「test testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

The testing device 31 for the arbitration circuit 9 has an access test register 22 which falsely outputs an access type INST [2:0] to be output by a look-ahead mechanism control circuit 7 to an arbitration control circuit 9 when the CPUs 2, 3 access ROMs 5, 6.例文帳に追加

調停制御回路９のテスト装置３１によれば、アクセステストレジスタ２２は、ＣＰＵ２，３がＲＯＭ５，６に対して夫々アクセスを行う場合に、先読み機構制御回路７により調停制御回路９に対して出力されるアクセスタイプＩＮＳＴ［２：０］を夫々擬似的に出力する。 - 特許庁

The soil pollutant elution testing method measures the quantity of a soil pollutant elution from a solid sample by implementing an elution test for eluting a soil pollutant from the solid sample containing the soil pollutant into water, and implements a cycle test includes at least one drying process for drying the solid sample and one moistening process for moistening the solid sample before the elution test.例文帳に追加

土壌汚染物質が含有されている固体試料から前記土壌汚染物質を水中に溶出させる溶出試験を実施することにより前記固体試料からの土壌汚染物質溶出量を測定する土壌汚染物質溶出試験方法であって、前記固体試料を乾燥させる乾燥過程と、前記固体試料を加湿する湿潤過程とが少なくとも１回ずつ実施されるサイクル試験を前記溶出試験前に実施することを特徴とする土壌汚染物質溶出試験方法による。 - 特許庁

The module for testing comprises a test substrate having a bonding pad; the semiconductor device arranged on the test substrate; an anisotropic conductive sheet having conductivity only in the thickness direction in contact with the electrode of the semiconductor device; and a metal wire whose one end is connected to the bonding pad and whose the other end is connected to the anisotropic conductive sheet in a region for covering the electrode.例文帳に追加

ボンディングパッドを有する試験基板と、前記試験基板の上に配置された半導体装置と、前記半導体装置の電極に接触して厚さ方向にのみ導電性を有する異方性導電シートと、前記ボンディングパッドに一端が接続され、前記電極を覆う領域において前記異方性導電シートと他端が接続された金属ワイヤとを有することを特徴とする試験用モジュールによって解決する。 - 特許庁

The testing device of the semiconductor integrated circuit includes a first waveform generator 1a for supplying a first test clock generated by masking an optionlal clock pulse of a clock having a first frequency to a first clock domain and a second waveform generator 1b for supplying a second test clock generated by masking an optional clock pulse of a clock having a second frequency to a second clock domain.例文帳に追加

本発明にかかる半導体集積回路の試験装置は、第１の周波数を有するクロックの任意のクロックパルスをマスクすることで生成された第１のテストクロックを第１のクロックドメインに供給する第１の波形生成器１ａと、第２の周波数を有するクロックの任意のクロックパルスをマスクすることで生成された第２のテストクロックを第２のクロックドメインに供給する第２の波形生成器１ｂと、を備える。 - 特許庁

When the gradation voltage test of the semiconductor device having the liquid crystal driving circuit is performed, a gradation voltage (Vx) generated by the gradation voltage generation circuit 16 of the semiconductor device is compared with a comparison voltage (for example, Vx+ΔV) generated for testing the gradation voltage, and a test result is outputted as a binary voltage from the external terminal of the semiconductor device.例文帳に追加

液晶駆動回路を有する半導体装置であって、半導体装置の階調電圧試験時に、半導体装置の階調電圧生成回路１６で生成された階調電圧（Ｖｘ）と階調電圧を試験するために生成された比較電圧（例えばＶｘ＋ΔＶ）とを比較し、試験結果を２値電圧として半導体装置の外部端子から出力することを特徴とする。 - 特許庁

This semiconductor testing device having a constitution wherein a prescribed test pattern is applied from a PE card to the DUT, and a pattern outputted from the DUT corresponding to the test pattern is compared with an expected value pattern, and coincidence of the patterns is detected, has a fail control means for summarizing fail information of the DUT input through the PE card relative to each DUT, and transferring it to the PE card.例文帳に追加

