「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(277ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a push button structure evading failure in an electric part in a cover during an electrostatic surge testing without enlarging surrounding shape of a button, by having no occurrence of an operation failure in the button or degradation in appearance by easily aligning a center of an opening in the cover and a center of the button when assembling.例文帳に追加

組立時にカバーの開口中心とボタン部の中心とを簡単に位置決めすることができ、ボタン部の動作不良や外観の品位低下などを引き起こすことが無く、ボタン部の周囲形状を大きくしないで静電気サージ試験におけるカバー内の電気部品の故障を回避できるプッシュボタン構造を提供する。 - 特許庁

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device.例文帳に追加

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。 - 特許庁

The method for measuring impact absorption energy using the machine for testing impact of dropping weight, measures the impact absorption energy of a test specimen by using the kinetic energy when a dropping weight is freely fallen without colliding the weight to the test specimen and the kinetic energy after the weight is collided to the test specimen and the test specimen is broken.例文帳に追加

落錘式衝撃試験機を用いた衝撃吸収エネルギーの測定方法であって、落錘を試験片に衝突させずに自由落下させた際の運動エネルギーと、落錘が試験片に衝突し、破断させた後の運動エネルギーを用いて、当該試験片の衝撃吸収エネルギーを測定する。 - 特許庁

This semiconductor testing device 1 having a pattern memory circuit 12 used for performing functional tests on semiconductor integrated circuits is provided with a backup power source 14 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 when the power supply from a power supply unit 11 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 at normal time is shut off.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験をするためのパターンメモリ回路１２を有する半導体試験装置１において、通常時にパターンメモリ回路１２に電源を供給する電源ユニット１１からの電源の供給が遮断されたとき、パターンメモリ回路１２に電源を供給するバックアップ電源１４を備えた。 - 特許庁

To provide an impact testing machine capable of easily applying an impact other than a sine half wave, capable of obtaining an impact wave response spectrum having a larger inclination in a low frequency region, large in a range of applicable impact force, having application properties in an impact applying method and capable of applying various impacts.例文帳に追加

楽に正弦半波以外の衝撃を印加することができ、低周波数領域においてより大きい傾き持つ衝撃波応答スペクトルが得られ、印加可能な衝撃力の範囲が大きく、衝撃印加方法に応用性があり多種多様な衝撃を与えることができる衝撃試験機を提供する。 - 特許庁

This accelerated testing method of the stain of the coating film includes a deterioration process composed of an optical deterioration process for optically deteriorating the coating film by irradiation with light containing ultraviolet rays and an acid deterioration process for deteriorating the coating film by an acidic solution and a stain fixing process for fixing an artificial staining substance to the coating film deteriorated by light and an acid.例文帳に追加

紫外線含有光の照射により塗膜を光劣化させる光劣化工程及び酸性液により塗膜を酸劣化させる酸劣化工程よりなる劣化工程と、光劣化及び酸劣化した前記塗膜に人工汚れ物質を固着させる汚れ固着工程とを含む。 - 特許庁

The method of detecting edge of electronic component comprises the steps of taking an image of a non-testing component, detecting edge position from the image data of component photograph on the basis of characteristic of the body of the same component, and detecting edge position from the image data of component photograph on the basis of characteristic of the protruded part of the same component.例文帳に追加

非検査部品の画像を撮影し、撮影された部品の画像のデータから、その部品の部品本体に関する特徴に基づいてそのエッジ位置を検出し、撮影された部品の画像のデータから、その部品の張出部に関する特徴に基いてそのエッジ位置を検出する段階とよりなる構成である。 - 特許庁

To provide a method for avoiding inhibition of nucleic acid amplification reaction with a component contained in a medium, especially with a bile component by concentrating a sample to be tested so as to increase detection sensitivity in the case of carrying out genetic testing with regard to a cell body obtained by a culture process and a method for amplifying a nucleic acid using the method.例文帳に追加

培養法によって得られた菌体について遺伝子検査を実施する場合において、検出感度を上げるために被検試料を濃縮し、かつ培地中に含まれる成分、特に胆汁成分による核酸増幅反応の阻害を回避する方法と前記方法を用いた核酸増幅法を提供すること。 - 特許庁

