「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(281ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a structure for adjusting a pressure loss of a model, a fluid testing model, and a method for adjusting the pressure loss of the model, which maintain a mechanical strength and realizing desired resistance characteristics by disposing only resistance adjusting members on the upstream and downstream sides of a fluid flow without using supporting members.例文帳に追加

支持部材を用いずに、抵抗調整部材のみで、流体の流れの上流側と下流側に抵抗調整部材を配置して、機械的強度を維持しつつ、所望の抵抗特性を実現することができる、模型の圧力損失調整用構造体、流体試験用模型及び模型の圧力損失調整方法を提供する。 - 特許庁

Besides, this testing method performs steps of: mounting, on the shaft, a base material to which deposition substances are applied, immersing a film coated base material in a solution housed inside a container, utilizing the drive system for rotating the shaft and the film coated base material at a given rotating speed, and determining an amount of the deposition substances removed from the base material.例文帳に追加

この試験方法はさらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

The system for testing hydrogen permeability is equipped with the reference electrode 103 arranged in the hollow structure part 102 of the reinforcing rod 101, the counter electrode 104 arranged in the hollow structure part 102, the electrolyte solution 105 housed in the hollow structure part 102, and an electrolyte solution supply part 106 for supplying the electrolyte solution 105 to the hollow structure part 102.例文帳に追加

鉄筋１０１の中空構造部１０２の内部に配置された参照電極１０３と、中空構造部１０２内に配置された対向電極１０４と、中空構造部１０２に収容された電解質溶液１０５と、中空構造部１０２に電解質溶液１０５を供給する電解質溶液供給部１０６とを備える。 - 特許庁

A reference voltage generating circuit 110 for supplying each driver IC 100 with a reference voltage VREF at LED head mounting is prepared previously in the TEG chip 310 formed on a wafer 300 together with a plurality of the driver ICs 100 for driving an LED array in addition to a circuit for testing each driver IC 100.例文帳に追加

ウェハ３００上に、ＬＥＤアレイを駆動するための複数のドライバＩＣ１００と共に形成したＴＥＧチップ３１０内に、各ドライバＩＣ１００を試験するための回路に加えて、ＬＥＤヘッド実装時に各ドライバＩＣ１００に基準電圧ＶＲＥＦを供給するための基準電圧発生回路１１０を作り込んでおく。 - 特許庁

A changeover circuit 26 of a load control unit 1 detects open and close of a circuit breaker 7, gives a normal power to a multi-functional protection relay device 5 from a main circuit 3 in a closed-circuit state of the circuit breaker 7, and gives a power for testing to the multi-functional protection relay device 5 in an open-circuit state of the circuit breaker 7.例文帳に追加

負荷制御装置１の切換回路２６は、回路遮断器７の開閉を検出し、その回路遮断器７が閉路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に主回路３から常用電源を与え、回路遮断器７が開路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に試験用電源を与えるように切り換える。 - 特許庁

The temperature-sensing resistor washing device (68) for the corrosion testing machine includes: a washing solution supply means (69), having a washing nozzle (70) for jetting a washing solution to the temperature-sensing resistor (57); and a control means (67) for controlling the driving of the washing solution supply means (69) to jet the washing solution from the washing nozzle (70).例文帳に追加

腐食試験機用測温抵抗体洗浄装置（６８）は、測温抵抗体（５７）への洗浄液を噴出する洗浄ノズル（７０）を有する洗浄液供給手段（６９）と、洗浄ノズル（７０）から洗浄液を噴出させるように洗浄液供給手段（６９）を駆動制御する制御手段（６７）とを備えている。 - 特許庁

To provide a member for image display which hardly causes curling or cracking of a polarizing film laminated body in an environmental testing, especially in a demanding high temperature resistance test, even in a structure that aims to impart high functions, that is, in a structure of the polarizing film laminated body having a functional resin layer such as crosslinked coating film and/or a functional sheet laminated/adhered onto a polarizing film.例文帳に追加

高機能付与を目的とする構成、即ち、偏光フィルムに架橋塗膜等の機能樹脂層、及び／又は、機能シートを積層／貼合する偏光フィルム積層体の構成に於いても、環境試験、特に過酷な高温耐熱試験で、偏光フィルム積層体のカール及びクラックが生じることのない画像表示用部材を提供する。 - 特許庁