ＰＥカードからＤＵＴに所定のテストパターンを印加し、ＤＵＴからテストパターンに応じて出力されるパターンを期待値パターンと比較してこれらパターンの一致の有無を検出するように構成された半導体試験装置において、ＰＥカードを介して入力されるＤＵＴのフェイル情報をＤＵＴごとに集約してＰＥカードへ転送するフェイル制御手段を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

A server computer 110 is provided with a receiving means receiving information produced in the testing institution 3 from the terminal computer 110, a storage means registering the received information from the client 2 of the test in a perusal incapable state, and a disclosure means storing the information in a perusal capable state from the client 2 of the test based on a disclosure instruction of the terminal computer 31 specifying the information.例文帳に追加

サーバコンピュータ１１０は、端末コンピュータ３１から、試験機関３で発生する情報を受信する受信手段と、受信した情報を試験の依頼者２から閲覧不可能な状態で登録する記憶手段と、情報を指定した端末コンピュータ３１からの開示指令に基き、この情報を試験の依頼者２から閲覧可能な状態で記憶手段に格納する開示手段を備える。 - 特許庁

The testing method comprises the means of outputting a 1st test control signal from a tester to the IC chip; conducting test by each IC chip using an asynchronized method; outputting a 2nd result request signal from the voltmeter to the IC chip, after outputting the 1st control signal and following a prescribed time interval; and making all the chips to respond synchronously when the 2nd control signals are received.例文帳に追加

その方法は、集積回路チップに対してテスタ側で第１の試験制御信号を送出し、各集積回路チップによって試験を非同期化された方法で実行させ、前記第１の制御信号の送出に続く所定の時間間隔の後、集積回路チップへ第２の結果要求制御信号をテスタ側で送出し、前記第２の制御信号を受信すると、すべてのチップを同期して応答させる手段を含む。 - 特許庁

Further, the invention is a method for treating a test object including neoplastic cells refractory to the chemotherapeutic agent and the method comprises step (a) wherein an effective amount of the reovirus is administered to the testing body under the conditions causing the infection of the neoplastic cells, and step (b) wherein an effective amount of the chemotherapeutic reagent is administered to the test object.例文帳に追加

増殖性障害を有する被験体を処置する方法であって、上記被験体が化学療法薬剤に対して不応性である新生物細胞を含み、上記方法が：（ａ）レオウイルスによる新生物細胞の感染が生じる条件下で、有効量の上記レオウイルスを上記被験体に投与する工程；および、（ｂ）有効量の化学療法薬剤を上記被験体に投与する工程、を含む、方法。 - 特許庁

A testing resistor 206 is connected to a resistor 104 constituting a bridge circuit 1a of a thermal resistance flowmeter 1 with a thermal resistance 101, thereby changing the control condition of a current flowing in the bridge circuit 1a to vary the heating temperature of the thermal resistance 101, so as to artificially create a condition of the thermal resistance flowmeter 1 during measuring of a fluid under test, in a test fluid.例文帳に追加

熱抵抗体１０１とともに熱抵抗体流量計１のブリッジ回路１ａを構成する抵抗器１０４に試験用の抵抗器２０６を接続して、ブリッジ回路１ａに流れる電流の制御条件を変更することで、熱抵抗体１０１の加熱温度を可変とし、試験流体の元で、被計測流体を計測中の熱抵抗体流量計１の状態を擬似的につくりだすようにする。 - 特許庁

The semiconductor testing device performs a semiconductor test on a wafer where a circuit corresponding to a plurality of chips is formed, and is provided with a semiconductor testing implementation section 131 that performs a predetermined measurement while sequentially changing positions of chips contained in one wafer, and a self-diagnosis implementation section 134 when measurement results obtained by the section 131 on a predetermined number of chips continuously failed to satisfy the provided certain criteria.例文帳に追加

半導体試験装置は、複数のチップに対応する回路が形成されたウエハに対して半導体試験を行うものであり、一のウエハに含まれるチップの位置を順番に切り替えながら所定の測定を実施する半導体試験実行部１３１と、半導体試験実行部１３１による測定結果が所定数のチップについて連続してフェイルとなったときに、自己診断を実施する自己診断実行部１３４とを備えている。 - 特許庁