This dust prevention testing device 1 is constituted of an exciter 3 excitable in a prescribed vibration condition, a sealable dust housing 4, a sealable housing 5 for evaluation fixed in the dust housing 4, and a dust supply device 6 capable of supplying a prescribed quantity of dust for the test into the dust housing 4.例文帳に追加

防塵試験装置１は、所定の振動条件で加振可能な加振器３と、密閉可能な粉塵箱体４と、この粉塵箱体４内に固定された密閉可能な評価用箱体５と、粉塵箱体４内に試験用粉塵を所定量供給可能な粉塵供給装置６とから構成されている。 - 特許庁

In this spraying corrosion testing device using a water-sealing system, a porous water-absorbing material is mounted on either or both of a lower fringe part of an upper lid of the test tank and a bottom part of a groove part of the test tank, and the bottom part of the groove part is tilted downward toward the inside of the test tank.例文帳に追加

ウォーターシール方式を用いた噴霧腐食試験装置において、前記試験槽の上蓋の下方周縁部と前記前記試験槽の溝部の底部とのどちらか一方又は両方に多孔質吸水性物質を取り付け、前記溝部の底部を前記試験槽内部に向かって下方傾斜させること。 - 特許庁

In the material testing machine 100 for measuring the characteristics of the material of a sample S, a CPU 3 executes a vibration determining program 52, to output the data related to vibration, which is detected by a vibration detecting part 2 for detecting the vibration, produced during measurement of the characteristics of the material, to a display part 7.例文帳に追加

試料Ｓの材料特性を測定する材料試験機１００において、ＣＰＵ３は、振動判定プログラム５２を実行することによって、材料特性の測定中に生じた振動を検出する振動検出部２により検出された振動に関するデータを表示部７に出力する。 - 特許庁

Light with wavelengths of 300 nm to 500 nm is irradiated to a hen eggs group E by a lighting part 4 and a diffusive reflector 5 disposed on an inner wall of an egg testing chamber 2 to emphasize contrast between eggshell surfaces and spots deposited on the surfaces by fluorescence of 600 nm to 700 nm radiated in the process of excited π-electrons in eggshell pigment returning to a base level.例文帳に追加

検卵室２の内壁に配設した照明部４と拡散反射板５によって、波長300nm〜500nmの光を鶏卵群Ｅに照射し、励起した卵殻色素中のπ電子が基底準位に復帰する過程で放射した600nm〜700nmの蛍光で卵殻表面と該面に付着した汚れのコントラストを強調する。 - 特許庁

To provide a judge method of the blood compatibility of a circulatory artificial internal organ capable of preliminarily testing the blood compatibility of the circulating artificial internal organ prior to perform an animal experiment without requiring a special member to efficiently and accurately evaluate whether the circulatory artificial internal organ becomes the target of the animal experiment.例文帳に追加

特殊な部材を必要とせずに、動物実験を行う前に循環器系人工臓器の血液適合性をあらかじめ試験し、該人工臓器を動物実験の対象とするかどうかを効率良く的確に評価することができる循環器系人工臓器の血液適合性の判定方法を提供する。 - 特許庁

Test sound output devices 23 for outputting a test sound for testing the hearing acuity of the subject 12 are arranged in a correction apparatus 14 selectively disposing corrective lenses 22 for correcting the visual performance of the respective subject's eyes 12 and 12b viewing a visual target 11 though a pair of optometric windows 21 in the respective optometric windows 21 respectively.例文帳に追加

一対の検眼窓２１を通して視標１１を見る各被検眼１２ａ，１２ｂの視機能を矯正するための矯正レンズ２２を各検眼窓２１内にそれぞれ選択的に配置する矯正装置１４に、被検者１２の聴力を検査するための検査音を出力する検査音出力装置２３を設ける。 - 特許庁

The crack testing method for pneumatic tires includes a traveling step for traveling a pneumatic tire T on a drum in a load bearing state with a predetermined load applied to the pneumatic tire T and jetting ozone towards a maximum projecting position P where an outer surface of a side wall part Ta in the load bearing state, is maximally projected to a tire axial direction outward.例文帳に追加

空気入りタイヤＴに所定の荷重を負荷した荷重負荷状態にて、該空気入りタイヤＴをドラム上で走行させながら、前記荷重負荷状態においてサイドウォール部Ｔａの外表面が最もタイヤ軸方向外側に突出する最大突出位置Ｐに向かってオゾンを噴出させる走行工程を具える。 - 特許庁