The load testing machine 100 includes: a test object support rack 2; a weight frame 3 relatively elevating relative to the test object support rack 2; weights 4a-4e where adjacent weights are engaged each other; a load frame 5 including a weight suspension unit 55 for engaging a pressing unit 54 for pressing the test object and the weight 4a; and a suspension tool 6 including a through-hole 69.例文帳に追加

被試験物支持台２と、被試験物支持台２に対し相対的に昇降する分銅枠３と、隣接する分銅同士が互いに係合する分銅４ａ〜分銅４ｅと、被試験物を押圧する押圧部５４と分銅４ａと係合する分銅吊下部５５とを有する負荷枠５と、貫通孔６９を有する吊下具６と、を備える荷重試験機１００。 - 特許庁

For the ceramic plate for semiconductor manufacturing/testing device having a heating resistor on its surface or inside, a protruded part for fitting a semiconductor wafer is formed at its outer rim part, and many convex bodies, contacting with the semiconductor wafer, are formed inside the protruded part.例文帳に追加

その表面または内部に抵抗発熱体が形成された半導体製造・検査装置用セラミック基板であって、その外縁部には、半導体ウエハを嵌合させるための突部が形成され、上記突部の内側には、上記半導体ウエハと接触する多数の凸状体が形成されていることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁

This prober interface device for the semiconductor testing device comprises split GNDs split in DUTs or in preset DUT groups and provided for GND layers on a multi-layered substrate having a prove needle, where a plurality of devices to be tested are tested.例文帳に追加

プローブ針を備える多層基板により、複数個の被試験デバイスを試験する半導体試験装置のプローバインタフェース装置において、多層基板上のＧＮＤ層に対して各ＤＵＴ毎に分割した分割ＧＮＤ、若しくは所定のＤＵＴグループ単位毎に分割した分割ＧＮＤ、を備える半導体試験装置のプローバインタフェース装置。 - 特許庁

To provide a TEG pattern, and a testing method of a semiconductor element using the pattern capable of confirming a leakage current level generated by erroneously aligned landing to an active region of M1C through silicon substrate data in a viewpoint of an active extension design rule to the M1C in a manufacturing method of a semiconductor device of 90 nm class or below.例文帳に追加

９０ｎｍ級以下の半導体素子の製造において、Ｍ１Ｃのアクティブ領域に対するミスアラインされたランディングによって発生する漏洩電流水準をＭ１Ｃに対するアクティブエクステンションデザインルールの観点でシリコン基板データを通じて確認可能にすることができるテグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.例文帳に追加

製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁

There is disclosed method of measuring gear errors where two small gears 1, 3 are engaged with a testing gear 2, a rotational transmission error obtained by measuring the rotational angle of one small gear 3, on the basis of the rotation of the other small gear is subjected to frequency analysis, and then errors including an eccentricity error can be calculated.例文帳に追加

試験歯車２に二つの小歯車１、３をかみ合わせ、一方の小歯車１の回転を基準として他方の小歯車３の回転角度を測定して得られた回転伝達誤差を周波数解析することにより、試験歯車の偏心誤差を含む誤差を演算可能とすることを特徴とする歯車誤差測定方法。 - 特許庁

In this method, a conductive liquid material 22 is laid in between rotating electrode 21 and fixed electrode 23 fixed on rotor of the fluid bearing motor to accurately achieve surfacing revolution testing of motor, without the occurrence of reduction in motor revolution or motor rotation stoppage due to load onto the rotor from the fixed electrode 23.例文帳に追加

流体軸受モータの回転子に固定された回転電極２１と固定電極２３との間に導電性液状物質２２を介在させることで、固定電極２３からの回転子への負荷による、モータ回転数の減少やモータの回転停止は発生せず、正確にモータの浮上回転数の検査を行うことが可能となる。 - 特許庁

To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.例文帳に追加

従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁

A detachable test fixture 11 formed with a groove in the peripheral surface thereof is provided to be interposed between a sheave 1 and a rope 8 when testing an emergency stop means 3 of an elevator for holding a guide rail in emergency to hinder elevation of an elevator car 2 to reduce traction ability of the sheave 1 in relation to the rope 8 in comparison with that of the normal operation.例文帳に追加

非常時にガイドレールを把持して乗かご２の昇降を阻止するエレベータの非常止め手段３の試験時に、綱車１とロープ８との間に介在され、その外周面に溝が形成される着脱可能な試験用治具１１を備え、綱車１のロープ８に対するトラクション能力をエレベータ通常運転時よりも小さくする。 - 特許庁

