Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
The method for cleaning the aligner which is brought into contact with the reticle comprises the steps of providing a material, having a cleaning layer which has a tensile elastic modulus (in compliance with the testing method of JIS K7127) of 0.98 to 4,900 MPa, and conveying the material in the aligner to be cleaned.例文帳に追加
レチクルまたはレチクル状物のこれらが被洗浄装置と接する部位に、引張弾性率(試験法JIS K7127に準ずる)が0.98〜4900MPaであるクリーニング層が設けられた材料を設け、被洗浄装置内を搬送することを特徴とするレチクルが接する装置のクリーニング方法である。 - 特許庁
To obtain a device and method for testing ICs capable of executing IC tests in an optimal test sequence so as to shorten the execution time of all IC test items in the case of performing a plurality of IC tests and a storage medium in which a program for executing the IC tests is stored.例文帳に追加
本発明の課題は、複数のIC試験を行う場合に、全IC試験項目の実行時間が短くなるように最適な試験順序にてIC試験を実行することのできるIC試験装置、IC試験方法、及びそのIC試験を実行するためのプログラムを記憶した記憶媒体を提供することである。 - 特許庁
To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加
テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁
In an SIP 102 including a plurality of semiconductor chips, such as ASIC100 and SDRAM 101 mounted on a single package, a test circuit (SDRAMBIST 109) for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, to perform testing the SDRAM 101 from the outside of the SDRAM 101 or from the ASIC 100.例文帳に追加
ASIC100およびSDRAM101など複数の半導体チップが単一パッケージ搭載されたSIP102において、SDRAM101のテスト回路(SDRAMBIST109)をASIC100内に設けて、SDRAM101の外部から、すなわちASIC100からSDRAM101のテストを行うようにする。 - 特許庁
A fluidity testing device 1 comprises a molten metal port 11 through which a molten metal is injected, a flowing pathway 12 through which the injected molten metal flows, a standard pressure port 13 provided in the flowing pathway 12, and at least one pressure port for measurement 14 provided in the flowing pathway 12 downstream from the standard pressure port 13.例文帳に追加
流動性試験器1は、溶融金属を注入するための湯口11と、注入された溶融金属が流れる流路12と、流路12に設けられた基準圧力ポート13と、流路12の基準圧力ポート13よりも下流側に少なくとも一つ設けられた測定用圧力ポート14とを有する。 - 特許庁
The ion conductive polymer composition whose value of scorching T5 (min) at 130.0°C±0.5°C is 1.5 to 20 in a Mooney scorch test in an unvulcanized rubber physical testing method mentioned in JIS K6300, and also, whose Mooney viscosity ML(1+4) at 100°C is 5 to 95 is extruded from an extrusion machine and continuously vulcanized.例文帳に追加
JIS K6300記載の未加硫ゴム物理試験方法中のムーニースコーチ試験において130.0℃±0.5℃におけるスコーチT5(分)の値が1.5以上20以下であり、かつ、100℃におけるムーニー粘度ML(1+4)が5以上95以下であるイオン導電性ポリマー組成物を、押出機から押し出しながら連続加硫する。 - 特許庁
To provide a chuck mechanism of a discharge and charge testing device for a thin type secondary cell that reduces conventional troublesome operation, namely, operation to store and fix many thin type secondary cells in a storage container etc., and also securely chuck the thin type secondary cells (electrodes).例文帳に追加
本発明は薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構に係り、従来の煩わしい作業、即ち、例えば多数の薄型二次電池を収納容器等に収納、固定するといった作業を軽減し、併せて薄型二次電池(電極)に対する確実なチャックを可能としたチャック機構を提供することを目的とする。 - 特許庁
In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.例文帳に追加
2次電池保護用IC1の過充電検出動作のテスト時に、発振回路7の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路7の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路20を設ける。 - 特許庁
