「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(283ページ目) - Weblio英語例文検索

The testing apparatus associates a test item with a code number and stores them in a storing part, acquires a time when data is received from the OLT or the like, transmits the data to a delay buffer A in the case of performing no test, and generates test data obtained by adding a code number to the data in the case of carrying out a test.例文帳に追加

この試験装置は、試験項目とコード番号とを対応付けて記憶部に記憶し、ＯＬＴなどからデータを受信した時刻を取得するとともに、試験を実施しない場合に、当該データをＤｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信し、試験を実施する場合に、当該データにコード番号を付加した試験データを生成する。 - 特許庁

In this testing method, one or more out of excess air, oxygen gas and insert gas is flow-regulated and supplied to bring the atmosphere in the tubular part of the heat-resistant tubular member into the atmosphere exposed with actual exhaust gas, in a test for making a high temperature of combustion gas flow into the tubular part of the heat-resistant tubular member to heat the heat-resistant tubular member.例文帳に追加

耐熱管状部材の管状部内に高温の燃焼ガスを流して耐熱管状部材を加熱する試験であって、試験方法は、耐熱管状部材の管状部内の雰囲気が実際の排気ガスに曝された雰囲気となるように過剰空気、酸素ガス、不活性ガスの何れか１つ以上を流量を調節して送給する。 - 特許庁

In the on-off durability testing equipment for the on-off body, a drive motor 13 is arranged so that the drive shaft 13a thereof becomes coaxial with respect to the rotary shaft C of a door part 11 being the on-off body and rotated forwardly and reversely to open and close the door part 11 by the arm member 15 attached to the drive shaft 13a of the drive motor 13.例文帳に追加

この開閉体の開閉耐久試験装置では、駆動軸１３ａが開閉体であるドア部１１の回転軸Ｃと同軸になるように駆動モータ１３が設置され、その駆動モータ１３を正逆転させることにより、駆動モータ１３の駆動軸１３ａに取り付けられたアーム部材１５によってドア部１１が開閉される。 - 特許庁

It is also provided with a non-contact system static charge volume detecting part 29 for detecting static charge volumes of an object for deposition by inducing static charges and a control part 27 controlling an ion generating volume per unit time of the ion generating part 14 so as the charge volumes of the object for deposition to be constant, based on testing results of the static charge volume detecting part 29.例文帳に追加

静電圧を誘起して付着対象物の帯電量を検知する非接触式の帯電量検知部２９と、帯電量検知部２９の検知結果に基づいて付着対象物の帯電量が一定となるようにイオン発生部１４の単位時間当たりのイオン発生量を制御する制御部２７を設ける。 - 特許庁

To provide a metal core multilayer printed wiring board that uses a thick-wall conductor which can improve the reliability of conduction of a plating film of a through-hole or an inner via hole, in a multilayer printed wiring board where a wiring pattern conductor layer of four layers or more is stacked, during cold impact testing, and can attain high reliability under severe temperature environment, such as, engine room of vehicle.例文帳に追加

４層以上の配線パターン導体層が積層された多層プリント配線板のスルーホールまたはインナーバイアホールのめっき膜に対して、冷熱衝撃試験での導通信頼性を高め、自動車のエンジンルーム等の過酷な温度環境下においても高い信頼性の得られる厚肉導体を用いた金属コア多層プリント配線板を提供する。 - 特許庁

To obtain a hydrogel utilizable for various kinds of cosmetics, medicines, etc., and comprising a derivative of hydrophobic group-containing polysaccharides, to obtain a composition for the hydrogel used for producing the hydrogel, to obtain a cosmetic and a skin plaster using the hydrogel, to obtain an enzyme stabilizer and a stabilized composition, and to provide a medical tool and a clinical testing equipment having a dried film of the hydrogel.例文帳に追加

各種化粧料、医薬品等に利用可能な、疎水性基含有多糖類誘導体を含有するハイドロゲル、該ハイドロゲルを製造するためのハイドロゲル用組成物、該ハイドロゲルを用いた化粧料及び皮膚貼付材、酵素安定化剤及び安定化組成物、並びに該ハイドロゲルの乾燥被膜を備える医療用具及び臨床検査機器を提供する。 - 特許庁

A vehicle composite testing device 1 for placing wheels of the vehicle to be tested on the front and rear drive rollers 2, 2 to carry out the brake test or speed test is provided with a drive roller locking means 4 for stopping the front and rear drive rollers 2, 2 upon detecting the stop of the wheels by a lock detecting roller 4a arranged between the front and rear drive rollers 2, 2.例文帳に追加

