「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

The scanning tester 10 for printed circuit boards capable of performing a test at a location with a tight space on a printed circuit board 16 can be three-dimensionally moved and includes a desktop robot 12 with a testing head 14 provided over the circuit board 16.例文帳に追加

プリント回路板１６上の間隔が密な試験位置を試験することができるプリント回路板用走査テスタ１０は、３次元で移動でき、回路板の上方に設けられた試験ヘッド１４を有しているデスクトップのロボット１２を含む。 - 特許庁

This method includes inserting test points into a circuit for reducing the number of specified bits required for transition fault testing of the circuit by reducing the dependency of a second time-frame pattern of the circuit on a first time-frame pattern of the circuit.例文帳に追加

方法は、回路の第１時間フレームパターンに対する回路の第２時間フレームパターンの依存性を減らすことによって回路の遷移故障試験に必要な指定されるビットの個数を減らすために回路に試験点を挿入することを含む。 - 特許庁

To obtain a hose-mounting tool in a hydraulic shock pressure-testing machine for easily changing the mounting angle of a hose, at the same time easily performing angle adjustment operation, and improving the accuracy of a hydraulic shock test.例文帳に追加

ホースの取付け角度の変更を容易に行うことが出来ると共に、角度調整作業も容易に行うことが出来、油圧衝撃試験の精度を向上させることが出来る油圧衝撃圧力試験機におけるホース取付け治具を提供する。 - 特許庁

To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which the probe can be touched to various semiconductor wafer with an appropriate pressing force.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、種々の半導体ウエハに対して、適切な押圧力によりプローブを接触させることができるようにする。 - 特許庁

To provide a transformation plastic coefficient testing device for measuring successively deformation of a test piece during a rapid cooling time by assuming rapid-cooling thermal treatment after heating a material, and identifying a transformation plastic coefficient from the deformation.例文帳に追加

材料を加熱した後に急速冷却する熱処理を想定し、急速冷却時の試験片の変形量を逐次測定可能とし、その変形量から変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving yield of a semiconductor device, and saving the labor and the time required from start until finish of an interface test of the semiconductor device even when an abnormality occurs.例文帳に追加

半導体デバイスの歩留まりの向上を図ることができるとともに、異常が発生したときにおいても半導体デバイスのインターフェーステストを開始してから終了するまでにかかる手間と時間とを省くことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an attachment for sockets capable of automatically adapting to the performance test of IC devices and increasing thermal radiation from IC devices while curving increases in size, and also to provide a semiconductor device testing apparatus having the same.例文帳に追加

本発明は、ＩＣデバイスの性能試験の自動化に対応することができ、また、サイズの大型化を抑制しつつ、ＩＣデバイスからの熱放出を高めることができるソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

A testing of yarns to test the accuracy of the description of count or length shall be made, in the first instance, up to the limit of one bundle in every one hundred bales or fractions of one hundred bales in a consignment.例文帳に追加

選択すべき見本の数番手又は長さについての表示の正確性を検査するための糸の試験については，第1試験段階において，託送品の各100梱包又は100梱包未満当たり1束を限度として，これを行わなければならない。 - 特許庁

When the machine type data of the given game machine is input, the processing part 322 of the game machine testing device 2 reads out the data possibly inputted corresponding to the machine type data from the memory 321 to present the types of the test data outputted from the game machine involved.例文帳に追加

遊技機試験装置２の処理部３２２は、所定の遊技機の機種データが入力されると、当該機種データに対応する入力可能データをメモリ部３２１から読み出して、当該遊技機から出力される試験データの種類を提示する。 - 特許庁

iv) Description of flight and date and time of the relevant flight (Flight altitude in the civil training and testing area as well as the planned time to enter the civilian training and test air space and the planned time to leave the relevant air space shall be clarified. 例文帳に追加

四　飛行の内容及び当該飛行を行う日時（民間訓練試験空域における飛行高度並びに民間訓練試験空域への入域の予定時刻及び当該空域からの出域の予定時刻を明らかにすること。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an apparatus and a method by which every worker can produce a test piece having uniform quality without influence of his habitude and skillness, and bulk characteristics of material itself can be measured universally and objectively while suppressing increases of testing labor, time and cost.例文帳に追加

作業者の癖や熟練度に左右されず、誰でも容易に均一な品質の試験片を作製することができ、試験に必要な労力、試験時間、コストの増加を抑え、材料自体のバルク特性を示す普遍的で客観的な測定を行う。 - 特許庁