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

The microprocessor is provided with a plurality of test processing means individually testing the same predetermined processing result, a plurality of branch processing means respectively performing branch processing according to test results by the respective test processing means, and a trap means performing failure handling process when branch processing cannot be carried out by a predetermined branch processing means operated preferentially to other branch processing means.例文帳に追加

同一の所定の処理結果をそれぞれテストする複数のテスト処理手段と、各テスト処理手段によるテスト結果に応じてそれぞれ分岐処理を行う複数の分岐処理手段と、他の分岐処理手段に優先して実行される所定の分岐処理手段にて分岐できなった場合に障害対応処理を実行するトラップ手段と、を備えた。 - 特許庁

In a process of manufacturing a semiconductor device including an adjustment circuit for adjustment according to results of tests, the method includes testing the semiconductor device (at step S3), and forming a wiring pattern or a via pattern by electronic beam lithography with an electronic beam lithography device according to the results of the tests, and finishing the circuit pattern of the adjustment circuit (at step S4).例文帳に追加

試験結果に応じた調整を行う調整回路を含む半導体装置の製造途中において、当該半導体装置を試験し（ステップＳ３）、その試験結果に応じて電子ビーム描画装置による電子ビーム描画によって、配線パターンやビアパターンなどを形成することにより、調整回路の回路パターンを確定させる（ステップＳ４）。 - 特許庁

To provide a highly reliable testing method of cans and a device realizing it by analyzing echo vibration having a vibration waveform which becomes gradually complicated because of the increase in noise constituents along with the lapse of time in hammering test of a two-piece can, providing a precise frequency spectrum, and accurately grasping the frequency which matches a can internal pressure.例文帳に追加

本発明の課題は、時間と共にノイズ成分が多くなり複雑な振動波形となっている２ピース缶の打検における反響振動を解析して、精度のよい周波数スペクトルを得て缶内圧力に対応する周波数を正確に把握し、信頼性が高い缶の検査法並びにそれを実現する検査装置を提供することにある。 - 特許庁

In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4.例文帳に追加

複数の被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４とＬＳＩテスタ１００とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットＤＬＹ１〜ＤＬＹ４を設ける。 - 特許庁

To provide a testing device for determination of a display defect including display irregularity and the like to be appeared on a display surface of a plane display device and a manufacturing method of the plane display device using this which are capable of making determination of display irregularity and the like precisely and reliably without being affected by skill level and some difference of operation conditions.例文帳に追加

平面表示装置の表示面に表れる表示ムラその他の表示欠陥を判定するのに用いる検査具、及びこれを用いる平面表示装置の製造方法において、表示ムラ等の判定を、熟練度や多少の作業条件の違いに左右されることなく、高い精度及び信頼度にて行うことができるものを提供する。 - 特許庁

The burn-in testing device 300 is provided with a test pattern generation means 301 for generating a test pattern for performing a burn-in test, a semiconductor device 302 to be tested, a scan judgement means 303, and a time measurement means 305 controlled by the output signals of the scan judgement means 303 and the output signals of a memory judgement means 304.例文帳に追加

バーンイン試験装置３００は、バーンイン試験を行うためのテストパターンを発生するテストパターン発生手段３０１と、被試験半導体装置３０２と、スキャン判定手段３０３と、スキャン判定手段３０３の出力信号およびメモリ判定手段３０４の出力信号によって制御される時間計測手段３０５を備える。 - 特許庁

To provide a data processor and method for testing stability of a cell using a reliable, effective and practical (in connection with test time period) mechanism for detecting a defective memory cell that may malfunction in normal use due to unstableness of the cell caused by a hysteresis effect in a body region of transistors configuring the memory cell in a memory device.例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルを構成するトランジスタのボディ領域の履歴効果が引き起こすセルの不安定性により通常の使用中に誤動作するかもしれない欠陥メモリ・セルの検出のための信頼できる効果的で現実的な（テスト時間に関して）メカニズムを用いて、セルの安定性をテストするデータ処理装置と方法を提供すること。 - 特許庁

The testing apparatus extracts the code number from the generated test data, performs the test item, acquires a time when the test item ends, calculates a test time required to perform the test from the time and the time when the data are received, and reads the data transmitted to the delay buffer A after the elapse of the calculated test time.例文帳に追加