前後の駆動ローラ２、２上に被験車両の車輪を載置してブレーキテスト又はスピードテストをする式の車両複合試験装置１において、前記前後の駆動ローラ２、２間に配置されるロック検出ローラ４ａにより前記車輪の停止を検出して前記駆動ローラ２、２を停止する駆動ローラのロック手段４を設けた。 - 特許庁

The fire sensors equipped with the automatic testing functions are connected to the sensor circuits 2-1 to 2-3 extracted by every system from the receiver 1, and a test instructing part 14 instructs the start of a test to a certain fire sensor, and instructs the start of a test to another fire sensor connected to the signal circuit of the identical system or another system before the test ends.例文帳に追加

受信機１は、系統毎に分けて引出された感知器回線２−１〜２−３に自動試験機能を備えた火災感知器を接続しており、試験命令部１４は、ある火災感知器に試験開始を指示してから試験終了となる以前に、同一系統又は別系統の信号線に接続している他の火災感知器に試験開始を指示する。 - 特許庁

The system detects states of overcurrent protective means 132a, 132b, ... by a read back device 135 and transmits the states to a control terminal unit 3, stops the testing if the read back device detects interruption of power supplies 133a, 133b, ... by the overcurrent protective means 132a, 132b, ..., and displays a position of a power supply interrupted by the control terminal unit 3.例文帳に追加

リードバック装置１３５により過電流保護手段１３２ａ，１３２ｂ，・・・の状態を検出して制御端末装置３に送信し、リードバック装置が過電流保護手段１３２ａ，１３２ｂ，・・・による電源１３３ａ，１３３ｂ，・・・の遮断を検出したとき試験を停止し、制御端末装置３に遮断された電源の位置を表示する。 - 特許庁

To provide a device, method and program for testing a branch prediction circuit of an information processor, in which verification of the branch prediction circuit can be easily and efficiently performed without performing processing for specifying a branch point and substituting a branch instruction by the other instruction.例文帳に追加

分岐ポイントを特定して分岐命令を他の命令で置き換える処理を行うことなく、容易に、かつ効率的に分岐予測回路の検証を可能とする情報処理装置の分岐予測回路の試験装置、情報処理装置の分岐予測回路の試験方法及び情報処理装置の分岐予測回路の試験プログラムを提供すること。 - 特許庁

To obtain an adhesive exhibiting excellent heat resistance after laminating processing especially even when a hardly adhesive resin film such as a polyolefin film is laminated on a steel plate, and keeping the excellent adhesiveness even after a boiling water resistant testing; and to provide a plastic film-laminated steel plate produced by utilizing the adhesive.例文帳に追加

本発明の課題は、特に、ポリオレフィンフィルムなどの難接着性樹脂フィルムを鋼板にラミネートした場合でも、ラミネート加工後に優れた耐熱性を示すと共に、耐沸水性試験後においても優れた接着力が確保される接着剤及びその接着剤を利用して製造するプラスチックフィルムラミネート鋼板を提供することにある。 - 特許庁

The integrated circuit 11 is prepared preliminarily with voltage-frequency conversion circuits 15-17 for converting voltages of testing objective points in respective analog circuits 12-14 into alternating current signals of corresponding frequencies, and a mixing circuit 18 for mixing outputs from the respective voltage-frequency conversion circuits 15-17 to be output to a terminal 19, in an inside of the circuit 11.例文帳に追加

予め集積回路１１内に、各アナログ回路１２〜１４の試験対象点の電圧を対応する周波数の交流信号に変換する電圧−周波数変換回路１５〜１７と、各電圧−周波数変換回路１５〜１７の出力を混合して端子１９へ出力する混合回路１８とを作成しておく。 - 特許庁

The testing circuit 4 has an operation set means 5 for setting an operation of the counter 2 divided into a plurality of counter blocks 3 at each counter block, and an initial value set means 6 for setting a predetermined initial value to each counter block 3 at each operation set by the means 5, thereby inspecting based on the counter output after each operation.例文帳に追加

テスト回路４は、複数のカウンタブロック３に分割されたカウンタ２の動作を、各カウンタブロック毎に、設定する動作設定手段５と、この動作設定手段５により設定された各動作毎に、各カウンタブロック３に対し、所定の初期値を設定する初期値設定手段６と、を具備し、各動作後のカウンタ出力に基づいて検査を行う。 - 特許庁