The material testing apparatus applies compressive and tensile loads to the material test piece 14 by means of a loading device 13, with the load of the loading device being controlled to follow a desired value Ei transmitted from a desired load signal generating part 2.例文帳に追加

材料試験装置は、荷重負荷装置（１３）で材料試験片（１４）に圧縮・引張荷重を加えるとともに、この荷重負荷装置の負荷が、目標負荷信号発生部（２）からの目標値（Ｅｉ）に追従する様に制御されている。 - 特許庁

To provide an inspection method of an integrated circuit capable of surely testing a logic circuit in a short test time with a simple structure by applying it particularly to an integrated circuit of a large-scale logic circuit, in relation to a scan path circuit, an integrated circuit and an inspection method of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、スキャンパス回路、集積回路及び集積回路の検査方法に関し、特に大規模論理回路の集積回路に適用して、簡易な構成により短いテスト時間で論理回路を確実にテストすることができるようにする。 - 特許庁

The sensors are elongate test strips 32 for in vitro testing, each having a substrate 34, at least one electrode 42, 44, an embossed channel 54 in the electrode, and lidding tape 38 covering at least a portion of the embossed channel 54.例文帳に追加

センサは、インビトロ試験のための細長い試験ストリップ３２であり、基板３４と、少なくとも１つの電極４２、４４と、電極内にエンボス加工されたチャネル５４と、エンボス加工されたチャネル５４の少なくとも一部分をカバーする蓋テープ３８とを含む。 - 特許庁

Also, the yield can be improved by testing by using optimum stress applying voltage and discrimination voltage in accordance with internal generation voltage characteristics in a test method of a nonvolatile semiconductor memory in which the gate voltage of a memory cell is generated internally in read-out.例文帳に追加

また、読み出し時にメモリセルのゲート電圧が内部生成される不揮発半導体記憶装置の検査方法においては内部生成電圧特性に応じた最適なストレス印加電圧と判定電圧で検査することで歩留り向上が図れる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which an influence of phase noise of a sampling clock on transfer characteristics of a DAC and an ADC can be detected and the quality of a loop-back test can be improved, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加

サンプリングクロックの位相ノイズがＤＡＣおよびＡＤＣの変換特性に与える影響を検出することができ、ループバックテストのテスト品質を向上させることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

(2) A notifying manufacturing business operator who intends to take the test set forth in the preceding paragraph shall, pursuant to the provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, submit a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents to said designated verification body. 例文帳に追加

２　前項の試験を受けようとする届出製造事業者は、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を当該指定検定機関に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a built-in self test (BIST) network using a hierarchy of a universal BIST scheduler (UBS) for scheduling and coordinating testing of elements such as regular structure BIST (RSB) elements and random logic BIST (RLB) elements.例文帳に追加

規則構造組込み自己テスト（ＢＩＳＴ）（ＲＳＢ）要素およびランダム・ロジックＢＩＳＴ（ＲＬＢ）要素などの要素のテストをスケジューリングし、調整するためのユニバーサルＢＩＳＴスケジューラ（ＵＢＳ）の階層を使用したＢＩＳＴネットワークを提供すること。 - 特許庁

TEST METHOD OF INTEGRITY OF GPS MEASURING, ERROR DETECTION METHOD IN SPECIAL VEHICLE, MAPPING METHOD AND SYSTEM OF GPS MULTIPATH LEVEL, AND SYSTEM INSTALLED IN VEHICLE FOR TESTING INTEGRITY OF GPS MEASURING例文帳に追加

ＧＰＳ測定の完全性の検査方法及び特定の車両におけるエラー検出方法及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピング方法及びＧＰＳ測定の完全性を検査するために車両内に設けられているシステム及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピングシステム - 特許庁

To provide an EL panel and a pixel current testing method that realize a contactless test of a pixel current that a current driving transistor of a pixel circuit constituting the EL panel outputs without requiring any special inspecting device.例文帳に追加

ＥＬパネルを構成する画素回路において電流駆動トランジスタが出力する画素電流のテストを非接触で特別な検査装置を要せず実現可能とするＥＬパネル及び画素電流テスト方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

The servo information writing device includes a testing device 10 for performing test processing to select a proper servo pattern as servo information among the plurality of types of servo patterns recorded beforehand on a disk medium 2 incorporated in a disk drive 1.例文帳に追加