This semiconductor tester for performing quality determination with the output signals from the plurality of devices which are testing objects input into the same pin, is equipped with a plurality of determination parts performing quality determination, and a pattern generation part for selecting one from among the plurality of determination parts for each of the devices to exercise control so that it turns into an operational state.例文帳に追加
被試験対象である複数のデバイスからの出力信号を同一ピンに入力して良否判定する半導体試験装置において、良否判定する複数の判定部と、デバイス毎に複数の判定部のうちの1つを選択して動作可能状態に制御するパターン発生部とを備える。 - 特許庁
The resinous phase has a covalently bonded halogen content based on total weight of resin solids present in the resinous phase, such that when the composition is electrodeposited and cured, the cured film passes flame resistance testing in accordance with IPC-TM-650, and has a dielectric constant of equal to or less than 3.50.例文帳に追加
樹脂相は、組成物が電着され、かつ硬化される場合に、硬化フィルムがIPC−TM−650に従った燃焼耐性試験に合格し、かつ3.50以下の誘電定数を有するように、樹脂相中に存在する樹脂固体の総量に基いて共有結合性ハロゲン成分を有する。 - 特許庁
The particle abrasion testing machine of the dust collection filter cloth is constituted of means 1 and 2 for fixing fibers T constituting the dust collection filter cloth under a predetermined tension state and a means 3 for allowing a dust-containing stream to collide with the fibers T under the same condition as an environment using the dust collection filter cloth, thereby measuring the particle abrasion of the fiber T.例文帳に追加
集塵用濾布を構成する繊維Tを所定の緊張度で緊張固定させる手段1、2と、この繊維Tに対して、集塵用濾布を使用する環境と同じ条件となるよう含塵気流を衝突させる手段3とより構成し、繊維Tの粒子摩耗を測定する。 - 特許庁
This method for bonding the resins with the dope cement is provided by keeping the viscosity of the dope cement at a correct value by using a testing means for the viscosity of the dope cement, and also applying the above dope cement having the correct viscosity on the resins to be bonded or filling the dope cement in a gap of the resins by using a constant amount- ejecting means 1.例文帳に追加
ドープセメントの粘度検査手段を使用することによってドープセメントの粘度を適正な値に保ち、前記適正な粘度のドープセメントを定量吐出手段1を使用して接着すべき樹脂に塗布する或いは、樹脂の隙間に充填するドープセメントによる樹脂の接着方法である。 - 特許庁
The power generation testing device has a pushing spring 21 as an urging means for urging an opening side end of the air chamber 30 and an opening side end of the fuel chamber 37 in directions approaching to each other, and a separation spring 20 as an inverse urging means for urging in inverse directions against the urging directions of the pushing spring 21.例文帳に追加
空気用チャンバー30の開口側端部と燃料用チャンバー37の開口側端部とが互いに接近する方向に付勢する付勢手段としての押圧スプリング21を設けると共に、その押圧スプリング21の付勢方向とは逆方向に付勢する逆付勢手段としての分離スプリング20を設けた。 - 特許庁
To provide a liquid crystal display device for testing wiring defects in a panel, capable of detecting a disconnection and a short circuit of wiring when applying a signal, by connecting data lines or gate lines or a common line in the panel with each pad through wiring of a zigzag form arranged outside of the panel.例文帳に追加
パネル内のデータラインまたはゲートライン或いは共通電圧ラインを、パネルの外部に設けたジグザグ形態の配線を介して各パッドに連結することによって、信号の印加時、配線の短絡及びショートを検出できる、パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
A control part 100 of the environmental testing device 1 supplies water to inside of the humidifier 11 and drives a heater 12 to heat water within the humidifier 11 in the high humidity conditions; and discharges water from inside of the humidifier 11 and drives the pipe heater 21 to heat the humidification piping 20 in the low humidity conditions.例文帳に追加
環境試験装置1の制御部100は、高湿条件では、加湿器11内に水を供給すると共にヒータ12を駆動して加湿器11内の水を加熱し、低湿条件では、加湿器11内から水を排出すると共にパイプヒータ21を駆動して加湿配管20を加熱する。 - 特許庁