(xxv) Vibration test equipment or components thereof, wind tunnels, combustion test equipment, environmental test equipment, electron accelerators or equipment using those (limited to those usable in the development or testing rockets or unmanned aerial vehicles capable of transporting payloads weighing 500 kilograms or more for 300 kilometers or more, goods (limited to those usable for rockets capable of transporting payloads weighing 500 kilograms or more) falling under item (ii) (a), goods falling under item (ii), (b)) and that fall under any of the following 例文帳に追加

二十五　振動試験装置若しくはその部分品、風洞、燃焼試験装置、環境試験装置又は電子加速器若しくはこれを用いた装置（それぞれ五〇〇キログラム以上のペイロードを三〇〇キロメートル以上運搬することができるロケット若しくは無人航空機、第二号イに該当する貨物（五〇〇キログラム以上のペイロードを運搬することができるロケットに使用することができるものに限る。）又は同号ロに該当する貨物の開発又は試験に用いることができるものに限る。）であって、次のいずれかに該当するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

This manufacturing method comprises a step of preparing wafer, having polysilicon pads 15 formed along scribe lines 21, a step of electrically testing the wafer by contacting a test needle for measuring test elementary groups to the pads 15, a step of dicing the wafer by a dicing blade to form a plurality of semiconductor chips 22, 23 and a step of mounting the semiconductor chips on a tape carrier package.例文帳に追加

本発明に係る半導体装置の製造方法は、スクライブライン２１にポリシリコンパッド１５が形成されたウエハを準備する工程と、ポリシリコンパッド１５にＴＥＧ測定のための測定用針を接触させてウエハの電気的な試験を行う工程と、ダイシングブレードを用いて前記ウエハをダイシングすることにより、複数の半導体チップ２２，２３を形成する工程と、前記半導体チップにＴＣＰ実装を行う工程と、を具備するものである。 - 特許庁

(3) When submitting an application set forth in the preceding paragraph, a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents shall, pursuant to provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, be attached thereto; provided, however, that this shall not apply to the case where the applicant who intends to obtain an approval set forth in paragraph 1 with regard to a type of specified measuring instrument which has passed the test set forth in Article 78, paragraph 1 has attached a document certifying that the specified measuring instrument has passed said test. 例文帳に追加

３　前項の申請書には、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を添えなければならない。ただし、第七十八条第一項の試験に合格した特定計量器の型式について第一項の承認を受けようとする場合において、当該試験に合格したことを証する書面を添えたときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In this semiconductor testing device provided with a docking block, which is to be connected to a performance board and mounted to a handler base plate or the performance board, and a test socket mounted to the docking block, a docking plate for mounting the test socket is arranged, while a plate type docking base having a fitting hole, into which the docking plate is inserted and fitted, is arranged in the docking block.例文帳に追加

パフォマンスボードに接続されハンドラーベースプレートあるいは前記パフォマンスボードに取付けられるドッキングブロックと、このドッキングブロックに取付けられるテストソケットとを具備する半導体テスティング装置において、前記テストソケットが取付けられるドッキングプレートと、このドッキングプレートが挿入嵌め合わされて取り付けられる嵌合孔を有する板状のドッキングベースとを有するドッキングブロックを具備したことを特徴とする半導体テスティング装置である。 - 特許庁

The ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesives comprise 50 mass % to less than 100 mass %, based on the entire composition, acrylic photopolymerizable monomer which does not foam in the foaming test according to a specific foaming testing method and, simultaneously, has a viscosity of the entire composition of ≤50 mPa.s (25°C).例文帳に追加

特定の発泡性試験法で発泡性試験を行っても発泡しないアクリル系光重合性モノマーを組成物全体に対して５０質量％以上１００質量％未満含有するとともに、組成物全体の粘度が５０ｍＰａ・ｓ（２５℃）以下であるＵＶ硬化型感圧接着剤により課題を解決できる。 - 特許庁

This method for testing the cytotoxicity comprises evaluating toxicity of a test object based on the toxicity to an established cell line derived from a sturgeon, wherein a STIP-1 cell line (FERM P-18909) or a STIP-3 cell line (FERM P-18910) is exemplified as the suitable established cell line derived from the sturgeon.例文帳に追加

本発明は、チョウザメ由来の株化細胞に対する毒性に基づいて被検物質の毒性評価を行う細胞毒性試験方法であり、好適なチョウザメ由来の株化細胞としては、ＳＴＩＰ−１細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９０９）とＳＴＩＰ−３細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９１０）が挙げられる。 - 特許庁

