「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(275ページ目) - Weblio英語例文検索

In the testing device 10, a ceiling panel 11 is supported by columns 13, an upper sound proofing wall 12b is mounted to the peripheral part under the panel 11, the wall 12b has a tapered shape with a small diameter and contacts with a cylindrical lower sound proofing wall 12a, and the circumference of the lower end of the sound proofing wall opens.例文帳に追加

テスト装置１０は天井パネル１１が支柱１３で支持され、パネル１１下部周囲には上部防音壁１２ｂが取付けられ、壁１２ｂはテーパ形状で小径となり、円筒状の防音壁下部１２ａに接し、防音壁下端周囲は開口している。 - 特許庁

Thus, it uses subdivided reference values to determine the unit actually fault-sensed as defective due to non-defective foreign material to be acceptable, not the actual defective unit, preventing fault sensing to enhance inspection efficiency in the testing processes.例文帳に追加

したがって、本発明によると、細分化された基準値を利用して実際に不良ユニットではなく、良品性異物による不良として過検出されたユニットを良品として判別することによって、過検出を防止して検査工程での検査効率を向上させることができる。 - 特許庁

Since the analysis result of the concentration of HCB from the same production lot sometimes varied depending on the testing organization, it seems appropriate to present a certain unified analysis method to confirm the contamination level when the BAT level is determined (see Section 10 to be described later). 例文帳に追加

同一の製造ロットに係るＨＣＢ含有量の分析値が分析実施者によって異なる場合が見られており、ＢＡＴレベルの設定に当たっては、その確認のための分析法について何らか統一的な方法を併せて示すことが適当と考えられる（後述 10．参照）。 - 経済産業省

Regulatory requirements concerning technologies to be incorporatedIn Japan, such actions as feedback of the operating experience and utilization of the technical knowledge obtained through testing and analysis have been taken, so that the safety and reliability of nuclear installations has been enhanced.　The breakdowns are described below.例文帳に追加

適用される技術に関する規制要求我が国においては、原子炉施設の運転経験の反映を図ること及び試験・解析による技術知見を利用することにより、原子炉施設の安全性と信頼性を向上させるために、次のような措置が講じられている。 - 経済産業省

With the know-how it has accumulated over many years as an equipment manufacturer, and its ability to understand the needs of researchers, the company’s strength is its arrangement capability, which under the concepts of “laboratory engineering” and “laboratory design,” enables the planning and proposal of the best possible laboratories and other testing facilities that give due consideration to laboratory safety.例文帳に追加

同社の強みは、長年、設備機器メーカーとして蓄積してきたノウハウと、研究者のニーズへの理解力を背景に、「ラボラトリー・エンジニアリング」、「ラボラトリー・デザイン」というコンセプトの下、ラボの安全性に配慮した最適な研究室や実験室の設計・提案を行うアレンジ能力である。 - 経済産業省

To provide a semiconductor test interface capable of minimizing the number of connector contact points to enhance signal integrity in a high-speed transmission signal, capable of simplifying a semiconductor test interface to enhance maintainability of a semiconductor testing device, and capable of easily dealing also with tests of DUTs different each other.例文帳に追加

コネクタ接点の数を最小化して高速伝送信号の信号無欠性を向上させ、半導体テストインタフェースを単純化して半導体テスト装置のメンテナンス性を向上させ、お互い異なるＤＵＴのテストにも簡便に対応することが可能な半導体テストインタフェースを提供。 - 特許庁

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

Certification of the product through clinical testing is in its final stage and scheduled to be completed by the end of 2010. The company has entered into a consignment manufacturing agreement and a joint sales agreement, already.例文帳に追加

フランス・リヨン国立病院における角膜再生上皮シートの治験は既に最終段階を迎えており、2010 年中に終了する計画となっている。また、2011 年の欧州30か国での角膜再生上皮シート販売に向け、既に製造委託先、販売提携先との契約も締結している。 - 経済産業省

