「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(278ページ目) - Weblio英語例文検索

The testing device include: input terminals CN1-CN12 which enable the input of one or more types of test data obtained as a result of a test covering a game machine; and a memory 321 on which inputtable data are stored which represents the types of the test data to be outputted from the game machine involved corresponding to machine type data for identifying the game machine.例文帳に追加

遊技機による試験の結果であり１以上の種類がある試験データを入力可能な入力端子ＣＮ１〜ＣＮ１２を有するとともに、遊技機を識別するための機種データに対応して、当該遊技機から出力される試験データの種類を表す入力可能データが記録されたメモリ３２１を備える。 - 特許庁

A testing sever sends a test pattern that a voice signal is encoded into a signal loop-back means installed at an exchange interface side in the TGW through a voice encoding section and a packet assembling section in the TGW, and receives the test pattern sent from the signal loop-back means through the voice encoding section and the packet assembling section, again.例文帳に追加

試験サーバより、ＴＧＷの音声符号化部とパケット化部を介して、ＴＧＷ内の交換機インタフェース側に設けた折り返し手段へ、音声信号を符号化して得た試験パターンを送り、その信号折り返し手段からの試験パターンを、再度、音声符号化部とパケット化部を介して試験サーバで受信する。 - 特許庁

To provide a load test support system, connected with a power source being a test sample as a load for testing of response to the load of the power source, which can be adapted to the actual load current value for enabling the minimum width of the load resistance, adjustable in each electric power range, to be set as small as possible.例文帳に追加

本発明は、試料である電力源に負荷として接続され、その電力源の負荷に対する応答の試験に供される負荷試験支援装置に関し、実際の負荷電流の値に適応し、各電力レンジにおいて可変できる負荷抵抗の最小の幅を小さく設定できることを目的とする。 - 特許庁

The semiconductor testing device 10 tests each D/A conversion circuit and A/D conversion circuit of the semiconductor integrated circuits to be measured 20, 30, 40, 50, based on digital signals outputted from each A/D conversion circuit of the semiconductor integrated circuits to be measured 20, 30, 40, 50, to thereby discriminated between a quality product and a defective product.例文帳に追加

半導体試験装置１０は、被測定半導体集積回路２０，３０，４０，５０それぞれのＡ／Ｄ変換回路から出力されたデジタル信号に基づき、被測定半導体集積回路２０，３０，４０，５０それぞれのＤ／Ａ変換回路とＡ／Ｄ変換回路とをテストし、良品、不良品を判定する。 - 特許庁

In the case of forming oriented films 24, 32 on a TFT array substrate 10 and a counterposed substrate 20, the oriented film forming device 700 forms an oriented film on a testing substrate by a spin coater 300, and then measures the film thickness of the oriented film by a film thickness measuring device 50.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ基板１０および対向基板２０に対して配向膜２４、３２を形成するにあたって、配向膜形成装置７００において、スピンコート装置３００で試験用基板に配向膜を形成した後、焼成装置４００で焼成し、しかる後に、配向膜の膜厚を膜厚測定装置５００で計測する。 - 特許庁

The testing power converter includes a power rectifying circuit section converting a commercial AC power into a DC; a system impedance simulation section simulating a system impedance arranged on a latter stage of the power rectification circuit section; and a plurality of upper and lower switching arms arranged on a latter stage of the system impedance-simulating section.例文帳に追加

また、前記試験用電力変換器は、商用交流電源を直流に変換する順変換回路部と、該順変換回路部の後段に設けられた系統インピーダンスを模擬する系統インピーダンス模擬部と、該系統インピーダンス模擬部の後段に設けられた複数の上下スイッチングアームと、を備える。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device which vibrates a sample to detect presence or absence of a fatigue failure such as a crack in the sample and is capable of detecting occurrence of the crack in the sample without removing the sample even when the sample stops sympathetic vibration before reaching a prescribed vibration cycle.例文帳に追加

供試物におけるクラック等の疲労破壊の有無を検査するために供試物を振動させる疲労試験装置において、所定の振動サイクルに達する前に供試物が共振しなくなった場合に、供試物を取り外すことなく、供試物におけるクラック等の発生を検出することができるようにする。 - 特許庁

