「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device for measuring and testing a transformation plasticity coefficient and a method for identifying a transformation plasticity coefficient, which easily detect a deformation quantity of a test piece in a temperature change associated with phase transformation, and can identify a compressed transformation plasticity coefficient based on the deformation quantity.例文帳に追加

相変態をともなう温度変化中の試験片の変形量を容易に検出し、それに基づいて圧縮の変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数測定試験装置および変態塑性係数同定方法を提供する。 - 特許庁

To diagnose a service provision status of an image formation system while network connection for operating the image formation system is kept as it is without changing a connection configuration or the like without installing a testing device, and without performing test packet transmission work by a user.例文帳に追加

画像形成システムを運用するネットワーク接続のままの状態で、接続構成等を変更することなく、試験用の装置を設置することなく、ユーザによるテストパケット送信作業もなく、画像形成システムのサービス提供状況を診断すること。 - 特許庁

To provide a high-reliability IC testing device by using a semiconductor relay, and to provide a semiconductor integrated circuit enabling a high speed test by applying a voltage to terminals to suppress the capacity between output terminals at the off-time of the semiconductor relay.例文帳に追加

半導体リレーを用いることで、信頼性の高いＩＣ試験装置を提供すること及び、半導体リレーがＯＦＦ時に端子に電圧を印加し、出力端子間容量を抑えることで、高速な試験を可能とする半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and method of a semiconductor integrated circuit capable of testing whether a through via formed in a single chip on a wafer is defective, and whether a through via formed in a semiconductor integrated circuit packaged is defective.例文帳に追加

ウェハ上の単一チップに形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができ、またパッケージングされた半導体集積回路に形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus which is downsized and can perform a test of electric signal between semiconductor apparatuses as a stack structure, in relation to a semiconductor apparatus whose testing terminal is formed on a substrate on which a semiconductor chip is mounted.例文帳に追加

本発明は、半導体チップが実装される基板にテスト用端子が配設された半導体装置に関し、小型化を図ると共に、スタック構造とされた半導体装置間の電気的信号のテストを行うことのできる半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

To provide a lubricity test method of a lubricant and a friction testing device, capable of evaluating simply and quantitatively the lubricity of the lubricant by reproducing the lubrication state on a friction face between a tool and a processing material during processing.例文帳に追加

加工中における工具と加工材料との摩擦面における潤滑状態を再現し、潤滑剤の潤滑性能を簡単かつ定量的に評価することができる潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置を提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing apparatus is provided with a plurality of holding implements 11 for respectively holding a plurality of semiconductor packages 10, a test board 12 where the plurality of holding implements 11 are arranged, and a fluid feed portion 13 for feeding fluid F for heating or cooling the semiconductor packages 10.例文帳に追加

複数の半導体パッケージ１０をそれぞれ保持する複数の保持治具１１と、複数の保持治具１１が配置されるテストボード１２と、半導体パッケージ１０を加熱又は冷却するための流体Ｆを供給する流体供給部１３とを備える。 - 特許庁

In the case of starting IP connection service from a service provider to a user home via an ATM network 100, an ATM line simple IP connection testing device 10 is directly connected to an ATM line connected to the user home to execute an IP connection test.例文帳に追加

サービスプロバイダから、ユーザ宅へＡＴＭ回線網１００を介してＩＰ接続サービスを開始するとき、ユーザ宅に導入されているＡＴＭ回線にＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験装置１０を直接接続し、ＩＰ接続試験を実施する。 - 特許庁

The charge and discharge control terminal and a testing fuse are used to select one of voltage levels "L", "H", and "M" input to the charge and discharge control terminal so as to switch among the normal application state, charge and discharge inhibiting state and the test state.例文帳に追加

充放電制御用端子とテスト用ヒューズを用いて、該制御端子に入力された電圧のレベル「Ｌ」、「Ｈ」、「Ｍ」のいずれかを選択することによって、通常応用状態、充放電禁止状態とテスト状態のいずれかに切り替えを可能になる。 - 特許庁

The NQR testing method which enables the test of a sample having at least one NQR characteristic to be changed together with a given environmental parameter is composed of a method which enables the sample to be excited so as to energize NQR resonance and an NQR response signal to be detected.例文帳に追加