Looking at the industries by average growth rate in 1998-2002, “advertising,” “research, development and testing services,” installation, maintenance and repair of equipment,” “accounting, auditing and bookkeeping services,” “training services” and “architectural, engineering and other technical services,” each had higher growth rates than the 9.8 percent growth rate for “business, professional andtechnical services” as a whole.例文帳に追加

1998～2002年平均成長率で見ると、「対事業所・専門・技術サービス」全体では9.8％であるが、「広告サービス」、「研究開発・検査サービス」、「機械設置・維持・修理サービス」、「会計・監査・簿記サービス」、「訓練サービス」、「設計・エンジニアリング・その他技術サービス」では、これを超える高い成長率を示している。 - 経済産業省

The testing device 31 for the arbitration circuit 9 has an access test register 22 which falsely outputs an access type INST [2:0] to be output by a look-ahead mechanism control circuit 7 to an arbitration control circuit 9 when the CPUs 2, 3 access ROMs 5, 6.例文帳に追加

調停制御回路９のテスト装置３１によれば、アクセステストレジスタ２２は、ＣＰＵ２，３がＲＯＭ５，６に対して夫々アクセスを行う場合に、先読み機構制御回路７により調停制御回路９に対して出力されるアクセスタイプＩＮＳＴ［２：０］を夫々擬似的に出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device testing equipment with a contact for electrically connecting to a terminal part of an electronic device, and a manufacturing method capable of arranging with a small pitch by improving work precision and lessening plastic deformation and capable of mass production at low cost.例文帳に追加

本発明は、電子装置の端子部と電気的に接続されるコンタクトを備えた半導体検査装置及びコンタクトの製造方法に関し、加工精度を向上させて狭いピッチで配置することができ、かつ塑性変形の小さくして、低コストで大量生産することを課題とする。 - 特許庁

A system for testing a proximity inhibiting system for the air bag has a positioning sensor 114 controlling the motion of a passenger model 107 toward an inhibiting zone 103 in a vehicle, and a proximity detector 111 for supplying a first output signal detecting that the passenger model 107 enters the inhibiting zone 103.例文帳に追加

エアバッグ用の近接抑制システムを試験するシステムは、車両内の抑制ゾーン103に向う乗客モデル107の動きを制御する位置決めセンサ114と、位置マーカー109の動きを監視して乗客モデル107が抑制ゾーン103に入るときを示す第１出力信号を供給する近接検出器111を有する。 - 特許庁

A phase comparison circuit 102 can detect a phase difference between the reference clock signal RCLK and an output signal of the delay line circuit 101, or a phase difference between a testing clock signal TCLK having a frequency lower than the one of the reference clock signal RCLK and the output signal of the delay line circuitry 101.例文帳に追加

位相比較回路１０２は、基準クロック信号ＲＣＬＫとディレイ・ライン回路１０１の出力信号との間又は基準クロック信号ＲＣＬＫより周波数の低い試験クロック信号ＴＣＬＫとディレイ・ライン回路１０１の出力信号との間の位相差を検出可能である。 - 特許庁

A test input signal is given to the functional block due to the setting into the register in the input signal region, and the functional block performs testing operations, so that a test output signal outputted from the functional block is set as output data in a register in an output signal region.例文帳に追加

前記入力信号領域におけるレジスタへの設定により機能ブロックにテスト入力信号が与えられ、機能ブロックがテスト動作することにより機能ブロックから出力されたテスト出力信号が出力信号領域におけるレジスタに出力データとして設定される。 - 特許庁

This testing method for ammonia leakage is carried out on a membrane tank 10 having a tank 2 isolated from a cold-insulation layer 3 by the membrane 4, and comprises the filling of the layer 3 with a pressurized gas, the measuring of displacement 25 of the membrane 4, and the controlling of the filling amount of gas based on the displacement 25.例文帳に追加

タンク２と保冷層３とがメンブレン４で隔離されているメンブレンタンク１０に実施されるアンモニアリーク試験方法であり、保冷層３にガスを加圧して充填すること、メンブレン４の変位２５を測定すること、変位２５に基づいてガスの充填する量を制御することとを具備している。 - 特許庁

The ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesives comprise 50 mass % to less than 100 mass %, based on the entire composition, acrylic photopolymerizable monomer which does not foam in the foaming test according to a specific foaming testing method and, simultaneously, has a viscosity of the entire composition of ≤50 mPa.s (25°C).例文帳に追加

特定の発泡性試験法で発泡性試験を行っても発泡しないアクリル系光重合性モノマーを組成物全体に対して５０質量％以上１００質量％未満含有するとともに、組成物全体の粘度が５０ｍＰａ・ｓ（２５℃）以下であるＵＶ硬化型感圧接着剤により課題を解決できる。 - 特許庁

To provide a compression test device for stably arranging a pedestal member used as the base of a test piece, obtaining a more reliable test result, easily and surely adjusting the position of the pedestal member in a preliminary test, and reducing the workload of a person in charge of testing.例文帳に追加

試験体の土台として使用される台座部材を下部ロッド上に安定配置し得、より信頼性の高い試験結果が得られると共に、予備試験における台座部材の位置調整を容易且つ確実に行うことができ、試験担当者の負担軽減を図り得る圧縮試験装置を提供する。 - 特許庁

In a simulation testing apparatus 1 of train travel, a train generation function section 12-1 generates existing stations, train names, and existing locations when a train generation command is inputted from a console 2, and reads the prescribed value of each track circuit between stations from a track circuit file 101 for initially setting to a train traveling tracking file 102.例文帳に追加

列車走行の模擬試験装置１は、操作卓２から列車生成指令が入力されると、列車生成機能部１２−１が在線駅、列車名、在線箇所を生成し、軌道回路ファイル１０１から駅間の各軌道回路の規定値を取り込み、列車走行トラッキングファイル１０２に初期設定する。 - 特許庁

In a testing using this method and apparatus for evaluating the strength of a wedge junction, a tensile load is applied to the wedge junction of a semiconductor bonding wire, the bonding wire is pulled, while keeping constant the angle between a tensile direction and a junction sample surface to measure the characteristics of the changes in the wire.例文帳に追加

半導体用ボンディングワイヤのウェッジ接合部に引張荷重を加える試験において、引張り方向と接合試料面との角度を一定に維持しながら、ボンディングワイヤを引張ることにより、ボンディングワイヤの変化特性を測定することを特徴とするウェッジ接合部の強度評価法および評価装置。 - 特許庁

The vibration testing device includes piezoelectric actuators 11X, 11Y and 11Z, respectively in X/Y/Z axial directions and is provided on a base 10 to prevent directions of applying vibration (excitation directions) in the different axial directions from intersecting with each another, that is to disperse the excitation directions.例文帳に追加

本発明にかかる振動試験装置は、Ｘ／Ｙ／Ｚ軸方向それぞれに圧電アクチュエータ１１Ｘ・１１Ｙ・１１Ｚが配置されるとともに、これらは異なる軸方向における振動を加える方向（加振方向）同士を互いに交差させないように、すなわち加振方向を発散させるようにベース１０に設けられる。 - 特許庁

The test tape unit for especially testing blood sugar is equipped with an analyzing test tape 12, a storage coil 14 for washing an unused test tape 12, a winding coil 18 for winding the used test tape 12 and a tape guide part 16 for exposing the test tape part 20 at a measuring region 22 for coating body fluids.例文帳に追加

分析用の試験テープ１２と、未使用の試験テープ１２の洗浄用の貯蔵コイル１４ならびに使用した試験テープ１２の巻付用の巻付コイル１８と、体液の塗布用の測定部位２２での試験テープ部分２０の曝露用のテープガイド部１６とを備える特に血糖試験用の試験テープユニットに関する。 - 特許庁

To provide a gasket for a hard disk apparatus, a manufacturing method of the gasket for the hard disk apparatus and a testing method of the gasket for the hard disk apparatus capable of easily checking an application state of an adhesive after application of another material even when the another material is continuously coated on the adhesive after application of the adhesive.例文帳に追加