A control means for the FC evaluation testing apparatus confirms if an overload rating exceeds a predetermined threshold value, where the overload rating is introduced on the basis of a theoretical output which a water temperature detection sensor 42 and a vapor temperature detection sensor 44 determine uniquely, and a real output which is necessary to humidify the gas to a predetermined dew temperature with the humidifier 23.例文帳に追加

ＦＣ評価試験装置の制御手段は、水温検知センサ４２、蒸気温検知センサ４４により一意的に定まる理論出力と、ガスを加湿装置２３によって所望の露点温度まで加湿するのに要する実出力とに基づいて導出される過負荷度が所定の閾値を超えるか否かを確認する。 - 特許庁

This fatigue tester for testing fatigue of a test body includes an X-ray residual stress measuring device capable of measuring a residual stress of a portion to be measured in the test body, and a stress concentration gage for measuring a stress amplitude of the portion to be measured in the test body.例文帳に追加

試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するＸ線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。 - 特許庁

Separately, an accelerated deterioration test is performed in an accelerated deterioration testing chamber indoor simulating the corrosion factor in the periphery of the aerial strip held on the support with respect to the same sample strip as the aerial strip being the deterioration diagnosing target to form a master curve of a line deterioration degree formed by measuring the capacity deterioration degree.例文帳に追加

別途に、支持物に保持された架空条体の周辺の腐食因子を室内で模擬させた加速劣化試験室で、劣化診断対象の架空条体と同様なサンプル条体に対し加速劣化試験を行って性能劣化度を測定し作成した条体劣化度のマスターカーブを作成する。 - 特許庁

This noise testing device comprises a smoothing part 13 imitating a DC power source 2A built in a device to be tested 2 and a filter part 14, and performs the noise resisting performance test of the circuit resulted from the DC power source by substituting the DC power source to supply the power to an internal circuit 2B.例文帳に追加

ノイズ試験装置は、被試験装置２に内蔵する直流電源２Ａを模擬した平滑部１３やフィルタ部１４をもつ構成にし、ノイズ試験には直流電源に置き換えて内部回路２Ｂに電源供給を行うことによって、直流電源に因る回路の耐ノイズ性能試験を行う。 - 特許庁

To provide a suitability testing apparatus of a tire slip preventing apparatus for simplifying a work process, reducing a workload of a worker, ensuring safety when the worker works, reducing a noise due to work, and precisely inspecting the suitability between a tire slip preventing member and a tire.例文帳に追加

作業工程を簡易にして、作業者の作業労力を軽減し、作業者の作業時における安全性を確保するとともに、作業に伴う騒音を低減し、高い精度をもって、タイヤ滑り止め部材とタイヤとの適合性を検査することができるタイヤ滑り止め装置の適合性試験装置を提供する。 - 特許庁

To solve such problems that accumulation and development of knowledge and techniques useful for ameliorating diseases considered to be caused by a signal transduction abnormality through a CRMP2 protein, e.g. disease symptoms such as Alzheimer's disease, schizophrenia and axonal injury are pressing need; and the development of testing tools etc., in relation thereto is expected.例文帳に追加

CRMP2タンパク質を介したシグナル伝達異常に起因すると思われる疾患、例えば、アルツハイマー病、統合失調症及び軸策損傷等のような疾患症状を改善させるために有用な知識・技術の蓄積・開発が急務であり、これに関連する試験ツール等の開発が期待されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The nuclear magnetic resonance testing apparatus 10 is also provided with: an input device 330 for designating a reference area of the cross section image of a reference body 200 and the concerned area of the object to be tested in the image; and a CPU 300 for calculating the ratio of the MRI signal intensity of the concerned area to the MRI signal intensity of the reference area.例文帳に追加

又、核磁気共鳴検査装置１０は画像の中で、基準体２００の断面画像の基準領域と、前記検査対象の関心領域を指定する入力装置３３０と、基準領域のＭＲＩ信号強度に対する関心領域のＭＲＩ信号強度の比を演算するＣＰＵ３００を備える。 - 特許庁

