「example of a defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

When a defect (for example, operational defect of a starter 2 or the defect of a belt 5 leading to the breakage of the belt) is detected in this system, an economical running ECU performs the measures against these defects as follows.例文帳に追加

エコランＥＣＵは、本システムに異常（例えばスタータ２の作動異常、あるいはベルト切れに至る様なベルト５の異常等）が検出されると、その異常発生に対する以下の処置を実行する。 - 特許庁

Furthermore, the defect detection device 100 has a defect determining portion 65 for detecting a defect (for example, a resin peeling portion 9) on a boundary surface 12 between the layers of the semiconductor device 11.例文帳に追加

欠陥検出装置１００は、更に、撮像部による撮像結果に基づいて、少なくとも、半導体装置１１の層間の界面１２における欠陥（例えば、樹脂剥離部９）を検出する欠陥判定部６５を有する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device of a laminate, capable of detecting a defect of the laminate in a nondestructive/noncontact manner, regardless of the material of the laminate, and utilizable, for example, for deterioration diagnosis of for a solid oxide type fuel cell or process inspection at manufacturing.例文帳に追加

積層体の材質に左右されることなく、積層体の欠陥を非破壊・非接触で検出しることができ、例えば固体酸化物形燃料電池の劣化診断や、製造時の工程検査などに利用することができる積層体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide technique for determining which of a defect of user facilities and a defect of common carrier facilities is causes fault, for example, disables communication, when ONU loop-back test is to be conducted.例文帳に追加

ONUループバック試験を実施するにあたり、通信不能等の故障時にユーザ設備の不良か通信事業者設備の不良かの切り分けができるようにする技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a gasket, capable of obtaining the gasket, prevented from the generation of a molding defect, for example, a pinhole or the like by a simple manufacturing method.例文帳に追加

簡単な製造工程で、例えばピンホール等の成形欠陥の発生が防止されるガスケットを得ることができるガスケットの製造方法を提供すること。 - 特許庁

If the defect of the same material as that of the object 12 to be examined such as, for example, a ruggedness, a density unevenness or the like exists, the light detoured at the plate 18 is bent by the defect, and arrived at the unit 16, and hence the defect is detected as a bright defect having a strong light intensity.例文帳に追加

また、例えば、凹凸や密度ムラ等の、被検査物１２の材質と同じ材質の欠点が存在する場合には、拡散板１８を回り込んだ光が欠点にて屈曲して、撮像装置１６に到達するため、光強度の強い明欠点として検出される。 - 特許庁

Meanwhile, if the defect of the material different from the object 12 by mixing, for example, a foreign matter, exists at the examining point, the light is shielded by the foreign matter, and hence the defect is detected as a dark defect having a low light intensity.例文帳に追加

これに対して、例えば異物混入等の、被検査物１２の材質とは異なる材質の欠点が検査点に存在する場合は、それら異物によって光が遮られるため、光強度の低い暗欠点として検出される。 - 特許庁

For example, the intensity values from a target die are compared to the intensity values from a corresponding portion of a reference die, wherein a significant intensity difference may be defined as a defect.例文帳に追加

例えば、ターゲットダイからの強度値は、レファレンスダイの対応する部分からの強度値と比較され、大きな強度差は欠陥として定義される。 - 特許庁

Hereby, even if a part of the slit for origin measurement has, for example, a defect or adhesion of a foreign matter, the origin signal can be acquired properly.例文帳に追加

これにより、原点計測用スリットの一部に例えば欠陥や異物の付着がある場合であっても、良好に原点信号を得ることが可能となる。 - 特許庁

To form embedded wiring made of a sound conductive metal having no defect in a recess even in the case of, for example, the recess having a high aspect ratio.例文帳に追加

例え高アスペスト比な凹部であっても、この凹部内に欠陥のない健全な導電性金属からなる埋込み配線を形成できるようにする。 - 特許庁

For example, a lateral line defect pattern 2 of a central part is displayed by dots of a relatively slightly dense halftone display, and lateral line defect pattern 2 except them is displayed by dots of a halftone display near a relatively white display.例文帳に追加

たとえば、中央部の横方向線欠陥パターン２を相対的にやや濃い中間調表示のドットとし、それ以外の横方向線欠陥パターン２を相対的により白表示に近い中間調表示のドットとする。 - 特許庁

To prevent the occurrence of a local structural defect caused by explosive fracture of skeleton concrete, for example, in case of fire of a specific dwelling unit, by securing fire resistance of high-strength concrete.例文帳に追加