そして、この試験装置は、生成された試験データからコード番号を抽出して試験項目を実施し、当該試験項目が終了した時刻を取得して、この時刻とデータを受信した時刻とから試験を実施するのに要する試験時間を算出し、算出された試験時間経過後に、Ｄｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信されたデータを読み出す。 - 特許庁

To provide a new airtightness testing method, capable of inspecting fine leaks and gross leaks of an electronic component sealed airtightly in a shorter time than hitherto, showing a high leak detection capability, coping with miniaturization of the electronic component, and surely detecting the leak, without omission over a wide range, and an in-line airtightness test device for realizing the method.例文帳に追加

気密封止された電子部品のファインリーク及びグロスリークを従来よりも短時間で検査し、電子部品の小型化に対応して高いリーク検出能力を発揮し、広い範囲に亘って確実にかつ漏れなくリークを検出し得る新規な気密試験方法、及びそれを実現するインライン化された気密試験装置を提供する。 - 特許庁

A method and system for testing sugar contents irradiates the measured object with a generated electromagnetic wave to obtain a transmission or reflection intensity thereof, using an electromagnetic wave generation source having 10GHz-10THz of oscillation frequency constituted of a terahertz generator, and using a suitable frequency of oscillation element, and obtains thereby the sugar content in the measured object and a distribution situation thereof.例文帳に追加

テラヘルツ発生装置によって構成される１０ＧＨｚから１０ＴＨｚの発振周波数を持つ電磁波発生源を用い、適した周波数の発振素子を用い、被測定物に前記発生電磁波を照射しその透過あるいは反射強度を得ることによって、被測定物中の糖度およびその分布状況を得ることを可能にした。 - 特許庁

Regarding concrete suffering from a freezing and fusing action, a tensile strength testing method of the concrete surface section according to the patent 2121279 is performed, the state when the tensile strength of any depth decreases by 50%±5% comparing that before the freezing and fusing action is determined as a degradation state of the concrete, and the degradation depth due to frost damage is determined.例文帳に追加

凍結融解作用を受けるコンクリートにおいて、特許２１２１２７９によるコンクリート表層部の引張強度試験方法を実施し、その任意深さの引張強度が凍結融解作用を受ける前と比べて５０％±５％低下した時点をコンクリートの劣化状態と判定し、凍害劣化深さを求めようとするものである。 - 特許庁

A method for identifying new therapeutic uses for a test subject which is a drug or drug candidate includes (A) selecting the test subject, (B) testing activities of the test subject on protein complexes in cells, and (C) using results obtained in (B) to identify new activities of the test subject.例文帳に追加

被験体について新規の治療上の用途を同定するための方法であって、上記被験体が薬物又は薬物候補であり、上記方法が(A)被験体を選択すること、(B)細胞中の蛋白複合体に対する上記被験体の活性を試験すること、(C)上記被験体の新規活性を同定するために(B)から得られた結果を使用すること、を含む。 - 特許庁

To provide molded articles such as lidded medical equipment container, lidded disposable physics/chemistry testing instrument, lidded and hollowed sterilized slide glass, monolithic molded eyeglasses, windowpane with unevenness, character or pattern, frame or locking device, illuminator cover, tableware, roof tile and helmet which are made of a PET resin showing outstanding pliability, transparency, radiation resistance, impact resistance and the like.例文帳に追加

柔軟性、透明性、放射線耐性、耐衝撃度等に優れたＰＥＴ樹脂を用いた、蓋付き医療器具容器、蓋付き使い捨て理化学試験器具、蓋及び窪み付き滅菌済スライドグラス、一体成型眼鏡、凹凸や文字、模様付き、枠や施錠器具付き窓ガラス、照明器具カバー、食器、瓦屋根、ヘルメット等の成型品を提供する。 - 特許庁

Additionally, a data analysis section 120 is provided, where the data analysis section 120 receives an analysis result in a substance to be analyzed and in a reaction treated testing chip sent from an analyzer 104 as measurement data and the reference data read from the reference data storage section are collated, and outputs the analysis result regarding the substance to be analyzed.例文帳に追加

また、分析対象物質と反応処理済みの試験用チップにおける分析結果を分析装置１０４から計測データとして受け取って、この計測データと、参照データ格納部から読み出された参照データとの照合を行って、分析対象物質に関する解析結果を出力するデータ解析部１２０を設けてある。 - 特許庁

The degree of sealing of the bonded part meets the requirement "when the can sealed with no content is placed in water and when air under pressure of 0.02 MPa is injected for one minute in the container from an air injection opening for testing formed in the can, the amount of air leakage detected is 20 mL or less".例文帳に追加