The method for testing the secondary battery of this invention includes a step of discharging and charging that carries out discharging and charging in the secondary battery treated initial discharging and charging treatment under a discharging and charging current larger than that of the initial discharging and charging current of the initial discharging and charging treatment.例文帳に追加

本発明の二次電池の検査方法は、初期充放電処理が施された二次電池に、初期充放電処理の初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流での充放電を行う充放電工程と、充放電工程が施された二次電池の電池特性の変化を測定する測定工程と、を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide wiring for connecting a semiconductor integrated circuit and an external circuit through a socket, and to provide an inspection device of the semiconductor integrated circuit for inspecting the connected state between the external connection terminals of the semiconductor integrated circuit connected to the external circuit in the inspection device of the semiconductor integrated device for executing the testing of an entire system including the external circuit.例文帳に追加

外部回路を含めたシステム全体のテストを実施する半導体集積回路の検査装置であって、ソケットを通して半導体集積回路と外部回路とを接続する配線と外部回路に接続される半導体集積回路の外部接続端子間の接続状態を検査できる半導体集積回路の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing local load smaller than a conventional apparatus, easily carried, conveniently measuring a strength in a desired depth from an artificial structure or all ground levels, reducing a damage applied to the artificial structure or the ground to the minimum, and overcoming a troublesome operation, and also to provide a test method.例文帳に追加

従来よりも小型で持ち運びに便利で、人工構造物または地盤のあらゆる面から所望の深さ位置での強度を簡便に計測することができ、さらに人工構造物または地盤に与える損傷を最小限にとどめ、また操作の煩雑さを解消することができる局部載荷試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

The semiconductor device test system includes a test handler testing the semiconductor device being assembled, a reader reading an identification code attached to the respective semiconductor device passed to the test handler as electronic data, and a computer storing test data collected by the test handler as electronic information corresponding to the identification code.例文帳に追加

組立完了の半導体装置をテストするテストハンドラ装置と、そのテストハンドラ装置に投入された上記半導体装置の個々に付された識別記号を電子データとして読み取る手段と、上記テストハンドラ装置の採取したテストデータを、上記識別記号と関連付けた電子情報として蓄えるコンピュータとを備える、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁

The apparatus for testing the optical head device 106 controls one or more functions out of focusing servo control, tracking servo control and spindle servo control, using control circuits (a PCB mounted thereon a controller, a servo circuit, a digital circuit, etc.), of the optical disk drive apparatus 100 into which the device 106 to be tested is to be incorporated.例文帳に追加

光学ヘッド装置１０６を検査するための検査装置において、検査装置のフォーカスサーボ、トラッキングサーボ、スピンドルサーボのうちいずれか１つ以上の制御機能を、検査対象の光学ヘッド装置１０６が組み込まれる光ディスク駆動装置１００の制御回路（コントローラ、サーボ回路、デジタル回路などを実装したＰＣＢ）を使用して実現するように構成した。 - 特許庁

To provide a substrate transfer device and its method with which the falling of a substrate can be prevented for the substrate transfer device and its method to vacuum chuck substrates such as a glass plate, a semiconductor wafer, etc., and cause them to move, in steps for manufacturing, testing, or measuring a semiconductor device or a liquid-crystal indication device, etc.例文帳に追加

本発明は、半導体装置や液晶表示装置等を製造し、検査し、或いは測定等する工程において、ガラスプレートや半導体ウェハ等の基板を真空吸着して移動させる基板搬送装置および方法に関し、基板の落下を防止することのできる基板搬送装置および方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁

Typical configuration of the method for manufacturing the vertical magnetic recording disk includes a writing process which applies an alternating current with a frequency less than a predetermined value or a direct current while rotating the magnetic disk, and a signal quality testing process after writing.例文帳に追加

上記課題を解決するために、本発明に係る垂直磁気記録方式の磁気ディスクの製造方法の代表的な構成は、磁気ディスクを回転させつつ、所定の周波数以下の交流信号または直流信号を印加して書き込みを行う工程と、書き込みを行った後に信号品質テストを行う工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a premixed gas supply testing device capable of reducing waiting time and improving test efficiency by reducing abrupt expansion of volume of premixed gas in a combustion vessel when supplying gas for stabilizing temperature and pressure of the premixed gas, and capable of stabilizing fuel concentration in the premixed gas immediately after starting to supply gas and temperature of the premixed gas.例文帳に追加