This connection strength testing device is equipped with a stage 6, where a semiconductor or semiconductor device 1 equipped with a bump electrode 100 is fixed, a heater 2 which heats the semiconductor or the semiconductor device 1, a probe 8 which is adhered to the bump electrode 100, and a push-pull gauge 9 which measures the tension strength of the bump electrode 100.例文帳に追加

バンプ電極１００を備えた半導体または半導体装置１を固定するステージ６と、前記半導体または半導体装置１を加熱するヒータ２と、前記バンプ電極１００に接着されるプローブ８と、前記バンプ電極１００の引張り強度を測定するプッシュプルゲージ９とを備えた構成。 - 特許庁

The first part 210, the second part 250 for supporting the first part 210, and a controlling mechanism 230 allowing that the first part 210 is moved relatively to the second part 250 when a piston 214 is lowered by receiving carbon dioxide gas pressure so as to change the height dimension of the dummy container 200 for testing, are installed.例文帳に追加

第１部分２１０と、第１部分２１０を支持する第２部分２５０と、試験用ダミー容器２００の高さ寸法が変化するように、炭酸ガス圧を受けてピストン２１４が降下したときに、第１部分２１０が第２部分２５０に対して相対的に移動することを許す制御機構２３０と備える。 - 特許庁

Between a buried core 11 and a custom logic section 12, a test shift register 13 constituting a scan path circuit for testing the buried core 11 of an input register and an output register is provided, and the first stage flip-flop of a scan path circuit 122 in the custom logic section 12 is connected with the last stage flip-flop of the test shift register 13.例文帳に追加

埋め込みコア１１とカスタムロジック部１２との間に、入力用レジスタおよび出力用レジスタで埋め込みコア１１テスト用のスキャンパス回路を構成するテスト用シフトレジスタ１３を備え、カスタムロジック部１２内のスキャンパス回路１２２の初段のフリップフロップとテスト用シフトレジスタ１３の最終段のフリップフロップとを接続する。 - 特許庁

In addition to a correct answer data pattern collected in collecting correct answer data, a test target data turning out to be test NG because of slight difference in timing in testing but supposed to be test OK under normal circumstances is registered into a correct answer data pattern storage part 52 as a correct answer data pattern or an additional correct answer data pattern.例文帳に追加

正解データパターン記憶部52には、正解データ収集時に収集した正解データパターン以外にも、検証時に、微妙なタイミングのずれにより検証ＮＧとはなったが、本来なら検証ＯＫとなるべき検証対象データが正解データパターン（追加正解データパターン）として登録されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which the cost of a test can be reduced due to the cost reduction of a tester by reducing a capacity of an expected value memory in the tester, in the semiconductor integrated circuit device frovided with the memory with multiple bits of word lengths and a BIST (Build In Self Test) circuit for testing the memory.例文帳に追加

語長を複数ビットとするメモリと、該メモリのテストを行うためのＢＩＳＴ回路を備える半導体集積回路装置であって、テスタ内の期待値メモリの容量を削減し、テスタのコスト削減によるテストのコスト削減を図ることができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To realize a testing device for a network service system that prevents simulating tools from being asynchronous not to hold results of business transactions in logs etc., separately by kinds of the simulating tools, but to systematically rearrange a time base and business multiplicity by processing response results together.例文帳に追加

擬似ツール間の同期のズレを防止し、擬似ツールで投入した業務トランザクションの結果についても擬似ツールの種類ごとにバラバラにログ等で保持するのではなく、一括した応答結果の処理により時間軸、業務多重度を系統的に整理することを可能とするネットワークサービスシステムの試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide high-speed bend testing equipment constituted so as to eliminate movement, by reducing the slide resistance of a movable plate vibrated at a high speed in a required stroke, to enhance the durability of the test equipment itself and which is capable of accurately and simply adjusting the attachment attitude and attaching position of a flexible printed wiring board which is a test piece.例文帳に追加