所与の環境パラメータと共に変化する少なくとも１つのＮＱＲ特性を有する試料をテストするＮＱＲテスト方法において、試料に励起を与えてＮＱＲ共鳴を付勢し、ＮＱＲ応答信号を検出することからなる方法。 - 特許庁

In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.例文帳に追加

トランス１０の１次側コイルＬ１の端子Ｔ１と２次側コイルＬ２の端子Ｔ５とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗Ｒ１０に流れる電流を制限するための制限抵抗Ｒ１を、２次側コイルＬ２と、端子Ｔ５との間に設ける。 - 特許庁

The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加

主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁

To provide a terminal board for a nuclear power plant control panel test, a control panel automatic testing device, and a temporary control device, which reduces a time and cost by reducing a work amount during updating, and also reduces an operation risk caused by plant monitoring control function stop.例文帳に追加

更新時の作業量を減らすことで時間とコストを低減し、またプラント監視制御機能停止による運用上のリスクの低減を可能とする原子力発電所制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置を提供する。 - 特許庁

To evaluate the lift amount of a coil without manufacturing a test piece by utilizing an electromagnetic analysis device, and to obtain a material constant directly from the testing material to dealing with the time sequential change of the metallic material or the material difference adjacent to a crack.例文帳に追加

試験片を製作することなく、電磁気解析装置を利用し、テストコイルの浮き上がり量を評価すること、また、金属材料の時系列変化、あるいはき裂近傍の材料の違いにも対応するために、被検査材から直接材料定数を求めること。 - 特許庁

Thereby, since all the processes to be performed up to the bump formation can be implemented in a fab line, the problems of contamination etc. will not occur; and tests for electrical characteristics can be preformed, using inexpensive probe cards by using the bumps for testing as test objects.例文帳に追加

これにより、バンプ形成までの全ての過程がファブライン（ｆａｂ ｌｉｎｅ）で成されるため、汚染などの問題が発生せず、テスト用バンプをテスト対象にすることによって、低廉なテスト用プローブカードを用いて電気的な特性テストを遂行することができる。 - 特許庁

To make an immunoassay analyzer for analyzing electrochemically an immunoassay, and a chip electrode and a test chip used for the immunoassay analyzer suitable for a POCT (point of care testing), and to keep running costs thereof low.例文帳に追加

本発明は、イムノアッセイを電気化学的に分析するイムノアッセイ分析装置、並びに、そのイムノアッセイ分析装置に用いるチップ電極および検査チップに関し、ＰＯＣＴ（ｐｏｉｎｔ ｏｆ ｃａｒｅ ｔｅｓｔｉｎｇ）に適するとともに、ランニングコストを安価に抑える。 - 特許庁

One of the rules of XP is to test small software components as often and early as possible, this way you will not have to fix bugs and errors in the API while setting up and testing larger applications which depend on the class. 例文帳に追加

XP においては、小さなソフトウエアコンポーネントを可能な限り早期に頻繁に試験すること、というルールが定められています。 こうすることで、アプリケーション全体を設定し試験する際になってまで、コンポーネント内部のバグやエラーを修正する破目にならなくてすみます。 - PEAR

An inner pressure fluctuation absorption apparatus 3 comprises a pressure regulation section 21 including a pressure regulation space AS, and a duct 20 capable of connecting a testing device body 2 and the pressure regulation section 21 so as to communicate a test space and the pressure regulation space AS.例文帳に追加

内圧変動吸収装置３は、圧力調整用空間ＡＳを有する圧力調整部２１と、試験空間と圧力調整用空間ＡＳとを連通させるように試験装置本体２と圧力調整部２１を接続可能なダクト２０と、を備える。 - 特許庁

To set a test mode by using only one user terminal without providing any terminal dedicated to mode setting since the securement of a terminal for testing is a major task in the case of an LSI with a small number of terminals mounted on a system such as an IC card.例文帳に追加

ＩＣカード等のシステムに搭載される端子数の少ないＬＳＩにおいては、テスト用端子の確保が大きな課題であり、本発明は、モード設定専用端子を設けることなくユーザー端子１本のみでテストモード設定を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁

To provide a connector of which a yield ratio and a workability can be improved by improving life of a connector pin through restraint of abrasion of a tip of the connector pin as a first purpose and facilitating contacting work of a test pin to a testing face part as a second purpose.例文帳に追加

第１の目的は、コネクタピン先端の摩耗を抑制して当該コネクタピンの寿命を向上させ、第２の目的は、テスト用面部へのテストピンの当接作業を容易とし、歩留まり及び作業性を向上させることができるコネクタを提供する。 - 特許庁

In the semiconductor storage device 101, in addition to a BIST circuit 103 for testing a memory, a RA circuit 104 is incorporated to obtain a saving solution for replacing a defective cell by a redundant circuit based on a test result (fail data) obtained by the BIST circuit 103.例文帳に追加

半導体記憶装置１０１内に、メモリをテストするＢＩＳＴ回路１０３の他に、ＢＩＳＴ回路１０３が求めたテスト結果（フェイルデータ）に基づいて不良セルを冗長回路に置き換える救済解を求めるＲＡ回路１０４を内蔵する。 - 特許庁

The test machine is provided with a moving member guiding means 8 for keeping the attitude of the moving member 7, wherein the moving member guide means 8 is inhibiting an attitude change while allowing the positional change of the moving member 7 which is provided with the engaging part 6 for connecting with the operation lever 5 of the testing object 2 and a cam plate mounting part 4.例文帳に追加

試験対象物２の操作レバー５に接続する係合部６とカム板取付部４とを備えた移動部材７の位置変化を許容して姿勢変化を禁止する移動部材ガイド手段８を設け、移動部材７の姿勢を保持する。 - 特許庁

The synchronization control means 2 is constituted of an external circuit which distributes/outputs a clock signal CLK from a testing apparatus body 1 to the plurality of semiconductor integrated circuits, receives respective test result outputs from the plurality of semiconductor integrated circuits, and suspends outputting of the distributed clock signal CLK, from respective test result output timings to the slowest timing.例文帳に追加

同期化制御手段２は、テスト装置本体１からのクロック信号ＣＬＫを複数の半導体集積回路に分配して出力するとともに、複数の半導体集積回路から夫々テスト結果の出力を受け付けて、分配したクロック信号ＣＬＫの出力を各テスト結果の出力タイミングから最も遅いタイミングまで停止する外付け回路で構成されている。 - 特許庁

The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加

この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

This frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload is provided with a workload case constitution utility interface including a function for allowing a frame work to call the workload constitution utility of a third party and a workload interface including a function for the setup and control and monitor of the workload for the purpose of defining a workload case according to various test targets.例文帳に追加

本発明は、混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を開示し、これは、様々なテスト目的でワークロード・ケースを定義するために、フレームワークにサード・パーティのワークロード構成ユーティリティを呼び出させる機能を含むワークロード・ケース構成ユーティリティ・インターフェースと、ワークロードのセットアップ、制御、および監視の機能を含むワークロード・インターフェースとを含んでいる。 - 特許庁

The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加

ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁

A content reproducing apparatus 1 stores an appliance identifier ID for identifying the content reproducing apparatus 1 so as not to be rewritten, and also stores an appliance identifier test value VM corresponding to the appliance identifier ID and a right information test value VR for testing right information INF of acquired content data D so as not to be read out separately.例文帳に追加

コンテンツ再生装置１は、このコンテンツ再生装置１を識別するための機器識別子ＩＤを、書き換えられないように記憶すると共に、当該機器識別子ＩＤに対応する機器識別子検査値ＶＭと、取得したコンテンツデータＤの権利情報ＩＮＦを検査するための権利情報検査値ＶＲとを、分離して読み出されないように記憶するようにした。 - 特許庁

To enable accurate test data to be generated at the time of testing semiconductors, mutual conversion between simulation data and test data to be easily performed and the accuracy verification of simulation data and of a tester for semiconductors and the verification of indeterminate events and I/O dead band to be carried out.例文帳に追加