給気時における燃焼容器内での予混合気の急激な体積膨張を軽減して、該予混合気の温度と圧力を安定化し得、又、給気開始直後の予混合気中の燃料濃度並びに予混合気の温度を安定化し得、待ち時間の短縮と試験効率向上を図り得る予混合気供給試験装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the semiconductor integrated circuit used for the scan testing method has a separation means to isolate each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and an input terminal to input the scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

更に、このスキャンテスト方法に用いられる半導体集積回路であって、スキャンテスト時に複数の複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションする分離手段と、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを入力する入力端子とを有することを特徴とする半導体集積回路を提示する。 - 特許庁

In this semiconductor testing apparatus constituted so as to perform operation processing of measurement data of a DUT by the DSP, a measuring file storage means for collecting and storing the measurement data of the DUT is provided in the DSP, and debugging of the DSP is carried out, based on the measurement data stored in the measuring file storage means.例文帳に追加

ＤＳＰでＤＵＴの測定データの演算処理を行うように構成された半導体試験装置において、前記ＤＳＰに前記ＤＵＴの測定データを収集格納する測定ファイル格納手段を設け、この測定ファイル格納手段に格納された測定データに基づき前記ＤＳＰのデバッグを行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.例文帳に追加

集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線１０２に送出し、その試験遷移信号の反射５０２をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたＩＣを含む方法及び装置。 - 特許庁

To provide a load cell correction jig capable of correcting bentness of a load cell so as to be not influenced by bentness of the load cell, without generation of noise due to reflection wave, when, for example, high-speed tension test is performed of low strength of resin and thereby to provide a high-speed tension testing machine capable of implementing easy and correct measurement.例文帳に追加

例えば樹脂などの低強度の高速引張り試験を行う際に、反射波によるノイズを発生させることなく、ロードセルの曲がりによる影響を受けないようにロードセルの曲がりを矯正することが可能なロードセル矯正治具およびこれを用いて、簡易に正確な測定が可能な高速引張り試験機等を提供する。 - 特許庁

The operation management server is provided with: a first processing means for performing processing to prepare the site of the portable terminal; a second processing means for executing a test by connecting to a predetermined authority concerned for testing the prepared site; and a third processing means for notifying the application server so as to publicly opening the site matched with a test by the second processing means on the network.例文帳に追加

運用管理サーバは、携帯端末のサイトを作成する処理を行なう第１処理手段と、作成されたサイトをテストするための所定の関係先に接続してテストを実施する第２処理手段と、第２処理手段によるテストに適合したサイトをネットワーク上へ公開するために、アプリケーションサーバに通知する第３処理手段と、を有する。 - 特許庁

The supporting means 7 has a pair of rocking bodies 10 which are rockably attached to a testing table 3 in the axial direction of the load shaft 5 at a same height in parallel and supports the load shaft 5 movable in the axial direction by connecting upper ends of the pair of rocking bodies 10 at two positions apart in the axial direction of the load shaft 5.例文帳に追加

支持手段７は、試験台３に荷重軸５の軸方向に揺動可能に取り付けられた同じ高さで平行の一対の揺動体１０を有すると共に、一対の揺動体１０の上端を荷重軸５の軸方向に離れた２箇所に連結することで荷重軸５を軸方向に移動可能に支持するものである。 - 特許庁

(2) The provisions of Article 69-27, paragraph (2), Article 69-29, and Article 69-30 shall apply mutatis mutandis to a Designated Training Agency. In this case, the terms "Designated Testing Agency" and "Examination Affairs" in these provisions shall be deemed to be replaced with "Designated Training Agency" and "Training Affairs," respectively. 例文帳に追加

２　第六十九条の二十七第二項、第六十九条の二十九及び第六十九条の三十の規定は、指定研修実施機関について準用する。この場合において、これらの規定中「指定試験実施機関」とあるのは「指定研修実施機関」と、「試験事務」とあるのは「研修事務」と読み替えるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 22 (1) The competent minister may, within the limits necessary to enforce the provisions of this Section, require a Registered Inspection Body to submit reports on its work for Testing of Organisms, or may authorize staff members to enter the office of a Registered Inspection Body, inspect the books, documents or other necessary properties of the Registered Inspection Body, or question relevant persons. 例文帳に追加

第二十二条　主務大臣は、この節の規定の施行に必要な限度において、登録検査機関に対し、その生物検査の業務に関し報告を求め、又はその職員に、登録検査機関の事務所に立ち入り、登録検査機関の帳簿、書類その他必要な物件を検査させ、若しくは関係者に質問させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In terms of practical training, the companies responded that it would be possible to dispatch lecturers for training on facility design, pump performance testing, as well as water purification technologies (water quality management and operation management), stainless steel processing, and technologies to prevent leakage and water supply stoppage during construction.However, no companies responded that they would be able to provide a lecturer for training on leakage surveys, pipe-laying techniques or water quality inspection.例文帳に追加

