「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(57ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a simple and safe printing test method of a gravure ink for evaluating the quantity of a gravure ink without causing whitening even under high humidity condition in a manufacturing site of the gravure ink which is a dangerous object manufacturing factory and a printing testing machine used for the same.例文帳に追加

本発明は、危険物製造所であるグラビアインキの製造現場において、高湿度下においてもブラッシングを起こすことなく、グラビアインキの品質を評価するための簡便かつ安全な印刷試験方法と、その方法に用いる印刷試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁

Thus, by inputting the operation inhibiting signal EN fixed to an activated level to the external signal terminal EN by a semiconductor testing apparatus and also inputting the external clock CK to the external clock terminal CK, the functional block 12 can be shifted to the test mode from the normal operation mode.例文帳に追加

このため、半導体試験装置により、活性レベルに固定された動作禁止信号ＥＮを外部信号端子ＥＮに入力するとともに、外部クロックＣＫを外部クロック端子ＣＫに入力することで、機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させることができる。 - 特許庁

The ADSL line service transmission characteristic testing part 1 also performs a maintenance mode operation as necessary, performs the ADSL line transmission characteristic test even in an ADSL line service operating state and always maintains the latest optimum ADSL line setting parameter for the subscriber line in the database 2.例文帳に追加

また、ＡＤＳＬ伝送特性テスト部１は、必要に応じて保守モード動作を実施し、ＡＤＳＬ回線サービス運用状態でもＡＤＳＬ回線伝送特性テストを実施し、加入回線に対して常に最新の最適ＡＤＳＬ回線設定パラメータをデータベース２に保持する。 - 特許庁

In a system, where an ATM device 1 is connected to an STM device 2 via an STM-ATM conversion device 3 for transferring information, at least a test means 30 for testing inside a CLAD part 20 is provided in the STM-ATM conversion device 3.例文帳に追加

ＡＴＭ装置１とＳＴＭ装置２とをＳＴＭ−ＡＴＭ変換装置３を介して接続し、情報の転送を行なうシステムにおいて、前記ＳＴＭ−ＡＴＭ変換装置３内に少なくともＣＬＡＤ部２０内の試験を行なう試験手段３０を設けて構成する。 - 特許庁

An apparatus 100 for testing the semiconductor makes blank test signals transmit mutually through transmission path T1 to be output simultaneously from drivers DR1, DR2, and measures output timings t1, t2 when the signals are output from the drivers DR1, DR2, and attainment timings t4, t3 when the signals reach the drivers DR1, DR2.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、ドライバＤＲ１，ＤＲ２から試験信号を互いに伝送経路Ｔ１を伝送させて同時に出力させ、ドライバＤＲ１，ＤＲ２から出力した出力タイミングｔ１，ｔ２と、ドライバＤＲ１，ＤＲ２に到達した到達タイミングｔ４，ｔ３を測定する。 - 特許庁

To provide a non-adhesive bond type package adapter, capable of interrupting air infiltration from a join part by adhesive bond between a test vessel orifice and a package adapter, without the use of adhesive bond, and making possible testing, in gas barrier tests for PET bottles and pouches with stopper (pouched container).例文帳に追加

ペットボトルや口栓付きパウチ（袋状容器）に対するガスバリア性試験において、試験容器口とパッケージアダプター間の接着剤による接合箇所からの大気侵入を、接着剤を使用することなく遮断させ、試験できるようにするため、無接着剤式のパッケージアダプターを提供する。 - 特許庁

The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.例文帳に追加

テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第１の端部を有し、試験される装置の少なくとも１つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁

To obtain a method by which an operation test of radio parts is enabled, without measuring instruments by improving problem of the conventional technology that a large number of measuring instruments are required in the case of mass production in a method for testing the radio parts of a master station device or a slave station device, in a radio data communication system.例文帳に追加

無線データ通信システムにおける親局装置または子局装置の無線部テスト方法において、大量生産時に、大量の測定器が必要となるという従来技術の課題を改善し、測定器無しで無線部の動作テストが可能となる方法を提供する。 - 特許庁

To realize cost reduction, application to various kinds of LSI testing devices, facilitation of application to various kinds of LSIs to be measured, facilitation of device quality control, improvement of LSI design quality, inexpensive LSI design evaluation, facilitation of development to an analytical system, and standardization of a test analytical system.例文帳に追加

