「To sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a sample analyzing method and a sample analyzing program, which exert excellent analysis ability when components contained in a sample is analyzed.例文帳に追加

試料に含まれる成分を分析するに際して、優れた分析能を達成することができる試料解析方法及び試料解析プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an analyzing device capable of directly sampling a sample liquid, which is obtained using a puncture implement or a sample injection implement, in both cases using the puncture element and the sample injection element.例文帳に追加

穿刺具または試料注入具を用いて得られる試料液のどちらの場合にも直接に採取できる分析用デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a minute sample transporting device usable repeatedly without deforming the tip of a minute sample transporting tool even when the minute sample is separated.例文帳に追加

微小試料を分離しても微小試料移送具先端の変形が無く、何度も繰り返し使用できる微小試料移送装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample analysis method, a sample analyzer and a program capable of analyzing a sample more accurately than by measuring from one direction.例文帳に追加

一方向から計測するよりもより精度良く試料を解析することが可能な試料解析方法、試料解析装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁

In addition the upper-layer part holds a liquid sample when the concentrated membrane 6 and the liquid sample are brought into contact in order to measure the liquid sample.例文帳に追加

また、上層部は、液体試料の測定のために濃縮膜６と液体試料とを接触させる時に液体試料を保持させるようになっている。 - 特許庁

Then, fine gravity is applied to the solid sample S, the sample stand 11 is removed speedily from the solid sample S immediately after for canceling the support.例文帳に追加

次いで、固体試料Ｓに対して微小重力を負荷し、直後において、試料台１１を固体試料Ｓから高速で取り除いて支持を解除する。 - 特許庁

To provide an X-ray analysis method, in which an adhesive sample can be analyzed with high sensitivity and with high accuracy and whose accuracy is enhanced, to provide an auxiliary sample holding implement used for the method and to provide a sample holder.例文帳に追加

粘着性試料を高感度かつ高精度で分析でき、正確度が向上するＸ線分析方法、これに用いる試料保持用の補助具および試料ホルダを提供する。 - 特許庁

To approximate a pigment amount distribution of a stained sample image to a pigment amount distribution of a standard sample image, and to correct a pigment amount in each image position of the stained sample image.例文帳に追加

染色標本画像の色素量分布を標準標本画像の色素量分布に近似させ、染色標本画像の各画像位置における色素量を適切に補正すること。 - 特許庁

A sample holder 1 holds the pedestal 26 of a sample 2 to make a specified surface a of the sample 2 perpendicular to an incident light or come to the vicinity thereof, and is mounted on a stage 4.例文帳に追加

試料ホルダー１は、試料２の特定の表面ａが入射光に対して垂直あるいはその近傍になるように試料２の台座２６を保持し、ステージ４に載置される。 - 特許庁

When a sample 1 is bonded to a copper ring 3, the direction of the sample 1 is rotated by 90° with respect to the conventional direction of the sample to set an FIB processing surface toward a dicing processing surface 1b.例文帳に追加

試料１を銅リング３に接着する際、試料１の向きを従来のそれに対して９０°回転させることでＦＩＢ加工面をダイシング加工面１ｂ方向にする。 - 特許庁

This ion gun treatment method is characterized to carry out ion gun treatment to a sample in such a state that an insulator and the sample to which the ion gun treatment is carried out are arranged in this order on a sample stand.例文帳に追加

試料台上に、絶縁体およびイオンガン処理を施す試料をこの順に配置した状態で、前記試料にイオンガン処理を施すことを特徴とするイオンガン処理方法。 - 特許庁

To provide a sample analyzer capable of precisely analyzing a sample that is low in the concentration of a substance to be measured and capable of avoiding enlargement in scaling, and to provide a sample analysis method.例文帳に追加

被測定物質の濃度が低い試料を精度よく分析することができ、かつ、装置の大型化を回避することが可能な試料分析装置および試料分析方法を提供する。 - 特許庁

In a processing method for processing the sample, first a hole part is made in the sample along a cross section of the sample so that the hole part has a contact with a cross section of the sample which is to be exposed to the surface by processing (S101).例文帳に追加

試料を加工する加工方法では、まず、試料の、加工によって表面に露出させる予定の断面に、穴部が接するように、試料の断面に沿って試料に当該穴部を形成する（Ｓ１０１）。 - 特許庁

To display data becoming necessary at the time of a sample analyzing process for analyzing a sample, which is collected in a plant, using a sample analyzer and to enhance the efficiency of the analysis of the sample performed by invoking the displayed data.例文帳に追加

