「one mark」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To detect a defect around a synchronization mark with one write operation in a defect testing method for testing a defect in a synchronization mark part of a data part of a disk.例文帳に追加

ディスクのデータ部の同期マーク部の欠陥を検出する欠陥検査方法に関し、１回のライト動作で、同期マーク周辺の欠陥を検出する。 - 特許庁

The relative position the in x-axis direction is adjusted based on an alignment error Δx1 in the x-axis direction between one x-axis mark and a mark of the mask corresponding to it.例文帳に追加

１つのｘ軸用マークとそれに対応するマスクのマークとのｘ軸方向の位置合わせ誤差Δｘ_1に基づいてｘ軸方向の相対位置を調節する。 - 特許庁

As a result, signals of other recording mark 81 are no longer picked up while signals are reproduced from one recording mark 81, resulting in the improvement of resolution.例文帳に追加

これにより、一つの記録マーク８１から信号を再生しているときに他の記録マーク８１の信号を拾うことがなくなり、解像度が向上する。 - 特許庁

The mark M is disposed at least one in each of the areas close to both ends in the arrangement direction of the unit lenses 122 of the optical shape part 121A, with the apex of the mark lower than the apex of the unit lens 122.例文帳に追加

このマーク部Ｍは、光学形状部１２１Ａの単位レンズ１２２の配列方向の両端部近傍に少なくとも１つずつ設けられ、その頂部が単位レンズ１２２の頂部よりも低いものとした。 - 特許庁

The treated substrate is provided with a substrate top circuit pattern which is identical in design to one of a plurality of design circuit patterns in which overlapping positions of semiconductor devices are determined, and a substrate top first mark and a substrate top second mark.例文帳に追加

被処理基板は、半導体装置の重ね合わせ位置が決められた複数の設計回路パターンの１つと設計上は合同である基板上回路パターンと基板上第１、第２マークを有する。 - 特許庁

The alignment mark is provided so that at least one portion of the alignment mark is positioned in the cut margin region of the piezoelectric wafer cut in the cutting process.例文帳に追加

切断工程で切断される圧電ウェハの切り代領域にアライメントマークの少なくとも一部が位置するようにアライメントマークを設ける。 - 特許庁

In a second imaging step, each imaging area is imaged as a mark image in a state that only a mark 40 composed of at least one dot in a part of the imaging area is lit.例文帳に追加

第２撮像ステップでは、各撮像領域を、撮像領域の一部において少なくとも１つのドットにより構成されたマーク４０のみを点灯させた状態で、マーク画像としてそれぞれ撮像する。 - 特許庁

One recess formed region 24a is located above a first identification mark 23a, and the other recess formed region 24a is located above a second identification mark 23b.例文帳に追加

また、一方の凹部形成領域２４ａは第１識別標記２３ａの上方に位置し、他方の凹部形成領域２４ａは第２識別標記２３ｂの上方に位置している。 - 特許庁

An alignment mark 3 of the interposer is configured such that the alignment mark 3 formed on one principal surface is exposed from the other principal surface through a recess 7.例文帳に追加

インターポーザのアライメントマーク3を、一方の主面に形成されたアライメントマーク3が、他方の主面から凹部7を介して露出する構成とする。 - 特許庁

These steel grade discrimination mark 15A and the diameter identification mark 16A are different in at least one of a shape, a number, dimensions and an angle to the deformed bar steel.例文帳に追加

これら鋼種識別マーク１５Ａと径識別マーク１６Ａは、形状、数、寸法、異形棒鋼に対する角度のうちの少なくとも１つにおいて異なっている。 - 特許庁

For instance, one end of the first torn surface 27 includes a scribe mark SM1 extending from the edge 13c to the edge 13d, and the scribe mark SM1 or the like includes a recessed shape extending from the edge 13c to the edge 13d.例文帳に追加

また、例えば第１の割断面２７の一端には、エッジ１３ｃからエッジ１３ｄまで延在するスクライブ跡ＳＭ１を有し、スクライブ跡ＳＭ１等は、エッジ１３ｃからエッジ１３ｄまで延在する凹形状を有する。 - 特許庁

Then a target frame 33 shown in dotted lines is set in the inside of the screen frame 31 and a partial picture is photographed by one frame when a movable mark 34 overlaps the fixed mark 32.例文帳に追加