高強度コンクリートの耐火性を確保し、例えば、特定住戸の火災時に躯体コンクリートの爆裂による局部的な構造欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

For example, the defect may be detected by adding a pattern with respect to the undetected region where it is difficult to detect the defect, and a defective fraction may be lowered by widening intervals of patterns.例文帳に追加

例えば、検出が困難な未検出領域についてパターンを追加することで検出可能とする、パターンの間隔を広げることで不良率を低下させることなどが考えられる。 - 特許庁

The method includes a step of substantially entrapping a certain quantity of blood within a vascular defect 6, and a step of introducing a certain quantity of a crosslinking agent, for example, as a liquid solution, into the entrapped blood.例文帳に追加

当該方法は、血管障害６内のある量の血液を実質的に閉じ込めるステップと、ある量の架橋剤を、例えば溶液として閉じ込めた血液の中へ導入するステップを含む。 - 特許庁

To suppress the generation of a defect or abnormal growth when for example, a diamond single crystal is synthesized from a gas phase and epitaxially grown.例文帳に追加

例えばダイヤモンド単結晶を気相から合成してエピタキシャル成長させていくときに、欠陥や異常成長が生じるのを抑制する。 - 特許庁

A defect detection device 100 has a light source (for example, a coaxial illumination 3) for emitting light 14 to a semiconductor device 11 having a structure of a plurality of layers, and an imaging portion (for example, a CCD camera 1) for imaging the semiconductor device 11.例文帳に追加

欠陥検出装置１００は、複数層の構造を有する半導体装置１１に光１４を照射する光源（例えば、同軸照明３）と、半導体装置１１を撮像する撮像部（例えば、ＣＣＤカメラ１）を有する。 - 特許庁

To reduce a display defect such as light absence due to alignment disorder of liquid crystal between, for example, adjacent pixel electrodes.例文帳に追加

例えば、隣り合う画素電極間における液晶の配向乱れを一因とする光抜け等の表示不良を低減する。 - 特許庁

A Q-value is measured at a measurement frequency of 1 kHz or lower, for example 1 kHz, for laminated ceramic capacitors with no structural defect and those with a structural defect.例文帳に追加

構造欠陥のない積層セラミックコンデンサおよび構造欠陥の有る積層セラミックコンデンサについて、１ｋＨｚ以下の測定周波数たとえば１ｋＨｚの測定周波数でＱ値を測定する。 - 特許庁

To confirm and repair a defect extending to the surface of a turbine part, for example, a crack or other fine split occurring during operation of a turbine engine.例文帳に追加

タービン部品６２の表面に通じた欠陥、例えば、タービンエンジン運転中に発生し得る亀裂又は他の細かな裂け目を確認するとともに補修する方法の提供。 - 特許庁

Then, the determination accuracy of the defect classification aggregate is not affected by the superiority or inferiority of the guessing ability of an operator, for example, in comparison with a method by which the operator guesses a defect and qualitatively or individually acquires and analyzes an aggregate characteristic value at each defect classification aggregate including the guessed defect classification.例文帳に追加

よって、例えば、オペレータが欠陥を推測し、推測した欠陥種別を含む欠陥種別集合毎に集合特徴値を定性的又は個別的に取得して解析する方法に比べて、欠陥種別集合の判別精度がオペレータの推測能力の優劣に影響を受けることがない。 - 特許庁

To suppress defect of shape resulting from fusion of adjacent cylindrical lenses in a lens sheet formed by using, for example, ultraviolet curable resin.例文帳に追加

例えば紫外線硬化樹脂を用いて作成されるレンズシートにおいて、隣接するシリンドリカルレンズの融着による形状不良を抑制する。 - 特許庁

To provide a developing device, an image forming apparatus and a process cartridge free from a defect, for example, apparent on an image caused by irregularity in a screw pitch even when the amount of a developer is small.例文帳に追加

現像剤の量が少なくても、スクリューピッチムラが画像に表れるような欠陥のない現像装置、画像形成装置及びプロセスカートリッジを提供する。 - 特許庁

For example, the bevel defect is correlated with the other surface defects 103a-103d and the reverse surface defect 104, by projecting a position of the bevel defect in projection points 105a-105f, in the composition image 100.例文帳に追加

例えば、合成画像１００では、ベベル欠陥と他の表面欠陥１０３ａ〜１０３ｄおよび裏面欠陥１０４との関連付けは、ベベル欠陥の位置を投影点１０５ａ〜１０５ｆに投影することによりなされている。 - 特許庁

An image processing device 5 sets a defect candidate slice level, based on an image example of a reference sample including defects with respect to the differential interference images and selects defect candidates from among the differential interference images.例文帳に追加