To enable a test signal generating device and a testing method of a video apparatus to detect even an abnormal state at a black level side in a luminance signal processing circuit, a color signal processing circuit or the like when applied to the distortion detection of color signal and the level adjustment of a color signal or the like by visual inspection.例文帳に追加

本発明は、テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法に関し、目視による色信号の歪み検出、色信号のレベル調整等に適用して、輝度信号処理回路、色信号処理回路等における黒レベル側の異常についても検出することができるようにする。 - 特許庁

To provide an Ethernet (R) transmission apparatus which can accurately decide the normality of a line quality monitoring function so that the number of pseudo line error codes inserted for a test coincides with an error count value during error count period of the function, and also to provide a method for testing the function of the apparatus.例文帳に追加

イーサネット（登録商標）伝送装置及びその回線品質監視機能の試験方法に関し、試験用に挿入した擬似回線エラーコードの個数と、回線品質監視機能におけるエラーカウント期間のエラーカウント値とが一致するようにし、回線品質監視機能の正常性の正確な判定を可能にする。 - 特許庁

The test system for testing the radio base station apparatus is equipped with: the pseudo MSes simulating cellular phones; a pseudo RNC simulating a base station controller; a means for controlling the pseudo MSes, the pseudo RNC and the radio base station apparatus and acquiring a prescribed measurement result; and a means for analyzing the measurement result.例文帳に追加

無線基地局装置を試験する試験システムにおいて、携帯電話機を模擬した擬似ＭＳと、基地局制御装置を模擬した擬似ＲＮＣと、前記擬似ＭＳ、前記擬似ＲＮＣ、及び前記無線基地局装置を制御し、所定の測定結果を取得する手段と、前記測定結果を解析する手段とを備えた。 - 特許庁

The present invention utilizes the nonvolatile ferroelectric memory to program a test mode and data pin arrangement and rearranges an address, a control signal and a data pin arrangement state in a software manner according to a programmed code, thereby accurately testing the characteristics of the cell array without requiring another process.例文帳に追加

このため、本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用してテストモード及びデータピンの配置をプログラムし、プログラムされたコードに従いソフトウェア的にアドレス、制御信号及びデータピンの配置状態を再調整することにより、別途のプロセスなくセルアレイの特性を正確にテストすることができるようになる。 - 特許庁

The rolling testing device 1 includes a yarn-hooking body 2 having a curved yarn contact surface, a clamp 3 which fixes one side of a bundle spun yarn Y having the yarn hooked on the yarn-hooking body 2, a tension giving member 4 for giving tension to the bundle spun yarn Y during the rolling test.例文帳に追加

転がり試験装置１は、湾曲した糸接触表面を有する糸掛け体２と、この糸掛け体２に糸掛けされた結束紡績糸Ｙの片側を固定するクランプ部３と、転がり試験中に上記の結束紡績糸Ｙに対して張力を付与するための張力付与部４と、を備える。 - 特許庁

When a transmission source MAC address of the test frame (a) in each of learning tables T1 to T4 of respective MAC bridging apparatuses is learned by a port which is not a port direction nearest to the testing apparatus 6 logically from a MAC bridging apparatus, the loop generating direction judgment apparatus judges the loop exists in the direction.例文帳に追加

該ループ発生方向判定装置は、各MACブリッジング装置の学習テーブルＴ１〜Ｔ４における試験フレームの送信元MACアドレスが、そのMACブリッジング装置から見て論理的に試験装置６に最も近いポート方向ではないポートに学習されている場合に、その方向にループがあると判定する。 - 特許庁

To materialize composite cycle testing equipment provided with a solution supplying and recovering mechanism of an atomizing solution capable of preventing not only the variation of the pH and concentration of the atomizing solution used in an atomizing test but also the freezing of the atomizing solution even at a low temperature without bringing about an increase in cost and the leak of the atomizing solution.例文帳に追加