A test signal is imparted to each of the analog circuits 12-14 when testing, the alternating current signal output from the terminal 19 of the integrated circuit 11 is converted into a digital signal in an ADC 24, and the digital data is fast-Fourier-transformation-processed to detect a frequency component included in the alternating current signal, in a DSP 26.例文帳に追加

テスト時には、アナログ回路１２〜１４へ試験信号を加え、集積回路１１の端子１９から出力される交流信号をＡＤＣ２４においてディジタルデータに変換し、ＤＳＰ２６において、上記ディジタルデータに対し高速フーリエ変換演算を行って交流信号に含まれる周波数成分を検出する。 - 特許庁

When a projectile is launched from a launcher and a tracking radio wave transmitted from the projectile is directed toward a target for testing projectile, the tracking radio wave and a searching radio wave are received by a detection antenna and delivered, as an electric signal, to a gain detection circuit and recognized as a gain at the time of tracking.例文帳に追加

発射機から飛しょう体が発射され、飛しょう体が送信する追尾電波が飛しょう体試験用目標に向けられた場合、検知アンテナで受信する電波は捜索電波及び追尾電波となり、捜索電波及び追尾電波が電気信号として利得検知回路に送られ、追尾時の利得として認識される。 - 特許庁

This abrasion testing apparatus 2 is provided with both a rotating drum 4 to which the test pieces T1-T6 are mounted and to be driven and rotated by a drive motor 5 and a water flow injecting device 6 having an injection nozzle 25 for injecting a flow of water to the test pieces T1-T6 mounted to the rotating drum 4 to rotate.例文帳に追加

摩耗試験装置２は、試験体Ｔ１〜Ｔ６が装着され駆動モータ５により回転駆動される回転ドラム４と、回転ドラム４に装着されて回転される試験体Ｔ１〜Ｔ６に対して水流を噴射する噴射ノズル２５を有する水流噴射装置６とを備えている。 - 特許庁

A testing method for peracetic acid ESC resistance includes forming the member into a testpiece being narrow at its center, securing the testpiece at one end to the lower part of a container holding the solution of peracetic acid and to a weight at the other, dipping the testpiece in the solution, and measuring breaking time until the testpiece breaks.例文帳に追加

洗浄殺菌機用部材を中央部で幅が狭い被試験片に成形し、被試験片の端を過酢酸溶液の入った容器の下部に固定し、他の端を重りに固定し、被試験片を過酢酸溶液に浸し、被試験片の破断するまでの破断時間を測定する耐過酢酸ＥＳＣ性試験方法を提供する。 - 特許庁

In a semiconductor device in which the bonding pads, which are electrodes for bonding an external connecting wire or the bump on a semiconductor chip, are formed by making the bonding pads in the staggered arrangement, the test pads which are applied for contacting the probe at the time of wafer testing are provided in a surplus space for the bonding pads formed by making the bonding pads in the staggered arrangement.例文帳に追加

半導体チップ上の外部接続用ワイヤまたはバンプをボンディングする電極であるボンディング用パッドを千鳥状に配列した半導体装置において、ウエハテスト時にプローブを接触させるためのテスト用パッドを、千鳥状に配列されたボンディング用パッドの余剰のスペースに設けたものである。 - 特許庁

To provide maintainability testing method and device/system implementing the method which can be applied to various porous materials including such filter devices as single layer thin film, double layer thin film, etc., providing non-correlated universal standards for characteristic evaluation of porous material.例文帳に追加

単層薄膜装置及び複層薄膜装置等のフィルター装置を含む多様な多孔性材料に対して適用することができ、多孔性材料の特性の評価に対して非相関的で普遍的な標準を与える保全性試験の方法及びその方法を実施する装置及びシステムを提供する。 - 特許庁

The ozone sterilization testing equipment includes a hollow sterilization container 2, an ozone generator 3 for supplying ozone gas into the sterilization container, an ozone gas monitor 22 for measuring the concentration of ozone in the sterilization container and a CT value control means 21 for integrating the product of the concentration of ozone measured by the ozone gas monitor and predetermined time at each predetermined time.例文帳に追加

オゾン滅菌試験装置は、中空の滅菌容器２と、滅菌容器内にオゾンガスを供給するオゾン発生器３と、滅菌容器内のオゾン濃度を計測するオゾンガスモニター２２と、所定時間ごとにその間のオゾンガスモニターが計測したオゾン濃度と所定時間との積を積算するＣＴ値管理手段２１と、を有する。 - 特許庁

