁

A session tracking application includes monitoring means for monitoring activity on the associated interactive session, testing means for determining whether monitored activity includes an unload event, termination means for terminating the associated interactive session upon a determination of a selected unload event and notification means for notifying the associated web server to close out the interactive session.例文帳に追加

セッション・トラッキング・アプリケーションは、関連する対話セッション上でのアクティビティをモニタするモニタ手段と、前記モニタされたアクティビティがアンロード・イベントを有するかどうかを判定するテスト手段と、選択されたアンロード・イベントの判定に応じて前記関連する対話セッションを終了する終了手段と、前記対話セッションを終了するよう関連するウェブ・サーバに通知する通知手段とを有している。 - 特許庁

The synchronization control means 2 is constituted of an external circuit which distributes/outputs a clock signal CLK from a testing apparatus body 1 to the plurality of semiconductor integrated circuits, receives respective test result outputs from the plurality of semiconductor integrated circuits, and suspends outputting of the distributed clock signal CLK, from respective test result output timings to the slowest timing.例文帳に追加

同期化制御手段２は、テスト装置本体１からのクロック信号ＣＬＫを複数の半導体集積回路に分配して出力するとともに、複数の半導体集積回路から夫々テスト結果の出力を受け付けて、分配したクロック信号ＣＬＫの出力を各テスト結果の出力タイミングから最も遅いタイミングまで停止する外付け回路で構成されている。 - 特許庁

The method for testing a memory by writing and reading test date in and from the memory comprises a comparing step of comparing one of two data continuously read of data sequentially read in synchronization with a clock with another as expected data, and a decision step of deciding a fault of the memory based on a comparison result obtained by the comparison step.例文帳に追加

テストデータをメモリに書き込んで読み出すことでメモリを試験するメモリ試験方法において、クロックに同期して順次読み出されるデータのうち、連続して読み出される２つのデータのうち一方を期待データとして他方と比較する比較ステップと、比較ステップで得られる比較結果に基づいてメモリの不良を判定する判定ステップとを含むように構成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor module and its tester facilitating high-density mounting of electronic components, structural designing, testing, and failure analysis of semiconductor modules and to provide a small semiconductor module having a high frequency circuit capable of preventing or reducing deterioration of high frequency characteristics due to influence of internal wiring and excelling in test convenience.例文帳に追加

電子部品の高密度実装や半導体モジュールの構造設計、検査および故障解析などが容易である半導体モジュールとその検査装置を提供し、さらには、高周波回路を有する小型の半導体モジュールにおいて、内部配線の影響による高周波特性の劣化が防止あるいはより低減され且つ検査の利便性に優れた半導体モジュールを提供すること。 - 特許庁

The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.例文帳に追加

試験装置は、テスト信号供給回路２０と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路３０と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部４０と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路５０とを有する。 - 特許庁

To provide a very epoch-making film evaluation tester and a film evaluation testing method capable of evaluating the characteristics of a thin film as much as several ten μm or less, measuring the wear resistance in a short time by a very simple operating procedure without scattering of a propellant injected on a subject, lessening a measurement error, attaining good reproducibility and miniaturizing the tester.例文帳に追加

数十μｍ以下の薄い皮膜の特性でも評価することができ、被験体に噴射された噴射材が飛散したりせず、極めて簡易な操作手順で短時間に摩耗性を測定することができ、測定誤差が小さくて再現性に秀れ、しかも、装置を小型化し得ることもできる極めて画期的な皮膜評価試験機及び皮膜評価試験方法を提供すること。 - 特許庁

This penetration endurance evaluating testing device for evaluating the penetration endurance of the sheet-like material by freely dropping the sharp cutting tool in the vertical direction, comprises a mechanism part for freely dropping the cutting tool from an arbitrary height, and the penetration profile of a multilayer structure is measured by continuously measuring the damping energy from the collision of the cutting tool with the sample to its stop.例文帳に追加

鋭利な刃物を鉛直方向に自由落下させて、シート状材料の耐貫通性を評価するための装置において、刃物を任意の高さから自由落下させる機構部と、刃物が試料に衝突してから停止するまでの減衰エネルギーを連続的に測定することにより多層構造物の貫通プロファイルを測定することを可能とした耐貫通性評価装置とする。 - 特許庁

This vehicle collision testing device 10 has a first rail 20, a first towing tool 22 moved while being guided by the first rail 20 to tow a first vehicle 50, a second rail 30 arranged in parallel with the first rail 20 separated by a prescribed distance, and a second towing tool 32 moved while being guided by the second rail 30 to tow a second vehicle 60.例文帳に追加