接着剤の塗布後、その上に連続的に他の材料を塗布形成するような場合にも、その後に接着剤の塗布状態を容易に確認することが可能なハードディスク装置用ガスケット、ハードディスク装置用ガスケットの製造方法及びハードディスク装置用ガスケットの検査方法を提供する。 - 特許庁

In the method of testing the semiconductor device to determine an interface state density of a MIS transistor formed on a semiconductor substrate 1 by using the charge pumping method, first, a value of a first current made to flow to the semiconductor substrate by applying a first measurement signal composed of continuous pulse waves to a gate of the MIS transistor is measured.例文帳に追加

チャージポンピング法を用いて、半導体基板上に形成されたＭＩＳ型トランジスタの界面準位密度を求める半導体装置の評価方法において、まず、パルス波が連続してなる第１の測定信号をＭＩＳ型トランジスタのゲートに印加して前記半導体基板に流れる第１の電流値を測定する。 - 特許庁

This method for testing the cytotoxicity comprises evaluating toxicity of a test object based on the toxicity to an established cell line derived from a sturgeon, wherein a STIP-1 cell line (FERM P-18909) or a STIP-3 cell line (FERM P-18910) is exemplified as the suitable established cell line derived from the sturgeon.例文帳に追加

本発明は、チョウザメ由来の株化細胞に対する毒性に基づいて被検物質の毒性評価を行う細胞毒性試験方法であり、好適なチョウザメ由来の株化細胞としては、ＳＴＩＰ−１細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９０９）とＳＴＩＰ−３細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９１０）が挙げられる。 - 特許庁

The elastomeric casing may also incorporate a static seal or temporary dynamic seal to facilitate in-process testing or dirt exclusion, as well as one or more additional dirt exclusion features to protect the fluoropolymer seal from damage caused by environmental contaminants during the use of the seal.例文帳に追加

エラストマケーシングはさらに、工程間試験または汚れ排除を容易にするために静的シールまたは一時的な動的シール、および、シールの使用中に環境汚染物によって引起される損傷からフッ素共重合体シールを保護するための１つ以上の追加の汚れ排除機構を組込んでもよい。 - 特許庁

To enable a test signal generating device and a testing method of a video apparatus to detect even an abnormal state at a black level side in a luminance signal processing circuit, a color signal processing circuit or the like when applied to the distortion detection of color signal and the level adjustment of a color signal or the like by visual inspection.例文帳に追加

本発明は、テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法に関し、目視による色信号の歪み検出、色信号のレベル調整等に適用して、輝度信号処理回路、色信号処理回路等における黒レベル側の異常についても検出することができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.例文帳に追加

複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁

This method for testing short-circuiting in the battery consisting of a positive electrode, a negative electrode, a separator arranged so as to separate both the electrodes and electrolyte enables to determine short-circuiting by a resistance by making the electrolyte solid state and measuring alternating current impedance between the positive electrode and the negative electrode.例文帳に追加

本発明は、正極と負極とこの両者を隔離するように配したセパレータと電解液からなる電池の短絡の有無の検査方法であって、前記電解液を固体状態とし、前記正極と前記負極の間で交流インピーダンスを測定し、その抵抗値によって短絡の有無を判定することができる。 - 特許庁

To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加

本発明の課題は、複数のＩＣ試験を行う場合に、全ＩＣ試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてＩＣ試験を実行することのできるＩＣ試験装置、ＩＣ試験方法、及びそのＩＣ試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁

In a test head 18A provided for a test part 12 for testing semiconductor devices D in a state held at a prescribed temperature, semiconductor devices D in even-numbered rows and odd-number1ed columns among the semiconductor devices D mounted to a test board 1 are tested, and the semiconductor devices D in even-numbered rows and even-numbered columns are tested.例文帳に追加

半導体装置Ｄを所定温度に保持した状態で試験を行う試験部１２設けられるテストヘッド１８Ａにおいて、テストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち偶数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、偶数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

The method for avoiding inhibition of nucleic acid amplification reaction with the bile component by using an enriched culture solution containing a cell body obtained by a culture process as a testing sample and removing a bile component in the culture solution by centrifugal concentration and alkali treatment is provided in a method for amplifying a nucleic acid derived from a cell body.例文帳に追加