試料分析装置を用いてプラントで採取される試料の分析を行う試料分析工程に際して必要となる情報を表示し、表示情報を援用して行われる試料分析の効率を高める。 - 特許庁

To provide a sample degrading device suitable for analyzing and evaluating an impurity on a surface in an arbitrary specific region, of a sample and that in the sample, and to provide an impurity analyzing method of the sample using the same.例文帳に追加

試料の任意の特定領域における表面および試料中の不純物を分析・評価するのに好適な試料分解処理装置及びこれを用いた試料の不純物分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample analyzing plate preventing unnecessary samples from being re-supplied to a sample quantitating section by air expansion in a sample retainer which is caused when a temperature in an analyzer rises after quantitation of a sample.例文帳に追加

サンプル定量後に分析装置内の温度が上昇した際に生じるサンプル保持部内の空気膨張によりサンプル定量部に再度不要なサンプルが供給されることのないサンプル分析用プレートを提供する。 - 特許庁

Image sample values are assigned to a sample value range having a signed weight, and a contribution to a discriminator function is determined for each sample range depending on the signed weight and the number of input samples in the sample value range.例文帳に追加

イメージ・サンプル値が符号付き重みを有するサンプル値範囲に割り当てられ、サンプル値範囲内の入力サンプルの符号付き重みおよび数に応じて、各サンプル範囲に関する弁別関数への寄与が決定される。 - 特許庁

The method makes it possible to form differential staining by making a first image of the sample through exposing the sample to a first staining agent and by making an image of the sample through additionally staining the sample with a second staining agent.例文帳に追加

本方法は、第1染色剤に試料をさらして試料の第1画像を作り、第2の染色剤に追加的染色して、試料の画像を作ることにより、差異的な染色を形成することが可能となる。 - 特許庁

To provide a simple measuring method of the shape of a sample for rapidly changing the temperature of the sample to a desired temperature with favorable temperature distribution and rapidly and accurately determining the sample of the sample, a holding device and a shape determination device.例文帳に追加

試料を目的温度へと迅速且つ温度分布良く到達し、試料の形状を迅速且つ正確に測定できる簡便な測定方法、保持装置及び形状測定装置を提供すること。 - 特許庁

To certainly prevent the occurrence of a carry-over in a sample sucking needle for supplying a sample to a predetermined receiving part after once holding the sample inside, and a sample injection device.例文帳に追加

本発明は試料を内部に一旦保持した後に当該試料を所定被供給部に供給する試料吸入用ニードル及び試料注入装置に関し、キャリーオーバーの発生を確実に防止することを課題とする。 - 特許庁

To suppress deterioration of a sample by stopping immediately energy supply to the sample, when the sample is almost overheated during decomposition of the sample.例文帳に追加

試料の分解中に、試料がオーバーヒートしそうになった時に、即座に試料へのエネルギー供給を停止して、試料の変質を抑制することを可能とする、試料の分解方法および試料の分解装置を提供する。 - 特許庁

This skin effect observation device is provided with a magnetic field measuring coil inserted into the conductor sample to measure a magnetic field in the inside of the conductor sample, and an electric field measuring electrode contacting with the conductor sample to measure an electric field on the surface of the conductor sample.例文帳に追加

導体試料に挿入してこの導体試料内部の磁場を測定する磁場測定コイルと、この導体試料に接触して導体試料表面の電場を測定する電場測定電極とを設ける。 - 特許庁

To provide a sample stand movable relative to a rotary stand on the rotary stand operating in vacuum, for the purpose of sample exchange or sample position change, enabling the rotary stand and sample stand to be mechanically drivable independently.例文帳に追加

真空中で動作する回転台の上に、試料交換あるいは試料位置変更のため、回転台に対し相対的に移動可能な試料台を積載し、真空外から回転台と試料台とを機械的に独立駆動可能とする。 - 特許庁

To provide an excellent sample vaporizer for an analyzer capable of preventing sample gas including a sample component from remaining in a chamber, drawing out the sample gas effectively to the analyzer, and contributing to highly accurate component analysis.例文帳に追加

試料成分を含むサンプルガスがチェンバに残ることを防止し、サンプルガスを分析装置に向けて効果的に導出することができ、精度の高い成分分析に資するといった、優れた分析装置用試料気化装置を提供する。 - 特許庁

The sample collection apparatus collects the sample flowing in a sludge transmission pipe 1 and is provided with a piping part 2 for partially introducing the sample flowing in the sludge transmission pipe 1 and a measuring means 3 for measuring and collecting the sample after the residual component of the sample previously collected is cleaned and removed by the sample supplied from the sample introduction piping part and supplying the sample to sample bottles by free fall.例文帳に追加