サーボ情報書込み装置は、ディスクドライブ１に組み込まれたディスク媒体２上に予め記録された複数種類のサーボパターンから、適正なサーボパターンをサーボ情報として選択するための検査処理輪実行する検査装置１０を含む。 - 特許庁

To provide an apparatus capable of arranging a plurality of device measuring apparatuses made of BOST (Built-Off Self-Test) boards etc. in the vicinity of a device to be measured and highly accurately testing a large number of circuits mixed onto a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

被測定デバイス近傍にＢＯＳＴボードなどからなる複数のデバイス測定装置を置くことができ、半導体集積回路に多数混載された回路の高精度な試験を行うことができる半導体集積回路の試験装置を提供する。 - 特許庁

An input signal generating circuit 23 for the test is provided further to set optionally an L level and an H level when testing an LSI, and a signal therein and the output signal S1 are switched by the third selector 19 to be connected to an input of the first boundary scan register.例文帳に追加

ＬＳＩテスト時に任意にＬとＨを設定できるテスト用入力信号生成回路２３を更に備え、その信号と出力信号Ｓ１を第３のセレクタ１９により切り替えて、第１のバウンダリスキャンレジスタの入力に接続する。 - 特許庁

To provide an electro-optical device and its test method, and electro-optical equipment, for easily testing an auxiliary wiring line at a low cost, and displaying a clear image for a long period of time without causing faults such as lighting unevenness.例文帳に追加

補助配線の検査を簡便かつ低コストにて行うことができ、点灯ムラ等の不具合が生じる虞が無く、鮮明な画像を長時間表示することができる電気光学装置及びその検査方法並びに電子機器を提供する。 - 特許庁

The testing apparatus (100) of a test transceiver (20) comprises a transmitter (130) for transmitting a signal in a first state, a receiver (140) for receiving a signal in a second state, and an electrical power coupler (120) for connecting the transmitter (130) to the receiver (140).例文帳に追加

第１の状態において信号を送信する働きをするトランスミッタ(130)と、第２の状態において信号を受信する働きをするレシーバ(140)と、前記トランスミッタ(130)を前記レシーバ(140)に接続する電力結合器(120)とを含む、試験トランシーバ(20)の試験装置(100)。 - 特許庁

To provide a device and a method for a band torsional endurance test capable of reproducing a load generated when a band is attached to one part of a body, and capable of testing a state generated in the band.例文帳に追加

バンドを体の一部に装着した際に起こる負荷を可能な限り再現することができ、バンドに如何なる状況が生じ得るかを試験することのできるバンド捻り耐久試験用装置およびバンド捻り耐久試験方法の提供。 - 特許庁

* As for Priority 2, if the animal test was performed by the testing method shown below, the ratio of sensitized animals is clear, and the substance is concluded as positive in skin sensitization, then the substance shall be classified as Category 1.例文帳に追加

※ Priority2 については、下記に示される試験方法で実施されており、かつ感作された動物の比率が明確で、皮膚感作性が陽性であると結論づけている場合は、区分 1 とする。それ以外の場合は、試験を実施していても、「分類できない」とする。 - 経済産業省

To provide a display device which has a test circuit, having high accuracy of testing, after a counter substrate jointing stage and before shipment, and a display device which has a correction circuit in itself, when there is a defect.例文帳に追加

対向基板貼り合わせ工程後及び出荷前検査において、確度の高い検査回路を有する表示装置、また不良が発生した場合の表示装置内部における補正回路を具備する表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

In this semiconductor testing device equipped with the sequence control circuit for controlling sequence of a pattern generation command described in a program, the sequence control circuit decodes a part of a sequence control command just before execution of a test.例文帳に追加

プログラムに記述されたパターン発生命令のシーケンスを制御するシーケンス制御回路を備えた半導体試験装置において、前記シーケンス制御回路は、シーケンス制御命令の一部のデコードをテスト実行直前に行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a biaxial tensile testing device capable of tensile test in four directions along two axes intersecting with each other at right angles by a monoaxial tensile testing machine, performing its tensile motions synchronously in the four direction, and eliminating the need for complicated alignment along the four directions of the two axes as in a mechanism using four oil hydraulic cylinders.例文帳に追加