実習研修については、施設設計演習、ポンプ性能試験、その他として浄水施設（水質管理・運転管理）、ステンレス鋼の加工について、漏水防止・不断水工事技術について派遣が可能であったが、漏水調査実習、配管技能実習、水質検査実習については対応可能との回答が無かった。 - 厚生労働省

a) All individuals must first understand that it is possible for hepatitis to progress to serious diseases such as cirrhosis and liver cancer, which severely affects their health keeping, if left untreated, and must understand the importance of undergoing hepatitis testing at least once and to be informed regarding their own hepatitis infection status, given the importance of treatment of the disease in the early stages.例文帳に追加

ア 国民一人一人が、肝炎は放置すると肝硬変や肝がんという重篤な病態へと進展する可能性があり、各人の健康保持に重大な影響をもたらし得る疾病であることを理解した上で、少なくとも一回は肝炎ウイルス検査を受検し、自身の肝炎ウイルス感染の有無について、早期に認識を持つよう努めること。 - 厚生労働省

At least either sidewall of a tire manufactured in the mold 2 has a surface having a surface glossiness of more than 10 as measured under a 60° gloss reading per the specular gloss designation D523-89 of American Society for Testing and Materials.例文帳に追加

この金型２を用いて製造されたタイヤの少なくとも１つのサイドウォールは、米国材料試験協会（Ａｍｅｒｉｃａｎ Ｓｏｃｉｅｔｙ ｆｏｒ Ｔｅｓｔｉｎｇ ａｎｄ Ｍａｔｅｒｉａｌｓ）の鏡面光沢度規定Ｄ５２３−８９による６０°光沢度を使用して計測したときの表面光沢度が１０よりも大きい表面を備えている。 - 特許庁

This IC tester for testing a test IC has a high-resolution digitizer digitizing and fetching a settling signal outputted from the test IC; and a digital signal processor adding the data fetched sequentially from the high-resolution digitizer to the preceding data, and scaling the added data by the number of additions to execute the averaging process of the taken-in data.例文帳に追加

被試験ＩＣの試験を行なうＩＣテスタにおいて、被試験ＩＣが出力するセトリング信号をデジタイズして取込むハイレゾルーションデジタイザと、このハイレゾルーションデジタイザから順次取込むデータをその直前のデータに加算すると共に加算されたデータを加算回数でスケーリングし、取込みデータの平均化処理を行なうデジタルシグナルプロセッサを備えた構成とする。 - 特許庁

To provide a circuit board and a manufacturing method of the same circuit board for realizing size reduction and high density of circuit board, accurately testing natural circuit wires for propagating high-frequency signals in the course of the board manufacturing process, assuring higher application efficiency of electronic components to be embedded in the circuit board, removing restrictions on the manufacturing process, and improving the board manufacturing yield.例文帳に追加

回路基板の小型化や高密度化を実現し、基板製造工程途中で高周波信号の伝搬する本来の回路配線を正確に検査でき、回路基板に埋設する電子部品の利用効率が高くでき、製造工程の制限を除くことができ、基板製造歩留を向上できる回路基板およびその製造方法の提供。 - 特許庁

The method of testing further includes: a step of attaching a substrate coated with deposit material to the shaft; a step of immersing the coated substrate in a solution contained in the vessel; a step of using the drive system to rotate the shaft and coated substrate at a predetermined velocity; and a step of determining an amount of deposit material removed from the substrate.例文帳に追加

この試験方法は、さらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

Further, this testing method is used to calculate non-elastic strain produced in the maximum strain part of the solder joint structure when a heat cycle within a predetermined temperature range is received to impart the same non-elastic strain to a test piece to obtain the thermal fatigue evaluation method of the solder joint structure substituted for a cold heat environment test.例文帳に追加

さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。 - 特許庁

In the semiconductor testing circuit 101, the comparators 141 and 142 compare a response signal with the reference signal by offsetting the test signal included in a synthetic signal and the test signal included in the comparison signal, by inputting the comparison signal and the synthetic signal of synthesizing the test signal and the response signal outputted from the test object device 20.例文帳に追加