この発明は、コストの上昇や溶液漏れを招くことなく、噴霧試験に使用される噴霧溶液のｐＨ、濃度の変動を防止すること、および低温でも噴霧溶液の凍結を防止することができる噴霧溶液の溶液補給回収機構を設けた複合サイクル試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide an elution testing method for measuring an elution amount of a component eluted from a steel making slag with a reduced elution time, and for obtaining a measurement result of the elusion amount sufficient to primary decision for a use of a slag product with respect to correlation with an elution test result by an official method and to reproducibility of the measurement result.例文帳に追加

製鋼スラグから溶出する成分の溶出量を測定する溶出試験方法において、溶出時間を短縮し、かつ、公定法による溶出試験結果との相関及び測定結果の再現性がスラグ製品の用途の一次決定に利用するのに十分な程度である溶出量の測定結果を得る。 - 特許庁

To provide a seal mechanism which makes seal mechanisms at both ends of a fuel cladding tube have wide gaps so as to be remotely controlled when attaching the fuel cladding tube to a testing machine by remote control, and capable of closing the gaps and allows the slide of the fuel cladding tube on a sealing surface at the time of a high-temperature and a high-pressure test.例文帳に追加

燃料被覆管を遠隔操作により試験機に装着する際は、燃料被覆管の両端部のシール機構は遠隔操作が可能なように広い間隙を有し、高温高圧試験時には当該間隙が閉じるとともにシール面での燃料被覆管の摺動を許容するシール機構を提供する。 - 特許庁

To make checkable the connection state of each input/output terminal of a semiconductor integrated circuit loaded on a substrate without using a dedicated testing device, and to make testable the operation of the semiconductor integrated circuit by inputting a prescribed test pattern into each input/output terminal of the semiconductor integrated circuit loaded on the substrate.例文帳に追加

専用のテスト装置を用いずに、基板上に搭載された半導体集積回路の各入出力端子の接続状態をチェックすることができ、基板上に搭載された半導体集積回路の各入力端子に所定のテストパターンを入力し、半導体集積回路の動作をテストすることができるようにする。 - 特許庁

This tension testing device is attached to an inside of a scanning electron microscope mounted with a reflected electron detector, a test piece is tensioned while photographing a reflected electron image, and a change of a shape in a crystal grain appearing in the reflected electron image is measured to compute sequentially a strain amount in each crystal grain and a cross section with respect to a tensioned direction.例文帳に追加

反射電子検出器を装着した走査電子顕微鏡内に引張り装置を取り付け、反射電子像を撮影しながら試験片を引張り、反射電子像に現れる結晶粒の形の変化を測定し、結晶粒毎の歪量及び引張り方向に対する断面積を逐次演算する。 - 特許庁

This dust prevention testing device 1 is constituted of an exciter 3 excitable in a prescribed vibration condition, a sealable dust housing 4, a sealable housing 5 for evaluation fixed in the dust housing 4, and a dust supply device 6 capable of supplying a prescribed quantity of dust for the test into the dust housing 4.例文帳に追加

防塵試験装置１は、所定の振動条件で加振可能な加振器３と、密閉可能な粉塵箱体４と、この粉塵箱体４内に固定された密閉可能な評価用箱体５と、粉塵箱体４内に試験用粉塵を所定量供給可能な粉塵供給装置６とから構成されている。 - 特許庁

A test signal is imparted to each of the analog circuits 12-14 when testing, the alternating current signal output from the terminal 19 of the integrated circuit 11 is converted into a digital signal in an ADC 24, and the digital data is fast-Fourier-transformation-processed to detect a frequency component included in the alternating current signal, in a DSP 26.例文帳に追加

テスト時には、アナログ回路１２〜１４へ試験信号を加え、集積回路１１の端子１９から出力される交流信号をＡＤＣ２４においてディジタルデータに変換し、ＤＳＰ２６において、上記ディジタルデータに対し高速フーリエ変換演算を行って交流信号に含まれる周波数成分を検出する。 - 特許庁

In a semiconductor device in which the bonding pads, which are electrodes for bonding an external connecting wire or the bump on a semiconductor chip, are formed by making the bonding pads in the staggered arrangement, the test pads which are applied for contacting the probe at the time of wafer testing are provided in a surplus space for the bonding pads formed by making the bonding pads in the staggered arrangement.例文帳に追加