単軸の引張試験機によって直交する二軸に沿った四方向への引っ張り試験が可能となり、かつその引っ張り動作を四方向について互いに同期させて行うことができるとともに、従来のような、４台の油圧シリンダを用いた機構のように二軸の四方向に沿う面倒な軸合わせが不要となる二軸引張試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize a light-weight testing apparatus, capable of executing a continuous test to be tested easily by forming and reproducing projection parts formed by simulating a rough road surface by many kinds of programmed extensible/retractable modes of protruding portions on actuators installed on rotating drum mechanisms parts, in a rough road running testing device formed by simulating rough road surface encountered by a vehicle while running.例文帳に追加

車両が走行中に遭遇する悪路面をシュミレーションした悪路走行試験装置において、悪路面を模擬した凸部を、回転ドラム機構部に設けたアクチュエータの突起部のプログラミングされた幾種類もの伸縮モードで形成して再現することにより、軽量で試験に手間のかからない連続試験ができる試験装置を実現することを課題とする。 - 特許庁

To provide an elastic wave sensing device which can detect Arm Electronics (AE) generated from a testing object of outdoor ground by installing optical fibers in the testing object or, for the tesing object preserving liquid, directly immersing it in the liquid, while reducing any affect from extraneous noise to enhance accuracy in detection of AE and also safely achieving integrity test of a combustibles storage container.例文帳に追加

光ファイバを屋外地上の被検査対象物に設置したり、液体を貯蔵する被検査対象物には液体中に直接浸漬して、被検査対象物から発生するＡＥを検出すると共に、外来ノイズの影響を低減してＡＥの検出精度高め、且つ可燃物貯蔵容器の健全性検査を安全に行うことが可能な弾性波検出装置を提供する。 - 特許庁

A diagnostic system for testing a device to be tested, based on the test program selected among the plurality of constitutional components may comprise: a function extraction part for extracting the constitutional components to be used for testing the objective device; and a diagnostic part for diagnosing each constitutional components extracted by the function extracting part.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置を診断する診断装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムに基づいて、試験装置の複数の構成要素のうち、被試験デバイスの試験に用いる構成要素を抽出する機能抽出部と、機能抽出部が抽出したそれぞれの構成要素を診断する診断部とを備える診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for test analysis that can automatically find out an optical testing condition to identify a cause of failure, even if a plurality of causes of failure coexist and are provided with new quantitative means and method that are hard to be affected by correlation between testing conditions and failure density and skill of an analyst.例文帳に追加

複数の不良原因が混在している場合でも、不良原因を識別するのに最適な検査条件を自動的に求めることができ、更に検査条件と不良密度との相関に加え、解析者の熟練度に影響を受けにくい新しい定量的な不良原因の識別手段及び方法を備えた検査解析装置及び方法を提供する。 - 特許庁

After the NG is generated, the function tests are repeated until the number of NGs in the testing-objective chip comes to the first prescribed number, processes hereinbefore are repeated starting from executions of the edge search when the number of NGs exceeds the first prescribed number, and the testing- objective chip is regarded as a defective to finish the test when the number of NGs reaches to the second prescribed number.例文帳に追加

ＮＧが発生すると試験対象チップにおけるＮＧの回数が第１の所定回数になるまではファンクション試験を繰り返し行ない、ＮＧの回数が第１の所定回数を超えると、上述の工程をエッジサーチ実行から繰り返し、ＮＧの数が第２の所定回数に達すると、試験対象チップを不良品とみなし試験を終了する。 - 特許庁

This system changeover test system for the duplex system having an active-system and a standby-system information processor has: a testing communication adapter different from a communication adapter performing communication in time of normal changeover generation inside the single information processor; and a system changeover control means performing the active-system or the standby-system changeover communication processing in a pseudo manner through the testing communication adapter.例文帳に追加

運用系と待機系の情報処理装置を持つ二重化システムの系切替試験システムにおいて、１台の情報処理装置内に通常切替発生時に通信を行う通信アダプタとは別の試験用通信アダプタと、その試験用通信アダプタを介して、運用系または待機系の切替通信処理を擬似的に行う系切替制御手段を有する。 - 特許庁

This automatic testing system 10 for a receiver device 20 for receiving a positioning signal has a simulation signal generating means for generating a simulation signal transmitted to the receiver device 20, based on a signal generation scenario, and a control means 44 for controlling the simulation signal generating means and the receiver device 20, based on an automatic test scenario, and for securing time synchronization as the whole automatic testing system.例文帳に追加