送泥管１内を流通する試料を採取する試料採取装置であって、送泥管１内を流通する試料の一部を導入する配管部２と、この試料導入配管部から供給された試料によって前回採取した試料の残留成分を洗浄除去した後に、試料を計り採り、これを自然流下によって試料ビンに供給する計量手段３とを備える。 - 特許庁

To provide a method of fixing a sample table for restraining secondary fluorescent excitation caused by the irradiation of X ray excited on a sample on the sample table when applying X-ray analyzing to the sample produced by a micro sampling method by TEM, and to provide the sample table for the fixing method.例文帳に追加

マイクロサンプリング法で作製された試料をＴＥＭでＸ線分析した場合、試料上で励起されたＸ線が試料台に照射され二次的に蛍光励起されるのを抑えるための試料台に固定する方法および固定方法に用いる試料台を提供する。 - 特許庁

The frequency distribution is a histogram of sample values, using each value which can be taken by the sample as a bin, and generated by adding to the frequency value of the bin with the same value as a value of a sample close to the subsample, a frequency to be calculated from difference between the value of the sample, and a value of a sample of the reference signal with the same phase as that of the subsample.例文帳に追加

この度数分布は、サンプルの取り得る各値をビンとするサンプル値のヒストグラムであり、サブサンプル近傍のサンプルの値と同じ値のビンの頻度値に、そのサンプルおよびサブサンプルと同位相の参照信号のサンプルの値の差分から求まる度数が加算されて生成される。 - 特許庁

In a case that a sample 4 is analyzed, the sample 4 is irradiated with a laser beam to finely pulverize a part of the sample 4 and a carrier gas is introduced into a sample chamber 5 to transfer the finely pulverized sample 4 to an analyzing unit 3 along with the carrier gas through a connection tube 22.例文帳に追加

試料４の分析を行う場合は、試料４にレーザ光を照射して、試料４の一部を微粒子化させると共に、試料室５内にキャリアガスを導入して、微粒子化された試料４をキャリアガスと共に接続チューブ２２を介して分析ユニット３に移送する。 - 特許庁

A primary sample is obtained by crushing the recycled raw material to a particle size of ≤20 mm by a crusher, the primary sample is crushed to a particle size of ≤2 mm by a micronizer and it is recovered, mixed and reduced by a dust collecting system to obtain a secondary sample, and the secondary sample is ultimately used as the sample for analyzing.例文帳に追加

リサイクル原料を破砕機により粒度２０ｍｍ以下に破砕して一次サンプルを採取し、次いでこの一次サンプルをマイクロナイザにより粒度２ｍｍ以下に粉砕した後、集塵系統で回収し、混合、縮分して二次サンプルを採取して最終的に分析用サンプルとした。 - 特許庁

An offset is started to given to a sample hold signal at timing when the sample hold signal exceeds a threshold to pass a delay time 1/2fs.例文帳に追加

このサンプルホールド信号が閾値を超えて遅延時間1/2fsを経過したタイミングで、サンプルホールド信号に対するオフセットの付与を開始する。 - 特許庁

A waveguide of an optical fiber is used to guide the exciting light from a laser exciting light source to the sample and the return light from the sample to a sensor.例文帳に追加

光ファイバの導波管を用いて、レーザ励起光源から試料への励起光と試料からセンサへの戻り光を導く。 - 特許庁

To facilitate processing of a fluid sample according to different protocols using the same apparatus to determine the presence or absence of an analyte of the sample.例文帳に追加

試料の分析物の有無を決定するために、同一の装置を使用する異なるプロトコルにより、流体試料を容易に処理する。 - 特許庁

This injector has a configuration wherein a sample holding chamber 7 for holding a minute amount of sample is formed, and position detection of the sample holding chamber 7 is performed by transmitted light acquired by allowing a beam to enter and pass the sample holding chamber 7, to thereby perform position control of the sample holding chamber 7.例文帳に追加

このインジェクターは、微量試料を保持する試料保持室７が形成され、前記試料保持室７内に光線を入射させて通過した透過光により試料保持室７の位置検知を行って試料保持室７の位置制御をするようにした。 - 特許庁

To provide a sample stand for making a sample, so to speak, with little redeposition, in which sample stand materials are attached on a surface of the sample as ion beams sputter the stand, in making a sample used for TEM observation by an ion milling method.例文帳に追加

本発明は、ＴＥＭ観察に用いる試料をイオンミリング法により作製するに当たり、イオンビームが試料台をスパッタすることにより生じる試料台物質が試料表面に付着するいわゆるリデポジッションの少ない試料を作製する試料台を提供する。 - 特許庁