コストの低廉化、多種ＬＳＩ試験装置ヘの適用化、被測定ＬＳＩ多品種への適用の容易化、装置品質管理の容易化、ＬＳＩ設計品質の向上、安価なＬＳＩ設計評価、解析システムヘの展開の容易化、テスト解析システムの標準化を図る。 - 特許庁

The disintegration testing device includes, a rod 1 (a first loading means) for applying a load to the center of the upper surface of the tablet 4, a hollow cylinder (a second loading means) 2 for applying a load to the periphery part of the tablet, and a supply means for delivering a test solution to the tablet.例文帳に追加

崩壊試験装置は、錠剤４の上面の中央部に荷重を負荷するためのロッド（第１の負荷手段）１と、前記錠剤の周辺部に荷重を負荷するための中空筒体（第２の負荷手段）２と、前記錠剤に試験液を付与するための供給手段とを備えている。 - 特許庁

To provide a weather resistance testing apparatus having an exhaust processor capable of removing ash powder in exhaust in a carbon arc lamp type weather/light resistance test, stably sucking ash powder while preventing damping and variation of capture force of an air filter, and automatically removing ash powder adhering to the air filter.例文帳に追加

カーボンアーク灯式の耐候光試験の排気中の灰粉を除去し、エアフィルタの捕捉力の減衰やバラツキを防ぎながら、灰粉を安定して吸着でき、且つ自動にエアフィルタに付着の灰粉の除去を行うことができる排気処理装置を備えた耐候性試験装置の提供。 - 特許庁

A rate signal is outputted based on a cycle information stored in a rate memory, the rate signal is delayed to output edges based on timing information of an edge memory, and the IC tester for testing a device under test is improved, using the edges.例文帳に追加

本発明は、レートメモリに格納された周期情報に基づいて、レート信号を出力し、このレート信号を、エッジメモリのタイミング情報に基づいて、遅延し、エッジを出力させ、このエッジを用いて、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

A base station test apparatus 3 receives the voice signal for testing the downlink voice channel arrived via a telephone switch network 1 and a radio base station 4, converts the voice signal into PCM data, and transmits the PCM data to a maintenance console apparatus 5 via a PCM communication channel 6.例文帳に追加

基地局試験装置３は電話交換網１と無線基地局４とを経由して到来する下り音声回線試験用の音声信号を受信し、この音声信号をＰＣＭデータに変換し、このＰＣＭデータをＰＣＭ通信回線６経由で、保守卓装置５に送信する。 - 特許庁

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.例文帳に追加

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁

Since the game information output means includes a game information output circuit part 347, a conversion circuit part 341 and a connector 342, a third-party inspection facility, etc., can easily inspect (test) the game machine by simply connecting a signal wire from an outside testing device to the connector, etc.例文帳に追加

この遊技情報出力手段は、遊技情報出力回路部３４７、変換回路部３４１、コネクタ３４２を含むため、第三者検査機関等において、外部試験装置からの信号線をコネクタ等に簡便に接続させて容易に遊技機を検査（試験）することが可能となり得る。 - 特許庁

A life of the dropping weight body 11 is prolonged because the collision part 13 constituting the dropping weight body 11 and colliding with the body 10 to be tested is arranged separately in the lower part, an impact test cost is thereby restrained from getting high, and an operation rate of the dropping weight type impact testing machine is also restrained thereby from getting low.例文帳に追加

落錘体１１を構成する、被試験体１０に衝突する衝突部１３を、支持部１２の下部に分けて配置するので、落錘体１１の延命を図ることができ、これにより、衝撃試験コストの上昇や落錘衝撃試験機の稼働率の低下をいずれも抑制できる。 - 特許庁

To prevent a pallet from rising up to the upper side of an installation plate and continuously transfer the pallet where a test tray or a customer tray is placed by improving the transfer method of the pallet in a module IC handler for testing a module IC.例文帳に追加

本発明は、モジュールＩＣをテストするモジュールＩＣハンドラーに関するもので、パレットの移送方法を改善して、設置板の上側にパレットが上昇しないようにして、なお、テストトレイ又はカストマトレイが載置されるパレットの移送が連続的に行われるようにしたものである。 - 特許庁

To provide a system and method for testing simultaneously a column of a semiconductor memory and a redundant column by adding temporarily an additional parallel signal bit giving wider band width during test mode operation to an input/output data bus connected to a semiconductor memory.例文帳に追加

試験モード動作中により広い帯域幅を与える追加の並列信号ビットを半導体メモリに連結された入出力データ・バスに一時的に追加することによって、半導体メモリの列と冗長列とを同時に試験するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.例文帳に追加