半導体装置のテスト時に正確なテストデータの生成及びシュミレーションデータとテストデータとの相互間の変換が容易に可能であり、シュミレーションデータ精度と半導体装置用テスタ精度との検証，不確定イベント及びＩ／Ｏデットバンドの検証を行なうことが可能となる半導体試験用データ処理装置及び方法並びに半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To dispense with a troublesome operation for inserting a pair of electrodes into sample liquid stored in each storage recessed part, to prevent the pair of electrodes from being brought into contact with each other in the sample liquid, and to test many sample liquids efficiently and stably, in a testing device using a test plate where many storage recessed parts for storing the sample liquid are provided.例文帳に追加

サンプル液を収容させる収容凹部が多数設けられた試験用プレートを用いた試験用装置において、各収容凹部内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなく、またサンプル液中において一対の電極が接触するのを防止し、多数のサンプル液の試験が効率よく安定して行えるようにする。 - 特許庁

The semiconductor device manufacturing method comprises a test step of performing a predetermined testing by contacting a probe terminal with a bonding pad A of a semiconductor device, and a pad surface treatment step of performing, after the test step, processing of dissolving a surface of the bonding pad by using chemical or processing of solidifying a melted portion of the bonding pad after melted by heating the bonding pad surface using a furnace.例文帳に追加

半導体装置のボンディングパッドＡにプローブ端子を接触させ、所定の試験を行う試験工程と、試験工程の後、薬液を用いてボンディングパッド表面を溶かす処理、または、加熱炉を用いて加熱することでボンディングパッド表面を溶かした後、溶かした部分を固化する処理を行うパッド表面処理工程と、を有する半導体装置の製造方法。 - 特許庁

The system comprises a storing device 4 having a means that classifies the test data 2 of an LSI acquired by a semiconductor testing apparatus 1 into lots/wafer/chips/measurement data/categories and a means that organically connects them to store by setting connection information from among classified items; and a displaying device 5 having a means of searching the stored test data and a means of displaying the searched results.例文帳に追加

半導体試験装置１にて収集されたＬＳＩのテストデータ２を、ロット・ウエハ・チップ・測定データ・カテゴリ単位に分類する手段及び分類した項目の中で連結情報を設定することで有機的に結合させて蓄積する手段を有する蓄積装置４と、蓄積されたテストデータを検索する手段及び検索結果を表示する手段を有する表示装置５とからなる。 - 特許庁

The tester comprises a section 11 generating a waveform being employed for testing an electric part, a section 20 producing an expected value to be outputted from an electric part applied with a test waveform, and a section 14 for comparing the output value from the electric part applied with a test waveform with the expected value to decide whether the electric part 16 is acceptable or not.例文帳に追加

電気部品の試験に用いる試験波形を生成する波形生成部１１と、試験波形を印加された電気部品から出力されるべき期待値を試験波形に基づいて出力する期待値出力部２０と、試験信号を印加された電気部品の出力値と、期待値とを比較して電気部品１６の良否を判定する比較部１４とを備える。 - 特許庁

The nonvolatile memory card has a NAND type EEPROM 11 having a cell array of electrically rewritable nonvolatile memory cells arranged repeatedly in row and column directions, test information 18 stored in a predetermined address of the NAND type EEPROM 11, and a controller 12 for testing the NAND type EEPROM 11 according to the test information 18.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリカードは、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを有するＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１と、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１の所定のアドレスに格納されたテスト情報１８と、テスト情報１８に基づいて、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１をテストするコントローラ１２を有する。 - 特許庁

To provide a mechanical characteristics testing machine of transmission lines with optical components which performs accurate test, without reducing the mass of both a capstan for holding the transmission line and a capstan-holding part for freely holding the capstan, in the mechanical characteristics testing machine which impresses tensile load on the transmission line which extends from the optical component, and tests various mechanical characteristics of the transmission line with the optical component.例文帳に追加

光部品から延出している伝送線に引っ張り荷重を加えて、上記光部品付伝送線の機械的諸特性を試験可能な光部品付伝送線の機械的試験機において、上記伝送線を保持するキャプスタンとこのキャプスタンを保持自在なキャプスタン保持部との質量を軽減することなく、正確な試験をすることができる光部品付伝送線の機械的試験機を提供する。 - 特許庁