巻き締め結合部分の密封度が、条件「内容物のない空の状態で密封した前記缶容器を水中に置き、前記缶容器に設けた試験用空気注入口から前記缶容器内に圧力０．０２ＭＰａの空気を１分間注入した時に検出される前記缶容器からの漏洩空気量が２０ｍＬ以下である」を満たす。 - 特許庁

In a game machine, the winning probability of a variable display device for normal patterns is heightened associated with the variable probability state while the opening time of a normal role device is extended with the shortening of the variation time along with an increase in the frequency of opening and a testing connector which allows the outputting of signals outside the game machine is mounted on a game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

To solve the problem that a measuring instrument testing a feeding system supplying electric power to a power receiving device by using PoE (Power over Ethernet(R)) technique can neither specify which pair of communication lines are used by the feeding system to supply the electric power nor confirm state transition of a fed voltage after the feeding system is connected.例文帳に追加

ＰｏＥ技術を用いて受電装置に電力を供給する給電装置を試験する測定器において、給電装置がどの通信線対を用いて給電するかを特定することができず、かつ給電装置が接続されてからの給電電圧の状態推移を確認することができなかったという課題を解決する。 - 特許庁

When the components are installed in the working machine 40, the actual performance of each component is grasped from its performance testing data by a controller 30 in the working machine 40, and according to its nature, the control setting of the control constant or control function is optimized in conformity to the prescribed optimization rule, and the performance of the working machine 40 is regulated to the standard performance.例文帳に追加

各コンポーネントが作業機械４０に組込まれると、作業機械４０内のコントローラ３０で、各コンポーネントの性能試験データから各コンポーネンの実性能が把握され、その性格に応じ所定の最適化ルールに従い、制御定数や制御関数などの制御セッティングが最適化され、作業機械４０の性能が標準的性能にレギュレートされる。 - 特許庁

An acoustic emission (AE) sensor is arranged at the center part of the lengthwise direction of a flexible solar battery cell, the flexible solar battery cell is installed in a tensile testing machine to be pulled in the lengthwise direction, an acoustic emission (AE) generated resulting from the damage generated in pulling is detected by the AE sensor to be converted into the acoustic emission (AE) signal.例文帳に追加

フレキシブル太陽電池セルの長さ方向の中心部においてアコースティック・エミッション（ＡＥ）センサを配置し、フレキシブル太陽電池セルを引張試験機に設置して長さ方向に引張り、その際に生じた損傷に起因して発生したアコースティック・エミッション（ＡＥ）をＡＥセンサで検知してアコースティック・エミッション（ＡＥ）信号に変換する。 - 特許庁

In the ultrasonic fatigue testing apparatus composed of an ultrasonic transmission part and a vibration part, the ultrasonic transmission part is composed of an ultrasonic oscillator, a differential input type ultrasonic power amplifier for outputting the voltage proportional to two signal voltages and a current detector for outputting the voltage proportional to the output voltage.例文帳に追加

本発明による超音波発信部と振動部とからなる超音波疲労試験装置において、超音波発信部は、超音波発振器、２つの信号電圧に比例する電圧を出力する差動入力型超音波電力増幅器、およびその出力電流に比例する電圧を出力する電流検出器からなる。 - 特許庁

Aiming at a urinary fat globule and a fat granule contained in an oval fat body observed in relation to nephropathy, it is found that the amount of lipoprotein or its analogue contained in them or a constituent contained in them suggests significant relevance to nephropathy, and this finding brings this nephropathy testing means to realization.例文帳に追加

腎障害に関連してみられる尿中脂肪球及び卵円形脂肪体が含有する脂肪顆粒に着目し、それらに含有されるリポタンパク質若しくはその類縁体、またはこれらに含有される成分の量が有意に腎障害との関連性を示唆するものであることを見出し、本発明の腎障害の検査手段を完成した。 - 特許庁

To a semiconductor tester 10 for general use constituted with test signal generation means 52, 53, 54 and 55, a data supply means, a data reading means, judging means and a control means 11, a special control signal generation means 12 and an interface means 13 for testing a semiconductor integrated circuit 16 incorporated BIST circuits 31 to 35 are provided.例文帳に追加

試験信号発生手段５２，５３，５４，５５、データ供給手段、データ読出手段、判定手段及び制御手段１１から構成される汎用的な半導体試験装置１０に対してＢＩＳＴ回路３１〜３５を内蔵した半導体集積回路１６を試験するための専用の制御信号発生手段１２及びインターフェイス手段１３を別個設けた。 - 特許庁