本発明に係る車両衝突試験装置１０は、第１レール２０と、第１レール２０に案内されて移動して第１車両５０を牽引する第１牽引ツール２２と、第１レール２０と所定距離隔てて平行に配置されている第２レール３０と、第２レール３０に案内されて移動して第２車両６０を牽引する第２牽引ツール３２とを有する。 - 特許庁

The semiconductor testing device 1 includes a plurality of contactors 11 contacting the semiconductor device 20 of an measuring object, heating elements 31 thermally connected to each of the plurality of contactors 11, and a driving part 8 for giving each of the contactors the difference of height fitting to the irregularity of the surface of the semiconductor device 20 by vertically driving each of the plurality of contactors 11.例文帳に追加

測定対象の半導体装置２０に当接する複数のコンタクタ（当接体）１１と、複数のコンタクタ１１の各々に熱的に接続された発熱体３１と、複数のコンタクタ１１の各々を上下に駆動することにより、コンタクタ１１の各々に半導体装置２０の表面の凹凸に合った高低差を付与する駆動部８とを有する半導体試験装置１による。 - 特許庁

The discharge lamp lighting device 5 is provided with a startup means 54 impressing startup voltage on a pair of electrodes 311A, voltage impressing means 52, 53 impressing testing voltage on the pair of electrodes 311A, a state detection means 57 detecting a discharge state between the pair of electrodes 311A, and a control means 58 controlling the startup means 54 and the voltage impressing means 52, 53.例文帳に追加

放電灯点灯装置５は、一対の電極３１１Ａに始動電圧を印加する始動手段５４と、一対の電極３１１Ａに試験用電圧を印加する電圧印加手段５２，５３と、一対の電極３１１Ａ間の放電状態を検出する状態検出手段５７と、始動手段５４及び電圧印加手段５２，５３を制御する制御手段５８とを備える。 - 特許庁

An alignment device used in the testing device includes: a first pusher mechanism and a first positioning mechanism arranged on one and the other of a pair of opposing sides of a panel receiving face, at an interval along respective extending directions of the corresponding sides; and a second pusher mechanism and a second positioning mechanism arranged on one and the other of the other pair of opposing sides of the panel receiving face.例文帳に追加

試験装置で得用いるアライメント装置は、パネル受け面の対向する一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、対応する辺の延在方向に間隔をおいて配置された第１のプッシャー機構及び第１の位置決め機構と、パネル受け面の対向する他の一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、配置された第２のプッシャー機構及び第２の位置決め機構とを含む。 - 特許庁

This semiconductor testing device for performing a test by giving a test signal generated based on pattern data to a test object includes a pattern editor means for describing the pattern data on the spread sheet constituted by using the rectangular region partitioned by rows and columns as the minimum unit, creating the pattern file of a spread sheet form, and editing the pattern file.例文帳に追加

本発明は、パターンデータに基づいて生成した試験信号を被試験対象に与えて試験を行う半導体試験装置において、行および列によって区切られた矩形領域を最小単位として構成したスプレッドシートに前記パターンデータを記述し、スプレッドシート形式のパターンファイルを作成するとともに、前記パターンファイルを編集するパターンエディタ手段を備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The semiconductor testing device including the top plate in contact with a prober, and a test head body for supporting the top plate in the floating state, also includes a fixing means provided between the top plate and the test head body, for fixing the top plate and the test head body after bonding operation between the prober and the top plate.例文帳に追加

プローバに接するトッププレ−トと、このトッププレ−トをフローティング支持するテストヘッド本体とを具備する半導体試験装置において、前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体との間に設けられ前記プローバとトッププレ−トとの結合動作後に前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体とを固定する固定手段を具備したことを特徴とする半導体試験装置である。 - 特許庁

To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.例文帳に追加

この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

An ESD testing apparatus 1 includes an ESD generator 11 for generating electrostatic discharge for a resistance test, ESD waveform measuring device 21, 22 for measuring waveform characteristics of the electrostatic discharge, a counter 23 for counting generation frequency of the electrostatic discharge, and a controller 16 for measuring the waveform characteristics of the electrostatic discharge when the generation frequency reaches a threshold.例文帳に追加

本発明に係るＥＳＤ試験装置１は、耐性試験用の静電気放電を発生させるＥＳＤ発生手段１１と、静電気放電の波形特性を測定するＥＳＤ波形測定手段２１，２２と、静電気放電の発生回数をカウントするカウンタ２３と、該発生回数が閾値に達した場合に静電気放電の波形特性の測定を行う制御手段１６とを備える。 - 特許庁

The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加

この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

In the subscriber line testing system, an IP converter 6 provided with a test connection control part 61 for receiving a test request from a subscriber terminal 2 is connected through an IP network to a new test reception board system 1B, and the IP converter 6 includes a test command conversion part 62 for converting control information by the IP network to control signals using a speech channel (B channel).例文帳に追加