そして、点線で示す目標枠３３が画面枠３１の内側に収まり、且つ可動マーク３４が固定マーク３２に重なるときに、１フレームで部分画が撮影される。 - 特許庁

An object 21 has an identification mark 22 and has at least either one of a shape or a pattern which represents a predetermined concept corresponded to the identification mark 22.例文帳に追加

物体２１は、識別マーク２２が付され、当該識別マーク２２に対応付けられた所定の概念を表現した形状および絵柄のうち少なくとも一方を有している。 - 特許庁

Especially when the recording operation is made by a modulation method of EFM plus, the mark having the length of 5T (T is channel clock) or shorter is recorded by one pulse, and the mark having the length of 6T or longer is recorded by two or more pulses.例文帳に追加

特に、ＥＦＭ plusの変調方式で記録する際には、５Ｔ（Ｔはチャネルクロック）以下の長さのマークは１個のパルスで記録し、６Ｔ以上の長さのマークは２個以上のパルスで記録する。 - 特許庁

When the recording operation is made on the information recording medium in accordance with a modulation code, a short mark is recorded by one pulse, and a long mark is recorded by at least two or more pulses or by two or more recording levels.例文帳に追加

情報記録媒体に変調符号に従って記録する際、短いマークはひとつのパルスで記録し、長いマークは少なくともふたつ以上のパルスまたはふたつ以上の記録レベルで記録する。 - 特許庁

When recording is executed in an information recording medium according to a modulation code, a short mark is recorded by one pulse, and a long mark is recorded by at least two or more recording levels.例文帳に追加

情報記録媒体に変調符号に従って記録する際、短いマークはひとつのパルスで記録し、長いマークは少なくともふたつ以上の記録レベルで記録する。 - 特許庁

If the result of the lottery is the high-probability mark, one high-probability mark is added to the display in a high-probability level display area of a variable display device 3 to terminate the process (Sb10).例文帳に追加

抽選結果が高確率マークの場合には、可変表示装置３の高確率レベル表示領域に高確率マークが１個増加するように表示して処理を終了する（Ｓｂ１０）。 - 特許庁

Satin-finished position recognition marks 27 are provided at three out of four corners, and a position recognition mark 26 having a mirror surface is provided at the remaining corner, and a lead corresponding to the position recognition mark 26 having the mirror surface is a one-pin lead.例文帳に追加

４つのコーナー部の内の、３つのコーナー部には、梨地の位置認識マーク２７が設けられ、残るコーナー部には、鏡面の位置認識マーク２６が設けられ、鏡面の位置認識マーク２６に対応するリードを１ピンとする。 - 特許庁

The stand is provided with a mark 188, when being overturned, entering in the observation image in its one part and a position display 184 indicating the position of the mark 188, when being overturned, is displayed on the observation image.例文帳に追加

また，倒伏しているときに観察画像に入る処置具起立台１７０の一部に目印１８８を設け，観察画像に倒伏しているときの目印１８８の位置を示す位置表示１８４を表示する。 - 特許庁

The working device 11 is thereby operated while looking at the arm alignment mark 31 and the link alignment mark 32 to enable the working device 11 to make the front posture suitable for accurately greasing the working device only by one time operation.例文帳に追加

これにより、アーム位置合せマーク３１とリンク位置合せマーク３２を見ながら作業装置１１を操作することにより、作業装置１１を１回の操作で正確に給脂するのに適したフロント姿勢にすることができる。 - 特許庁

An MFP 100 forms a mark to detect at least one of position difference and concentration difference, and forms an image using a difference amount obtained by measuring the mark.例文帳に追加

ＭＦＰ１００は，位置ずれと濃度ずれとの少なくとも一方を検出するためのマークを形成し，そのマークを測定することによって取得したずれ量を利用して画像形成を行うものである。 - 特許庁

A layline 200 at present time set based on the wind axis 120 and a maximum rise angle θup is displayed by a straight line on the one's own mark 111 side with the target mark 110 as a starting point.例文帳に追加

また、目的マーク１１０を起点として、自船マーク１１１側に風軸１２０と最大上り角θｕｐとに基づいて設定された現時点でのレイライン２００が直線で表示される。 - 特許庁