The estimating means comprises a means for inputting marker position information on a plurality of frames and the joint angle into the objective function, and a means for performing optimizing calculation of minimizing the error using the objective function, estimating the relative marker position and link length in common with the plurality of frames, and setting the estimated link length as a link length specific to the testing body.例文帳に追加

前記目的関数に、複数フレーム上のマーカ位置情報、及び、関節角を入力する手段と、前記目的関数を用いて前記誤差を最小にする最適化計算を行い、複数のフレームに共通の相対マーカ位置及びリンク長を推定し、推定されたリンク長を前記被験体に特有のリンク長とする手段と、を備えている。 - 特許庁

This expandable powdery dispersant for magnetic particle liquid used for wet magnetic particle testing contains powder of tripolyphosphate soda in an amount of 65-80 wt.%, a nonionic surface active agent having an HLB value of 8-14 in an amount of 5-10 wt.%, carbonate or hydrogencarbonate powder in an amount of 5-10 wt.%, and organic acid powder in an amount of 10-15 wt.%.例文帳に追加

トリポリ燐酸ソーダ粉末６５〜８０重量％、ＨＬＢ値８〜１４のノニオン系界面活性剤５〜１０重量％、炭酸塩又は炭酸水素塩粉末５〜１０重量％及び有機酸粉末１０〜１５重量％を含有してなる湿式磁粉探傷試験方法に用いられる磁粉液用発泡性粉末状分散剤。 - 特許庁

This semiconductor device and the testing method therefor has a rank data 11 for indicating a test result of a ranking test executed based on a plurality of reference values in a wafer condition, a fuse part 15 storing the rank data 11, and a control circuit 16 for reading out the rank data 11 from the fuse part 15, for use in a product test carried out after packaged.例文帳に追加

本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、ウェハ状態において複数の基準値に基づいて行われるランク分けテストのテスト結果を示すランクデータ１１と、ランクデータ１１が格納されたヒューズ部１５と、パッケージング後に行われる製品テストで利用するために、ランクデータ１１をヒューズ部１５から読み出す制御回路１６を有する。 - 特許庁

The biochip inspection device 2 includes: an image acquiring means 21 for acquiring the image of the biochip based on an imaging signal from an optical testing device 1; an image conversion means 22 for performing the logarithmic scale conversion of the image acquired by the image acquiring means 21; and a display means 23 for displaying the image generated by the image conversion means 22 in a monitor 5.例文帳に追加

バイオチップ検査装置２は、光学検査装置１からの撮像信号に基づいてバイオチップの画像を取得する画像取得手段２１と、画像取得手段２１により取得された画像を対数スケール変換する画像変換手段２２と、画像変換手段２２により生成された画像をモニタ５に表示する表示手段２３と、を備える。 - 特許庁

To provide a method for determining brittle crack propagation inhibiting performance of high-strength steel plates which greatly improves miniature testing method and its evaluation method, and simply/easily estimates arrest performance of any high-strength steel plate with thickness of 50 mm or more without conducting any large test such as ESSO test or double tensile test to inspect performance of high-strength steel plates.例文帳に追加

高強度厚鋼板の脆性き裂伝播停止性能の判定において、小型試験法およびその評価方法を大幅に改善し、ＥＳＳＯ試験や二重引張試験の大型試験を行うことなく、板厚５０ｍｍ以上の高強度厚鋼板のアレスト性能を簡便な手法で推定して、高強度厚鋼板の性能を検査する。 - 特許庁

This testing method for nuclear reactor containment vessel comprises a field pressure test c and leakage test d for a reactor containment vessel 1 containing a nuclear reactor pressure vessel and a reactor body foundation base 2 for supporting the nuclear reactor pressure vessel and having a diaphragm floor 7 for partitioning a dry well 4 and a suppression chamber 5, and a leakage ratio test g for the diaphragm floor.例文帳に追加

本発明は原子炉圧力容器及びこの原子炉圧力容器を支持する原子炉本体基礎台２を格納し、かつドライウェル４及びサプレッションチェンバ５を区画するダイヤフラムフロア７を有する原子炉格納容器１の現地耐圧試験ｃ，漏洩試験ｄ及び前記ダイヤフラムフロア漏洩率を試験ｇする原子炉格納容器の試験工法である。 - 特許庁