画像処理装置５では、この微分干渉画像に対して欠陥を含むレファレンスサンプルの画像例に基づく欠陥候補スライスレベルを設定し、微分干渉画像から欠陥候補を選定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device of simple structure capable of detecting a break (intermission) of a flowable substance applied onto a base body, for example, paste applied onto a paper roll conveyed at a high speed.例文帳に追加

簡易な構造でありながら基体に塗布された流動性物質、例えば高速で搬送される巻紙に塗布された糊の途切れ（抜け）を検出することのできる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In defect detection by the defect data detecting part 112a, candidates for defects are detected by analyzing an image, for example, in the case of every main photographing and only a candidate for the defects to satisfy prescribed conditions in a plurality of times of detection is further determined as defect pixel data.例文帳に追加

欠陥データ検出部１１２ａによる欠陥検出では、例えば毎回の本撮像の際に画像を解析して欠陥の候補が検出され、さらに複数回の検出において所定の条件を満たした欠陥候補のみが欠陥画素データとして決定される。 - 特許庁

For a defect 12 present in the surface 16 of the seat pad 10 made by foam molding, a sheet material 14 which has an uneven shape 15 (for example, a zigzag shape) on the periphery is attached so as to cover the defect 12.例文帳に追加

発泡成形されたシートパッド１０の表面１６に存在する欠点１２に対し、外周に凹凸形状（例えば、ジグザグ形状）１５を持つシート材１４を、該欠点１２を覆うように貼り付ける。 - 特許庁

A stage control system 141 in a review operation control mechanism 14 selects only coordinate data which meet predetermined conditions from a mask image database 142 out of coordinate data of defect positions obtained by a defect inspection as regions subjected to the review, for example.例文帳に追加

レビュー操作制御機構１４におけるステージコントロールシステム１４１は、例えば、欠陥検査で得られた欠陥位置の座標データのうち、マスク画像データベース１４２からの所定条件に合致した座標データのみをレビュー対象領域として選択する。 - 特許庁

According to this system, for example, a defect of the system such as the breakage of the screw rod and separation from a section to which the screw rod is coupled can be detected.例文帳に追加

本システムによれば、例えば、ねじロッドの破断，ねじロッドの連結されていた箇所からの分離等のようなシステムの失陥を検出することが可能である。 - 特許庁

For example, the recessed parts can be formed by partially roughening the external surface of the fixing roll 611 within a range wherein no image defect is generated.例文帳に追加

例えば、定着ロール６１１の外表面を、画像欠陥が起きない範囲内で部分的に荒らすことで凹部を形成することもできる。 - 特許庁

In inspecting the defect/nondefect of the transfer, for example 5 volt voltage is supplied to the first transfer 150a, for example 6 volt voltage is supplied to the second transfer 150b, and concurrently for example a voltage close to a threshold value of the T-V characteristic is supplied to a pixel electrode.例文帳に追加

トランスファーの良否を検査するときには、第１のトランスファー１５０ａに例えば５Ｖの電圧を供給し、第２のトランスファー１５０ｂに例えば６Ｖの電圧を供給するとともに、画素電極に例えばＴ−Ｖ特性のしきい値近傍の電圧を供給する。 - 特許庁

Then, the system controller of the device performs the retry of a recording operation when the defect detection signal (e) is, for example, a low level and performs a control increasing a laser beam when the dust detection signal (g) is a low level.例文帳に追加

システムコントローラはこれらのディフェクト検出信号（ｅ）が、例えばローレベルである場合に記録動作の再試行を行い、ゴミ検出信号（ｇ）がである場合にレーザ光を増加させる制御を行う。 - 特許庁

To provide a structure capable of ensuring excellent display performance by preventing the occurrence of, for example, point defect and capable of improving long-term reliability, in a display device using an organic light-emitting element.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。 - 特許庁

To provide a photosensitive resin composition which excels in concealing properties of, for example, an appearance defect for a circuit, and which excels in coloring power and resolution which enables formation of a high resolution solder mask layer.例文帳に追加

回路の外観不良などの隠蔽性に優れ、且つ高解像性のソルダーレジスト層を形成可能な着色力と解像性に優れる感光性樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁

In the method, the operator teaches only a teacher image as a typical example of at least one category in a plurality of classification categories among collected defect image data (step S202).例文帳に追加

収集した欠陥画像データの中から、複数の分類カテゴリに対して少なくとも１つ、当該カテゴリの典型例としての教師画像の教示のみオペレータが行う（ステップＳ２０２）。 - 特許庁