The present invention relates to the manufacturing process, the system and the method, which senses closed loop pressure, and easily assembles and tests the feedback integrated fluid manifold, and the system for testing the fluid manifold of the present invention includes: reservoir for storing a fluid; a pump for moving selectively the fluid toward the manifold; and a testing mechanism communicated with the manifold, and accessing a specified test data.例文帳に追加

本発明は、クローズドループ圧力感知及びフィードバック一体型流体マニホールドの組み立て及び試験を容易とすることができる製造プロセス、システム、及び方法に関するものであり、本発明に係るマニホールド試験システムは、流体を貯蔵するリザーバと、流体をマニホールドエリアに向けて選択的に移動させるポンプと、マニホールドに連通され、規定の試験データにアクセスする試験機構と、を含んでいる。 - 特許庁

To conduct testing of a resist pattern formed by an aligner to correct parameters of the aligner on a real-time basis, and to unequivocally discriminate a variance of parameters of the aligner on the basis of the test result to control the parameters of the aligner in high accuracy.例文帳に追加

露光装置を用いて形成されたレジストパターンの検査を高速に行い、露光装置のパラメータの補正をリアルタイムで行うことを可能にすると共に、検査結果をもとに露光装置のパラメータ変動を一義的に判別し、露光装置のパラメータ管理を高精度に行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a component testing device and a component conveyance method for arranging flexibly an electronic component even onto a function station whose configuration of arrangement or the like is changed according to a test content or the like, by heightening flexibility of conveyance or arrangement of the electronic component by conveyance hands.例文帳に追加

搬送ハンドによる電子部品の搬送、配置にかかる自由度を高めることにより、試験内容等に応じて配列等の形態が変更される機能ステーションに対しても電子部品を柔軟に配置させることのできる部品試験装置及び部品搬送方法を提供する。 - 特許庁

Only one side of a sample is abruptly heated and measurements are made in a short time, so that a test can be conducted with accuracy while reducing testing errors resulting from transfer of heat within the sample which will not cause problems in the case of porous ceramics of low heat conductivity which does not allow transmission of radiant heat therethrough.例文帳に追加

試料の片面のみを急激に加熱して、短時間で測定することにより、輻射熱を透過せずまた熱伝導率の小さい多孔質のセラミックスにおいては問題とならない試料内の伝熱に起因する試験誤差を小さくして、試験を精度良く実施できるようにする。 - 特許庁

When a test process decided that the mixed memory array cannot be or can be mended, a signal showing that it is incapable or capable of being mended respectively is output directly to an external testing device.例文帳に追加

試験プロセスが、メモリ混載アレーを修理することができないと判断した場合、メモリ混載アレーは修理不能であることを示す信号を、また欠陥を修理することができると判断した場合、メモリ混載アレーは修理可能であることを示す信号を外部試験装置へ直接与える。 - 特許庁

To enable the replacement of only the deformed part of a support stand for supporting a pipe even if the support stand is deformed and to enhance measuring accuracy to economically perform measurement of high accuracy, in a ball test device for testing a metal pipe by forming a cavity with a constant depth by pressing a sphere to a pipe wall.例文帳に追加

球体を管壁に押圧して一定深さの窪みを作ることにより行うボールテスト装置において、管を支持する支持台が変形しても、その変形部のみを交換することを可能とし、測定精度を高めると共に精度の高い測定を経済的に行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide a circuit with a control function in which a circuit to be controlled operates only when a predetermined environment meets a specific condition, and which is capable of testing whether or not the circuit with a control function operates normally under any predetermined environment, and to provide a test method thereof.例文帳に追加

所定環境が特定条件を満たす場合に限り被制御回路が作動する制御機能付き回路であって、いずれの所定環境下でも、当該制御機能付き回路が正常に作動するか否かを検査できる制御機能付き回路、及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual examination device of a film, which successively performs reflection and transmission tests by one device, automatically performs an alteration of testing attitude and a change over of a light source, and automatically protrudes a black screen to an underlay part of the reflection test for optimizing the examination environment.例文帳に追加

一台の装置で反射及び透過検査を順次行うことができ、しかも検査姿勢の変更及び光源切換えを自動的に行うと共に、さらに反射検査の下敷き部に黒色スクリーンを自動的に張り出して、検査環境を最適にできるフィルム目視検査装置を提供する。 - 特許庁