所要のストロークで高速振動する可動板の摺動抵抗を低減してブレをなくし、試験装置自体の耐久性を向上させるとともに、試験片であるフレキシブルプリント配線板の取付姿勢と取付位置を正確かつ簡単に調整可能な高速屈曲試験装置を提供する。 - 特許庁

The apparatus 1 for testing termite repellency performance includes a space 6 formed for confining termites, setting a test piece 2, 2 composed of a wood or an insulating material face to the space 6, and a bait 20 located at a position where the termite confined in the space 6 can arrive by advancing while giving vermin damage in the inside of the test piece 2, 2.例文帳に追加

この防蟻性能試験装置１は、シロアリを閉じ込めるための隙間６を形成して、この隙間６に木材や断熱材等からなる試験体２、２を臨ませるとともに、隙間６に閉じ込められたシロアリが試験体２、２の内部を食害しながら進むことによって到達する位置に餌材２０を配置している。 - 特許庁

The testing equipment to be attached includes a safety device comprising a shell-like body which surrounds the test container during a test installed on a body along with the body to intercept the approach of the measuring person and is subjected to opening operation after the interruption and completion of the test to move to permit the approach of the measuring person.例文帳に追加

取り付けられる試験機器は、本体上に設置された試験中の試験容器を本体とともに囲繞し測定者の接近を遮断するとともに、試験中断及び試験終了後に開動作して移動し測定者の接近を許容する殻状体からなる安全装置を含む。 - 特許庁

In the torsion testing device 1, since both ends of the circuit board 9 are sandwiched, even a flexible printed board can be held properly, and even if the circuit board 9 is shrunk by torsion, the second gripping part 21b is slid and moved, to thereby enable the torsion fatigue test to be performed without being influenced by shrinkage.例文帳に追加

ねじり試験装置１では、回路基板９の両端部が挟持されるため、フレキシブルプリント基板であっても適切に保持することができ、ねじりにより回路基板９が縮んでも第２把持部２１ｂがスライド移動して縮みの影響を受けることなくねじり疲労試験を行うことができる。 - 特許庁

The blood clinical testing device is mainly constituted of both a transferring means (1) to transfer a large number of reaction containers (C) housing blood or blood components as specimens and reagents in a predetermined direction, and optical equipment (2) to measure the state of reaction between the specimens and reagents in the reaction containers (C) by the change of light.例文帳に追加

血液の臨床検査装置は、検体としての血液または血液成分ならびに試薬が収容された多数の反応容器（Ｃ）を所定方向へ搬送する搬送手段（１）と、反応容器（Ｃ）内の検体と試薬の反応状態を光の変化によって測定する光学機器（２）とから主として構成される。 - 特許庁

The method for cleaning the aligner which is brought into contact with the reticle comprises the steps of providing a material, having a cleaning layer which has a tensile elastic modulus (in compliance with the testing method of JIS K7127) of 0.98 to 4,900 MPa, and conveying the material in the aligner to be cleaned.例文帳に追加

レチクルまたはレチクル状物のこれらが被洗浄装置と接する部位に、引張弾性率（試験法ＪＩＳ Ｋ７１２７に準ずる）が０．９８〜４９００ＭＰａであるクリーニング層が設けられた材料を設け、被洗浄装置内を搬送することを特徴とするレチクルが接する装置のクリーニング方法である。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁

In an SIP 102 including a plurality of semiconductor chips, such as ASIC100 and SDRAM 101 mounted on a single package, a test circuit (SDRAMBIST 109) for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, to perform testing the SDRAM 101 from the outside of the SDRAM 101 or from the ASIC 100.例文帳に追加

ＡＳＩＣ１００およびＳＤＲＡＭ１０１など複数の半導体チップが単一パッケージ搭載されたＳＩＰ１０２において、ＳＤＲＡＭ１０１のテスト回路（ＳＤＲＡＭＢＩＳＴ１０９）をＡＳＩＣ１００内に設けて、ＳＤＲＡＭ１０１の外部から、すなわちＡＳＩＣ１００からＳＤＲＡＭ１０１のテストを行うようにする。 - 特許庁