To make checkable the connection state of each input/output terminal of a semiconductor integrated circuit loaded on a substrate without using a dedicated testing device, and to make testable the operation of the semiconductor integrated circuit by inputting a prescribed test pattern into each input/output terminal of the semiconductor integrated circuit loaded on the substrate.例文帳に追加
専用のテスト装置を用いずに、基板上に搭載された半導体集積回路の各入出力端子の接続状態をチェックすることができ、基板上に搭載された半導体集積回路の各入力端子に所定のテストパターンを入力し、半導体集積回路の動作をテストすることができるようにする。 - 特許庁
The present invention utilizes the nonvolatile ferroelectric memory to program a test mode and data pin arrangement and rearranges an address, a control signal and a data pin arrangement state in a software manner according to a programmed code, thereby accurately testing the characteristics of the cell array without requiring another process.例文帳に追加
このため、本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用してテストモード及びデータピンの配置をプログラムし、プログラムされたコードに従いソフトウェア的にアドレス、制御信号及びデータピンの配置状態を再調整することにより、別途のプロセスなくセルアレイの特性を正確にテストすることができるようになる。 - 特許庁
This device includes the first electrode 12 and the second electrode 14 installed separately on an insulator which is an object for testing the high conductivity state or the high dielectric constant state, and a high voltage power source for supplying the power to the first electrode and the second electrode with each different potential.例文帳に追加
この装置は、高導電性の状態又は高誘電率の状態を試験する対象の絶縁体上に、離れて設置される第1の電極12及び第2の電極14と、第1の電極及び第2の電極に異なる電位で電力供給する高電圧電源とを含んでいる。 - 特許庁
The testing device include: input terminals CN1-CN12 which enable the input of one or more types of test data obtained as a result of a test covering a game machine; and a memory 321 on which inputtable data are stored which represents the types of the test data to be outputted from the game machine involved corresponding to machine type data for identifying the game machine.例文帳に追加
遊技機による試験の結果であり1以上の種類がある試験データを入力可能な入力端子CN1〜CN12を有するとともに、遊技機を識別するための機種データに対応して、当該遊技機から出力される試験データの種類を表す入力可能データが記録されたメモリ321を備える。 - 特許庁
A testing sever sends a test pattern that a voice signal is encoded into a signal loop-back means installed at an exchange interface side in the TGW through a voice encoding section and a packet assembling section in the TGW, and receives the test pattern sent from the signal loop-back means through the voice encoding section and the packet assembling section, again.例文帳に追加
試験サーバより、TGWの音声符号化部とパケット化部を介して、TGW内の交換機インタフェース側に設けた折り返し手段へ、音声信号を符号化して得た試験パターンを送り、その信号折り返し手段からの試験パターンを、再度、音声符号化部とパケット化部を介して試験サーバで受信する。 - 特許庁
To provide a load test support system, connected with a power source being a test sample as a load for testing of response to the load of the power source, which can be adapted to the actual load current value for enabling the minimum width of the load resistance, adjustable in each electric power range, to be set as small as possible.例文帳に追加
本発明は、試料である電力源に負荷として接続され、その電力源の負荷に対する応答の試験に供される負荷試験支援装置に関し、実際の負荷電流の値に適応し、各電力レンジにおいて可変できる負荷抵抗の最小の幅を小さく設定できることを目的とする。 - 特許庁
CATHODE PANEL UNIT FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, CATHODE PANEL THEREFOR AND ITS MANUFACTURE, COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF ITS UNIT USING TEST DEVICE THEREOF例文帳に追加
冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニット、冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル及びその製造方法、冷陰極電界電子放出表示装置、試験装置、並びに、かかる試験装置を用いた冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニットの試験方法 - 特許庁
To provide a specific hepatitis C virus (HCV) RNA molecule that has raised efficiency for establishing the cell culture replication, and provide a method for testing the suppression of the HCV RNA replication using the RNA molecule that is useful for evaluating the latent inhibitor of the HCV replication.例文帳に追加
細胞培養物複製を樹立する高められた効率を有する特異なC型肝炎ウイルスHCVRNA分子の提供、及びHCV複製の潜在的なインヒビターを評価するのに有益な、このRNA分子を用いたHCV複製の抑制について化合物を試験する方法の提供。 - 特許庁
The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects.例文帳に追加
本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化、残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。 - 厚生労働省
The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects.例文帳に追加
本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化及び残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。 - 厚生労働省
The MHLW has been promoting comprehensive control measures for hepatitis, consisting of 5 strategies, since the 2008 fiscal year. These five measures are as follows: environmental improvement to enhance hepatitis treatment, facilitation of hepatitis testing, preparation of a treatment/consultation system for hepatitis, preparation and dissemination of accurate information to the public, and promotion of hepatitis-related research.例文帳に追加
また、平成20年度以降、肝炎の治療促進のための環境整備、肝炎ウイルス検査の促進、肝炎に係る診療及び相談体制の整備、国民に対する肝炎に係る正しい知識の普及啓発並びに肝炎に係る研究の推進の5本の柱からなる肝炎総合対策を進めてきた。 - 厚生労働省
g) The national government shall request that the Hepatitis Information Center, National Center for Global Health and Medicine (hereinafter referred to as the Hepatitis Information Center) conducts training for hepatitis testing and treatment, based on the latest information and knowledge, for health care workers who are supervisors in regional core centers, based on the midterm goal and plan of the National Center for Global Health and Medicine.例文帳に追加
キ 国は、肝炎医療費助成制度、高額療養費制度、傷病手当金、障害年金等の肝炎医療に関する制度について情報を取りまとめ、地方公共団体と連携を図り、拠点病院の肝疾患相談センターを始めとした医療機関等における活用を推進する。 - 厚生労働省
c) The national government shall request that the Hepatitis Information Center conduct training of health care workers who are supervisors in regional core centers, based on the midterm goal and plan of the National Center for Global Health and Medicine, for hepatitis testing and for treatment based on the latest information and knowledge. (Repeat)例文帳に追加
ウ 国は、肝炎情報センターに対し、国立国際医療研究センターの中期目標及び中期計画に基づき、拠点病院において指導的立場にある医療従事者に対して、最新の知見を踏まえた肝炎検査及び肝炎医療に関する研修が行われるよう要請する。(再掲) - 厚生労働省
To provide a strength testing machine of a structure reduced in the number of jacks for force application, having a simple small-sized compact structure, low in machine cost, capable of performing a strength test corresponding to all of loads such as shaft load, shearing load, bending load or the like.例文帳に追加
加力用のジャッキ数が少なく、簡単かつ小型コンパクトな構造で、装置コストの安い装置であって、さらには任意の場所で強度試験が可能な装置で以って、軸荷重、せん断荷重、曲げ荷重等あらゆる荷重に対応する強度試験を実施可能な構造体の強度試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing airtightness performance capable of performing an accurate airtightness performance test even when leaking quantity increases under a minute pressure condition and a test pressure greatly drops, and in addition capable of rapidly and surely obtaining a test result even when conditions such as internal volume, detecting time, and a test pressure change.例文帳に追加