加入者端末２から試験依頼を受け付ける試験接続制御部６１を備えたＩＰ変換装置６が、ＩＰ網を介して新試験受付台システム１Ｂを接続される加入者線試験システムであって、ＩＰ変換装置６は、さらにＩＰ網による制御情報を通話チャネル（Ｂチャネル）を用いた制御信号に変換する試験コマンド変換部６２を備える。 - 特許庁

A testing device 100 includes a rotating shaft 23 for fixing a sealing liner 7, such that the center of the sealing liner 7 corresponds to the rotation center C; a movable member 28 having a movable opening 64 through which the rotating shaft 23 passes, and a sealing ring 8 fixed to the inner circumference of the movable opening 64; and a static member 27 rotatably holding the movable member 28.例文帳に追加

本発明に係る試験装置１００は、シールライナ７の中心が回転中心Ｃに一致するようシールライナ７を固定する回転軸２３と、回転軸２３が貫通する可動開口部６４が形成され、可動開口部６４の内周にシールリング８が固定される可動部材２８と、可動部材２８を回転可能に保持する静止部材２７と、を備えている。 - 特許庁

A method for producing a probe test head for testing a semiconductor integrated circuit includes a step in which a plurality of probes 81 are defined for one or a plurality of masks, a step in which a plurality of probes are produced by using the masks, and a step in which a plurality of probes 81 are arranged by inserting them into the corresponding holes of a first die 42 and a second die 44.例文帳に追加

半導体集積回路をテストするためのプローブ・テスト・ヘッドを製造する方法は、１つ又は複数のマスクとして、複数のプローブ８１の形状を画成するステップと、該マスクを使用して、複数のプローブを製造するためのステップと、第１のダイ４２と第２のダイ４４内の対応するホールを通して複数のプローブ８１を配置するステップとを含んでいる。 - 特許庁

The washing-unrequired rice producing device for testing includes: processing containers 6, 7 which are removably mounted in a body and accommodate grains to be treated, water and adsorbents; a stirring part 14 which stirs the contents accommodated in the processing containers; a stirring-controlling part 10 which controls the operation of the stirring part 14; and an adsorbent-recovering container 5 which recovers the adsorbents accommodated in the processing containers 6,7.例文帳に追加

本体内に取り外し可能に装着され、被処理穀粒、水及び吸着材を収容する加工容器６，７と、加工容器内に収容された内容物を撹拌する撹拌部１４と、撹拌部１４の動作を制御する撹拌制御部１０と、加工容器６，７に収容された吸着材を回収する吸着材回収容器５と、を備えたテスト用無洗米製造装置。 - 特許庁

In the method, the presence of mixing with expansive material or shrinkage-reducing admixture can be determined, by checking that a circumferential strain amount obtained from a strain gauge attached to the central position height-wise on the lateral surface of a disposable form, such as a thin/thick steel plate mold, namely, a thin cylindrical form used for concrete strength testing, indicates a transition in values for a certain trend.例文帳に追加

コンクリート強度試験用に用いられる薄肉円柱型枠である薄厚鋼板製モールド等の使い捨て型枠の外側面の高さ方向の中央位置に貼付したひずみゲージによって得られた円周方向ひずみ量が所定傾向の値の推移を示すことを確認することで、膨張材または収縮低減剤の混入の有無を判定することができる。 - 特許庁

To provide an electrified filter medium, which is obtained by combining a polyester fiber with a polyolefin fiber and exhibits high particle collecting efficiency at a low pressure loss, the combustive classification of which is self-extinguishing according to JIS D 1201(1977): a combustibility testing method of organic materials in a cabin of an automobile and which does not generate dioxins when incinerated.例文帳に追加

ポリエステル系繊維とポリオレフィン系繊維との組合せで、低圧力損失で高い粒子捕集効率を発現できる帯電濾材を提供するものであり、さらには、「ＪＩＳ Ｄ １２０１（１９７７）自動車車室内用有機資材の燃焼性試験方法」による燃焼性区分が自消性であり、かつ焼却処分時にダイオキシン類を発生しない帯電濾材をも提供する。 - 特許庁

This deterioration testing device is equipped with a laser light output part 11 for outputting laser light, a specimen support part 19 for supporting a liquid crystal panel (specimen) 15 irradiated with the laser light, and a temperature control means 16 for adjusting the temperature of the liquid crystal panel 15 in the abutting state on the liquid crystal panel 15 supported by the specimen support part 19.例文帳に追加

本発明に係る劣化試験装置は、レーザ光を出力するレーザ光出力部１１と、前記レーザ光を照射される液晶パネル（被検物）１５を支持する被検物支持部１９と、前記被検物支持部１９に支持された前記液晶パネル１５と当接して当該液晶パネル１５の温度を調整する温度制御手段１６とを備えている。 - 特許庁