A fluidity testing device 1 comprises a molten metal port 11 through which a molten metal is injected, a flowing pathway 12 through which the injected molten metal flows, a standard pressure port 13 provided in the flowing pathway 12, and at least one pressure port for measurement 14 provided in the flowing pathway 12 downstream from the standard pressure port 13.例文帳に追加

流動性試験器１は、溶融金属を注入するための湯口１１と、注入された溶融金属が流れる流路１２と、流路１２に設けられた基準圧力ポート１３と、流路１２の基準圧力ポート１３よりも下流側に少なくとも一つ設けられた測定用圧力ポート１４とを有する。 - 特許庁

The ion conductive polymer composition whose value of scorching T5 (min) at 130.0°C±0.5°C is 1.5 to 20 in a Mooney scorch test in an unvulcanized rubber physical testing method mentioned in JIS K6300, and also, whose Mooney viscosity ML(1+4) at 100°C is 5 to 95 is extruded from an extrusion machine and continuously vulcanized.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ６３００記載の未加硫ゴム物理試験方法中のムーニースコーチ試験において１３０．０℃±０．５℃におけるスコーチＴ５（分）の値が１．５以上２０以下であり、かつ、１００℃におけるムーニー粘度ＭＬ（１＋４）が５以上９５以下であるイオン導電性ポリマー組成物を、押出機から押し出しながら連続加硫する。 - 特許庁

To provide a chuck mechanism of a discharge and charge testing device for a thin type secondary cell that reduces conventional troublesome operation, namely, operation to store and fix many thin type secondary cells in a storage container etc., and also securely chuck the thin type secondary cells (electrodes).例文帳に追加

本発明は薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構に係り、従来の煩わしい作業、即ち、例えば多数の薄型二次電池を収納容器等に収納、固定するといった作業を軽減し、併せて薄型二次電池（電極）に対する確実なチャックを可能としたチャック機構を提供することを目的とする。 - 特許庁

The device and method for testing the integrated circuit comprised of at least two circuit parts operated by at least two different clock signals at normal operation are provided, and the circuit operated by the plurality of clock signals is tested for a minimum time by minimum test vectors.例文帳に追加

通常動作において、少なくとも２つの異なるクロック信号によって動作する少なくとも２つの回路部分からなる集積回路をテストするための装置および方法を提供し、さらに、複数のクロック信号によって動作する回路を、最小限の時間で、かつ、最小限のテストベクトルによってテストする。 - 特許庁

The ceramic substrate for semiconductor manufacturing/testing which has a conductive layer on its surface or inside is comprised of a nitride ceramic containing oxygen and its thickness is 50 mm or less.例文帳に追加

セラミック基板の内部または表面に導体層を有する半導体製造・検査用セラミック基板において、前記セラミック基板は、窒化物セラミックからなり、その窒化物セラミック中には、酸素が含有されているとともに、前記セラミック基板の厚さは、５０ｍｍ以下であることを特徴とする半導体製造・検査用セラミック基板。 - 特許庁

This performance board 10 of a semiconductor testing device (image sensor tester) 1a includes the buffers 11-1 to 11-n for cable driving, and switches 12-1 to 12-n for conducting switching between an input of a measured signal output from a measured device and an input of a reference signal output from a reference signal generator 40.例文帳に追加

半導体試験装置（イメージセンサテスタ）１ａのパフォーマンスボード１０は、ケーブル駆動用のバッファ１１−１〜１１−ｎと、被測定デバイスから出力された計測信号又は基準信号発生器４０から出力された基準信号の入力の切り替えを行う切替器１２−１〜１２−ｎとを備えている。 - 特許庁

In this testing device, the bias voltage B to be applied to the test object 2 is adjusted in the state where a constant voltage (signal level) A_0 is inputted to the object 2 from a signal generation part 3 to control the output voltage D of the subject to a prescribed intended range, and the test to the object 2 is then executed.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

One point or several points on the curve are pointed by a finger, a mouse or other pointing device to display not only the testing force of the points on a display part 30b but also a displacement value on a display part 30d and these numerical values are stored in a measuring control unit 20 by pushing an OK button 30e.例文帳に追加