微圧条件下で漏れ量が大きくなりテスト圧が大きく降下するような場合でも正確な気密性能試験を行うことが可能であり、加えて、内容積、検出時間、テスト圧等の条件が変わったとしても迅速かつ確実に試験結果を得ることのできる気密性能測定方法を提供すること。 - 特許庁
On the other hand, when testing the motorcycle equipped with an operating pedal, a support board grip for stabilizing the attitude of the frame 1 to the motorcycle by sandwiching a step board is connected detachably to the frame 1 without using the left leg part operating machine fixture 5 and the right leg part operating machine fixture 6.例文帳に追加
一方、操作ペダルを備えた自動二輪車の試験を行う場合には、左足部操作機固定金具5と右足部操作機固定金具6を用いずに、フレーム1に脱着可能に、ステップボードを挟持してフレーム1の姿勢を自動二輪車に対して安定化する支持ボードグリップ金具を連結する。 - 特許庁
A device testing apparatus 1 includes: a metal plate 11 which is contacted with a collector electrode provided in a semiconductor device 20 to support the semiconductor device 20; and a plurality of contacts 30e equipped with an expansion and contraction mechanism for contacting with an emitter electrode 20e provided in the semiconductor device 20 while pressing the emitter electrode 20e.例文帳に追加
素子試験装置1は、半導体素子20に配設されたコレクタ電極に接触して半導体素子20を支持する金属板11と、半導体素子20に配設されたエミッタ電極20eを押圧しつつ、エミッタ電極20eに接触する伸縮機構を備えた複数の接触子30eと、を備えている。 - 特許庁
The base material of this chip type electronic component storage mount is multi-layer paper structured, and pulp after the defibrination of the base material has a fiber length distribution factor 1.20-3.20 or less obtained by a pulp fiber length testing method using optical automated metrology specified by Japan Technical Association of the Pulp and Paper Industry No.52.例文帳に追加
チップ型電子部品収納台紙用紙基材が、多紙層構造を有し、この基材の離解後のパルプが、JAPAN TAPPI No.52で規定されている光学的自動計測法でのパルプ繊維長試験方法により求められる繊維長分布係数が、1.20〜3.20以下である。 - 特許庁
A device 10A for testing a semiconductor element includes an upper guide plate 20A, having a plurality of upper guide holes 22A; a lower guide plate 30A having a plurality of lower guide holes 32A; a plurality of vertical probe 40A, provided in the upper guide holes 22A and the lower guide holes 32A; and a temperature regulation module 50.例文帳に追加
半導体素子の試験装置10Aであって、複数の上部ガイド孔22Aを有する上部ガイド板20Aと、複数の下部ガイド孔32Aを有する下部ガイド板30Aと、上部ガイド孔22Aおよび下部ガイド孔32A内に設けられている複数本のバーチカル型探針40Aと、温度調整モジュール50とを備えている。 - 特許庁
To quickly and flexibly narrow down any problematic operation and an object being the factor of the problematic operation without depending on the source code of an object mounted on a system and the hardware and OS of the system at the time of tracking an object being the factor of any problematic operation at the time of testing this system.例文帳に追加
システムの試験時に、問題となる動作を起こしたオブジェクトを追跡する場合において、システムに実装されたオブジェクトのソースコードおよびシステムのハード、OS等に依存せずに、問題となる動作および問題となる動作の原因となるオブジェクトの迅速かつ柔軟な絞り込みを可能とすること。 - 特許庁
To provide a data communication device, a central management device, a testing method, a remote management system, and a computer program, in which the central management device can recognize whether the communication from the data communication device is performed normally, without dispatching a service engineer to the site where the data communication device is installed.例文帳に追加
本発明は、データ通信装置、中央管理装置、テスト方法、遠隔管理システム及びコンピュータプログラムに関し、中央管理装置が、データ通信装置からの通信が正常に行われるか否かをそのデータ通信装置が設置されている現場へサービスマンを派遣せずに確認できるようにすることを目的とする。 - 特許庁