To provide a vacuum processing method for reducing adhesion of foreign matter to a sample in transporting the sample from a vacuum transport chamber to a processing chamber, and reducing the foreign matter adhering to the sample after starting an etching process.例文帳に追加

真空搬送室から処理室に搬送する際の試料への異物付着を低減すると共に、試料に付着している異物をエッチング処理開始後に低減する真空処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a header for displaying a fabric sample in which it is absolutely unnecessary to fitting a cardboard to the fabric sample or to process perforation, and fitting of the fabric sample can be simply performed by one touch.例文帳に追加

布地サンプルに対する厚紙の取り付けや孔あけ処理が全く不要であり、しかも布地サンプルの取り付けがワンタッチで簡単にできるような布地サンプル陳列用ヘッダーを提供する。 - 特許庁

A plurality of sample articles relating to identically standardized electronic components (objects to be photographed) are photographed by a camera to obtain a plurality of sample images, and a plurality of these sample images are composed to make a composite image.例文帳に追加

同一規格の電子部品（被撮像物）に関する複数のサンプル品をカメラで撮像して複数のサンプル画像を取得し、これら複数のサンプル画像を合成して合成画像を作成する。 - 特許庁

To provide a stamp for a blood collecting tube which inexpensively and simply gives a marking to the blood collecting tube, and which inhibits the smudge of a sample suction nozzle and the mixing of ink to a sample to appropriately examine a sample.例文帳に追加

採血管に対して安価かつ簡易に印を施せるようにしつつ、検体吸引ノズルの汚れや検体へのインクの混入を抑制して適切に検体を検査できるようにする。 - 特許庁

Later, a conveying rod 17 is pushed out into an inside of a lens-barrel 1, an end of the sample cartridge 15 is inserted into an opening at the tip of the sample holder 2, and the sample cartridge is fixed to the sample holder 2.例文帳に追加

その後、搬送ロッド１７を鏡筒１内に押し出し、試料ホルダ２の先端の開口部に試料カートリッジ１５の一端を挿入し、試料ホルダ２に試料カートリッジ１５を固定する。 - 特許庁

To sample observation data on a sample surface without delaying the measuring time even if adsorptive power by a moisture layer on the sample surface is applied when a probe approaches or comes into contact with the sample.例文帳に追加

探針と試料が接近又は接触した際、試料表面の水分層による吸着力を受けても、測定時間が遅延せず、試料表面の観測データを採取できるようにする。 - 特許庁

To provide a sample fluid variable pressure reducing device resolving accumulation of sample fluid and reducing pressure of the sample fluid in a state so that the sample fluid can be accurately analyzed.例文帳に追加

試料流体の滞留を解消するようにして、正確な試料流体分析を実施できるような状態で試料流体を減圧する試料流体可変減圧装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holding device and a charged particle beam apparatus, capable of restraining effectively a sample from being deformed when moving the sample, even in a wafer as a sample deformed with its part floated.例文帳に追加

本発明は、試料の一部が浮いたように変形したウエハであっても、試料移動時の試料変形に効果的に抑制する試料保持装置、及び荷電粒子線装置の提供を目的とする。 - 特許庁

The sample temperature controller is equipped with a sample base 100 on which a cultivation container 150 in which an observation sample 162 is laid is mounted and a temperature controlling element 103 which is attached to the sample base 100.例文帳に追加

試料温度調節装置は、観察試料１６２を入れた培養容器１５０が載せられる試料台１００と、試料台１００に取り付けられた温度調節素子１０３とを備えている。 - 特許庁

To correct surface inclination errors of an observation sample, in the installation of the sample on FIB processing sample stand, with high accuracy, in the manufacture of the sample for TEM for thinning a plate by the FIB processing.例文帳に追加

ＦＩＢ加工による薄板化を行うＴＥＭ用観察試料の作製において、ＦＩＢ加工試料台への試料設置における試料表面の傾斜誤差を精度高く補正する。 - 特許庁

In the sample storing method, a sample is inserted from the opening of the sample storing sheet, the exfoliation sheet on the flap (6) is exfoliated so as to expose the adhesive face, and the sample is sealed by folding and bonding the flap (6).例文帳に追加

サンプル保管用シートの開口部からサンプルを挿入し、フラップ部（６）の剥離ライナーを剥がして粘着面を露出し、フラップ部（６）を折り倒して貼り合わせてサンプルを閉じ込めるサンプル保管方法。 - 特許庁