A mark length recorded by a mark position system is one length of a resolution limit or shorter in a used optical system and recording marks are formed on both of the land and the groove of the substrate groove.例文帳に追加

マークポジション方式で記録されたマーク長が、使用する光学系における解像限界以下の一つの長さであり、かつ、基板溝のランドとグルーブの両方に記録マークが形成されている。 - 特許庁

Thus, it is possible for the communication unit 2 to control the supply of a power supply voltage to the mark reading device 1 and the communication of decode information generated by the mark reading device 1 at one time.例文帳に追加

このため、通信ユニット２は、マーク読取装置１への電源電圧の供給と、マーク読取装置１にて生成されたデコード情報の通信とを、まとめて制御することが可能になる。 - 特許庁

At least one set of dispersed miniature security mark parameters is identified, with the parameters being mark parameters that enable determination of an optimized balance between detectability and visibility of the dispersed miniature security marks.例文帳に追加

少なくとも１組の分散型微小セキュリティ・マーク・パラメータが識別され、このパラメータは、分散型微小セキュリティ・マークの可検出性と可視性との間の最適化されたバランスの決定を可能にする。 - 特許庁

Both coaxial vertical illumination and diagonal illumination are used simultaneously, or, any one of them is used according to reflection characteristics of the board mark to illuminate the board mark, thus a small and efficient illuminating equipment is provided.例文帳に追加

基板マークの反射特性に応じて同軸落射照明と斜光照明の両照明方式を同時に用いて、あるいはいずれかの照明方式で基板マークを照明することができ、小型で効率的な照明装置が得られる。 - 特許庁

The apparatus further starts counting from a mark attached to the moving belt, detects the mark again after one circulation, integrates the counted value during this period, and counts the number of teeth.例文帳に追加

移動中のベルトに付したマークからカウントを始め一周して再度マ−クを検出するこの間のカウント値を積算して歯数を計数する。 - 特許庁

The reference measure has two incremental scale tracks in parallel to a measuring direction, and has a reference mark track provided with at least one reference mark in a reference position between the incremental scale tracks.例文帳に追加

基準尺は測定方向に平行に２つのインクリメンタル目盛トラックを有し、インクリメンタル目盛トラック間の基準位置に少なくとも１つの基準マークを具備する基準マークトラックを有する。 - 特許庁

A security mark generation part 12 generates at least one miniature security mark (MSM) configuration at least partially based on the information from the data receiving part 10.例文帳に追加

セキュリティマーク生成部１２は、データ受信部１０からの情報に少なくとも部分的にもとづき、微小セキュリティマーク（ＭＳＭ）構成を少なくとも１つ生成する。 - 特許庁

The mark display processing means is characterized in that, at least, one of the shape, the color, and the pattern of the mark is changed according to the distance between a virtual camera and the given object.例文帳に追加

前記目印表示処理手段は、仮想カメラと所与のオブジェクトとの距離に応じて、前記目印の形状、色彩及び模様の少なくとも１つを変化させることを特徴とする。 - 特許庁

The pneumatic tire in which a mark for tire identification is displayed at least at one of a pair of sidewalls, includes a decoration region, a non-decoration region, and a mark display region.例文帳に追加

空気入りタイヤは、１対のサイドウォールの少なくとも一方にタイヤ識別用標章が表示され、装飾領域と、無装飾領域と、標章表示領域とを備えている。 - 特許庁

Accordingly, auxiliary drawings such as a dragonfly mark B and a stylus mark C are carried out on one end side of the recording medium P by the inkjet recording heads 20K and 20C in the region W out of the image quality assured region.例文帳に追加

これにより、画質保証領域外Ｗにおいて、インクジェット記録ヘッド２０Ｋ及びインクジェット記録ヘッド２０Ｃにより、記録媒体Ｐの一端側にトンボＢや針印Ｃなどの補助描画がなされる。 - 特許庁

The material display mark 22 in one component with the material display mark 22 attached is disposed near the light emitting part 20 and in a position visible to the player.例文帳に追加

材質表示記号２２が付された構成部品の一つについて、材質表示記号２２を発光部２０の近傍で且つ遊技者に視認可能な位置に配置する。 - 特許庁

Further, a probe mark indicating a probe may be made as one of marks and a shape of the probe mark may be deformed based on a scanning direction of the probe.例文帳に追加