半導体集積回路内のＡ／Ｄ変換器の機能テストでは、Ａ／Ｄ変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速Ａ／Ｄ変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁

A material testing machine includes a pair of columns 2 erected on a base 1, the crosshead 4 vertically movable along the columns 2, an elevation mechanism 11 to 13 for vertically moving the crosshead 4, a load actuator 8 for loading a test piece via the crosshead 4, and gas springs 3 for supporting the crosshead 4.例文帳に追加

基台１上に立設された一対の支柱２と、支柱２に沿って昇降可能なクロスヘッド４と、クロスヘッド４を昇降する昇降機構１１〜１３と、クロスヘッド４を介して供試体を負荷する負荷アクチュエータ８と、クロスヘッド４を支持するガススプリング３とを備える。 - 特許庁

To enable a required material testing to be carried out even by a person other than an expert engineer, without the need for understanding the standards, and to reduce the possibility of incorrect execution in the test as reduced as possible, when the material testings are carried out pursunat to various standards.例文帳に追加

各種規格に則った材料試験を行うに当たり、その規格を理解することなく、専門技術者でなくとも所要の試験を行うことができ、また、間違った試験を行う可能性を可及的に少なくすることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a test method not causing a security hole for a random number generating circuit in the case of testing/verifying the circuit with a constant initial value in a specific mode where the circuit using an initial value has not a constant value at application of power and after reset for the encryption and authentication processing.例文帳に追加

暗号、認証処理を行うため、電源投入やリセット後の初期値が一定でない値を使った乱数発生の回路において、特別なモードを設けて、初期値を一定にして回路のテスト/検証を行う際に、セキュリティホールにならないようなテスト方法を実現する。 - 特許庁

A special-purpose water sprinkler for spraying water to a vehicle body of an automobile is provided to a car washing machine body 1 so as to execute a water-spray testing action for spraying water from a water sprinkler to test leakage of water of an automobile separately from car washing operation with a car washing processing unit.例文帳に追加

洗車機本体１に自動車の車体に向けて水を吹き付ける専用の散水装置を備え、洗車処理装置による洗車動作とは別に、散水装置から散水して自動車の水漏れ検査を行う散水検査動作を実行可能にしたものである。 - 特許庁

To provide a running testing apparatus for a vehicle to continuously perform running test with fixed accuracy, by surely holding the tester at a lever part of a shape having a curved surface, a spherical surface, etc., while preventing an operating means from loosening with time, being displaced, being disconnected, etc.例文帳に追加

曲面や球面等を有する形状のレバー部に対して、操作手段の経時的な緩み、位置ずれ及び連結のはずれ等を防止して確実に保持し、一定精度で継続して走行試験を行うことができる車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To prevent damage to semiconductor elements and socket, by pressing leads and balls of the semiconductor elements to the connecting pins of the socket at a fixed depth, without changing carriers, even if the thickness of the semiconductor element is varied, and to provide a socket assembly for a semiconductor element test capable of improving the testing reliability.例文帳に追加

半導体素子の厚さが変わってもキャリア等を交替せず、半導体素子のリード又はボールをソケットの接続ピンに一定の深さで押圧して、半導体素子及びソケットの損傷を防止し、テスト信頼性を向上させる半導体素子テスト用のソケットアセンブリを提供する。 - 特許庁

When a command (positions of SW1-SW4) acquired at the time of switching on a power source is 1110, a sound source substrate is set in a test mode, and when the switches SW1-SW4 are made ON after commanded to start testing, they start to pronounce a scale corresponding to them.例文帳に追加

電源投入時に取得したコマンド（スイッチＳＷ１〜４のポジション）が１１１０であるとテストモードになり（Ｓ１０１：ＹＥＳ）、テスト開始のコマンド（Ｓ１０２：ＹＥＳ）の後、スイッチＳＷ１〜４がオンにされると（Ｓ１０３：ＹＥＳ）、それに対応する音階の発音を開始する（Ｓ１０４）。 - 特許庁

To provide a means by which wiring channel regions relating to signal distribution, quantity of buffers, FF, or the like, and the number of LSI pins can be reduced, and mounting to a chip can be facilitated, in a built-in type self test circuit (BIST) for testing a CAM-macro.例文帳に追加