測位用信号を受信する受信装置２０の自動試験システム１０であって、受信装置２０に送信する模擬信号を信号生成シナリオに基づいて生成する模擬信号生成手段と、模擬信号生成手段及び受信装置２０を自動テストシナリオに基づいて制御し、かつ、自動試験システム全体の時刻同期を確保する制御手段４４と、を有する。 - 特許庁

A dicing substrate 30 for test which is used for testing a semiconductor wafer includes: a main body portion 31; thin portions 321 and 322 extending from the main body portion 31 and being relatively thinner than the main body portion; and a bump 33 provided in the thin portions 321 and 322.例文帳に追加

半導体ウェハの試験に用いられる試験用個片基板３０は、本体部３１と、本体部３１から延在すると共に、本体部よりも相対的に薄い薄肉部３２１，３２２と、薄肉部３２１，３２２に設けられたバンプ３３と、を備えている。 - 特許庁

An MPU 8 watches the state of an ejecting button 5 under the condition that a test compact disk is not loaded at startup, and when it is detected that the ejecting button 5 is pushed continuously or multiply within a prescribed period of time, the optical disk device 1 is laid under a testing operation.例文帳に追加

ＭＰＵ８は起動時にテスト用のコンパクトディスクが搭載されていない状態でイジェクト釦５の状態を監視し、所定時間内に連続又は多重にイジェクト釦５が押されたことが検出されると、光ディスク装置１は試験動作状態となる。 - 特許庁

To provide a probe card capable of testing the electrical property of an object under test correctly by contacting all the probe pins surely corresponding electrode pads when overdriven, without damage of probe pins and semiconductor elements, even when the object, such as an IC chip, is integrated highly and grown in size.例文帳に追加

ICチップ等の被検査体が高集積化、大型化しても、プローブピンや半導体素子が損傷を受けることなく、オーバードライブ時に全てのプローブピンを対応する電極パッドに確実に接触させて、被検査体の電気的特性の検査を正確に行うこと。 - 特許庁

The hot-cold shock testing device includes first control means for stopping at least one of the refrigerator, the first heater and the second heater to start a test interruption before starting the next hot-cold cycle operation after the end of the high temperature exposure state.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置は、高温さらし状態が終了した後、次の冷熱サイクル動作を開始する前に、冷凍機、第１加熱器および第２加熱器のうちの少なくとも１つを停止させて試験の中断を開始する第１制御手段を備える。 - 特許庁

A continuity inspection display unit 33 is arranged and a person in charge confirms that the prize winning sensor is connected by displaying the number of prize winning balls (1, 2, etc.), which enter prize winning ports in the unit 33 for testing in a test mode.例文帳に追加

導通検査用表示器３３を配置し、テストモードのときは、導通検査用表示器３３にテストのために入賞口に入れた球の入賞球数を表示（例えば、１、２・・・）することで、係員は該当の入賞センサが導通していることを確認する。 - 特許庁

This site work managing method performs test measurement and construction management by carrying an automobile mounted with the testing apparatus for measuring properties and an environmental condition of various building materials or civil engineering materials and its display apparatus in the construction site or the civil engineering site.例文帳に追加

本発明の現場施工管理方法は、各種建築材料又は土木材料の性状、環境条件を計測する試験機器及びその表示機器を搭載した自動車を建築現場又は土木現場に搬入し、試験測定及び施工管理を行う。 - 特許庁

After finish of the test, the lifting stand 20 on which the right and left tires A, A are placed is lifted, while keeping the balance in the approximately horizontal state, and the right and left tires A, A are allowed to get out from between the pair of front-and-rear testing rollers 3, 3 journaled on the right and left upper faces.例文帳に追加

試験終了後において、左右タイヤＡ，Ａが乗せられた昇降台２０を略水平状態にバランスを保ちながら上昇動作させ、左右タイヤＡ，Ａを、左右上面に軸受された前後一対の試験ローラ３，３間から脱出させる。 - 特許庁

Namely, the displacement detector 60 detects the moving amount of the load transmission shaft 36 to measure the amount (recessed depth) of an indenter 21 which is connected to a distal end of the load transmission shaft 36, being pushed in with a test piece 100 by applying the testing force.例文帳に追加

すなわち、この変位検出器６０は、負荷伝達軸３６の移動量を検出することで、負荷伝達軸３６の先端に接続された圧子２１が、試験力が与えられたことにより試験片１００に押し込まれた量（くぼみ深さ）を計測している。 - 特許庁