To provide a phantom liquid agent containing a non-ionic surfactant and water, that is, a human body dielectric constant simulation liquid agent, capable of testing effects of electromagnetic waves in a high frequency range on the human body, while an increase in the viscosity and high temperature dependency are suppressed.例文帳に追加

非イオン性界面活性剤と水とを含むファントム液剤、すなわち人体誘電率模擬液剤であって、粘度上昇や高い温度依存性を抑制した状態で、高周波帯域における電磁波の、人体に対する影響を試験することが可能な人体誘電率模擬液剤を提供する。 - 特許庁

To provide ultrasonic diagnostic equipment for improving diagnostic accuracy and reproducibility using a reference cross-section by allowing even an unskilled person to easily draw the reference cross-section by correct two-dimensional scanning to be required for cardiac testing, and also to provide an ultrasonic image processing apparatus, and an ultrasonic diagnostic equipment control program.例文帳に追加

心臓の検査に必要となる正確な二次元走査による基準断面の描出を熟練者でなくても容易とし、基準断面を用いた診断の精度や再現性を高めることが可能な、超音波診断装置、超音波画像処理装置及び超音波診断装置制御プログラムを提供すること。 - 特許庁

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

To conduct various kinds of testing for characteristic of optical semiconductor in a state with the wavelength locked, in a wavelength locker module having a function to lock the wavelength and a wavelength variable laser module utilizing the wavelength locking function, by feedback of wavelength of an output light detected by a wavelength monitor and by conroling the temperature of the module.例文帳に追加

波長モニターにより検知した出力光の波長をフィードバックして温度制御をおこなうことにより波長をロックする機能を有する波長ロッカーモジュールや、この波長のロック機能を利用した波長可変レーザモジュールに対して、波長をロックした状態で光半導体としての各種特性の試験をおこなうこと。 - 特許庁

In this semiconductor testing device capable of measuring plural semiconductor devices concurrently, a software executed on a tester CPU executes an IN command for providing an acceptance/rejection determination result after finish of a test during the test to provide the determination result of a DUT unit from a comparator 10.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に測定可能な半導体試験装置において、テスタＣＰＵ上で実行されるソフトウェアが、試験終了後に合否判定結果を取得するためのＩＮ命令を、試験中に実行することによってコンパレータ部１０からＤＵＴ単位の合否判定結果を取得する。 - 特許庁

An electrode terminal 12 testing a semiconductor integrated circuit is disposed on a scribe lane 13 provided for dividing the semiconductor integrated circuit, and the electrode terminal 12 on this scribe lane 13 is connected to electrode terminals 11a, 11b of the opposing semiconductor integrated circuit by a front layer wiring 15a.例文帳に追加

半導体集積回路を分割するために設けられているスクライブレーン１３上に、半導体集積回路を検査するための電極端子１２を配置し、このスクライブレーン１３上の電極端子１２に、相対する半導体集積回路の電極端子１１ａ，１１ｂを表層配線１５ａにより接続する。 - 特許庁

To operationally verify whether or not a digital/analog converter built in a semiconductor integrated circuit can execute a normal digital/analog conversion action when using the digital/analog converter as a test signal generator for testing an analog/digital converter built in the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたアナログ／デジタル変換器をテストするためのテスト信号発生器として半導体集積回路に内蔵されたデジタル／アナログ変換器を使用する際に、デジタル／アナログ変換器が正常なデジタル／アナログ変換動作を実行可能であるか否か動作検証することを可能とすること。 - 特許庁

The device and method for testing the integrated circuit comprised of at least two circuit parts operated by at least two different clock signals at normal operation are provided, and the circuit operated by the plurality of clock signals is tested for a minimum time by minimum test vectors.例文帳に追加

通常動作において、少なくとも２つの異なるクロック信号によって動作する少なくとも２つの回路部分からなる集積回路をテストするための装置および方法を提供し、さらに、複数のクロック信号によって動作する回路を、最小限の時間で、かつ、最小限のテストベクトルによってテストする。 - 特許庁

The ceramic substrate for semiconductor manufacturing/testing which has a conductive layer on its surface or inside is comprised of a nitride ceramic containing oxygen and its thickness is 50 mm or less.例文帳に追加