ＣＡＭマクロをテストするための組み込み型自己テスト回路（ＢＩＳＴ）回路において、信号分配にかかわる配線チャネル領域、バッファ、ＦＦなどの物量およびＬＳＩピン数の削減を可能とし、チップへの実装を容易化する手段を提供するものである。 - 特許庁

This tester, used for testing the position indicator 100 for the control rod drive mechanism comprising a plurality of reed switches 201 provided at prescribed spaces, is equipped with a position indicator placing stand 300 for placing thereon the position indicator 100 in an operation checking test for the position indicator 100.例文帳に追加

所定間隔を置いて設けられた複数のリードスイッチ２０１を有する制御棒駆動機構用位置指示装置１００を試験する本発明の試験装置は、位置指示装置１００の動作確認試験時に、位置指示装置１００を設置する位置指示装置設置架台３００を備える。 - 特許庁

To provide a health management support system and a health management support method, capable of facilitating support of health management and a medical examination at home, exhaustively testing health condition of a person taking a test over a lot of items without exception, and performing it at low cost.例文帳に追加

在宅での健康管理、健康診断の支援を容易ならしめ、テストを受ける者の健康状態を網羅的に多数の項目にわたってもれなくテストし、しかもこれを低廉な費用で行うことのできる健康管理支援システム及び健康管理支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for electrically testing a semiconductor integrated circuit in a wafer state that enables a probe card terminal for a pad on a wafer to be manufactured collectively, can correspond with a plane arrangement, can be suspended independently, and can cope with a test under high- temperature conditions as the probe card.例文帳に追加

半導体集積回路をウエハ状態で電気的に試験するためのプローブカードにおいて、ウエハ上のパッドに対するプローブカード端子が一括で作製でき、平面配列に対応でき、独立懸架であり、なおかつプローブカードとして高温条件下の試験に対応できるものを提供する。 - 特許庁

By an operation PC, condition values of a plurality of testing conditions for evaluation test against the virtual vehicle composed of the simulator and a frame car which is the actual machine are set in the simulator (S200), and the value of the control parameter for controlling actuation of the virtual vehicle is set in an ECU of the frame car (S202).例文帳に追加

オペレーションＰＣは、シミュレータと実機部であるフレームカーとからなる仮想車両に対する評価試験用の複数の試験条件の条件値をシミュレータに設定し（Ｓ２００）、仮想車両の作動を制御するための制御パラメータの値をフレームカーのＥＣＵに設定する（Ｓ２０２）。 - 特許庁

A key mounting part allowing installation of a weight holding key is arranged in the weight of the shock testing machine, while in the vicinity of the lower end of a guide rail, a key supporting part supporting the weight holding key mounted in the key mounting part of the weigh is arranged in the upper part of a test piece housing box.例文帳に追加

衝撃試験機の重錘に、重錘保持キーを装着可能なキー装着部を設けるとともに、ガイドレールの下端近くで、かつ、試験片収納箱の上部に、重錘のキー装着部に装着した状態の重錘保持キーを支持するキー支持部を設ける。 - 特許庁

A heat generation speed by internal short-circuiting and/or thermal decomposition is converted into a function, based on a test result using a device for testing, a coefficient value contributing to a heat transfer speed is specified, and a heat balance expression is solved by using the heat generation speed converted into a function and the coefficient value, thus obtaining the temperature distribution.例文帳に追加

内部短絡及び／又は熱分解による発熱速度を試験用デバイスを用いた試験結果に基づいて関数化し、熱移動速度に寄与する係数値を特定し、関数化した発熱速度及び係数値を用いて熱収支式を解いて温度分布を求める。 - 特許庁

When an internal enable signal 13 is outputted from the PLL circuit 3 to the BIST circuit 5, a test at the actual operation speed is started, corresponding to the phase lock time of the PLL circuit mounted in each IC, thus preventing useless idle time during the self testing of function.例文帳に追加

ＰＬＬ回路３が内部イネーブル信号１３をＢＩＳＴ回路５に出力することにより、ＩＣ個々に搭載されるＰＬＬ回路の位相ロック時間に対応して実動作速度によるテストが開始されるので、自己機能テスト中に無駄な空き時間が発生しない。 - 特許庁

To provide a timer or the like for taking examination, capable of performing reexamination or correction of answers in a stage of the latter half of test time, while paying attention to the remaining time of a second unit by preparing the answers, while intuitively grasping a rough situation of progress, at the intermediate stage of the testing period.例文帳に追加