なお、プローブを示すプローブマークをマークの一つとして作成し、プローブのスキャン方向に基づいてプローブマークの形状を変形するようにすることもできる。 - 特許庁

One operation of the operator enables the probe mark to be rotated and indicated, which simplifies the operation to indicate the probe mark at the desired location.例文帳に追加

操作子の一回の操作でプローブマークを回転させて表示することができるので、プローブマークを所望の位置に表示する場合の操作を簡単化することができる。 - 特許庁

An encoding pattern is provided with a plurality of reference positions; each of plural marks is associated with one of the reference positions; and the value of each mark is determined from the position of the mark relative to the reference position.例文帳に追加

符号化パターンは、複数の基準位置を備えており、複数のマークのそれぞれが１つの前記基準位置に関連付けられ、前記各マークの値がその基準位置に対するその位置によって決定されている。 - 特許庁

The distinction mark inputted by the player P1 is displayed on the display panel 3a, and if the distinction mark is identical with the one in the player area 1 where the player P2 is present, it means that the player P1 wins.例文帳に追加

プレイヤＰ１が入力した識別付記を表示パネル３ａに表示し、この識別付記がプレイヤＰ２が居るプレイヤエリア１の識別付記に一致、すなわち当たればプレイヤＰ１の勝ちとなる。 - 特許庁

Further, the first and second analysis mark patterns overlap the portion to be analyzed such that at least one side of the first and second analysis mark patterns overlaps the portion to be analyzed.例文帳に追加

また、第１および第２の解析用目印パターンの各一辺側が少なくとも解析対象部と重複するように、第１および第２の解析用目印パターンが解析対象部と部分的に重複している。 - 特許庁

A data mark creating means 30 is mounted to an appropriate position opposite to one work area 20, and creates a data mark on the printed circuit board 14 at the work area 20.例文帳に追加

データマーク作製手段３０は、１つの作業エリア２０に相対して適切な位置に装設され、作業エリア２０のプリント基板１４にデータマークを作製する。 - 特許庁

A square mark 203 constituting a circular negative mark 203A is formed at the center part at which the line segments 201A, 201B, 202A, and 202B intersect one another.例文帳に追加

また、各線分２０１Ａ、２０１Ｂ、２０２Ａ、２０２Ｂが交差する中心部に、円形のネガマーク２０３Ａを構成する正方形のマーク２０３が形成されている。 - 特許庁

To secure visibility of an operation knob while making a mark visible by one light source in an operation panel provided with the operation knob and an operation display part to display the mark.例文帳に追加

操作ノブとマークを表示する操作表示部とを備えた操作パネルにおいて、一つの光源によりマークを視認させつつ操作ノブの視認性を確保する。 - 特許庁

A security mark generation part 12 generates at least one miniature security mark (MSM) configuration based on at least on the partial of the information from the data receiving part 10.例文帳に追加

セキュリティマーク生成部１２は、データ受信部１０からの情報に少なくとも部分的にもとづき、微小セキュリティマーク（ＭＳＭ）構成を少なくとも１つ生成する。 - 特許庁

If the result of the lottery is the low-probability mark, one low-probability mark is added to the display in a low-probability level display area of the variable display device to terminate the process (Sb11).例文帳に追加

低確率マークが当選した場合には、可変表示装置の低確率レベル表示領域に低確率マークが１個増加するように表示して処理を終了する（Ｓｂ１１）。 - 特許庁

METHOD FOR SELECTING ONE SPECIFIED FIGURE, MARK OR PATTERN FROM A GROUP OF A NUMBER OF FIGURES, MARKS OR PATTERNS BY POSSIBILITY, AND SELECTING APPARATUS FOR FIGURE, MARK OR PATTERN例文帳に追加

多数の数字、マーク又は絵柄群の中から特定の数字、マーク又は絵柄の一つを偶然性により選択する方法と、数字、マーク又は絵柄の選択器具。 - 特許庁

When the position information of the mark formed on a wafer W is measured by using a wafer alignment sensor 16 provided at the side of a projection optical system PL, one mark is photographed a plurality of times.例文帳に追加

投影光学系ＰＬの側方に設けられたウェハ・アライメントセンサ１６を用いてウェハＷ上に形成されたマークの位置情報を計測する際に、１つのマークを複数回に亘り撮像する。 - 特許庁