To provide a flaw detector capable of realizing high precision flaw detection by making the magnetic flux density of measurement region high resolution by detecting the change of magnetic flux density by changing the rotation angle of polarization surface using the Faraday effect, in the case of detecting the flaw in a member under testing of magnetic substance.例文帳に追加
磁束密度の変化を、ファラデー効果を利用して偏光面の回転角の変化として検出することにより、磁性体である被探傷部材の傷を検出する場合において、磁束密度の測定領域を高分解能化して高精度の探傷を実現し得る探傷装置を提供する。 - 特許庁
An optical scanning unit (1) for testing the visual integrity of cigarettes (3) is equipped with a linear CCD array camera (12) by which a cigarette (3) can be imaged along a scanning zone (6), also a system for illuminating the scanning zone (6), and a cleaning device (15) serving to keep the scanning zone (6) free of impurities.例文帳に追加
紙巻き煙草の(3)の視覚的完全性を検査する光学走査ユニット(1)が、走査ゾーン(6)に沿って紙巻き煙草(3)を撮影することが可能なリニアCCDアレイカメラ(12)と、この走査ゾーン(6)を照明するシステムと、不純物がない状態に走査ゾーン(6)を保つ働きをするクリーニング装置(15)とを備えている。 - 特許庁
In this performance testing device 10, a fixing frame 12 and a guide frame 13 are erected vertically and oppositely in parallel at a prescribed interval on a horizontal base plate 11, and a clamp means 14 of one of upper and lower face plates 5a, 5b of the sample piece 1 is installed on an internal surface upper part of the fixing frame 12.例文帳に追加
性能試験装置10は、水平なベースプレート11上に、所定の間隔を隔てて固定フレーム12とガイドフレーム13とが平行で、かつ相対向して鉛直に立設され、固定フレーム12の内壁面上部には、供試体1の上下面板5a,5bの一方のクランプ手段14が設けてある。 - 特許庁
The test transistors A, B that have at least two kinds or more of insulating films 13, 15 and different configurations are manufactured, and the electrostatic capacity film can be guaranteed with the easy measurement using a testing method for determining whether insulating films 13, 15 have been formed normally from the difference of the sub-threshold characteristics of two kinds of test transistors.例文帳に追加
少なくとも2種類以上の絶縁膜13,15の構成が異なるテスト用トランジスタA,Bを製造し、2種類のテスト用トランジスタのサブスレッショルド特性の差から、絶縁膜13,15が正常に形成されたか否かを判定するというテスト方法を用いて、簡単な測定で静電容量膜の保証が行える。 - 特許庁
To improve reliability of laminated PTC thermistors, and stabilize changes with the passage of time of its resistance at room temperature in an electrification testing, in the laminated PTC thermistor, where an external electrode is formed at the opposite ends of a ceramic base structure obtained by alternately laminating and integrally calcining an internal electrode and a semiconductor ceramic layer.例文帳に追加
内部電極と半導体セラミック層とを交互に積層して一体焼成して得られるセラミック素体の両端面に外部電極が形成されてなる積層型PTCサーミスタにおいて、積層型PTCサーミスタの信頼性の向上、具体的には通電試験における室温抵抗の経時変化を安定させる。 - 特許庁
In the burn-in testing method carrying out the test by operating the semiconductor device in a predetermined temperature atmosphere, while supplying power to the semiconductor device, an operation command signal commanding operation of the semiconductor device is repeatedly supplied, and varying of a power source current corresponding to the operation command signal is counted.例文帳に追加
半導体デバイスを所定の温度雰囲気中で動作させて試験を行うバーンイン試験方法において、半導体デバイスに電源を供給しながら、半導体デバイスの動作を指令する動作指令信号を繰り返し供給し、動作指令信号に対応する電源電流の増減をカウントする。 - 特許庁
To provide a tire damage testing device capable of performing a highly accurate damage test having little dispersion when specifying a damaged spot of a test tire by dropping an impact block equipped with a heavy bob to abut surely on a specific spot of a tire tread part from the tire side part side of the test tire.例文帳に追加
試験タイヤのタイヤサイド部側からタイヤトレッド部の特定箇所に重錘を備えた衝撃ブロックを落下させて確実に当接させることで、試験タイヤの損傷箇所の特定する場合にバラツキが少なく、精度の高い損傷試験を行うことが出来るタイヤ損傷試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