半導体試験回路１０１では、コンパレータ１４１，１４２は、試験信号と試験対象装置２０から出力された応答信号とを合成した合成信号と、比較信号とを入力され、合成信号に含まれる試験信号と比較信号に含まれる試験信号とを相殺し応答信号と基準信号とを比較する。 - 特許庁

This material testing machine includes a shaft 12 of nonmagnetic material, a plurality of magnets 15 of a substantially cylindrical shape that are inserted and stacked in a part in the longitudinal direction of the shaft 12, a fixture 16 for fixing the magnets 15 to the shaft 12, a coil 19 arranged around the magnets 15, and bearings 13 and 14 for linearly movably supporting the shaft 12 to the coil 19.例文帳に追加

非磁性体のシャフト１２と、シャフト１２の長手方向一部に挿入して積層される略円筒形状の複数の磁石１５と、磁石１５をシャフト１２に固定する固定具１６と、磁石１５の周囲に配設されたコイル１９と、コイル１９に対しシャフト１２を直線方向に移動可能に支持する軸受け１３，１４とを備える。 - 特許庁

The remote maintenance system of dental chair unit is constituted such that the dental chair unit of a user, the testing device and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center are connected to each other by computer network, and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center and a maintenance technical expert conduct or support maintaining work of the chair unit to be maintained of the user site through the network.例文帳に追加

ユーザーの歯科用チェアユニット及びテスト装置と、遠隔保守センタの保守テスト処理装置との間をコンピュータネットワークで結び、ユーザサイトの保守対象チェアユニットの保守作業を、遠隔保守センタの保守テスト処理装置及び保守専門技術者が、ネットワークを介して実施あるいは支援する歯科用チェアユニットの遠隔保守システム。 - 特許庁

The molding method for the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is characterized in using the injection molding machine made of a material showing a contact angle of 77 to 87 degrees with water, and peeling strength of not more than 127 N when 10 to 30 mg of the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is melted for 30 minutes at 350°C and peeled by a compression testing machine.例文帳に追加

水との接触角が７７〜８７度の範囲にあり、且つ、脂環式構造含有熱可塑性樹脂１０〜３０ｍｇを３５０℃、３０分間溶融し、圧縮試験機によって剥離した時の剥離強度が１２７Ｎ以下の材質を有する射出成形機を用いた該脂環式構造含有熱可塑性樹脂の成形方法。 - 特許庁

The semiconductor testing device comprises the probe needle 20 for obliquely pressing the terminal for external connection of the semiconductor device, a hollow storage section 30 for storing the probe needle 20 appearably, a rotating mechanism for rotating the probe needle 20 pressed to the terminal, and a high friction section 22a disposed in a part of a side surface of the tip 22 of the probe needle 20.例文帳に追加

本発明に係る半導体試験装置は、半導体装置の外部接続用の端子に斜めに押圧するプローブ針２０と、プローブ針２０を出没可能に収容する、中空の収容部３０と、端子に押圧したプローブ針２０を回転させる回転機構と、プローブ針２０の先端部２２の側面の一部に設けられた高摩擦部２２ａとを具備する。 - 特許庁

In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.例文帳に追加

切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁

To enable a prescribed movement of the seal breaker of a lid part even if any region of the seal breaker is pushed down, in a testing appliance constituted so that the seal member of the liquid container housed in a case main body is ruptured by the breaking projection provided to the seal breaker by pushing the seal breaker and a developing solution in the liquid container is developed up to a detection part.例文帳に追加

ケース本体に収容された液体容器のシール部材が、蓋部のシールブレイカーを押すことによりこれに設けられた破断突起で押し破られ、液体容器内の展開液が検出部まで展開されるようにした試験用具において、シールブレイカーのいずれの部位を押し下げた場合でも、シールブレイカーが規定された動きを行うこと可能にする。 - 特許庁

As a result of clinical testing, a temperature rise of ≥1°C is not admitted in the segments of organisms irradiated with ultrasonic waves when output of ultrasonic vibrations is smaller than 10 mW/cm^2 and the dental plaque is sufficiently not removed and conversely, the temperature rise of ≥1°C is confirmed in the segments irradiated with the ultrasonic waves when the output is greater than 100 mW/cm^2.例文帳に追加

臨床実験の結果、超音波振動の出力が10mW/cm^2より小さい場合には、生体に対して超音波が照射された部分に１℃以上の温度上昇が見られなかったものの、歯垢が充分に除去されず、これと逆に100mW/cm^2より大きい場合には、超音波の照射部分に１℃以上の温度上昇が確認された。 - 特許庁