セラミック基板の内部または表面に導体層を有する半導体製造・検査用セラミック基板において、前記セラミック基板は、窒化物セラミックからなり、その窒化物セラミック中には、酸素が含有されているとともに、前記セラミック基板の厚さは、５０ｍｍ以下であることを特徴とする半導体製造・検査用セラミック基板。 - 特許庁

The customs or other competent authorities may allow the right holder, importer or exporter to examine the goods, the clearance of which has been suspended in accordance with Article 39, and to remove samples for examination, testing and analysis, to determine whether the goods are counterfeit. 例文帳に追加

税関又は他の管轄当局は，権利所有者，輸入業者又は輸出業者に対して，第39条に従い通関が差し止められた商品を検査することを許可すること，及び商品が偽造であるか否か決定するために検査，試験，分析用の見本を採取することを許可することができる。 - 特許庁

In particular, a TFT 30 is an N channel transistor that easily generates unpaired coupling hand and carrier trapping than a P channel transistor, and a predetermined treatment such as annealing or the like effectively suppresses the degradation of operational characteristic or reliability after BT testing caused by the unpaired coupling hand or carrier trapping.例文帳に追加

特に、ＴＦＴ３０は、Ｐチャネル型トランジスタより不対結合手及びキャリアトラップが発生し易いＮチャネル型トランジスタであり、アニール処理等の所定の処理によって、不対結合手及びキャリアトラップに起因して生じるＢＴ試験後のおける動作特性及び信頼性の低下が効果的に抑制されている。 - 特許庁

This semiconductor device and its testing method are equipped with an N-channel type MOSFET 11 and its protection diode 12, and have a switching circuit SW-1 for validating the protection diode 12 by being switched on by fusing of a fuse 2 between the N-channel type MOSFET 11 and the protection diode 12.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１とその保護ダイオード１２とを備え、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１と保護ダイオード１２との間に、ヒューズ２の溶断によってスイッチをオンさせて保護ダイオード１２を有効にするスイッチ回路ＳＷ−１を有する。 - 特許庁

For a semiconductor device having a plurality of analog input terminals AIN0 and AIN1, which have internal analog switches 11 and 12, characteristic testing of each analog input terminal switched by the analog switches 11 and 12 is conducted by simultaneously switching on the analog switches 11 and 12.例文帳に追加

複数のアナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１を持つ半導体装置において、アナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１は内部アナログスイッチ１１，１２を有し、前記アナログスイッチ１１，１２により切り替えられている各アナログ入力端子の特性テストを、そのアナログスイッチ１１，１２を２個同時にオンさせて行う。 - 特許庁

The total intelligent test procedure management system is provided with a document management database 2 having an electronic manual 71 showing a procedure for testing a test target, and a terminal machine 15 reading the electronic manual 71 inside the document management database 2 to display it and allowing input of the test result on the test target.例文帳に追加

本発明の総合インテリジェント試験進行管理システムは、試験対象を試験する手順を示した電子要領書７１を有するドキュメント管理データベース２と、ドキュメント管理データベース２内の電子要領書７１を読み出して表示するとともに、試験対象の試験結果を入力できる端末機１５とを備えている。 - 特許庁

In the method of testing a droplet ejecting head, droplet ejecting performance of the droplet ejecting head is preferably evaluated by ejecting ink from a plurality of nozzle of the droplet ejecting head toward an ink landing body which faces the nozzle forming surface side of the droplet ejecting head and is movable relative to the droplet ejecting head.例文帳に追加

本発明の液滴吐出ヘッドの試験方法は、液滴吐出ヘッドのノズル形成面側に対向するとともに当該液滴吐出ヘッドに対して相対的に移動可能なインク着弾体へ向けて、液滴吐出ヘッドの複数のノズルからインクを吐出することにより、液滴吐出性能を評価することが好ましい。 - 特許庁

The semiconductor testing device 1 includes a prober 2, the measuring device 3 and an electronic control device 4, and can perform gate leakage current measurement of a semiconductor element 10, reverse withstand voltage measurement between a gate and a drain, and between the gate and a source, breakdown voltage measurement between the gate and the source, and gate threshold voltage measurement.例文帳に追加

本発明に係る半導体試験装置１は、プローバ２、測定装置３、電子制御装置４を備えており、半導体素子１０のゲート漏れ電流測定、ゲート・ドレイン間およびゲート・ソース間の逆耐圧測定、ゲート・ソース間の降伏電圧測定、およびゲート閾値電圧測定が可能である。 - 特許庁