To provide a lens defect inspection device capable of forming many parallel light sources having prescribed angles by the effective use of surface illuminations and a louver layer, for example, imaging accurately a defect on a lens appearance by an imaging means, and automating inspection.例文帳に追加

面照明とルーバー層の効果的な使用により所定の角度を持った平行光源を多数形成でき、例えばレンズの外観上の欠陥を撮像手段に精度良く撮像できて検査の自動化を図ることが可能なレンズ欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

Since the whole surface of the food packaging sheet has a double structure of the film 1 and the laminate 3, a defect is hardly generated so as to provide highly closable properties to the food packaging sheet compared with a known example having a single layer part.例文帳に追加

また、全面がフィルム１＋ラミネート３の２重構造であるため、単層部分のある公知例のシートと比較して欠陥が発生しにくく、密閉性が高いという効果がある。 - 特許庁

For example, if there is a defect increasing in the same manner from an average value in both of the area lithographed under the safe condition and the area lithographed under the acceleration condition, it is assumed that the defect depends on the process.例文帳に追加

例えば、安全条件で描画した領域と加速条件で描画した領域の双方において、平均値から同じように数が増加する欠陥があれば、この欠陥はプロセスに依存するものと推測できる。 - 特許庁

To provide a production method of a silicon wafer capable of effectively exercising a gettering effect also in a thin film device while having BMD (Bulk Micro Defect) in a shallow region of, for example, ≤10 μm from a surface layer with high density, but having no defect in an extreme surface layer functioning as a device active layer.例文帳に追加

表層から例えば１０μｍ以内までの浅い領域にＢＭＤ（Ｂｕｌｋ Ｍｉｃｒｏ Ｄｅｆｅｃｔ）が高密度で存在するが、デバイス活性層として機能する極表層には欠陥が存在せず、薄膜デバイスに対してもゲッタリング効果を有効に発揮しうるシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

A control part 12 determines whether defect candidates are large-scale defects of irregularities on the basis of a differential value obtained by differentiating the density of each pixel in a first direction, for example a rotation direction of a tire, on the basis of a dedicated threshold predetermined for each type of irregularities.例文帳に追加

制御部１２は、第１の方向、たとえばタイヤ回転方向での各画素の濃度を微分した微分値に基づいて、欠陥候補が大規模凹凸欠陥であるか否かを、凹凸の種類ごとに予め定める専用しきい値に基づいて判定する。 - 特許庁

To provide a printer and a method of controlling it and to adequately correct a defect in an image in a self service type automatic print vending machine to be placed in, for example, a store.例文帳に追加

本発明は、プリンタ及びプリンタの制御方法に関し、例えば店舗に配置されるセルフサービス型のプリント自動販売機に適用して、画像の異常を的確に補正することができるようにする。 - 特許庁

For example, as shown in a microphotograph of Fig. 1, a cleavage surface of a DAST (4-dimethylamino-N-methyl-4-stilbazolium tosylate) crystal has a cleavage surface in a direction parallel to an axis (a) and parallel to a (001) plane and the linear defect exists here.例文帳に追加

例えば、図１の顕微鏡写真に示すように、ＤＡＳＴ結晶の劈開面は、ａ軸と平行方向および（００１）面と平行方向に劈開面を有しており、ここに前記直線状欠陥が存在する。 - 特許庁

To provide a core for investment casting, wherein it is made easy to fill a thin feature, for example, a complicated cooling passage, and the unevenness and the defect of parts can be reduced.例文帳に追加

薄肉のフィーチャ、例えば、複雑な冷却通路の充填が容易となり、かつ、部品のばらつきや欠陥を減少させることができる、インベストメント鋳造用コアを提供する。 - 特許庁

To obtain an ultrasonic inspection device for accurately and easily detecting the defect and state of a pipe or a welded part regardless of, for example, eccentricity and biased thickness in the inner diameter of the pipe.例文帳に追加

たとえ管の内径に偏心や偏肉があっても、管またはその溶接部の欠陥や状態を高い精度で簡単に検出することができる超音波検査装置を提供することである。 - 特許庁

(Example) There are cases where a program warranty period (such as within XX days of delivery) is set in the license agreement. If the user has discovered a bug which constitutes a product defect after the expiry of that period, can he question the responsibility of the Vendor? 例文帳に追加

（例）ライセンス契約においてプログラムの担保期間（例：引渡しから××日以内）が設定されていることがあるが、期間経過後に瑕疵に該当するバグを発見したとき、ベンダーの責任を問うことは可能か。 - 経済産業省