試験時間中盤の段階では大まかな進捗状況を直感的に把握しながら答案を作成でき、試験時間後半の段階では答案の見直しや修正を秒単位の残時間に気を配りながら行うこともできる受験用タイマー等を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.例文帳に追加

チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the accident caused by a high-pressure fluid by reducing the use amount of a fluid, which constitutes a special environment in a load test under the special environment to the utmost by effectively utilizing a conventional testing machine with a pressure-resistant chamber.例文帳に追加

特殊環境下での荷重試験を従来ある耐圧室付き試験機を有効に利用し特殊な環境を構成する流体の使用量を極力押さえるのみならず、高圧状態を耐圧室内において生じさせることで、高圧流体による事故を防止するものである。 - 特許庁

The gain Kact of the material testing machine 12 becomes very large under test conditions and in this case, an amplification factor for an analog sensor signal SSa inputted to an A/D converter 32 of the digital signal processor 16 is adjusted to adjust a loop gain Klp to an optimum value.例文帳に追加

試験条件によって材料試験機１２のゲインＫact が非常に大きくなることがあり、その場合に、ディジタル信号処理装置１６のＡ／Ｄコンバータ３２へ入力するアナログセンサ信号ＳＳａの増幅率を調節することで、ループゲインＫlpを最適値に調整する。 - 特許庁

To provide an induction noise bench testing device between two circuits capable of performing an induction noise test by reproducing simulatively a cabling environment so that detection of the optimum design condition of a cable wherein the influence of a crosstalk between mutual signal wires is suppressed to the utmost can be performed easily.例文帳に追加

信号線相互間のクロストークの影響を極力抑制したケーブルの最適化設計条件の探知が容易に行えるよう、ケーブリング環境を模擬的に再現して誘導ノイズ試験を行うことができる２回路間の誘導ノイズベンチ試験装置を提供する。 - 特許庁

In the ESD-testing device, a plurality of pogo pins are arranged into a matrix form, and an ESD test based on CDM is performed to LSI terminals connected to the selected pogo pins by a plurality of switches provided corresponding to the pogo pins.例文帳に追加

本発明のＥＳＤ試験装置は、複数個のポゴピンをマトリックス状に配置し、前記ポゴピンに対応させて設けられた複数のスイッチにより選択されたポゴピンに接続するＬＳＩの端子に対してＣＤＭに基づくＥＳＤ試験を行うことを特徴としている。 - 特許庁

Furthermore, it is necessary to provide information about hepatitis to examinees to ensure that all those tested understand their hepatitis test results, and all health care workers involved in hepatitis treatment should be provided with the opportunity to receive training to ensure they have up-to-date knowledge regarding hepatitis testing.例文帳に追加

さらに、肝炎ウイルス検査の結果について、受検者各自が正しく認識できるよう、肝炎の病態等に係る情報提供を行うとともに、肝炎医療に携わる者に対し、最新の肝炎ウイルス検査に関する知見の修得のための研修の機会を確保する必要がある。 - 厚生労働省

Thus, inter-task communication to synchronize devices is not needed any more, and because the time of the inter-task communication for one test cycle can drastically be reduced compared with the conventional testing method, data transfer quantity per unit time is increased and a high load can be given to the network.例文帳に追加

これにより、装置間の同期を取るためのタスク間通信の必要がなくなり、従来の試験方法と比較して、１テストサイクル中のタスク間通信の時間を大幅に減少させることができるので、単位時間あたりのデータ転送量が増加し、ネットワークに高い負荷を与えることができる。 - 特許庁

A control signal outputted to command a test from communication equipment arranged at the receiving point side of the communication path to be tested is received and decoded by an installation type testing device, and a control instruction corresponding to the control signal is transmitted to a communication controller arranged at a transmitting side.例文帳に追加

被試験通信路の受信ポイント側に配置された通信機から試験を指令するために発出された制御信号は、設置型試験装置により受信解読され、その制御信号に対応する制御命令が送信側に配置された通信制御装置に伝達される。 - 特許庁

To provide an aircraft actuator control device which can restrain an increase in the number of sensors while inhibiting a mechanism for testing the commissioning of a control system for controlling an actuator from becoming too complicated, and can improve reliability on the results of the test.例文帳に追加

センサ点数の増大を抑制できるとともに、アクチュエータを制御する制御系統の作動の検査を行うための機構が複雑化してしまうことを抑制でき、更に、検査結果の信頼性も向上させることができる、航空機アクチュエータの制御装置を提供する。 - 特許庁