To provide an indoor-outdoor dual purpose load moving testing device capable of being conveyed to a measurement field by being equipped with only a necessary minimum mechanism and being miniaturized, and executing also an outdoor test by being equipped with a temperature providing means for setting and keeping a sample piece part at a desired temperature.例文帳に追加

必要最低限の機構のみを備え、装置を小型化することにより測定現場への搬送を可能にし、且つ、供試体部分を所望の温度に設定、保持するための温度供給手段を備えることにより屋外での試験も実行可能な、屋内外兼用の荷重移動試験装置を提供する。 - 特許庁

This connection strength testing device is equipped with a stage 6, where a semiconductor or semiconductor device 1 equipped with a bump electrode 100 is fixed, a heater 2 which heats the semiconductor or the semiconductor device 1, a probe 8 which is adhered to the bump electrode 100, and a push-pull gauge 9 which measures the tension strength of the bump electrode 100.例文帳に追加

バンプ電極１００を備えた半導体または半導体装置１を固定するステージ６と、前記半導体または半導体装置１を加熱するヒータ２と、前記バンプ電極１００に接着されるプローブ８と、前記バンプ電極１００の引張り強度を測定するプッシュプルゲージ９とを備えた構成。 - 特許庁

The first part 210, the second part 250 for supporting the first part 210, and a controlling mechanism 230 allowing that the first part 210 is moved relatively to the second part 250 when a piston 214 is lowered by receiving carbon dioxide gas pressure so as to change the height dimension of the dummy container 200 for testing, are installed.例文帳に追加

第１部分２１０と、第１部分２１０を支持する第２部分２５０と、試験用ダミー容器２００の高さ寸法が変化するように、炭酸ガス圧を受けてピストン２１４が降下したときに、第１部分２１０が第２部分２５０に対して相対的に移動することを許す制御機構２３０と備える。 - 特許庁

Between a buried core 11 and a custom logic section 12, a test shift register 13 constituting a scan path circuit for testing the buried core 11 of an input register and an output register is provided, and the first stage flip-flop of a scan path circuit 122 in the custom logic section 12 is connected with the last stage flip-flop of the test shift register 13.例文帳に追加

埋め込みコア１１とカスタムロジック部１２との間に、入力用レジスタおよび出力用レジスタで埋め込みコア１１テスト用のスキャンパス回路を構成するテスト用シフトレジスタ１３を備え、カスタムロジック部１２内のスキャンパス回路１２２の初段のフリップフロップとテスト用シフトレジスタ１３の最終段のフリップフロップとを接続する。 - 特許庁

In addition to a correct answer data pattern collected in collecting correct answer data, a test target data turning out to be test NG because of slight difference in timing in testing but supposed to be test OK under normal circumstances is registered into a correct answer data pattern storage part 52 as a correct answer data pattern or an additional correct answer data pattern.例文帳に追加

正解データパターン記憶部52には、正解データ収集時に収集した正解データパターン以外にも、検証時に、微妙なタイミングのずれにより検証ＮＧとはなったが、本来なら検証ＯＫとなるべき検証対象データが正解データパターン（追加正解データパターン）として登録されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which the cost of a test can be reduced due to the cost reduction of a tester by reducing a capacity of an expected value memory in the tester, in the semiconductor integrated circuit device frovided with the memory with multiple bits of word lengths and a BIST (Build In Self Test) circuit for testing the memory.例文帳に追加

語長を複数ビットとするメモリと、該メモリのテストを行うためのＢＩＳＴ回路を備える半導体集積回路装置であって、テスタ内の期待値メモリの容量を削減し、テスタのコスト削減によるテストのコスト削減を図ることができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device which vibrates a sample to detect presence or absence of a fatigue failure such as a crack in the sample and is capable of detecting occurrence of the crack in the sample without removing the sample even when the sample stops sympathetic vibration before reaching a prescribed vibration cycle.例文帳に追加

供試物におけるクラック等の疲労破壊の有無を検査するために供試物を振動させる疲労試験装置において、所定の振動サイクルに達する前に供試物が共振しなくなった場合に、供試物を取り外すことなく、供試物におけるクラック等の発生を検出することができるようにする。 - 特許庁