菌体由来の核酸を増幅する方法において、培養法によって得られた菌体を含む増菌培養液を被検試料とし、遠心濃縮およびアルカリ処理により前記培養液中の胆汁成分を除去することによって、胆汁成分による核酸の増幅反応阻害を回避する方法。 - 特許庁

To provide an Ethernet (R) transmission apparatus which can accurately decide the normality of a line quality monitoring function so that the number of pseudo line error codes inserted for a test coincides with an error count value during error count period of the function, and also to provide a method for testing the function of the apparatus.例文帳に追加

イーサネット（登録商標）伝送装置及びその回線品質監視機能の試験方法に関し、試験用に挿入した擬似回線エラーコードの個数と、回線品質監視機能におけるエラーカウント期間のエラーカウント値とが一致するようにし、回線品質監視機能の正常性の正確な判定を可能にする。 - 特許庁

To provide a testing and evaluating method of an electronic part capable of shortening the period required in a heat shock test, capable of simply performing work for confirming the deteriorated state of the jointing part of an electronic component, after the heat shock test in a short time and is capable of simply and precisely evaluating the deteriorated state.例文帳に追加

熱衝撃試験に要する期間を短縮することができ、また、熱衝撃試験後の電子部品の接合部の劣化状態を確認する作業を短時間でかつ簡単に行うことができ、しかも劣化状態を簡易に、精度良く評価することのできる電子部品の試験評価方法を提供すること。 - 特許庁

The coil 12 or the applied electric power generating part 2 is controlled, and then the resonance condition is automatically tracked to be satisfactorily maintained by a resonance controlling part 3, while making the testing conditions during the test period about the test electric power applied to the resonance circuit not to be fixed, when the capacitor 11 is tested.例文帳に追加

さらに、コンデンサ１１の試験時に共振回路に印加される試験電力などについての試験条件を試験時間中で一定とせず、共振制御部３によってコイル１２または印加電力生成部２を制御して自動的に共振状態を追尾し、その共振状態を良好に保持する。 - 特許庁

The test system for testing the radio base station apparatus is equipped with: the pseudo MSes simulating cellular phones; a pseudo RNC simulating a base station controller; a means for controlling the pseudo MSes, the pseudo RNC and the radio base station apparatus and acquiring a prescribed measurement result; and a means for analyzing the measurement result.例文帳に追加

無線基地局装置を試験する試験システムにおいて、携帯電話機を模擬した擬似ＭＳと、基地局制御装置を模擬した擬似ＲＮＣと、前記擬似ＭＳ、前記擬似ＲＮＣ、及び前記無線基地局装置を制御し、所定の測定結果を取得する手段と、前記測定結果を解析する手段とを備えた。 - 特許庁

When the semiconductor testing apparatus 1 is powered on, the tester controller 10 directly transfers a compressed OS 12, i.e., a compressed OS for use at the redundancy controller 30 and the redundancy operating devices 40a-40n, to the redundancy controller 30 and the redundancy operating devices 40a-40n via a bus B.例文帳に追加

テスタコントローラ１０は、半導体試験装置１の電源投入時に、リダンダンシ制御装置３０及びリダンダンシ演算装置４０ａ〜４０ｎで用いられるＯＳを圧縮したＯＳである圧縮ＯＳ１２を、バスＢを介してリダンダンシ制御装置３０及びリダンダンシ演算装置４０ａ〜４０ｎに直接転送する。 - 特許庁

A general memory test program can be used for memory testing, even when the internal memory configuration is different by memory (i.e., when the correspondence relation between a program address specified by the test program and internal physical address are different from each other) by inputting the correspondence relation for each memory from the outside.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

To provide a test-facilitating design apparatus and its method for verifying and adjusting consistency between adjoining components when constructing a system including a plurality of components including hardware or software, and performing design to estimate appropriate test man-hours by suppressing an abrupt increase of the number of test cases in testing the system.例文帳に追加