そして、この曲線上の１点あるいは数点を指あるいはマウスその他のポインティングデバイスでポイントすることにより、その点の試験力が表示部３０ｂに、変位値が表示部３０ｄに表示され、ＯＫボタン３０ｅを押すことによりこれらの数値が計測制御装置２０に記憶される。 - 特許庁

The defect testing method comprises the following steps for preparing a design data set for forming the photomask, searching the sub-ground rule features out of the design data set, removing the sub-ground rule features out of the design data set to form a check data set, and checking the photomask formed according to the design data set by using the check data set.例文帳に追加

本発明の方法は、フォトマスク作製用のデザインデータセットを作製し、デザインデータセット中のサブ・グラウンドルールフィーチャを検索し、デザインデータセットからサブ・グラウンドルールフィーチャを除去して検査データセットを作成し、デザインデータセットに従って作製されたフォトマスクを検査データセットを使用して検査するステップを有する。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Therefore, it is possible to determine whether the four memory cells are correct or not and four output buffers 4 corresponding to the data input/output terminals DQ0 to DQ3 are correct or not, only by connecting the data input/output terminal DQ0 to a tester, thereby reducing the testing cost.例文帳に追加

したがって、データ入出力端子ＤＱ０のみをテスタに接続した状態で、４つのメモリセルが正常か否かを判定するとともに、データ入出力端子ＤＱ０〜ＤＱ３に対応する４つの出力バッファ４が正常か否かを判定することができ、テストコストの低減化を図ることができる。 - 特許庁

The cosmetic composition is obtained by containing at least one aqueous dispersion of insoluble particles of a fixing polymer in a cosmetically acceptable aqueous or aqueous-alcoholic medium and, in an adhesion testing, results in <200 microjoule mean adhesion energy of fixing material/keratinous fiber after drying.例文帳に追加

化粧用に許容できる水性もしくは水性アルコール性媒体中に、少なくとも一つの、固定用ポリマーの不溶性粒子の水性分散液を含む化粧用組成物であって、粘着テストにおいて、乾燥後の固定物質／ケラチン繊維の平均粘着エネルギーが２００マイクロジュール未満となることを特徴とする化粧用組成物。 - 特許庁

Also provided is a method for testing an agent for its ability to inhibit binding between fibroblast growth factor (FGF) and heparanase substrate, comprising the steps of: interacting in solution immobilized FGF on a solid support with the agent and labeled heparanase substrate, and detecting the presence or absence of label in the solution remote from the solid support.例文帳に追加

線維芽細胞成長因子（FGF）とへパラナーゼ基質との結合を阻害する能力に関しては、固体支持体上に固定化したFGFを物質および標識基質と溶液中で相互作用させる段階、および固体支持体から離れた溶液中の標識の有無を検出する段階を含む。 - 特許庁

To provide a diffusion testing device, enabling casting surely even with 1 mm or less of sample diameter, reduced in the possibility of contamination in a sample by an impurity in a gas, not affected by Marangoni convection caused by a free surface, and precluded from the possibility that the gas infiltrates into a capillary even in a gravity-free or very low gravity environment.例文帳に追加

試料径が１ｍｍ程度以下でも確実に鋳込むことができ、ガス中の不純物による試料の汚染のおそれが少なく、自由表面によるマランゴニ対流の影響がなく、無重力又は微小重力環境下でも、ガスがキャピラリー内に入り込むおそれがない拡散試験装置を提供する。 - 特許庁

The burn-in test is performed using a memory BIST circuit 202, designed so as to preliminarily perform all tests necessary for confirming the operation of a memory device 201 for not only enhancing the toggle ratio in the burn-in test of the memory device, but also to suppress the developing time of the burn-in testing.例文帳に追加

あらかじめメモリ装置２０１の動作確認のために必要な全ての試験を実施するように設計されたメモリＢＩＳＴ回路２０２を用いてバーインテストを行うことにより、メモリ装置のバーインテストにおけるトグル率を向上させると共に、バーインテストの開発時間を抑制することができる。 - 特許庁