This activating device for hydrogen storage alloys has hydrogen piping 3 communicating plural tanks 1 and 2 charged with hydrogen storage alloys, a hydrogen compressor 4 provided on the hydrogen piping 3, testing medium piping 5 connecting the tanks 1 and 2 each other so as to be capable of heat-exchanging and a heating medium pump 6 provided on the heating medium piping 5.例文帳に追加
水素吸蔵合金を入れた複数のタンク1、2を連通する水素配管3および水素配管3に設けられた水素コンプレッサ4と、タンク1、2同士を熱交換可能に接続する熱媒配管5および熱媒配管5に設けられた熱媒ポンプ6と、を有する水素吸蔵合金の活性化装置。 - 特許庁
In the system for testing the characteristics of the interface in between thin films by measuring the mechanical and thermal characteristics, the light from a laser 136 is absorbed into the thin films or a structure made of multiple thin films, and variations in the transmission or the reflection of which are measured and are analyzed by using an analyzer 134.例文帳に追加
機械的特性及び熱特性の測定による薄膜と薄膜間の界面との特性調査のためのシステムにおいて、レーザ136からの光は、薄膜や、複数の薄膜で作製された構造物に吸収され、光の透過あるいは反射の変化が測定されて、解析器134を使用して分析される。 - 特許庁
The invention is achieved by mating Suwon 425 race to Heugjinju race, culturing the new paddy rice which contains a large amount of C3G, confirming uniformity of the genetic potential by analyzing C3G content in individual in the lineage by progeny test, and testing on the antioxidant ability and anti-thrombus ability of the seeds.例文帳に追加
Suwon425品種にHeugjinju品種を交配させ、多量のシアニジン 3-グリコサイドを含有する水稲新品種を育成し、後代検定によって系統内個体のC3G含量などを分析して遺伝的な能力が均一であることを確認し、その種子の抗酸化能および抗血栓能を検定して本発明を完成するに至った。 - 特許庁
To provide a method capable of providing a fiber product satisfying a standard of bacteriostatic performance specified by Japan Textile Evaluation Technology Council also in a test method by bacterial transferring method of quantitative test for JIS L 1902 (2002) [antibacterial testing method of fiber products and antibacterial effect] and to provide the above fiber product.例文帳に追加
JIS L 1902(2002)「繊維製品の抗菌性試験方法・抗菌効果」の定量試験の菌転写法による試験方法においても、社団法人繊維技術評価協議会が規定する抗菌性能の基準を満たす繊維製品を提供することのできる方法及びそのような繊維製品を提供する。 - 特許庁
In the reciprocating slide type friction-testing machine, a linear reciprocating movement is given to one of can surfaces that are in contact in points, lines, or surfaces, stress that is generated in the other can surface is detected, and friction force and coefficients on the contact surface are measured, thus estimating the ease of scratch.例文帳に追加
点、線または面で接触した缶表面同士の一方に対して直線往復運動を与え、他方に発生する応力を検出して缶表面における接触面での摩擦力および摩擦係数を計測することによりキズの付きやすさ等を推測する往復摺動型摩擦試験機。 - 特許庁
An image processor 21 is provided with a test item registering means for testing an image processor 20, an update means of firmware, a test execution means and a print test execution means for selecting and executing test items registered in the test item registering means and a report preparation means for preparing a report by analyzing the test result after ending the test.例文帳に追加
情報処理装置21は画像処理装置20をテストするためのテスト項目登録手段と、ファームウェアのアップデート手段と、テスト項目に登録したテスト項目を選択し実行するテスト実行手段と印刷テスト実行手段と、テスト終了後、テスト結果を解析してレポートを作成するレポート作成手段を備える。 - 特許庁
To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.例文帳に追加
LSI内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のLSIチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数(デバイスピン数)の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁
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