ハードウエアまたはソフトウエアを含む複数の部品から成るシステムを構築する場合において、隣接する部品同士間の整合性を検証および調整し、システムのテストにおいてテストケースの数の爆発を抑制し適切なテスト工数を見込む設計を行うためのテスト容易化設計装置ならびにその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for rapidly and simply carrying out quantitative measurements related to the proliferation and activities of various microorganisms without breaking the microorganisms, and to provide a susceptibility-testing method which employs the measurement method and can rapidly and simply evaluate the sterilizing powers of various antibacterial agents against various bacteria.例文帳に追加

多様な微生物の増殖や活性に関する定量的測定を微生物を破壊せずかつ迅速簡便に行える方法、及びこの測定方法を用いて、種々の細菌に対する各種抗菌剤の抗菌力を迅速簡便に評価することができる感受性試験方法を提供すること。 - 特許庁

A start condition comprising a day Y of the week, an hour T and a diagnostic item S is set, an IC testing device 30 is controlled to execute a self-diagnostic program 34 about the prescribed diagnostic item S when reach to the prescribed day Y of the week and the prescribed hour T is detected, and the self-diagnosis is thereby conducted automatically.例文帳に追加

曜日Ｙと時刻Ｔと診断項目Ｓから成る起動条件を設定し、所定の曜日Ｙと時刻Ｔに到達したことを検出した場合に、ＩＣ試験装置３０を制御し所定の診断項目Ｓについての自己診断プログラム３４を実行させることにより、自動的に自己診断を行う。 - 特許庁

In the twist angle adjusting means 7 provided to the twist-testing machine 10, the detected twist angle and the load torque value are collected, and the histeresis of the twist angle and the load torque value at the time of reversible rotation of a servomotor 1 is calculated to find the base point of the reversible rotation of a motor rotary shaft on the basis of the histeresis.例文帳に追加

ねじり試験装置１０が備えたねじり角度調整手段７において、検出されたねじり角度および負荷トルク値を収集し、サーボモータ１が正逆回転する際のねじり角度と負荷トルクのヒステリシスを演算し、ヒステリシスに基づいてモータ回転軸の正逆回転の基点を求めることができる。 - 特許庁

In addition, the electrolyte film is provided with tension elastic rate of 500 MPa to 20 GPa, good as the electrolyte film in which variation in the tension elastic rate is less than 30% before and after an alkali hydrolysis testing, and furthermore, polymer composing the aramid film maybe the electrolyte film provided with sulfonic acid group and/or phosphor acid group.例文帳に追加

また、引張り弾性率が５００ＭＰａ〜２０ＧＰａであり、かつアルカリ加水分解試験の前後で、引張り弾性率の変化が３０％未満である電解質膜としてもよく、さらに、アラミドフィルムを構成するポリマが、スルホン酸基および／または燐酸基を有する電解質膜としてもよい。 - 特許庁

A DRAM chip 1 contains an input-output terminal 1c for testing having a circuit for coping with dielectric breakdown, another input-output terminal 1b for connecting supporting substrate having a circuit for coping with dielectric breakdown, and a third input-output terminal 1a having no circuit for coping with dielectric breakdown.例文帳に追加

ＤＲＡＭチップ１は、静電破壊対策用回路を有する試験用の入出力端子１ｃと、静電破壊対策用回路を有する支持基板接続用の入出力端子１ｂと、入出力端子１ｂおよび１ｃ以外の静電破壊対策用回路を有しない入出力端子１ａとを含む。 - 特許庁

The present invention utilizes the nonvolatile ferroelectric memory to program a test mode and data pin arrangement and rearranges an address, a control signal and a data pin arrangement state in a software manner according to a programmed code, thereby accurately testing the characteristics of the cell array without requiring another process.例文帳に追加

このため、本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用してテストモード及びデータピンの配置をプログラムし、プログラムされたコードに従いソフトウェア的にアドレス、制御信号及びデータピンの配置状態を再調整することにより、別途のプロセスなくセルアレイの特性を正確にテストすることができるようになる。 - 特許庁