半導体チップ上の外部接続用ワイヤまたはバンプをボンディングする電極であるボンディング用パッドを千鳥状に配列した半導体装置において、ウエハテスト時にプローブを接触させるためのテスト用パッドを、千鳥状に配列されたボンディング用パッドの余剰のスペースに設けたものである。 - 特許庁

To operationally verify whether or not a digital/analog converter built in a semiconductor integrated circuit can execute a normal digital/analog conversion action when using the digital/analog converter as a test signal generator for testing an analog/digital converter built in the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたアナログ／デジタル変換器をテストするためのテスト信号発生器として半導体集積回路に内蔵されたデジタル／アナログ変換器を使用する際に、デジタル／アナログ変換器が正常なデジタル／アナログ変換動作を実行可能であるか否か動作検証することを可能とすること。 - 特許庁

The device and method for testing the integrated circuit comprised of at least two circuit parts operated by at least two different clock signals at normal operation are provided, and the circuit operated by the plurality of clock signals is tested for a minimum time by minimum test vectors.例文帳に追加

通常動作において、少なくとも２つの異なるクロック信号によって動作する少なくとも２つの回路部分からなる集積回路をテストするための装置および方法を提供し、さらに、複数のクロック信号によって動作する回路を、最小限の時間で、かつ、最小限のテストベクトルによってテストする。 - 特許庁

To provide an indoor-outdoor dual purpose load moving testing device capable of being conveyed to a measurement field by being equipped with only a necessary minimum mechanism and being miniaturized, and executing also an outdoor test by being equipped with a temperature providing means for setting and keeping a sample piece part at a desired temperature.例文帳に追加

必要最低限の機構のみを備え、装置を小型化することにより測定現場への搬送を可能にし、且つ、供試体部分を所望の温度に設定、保持するための温度供給手段を備えることにより屋外での試験も実行可能な、屋内外兼用の荷重移動試験装置を提供する。 - 特許庁

In the torsion testing device 1, since both ends of the circuit board 9 are sandwiched, even a flexible printed board can be held properly, and even if the circuit board 9 is shrunk by torsion, the second gripping part 21b is slid and moved, to thereby enable the torsion fatigue test to be performed without being influenced by shrinkage.例文帳に追加

ねじり試験装置１では、回路基板９の両端部が挟持されるため、フレキシブルプリント基板であっても適切に保持することができ、ねじりにより回路基板９が縮んでも第２把持部２１ｂがスライド移動して縮みの影響を受けることなくねじり疲労試験を行うことができる。 - 特許庁

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁

In an SIP 102 including a plurality of semiconductor chips, such as ASIC100 and SDRAM 101 mounted on a single package, a test circuit (SDRAMBIST 109) for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, to perform testing the SDRAM 101 from the outside of the SDRAM 101 or from the ASIC 100.例文帳に追加

ＡＳＩＣ１００およびＳＤＲＡＭ１０１など複数の半導体チップが単一パッケージ搭載されたＳＩＰ１０２において、ＳＤＲＡＭ１０１のテスト回路（ＳＤＲＡＭＢＩＳＴ１０９）をＡＳＩＣ１００内に設けて、ＳＤＲＡＭ１０１の外部から、すなわちＡＳＩＣ１００からＳＤＲＡＭ１０１のテストを行うようにする。 - 特許庁

The ion conductive polymer composition whose value of scorching T5 (min) at 130.0°C±0.5°C is 1.5 to 20 in a Mooney scorch test in an unvulcanized rubber physical testing method mentioned in JIS K6300, and also, whose Mooney viscosity ML(1+4) at 100°C is 5 to 95 is extruded from an extrusion machine and continuously vulcanized.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ６３００記載の未加硫ゴム物理試験方法中のムーニースコーチ試験において１３０．０℃±０．５℃におけるスコーチＴ５（分）の値が１．５以上２０以下であり、かつ、１００℃におけるムーニー粘度ＭＬ（１＋４）が５以上９５以下であるイオン導電性ポリマー組成物を、押出機から押し出しながら連続加硫する。 - 特許庁

Separately, an accelerated deterioration test is performed in an accelerated deterioration testing chamber indoor simulating the corrosion factor in the periphery of the aerial strip held on the support with respect to the same sample strip as the aerial strip being the deterioration diagnosing target to form a master curve of a line deterioration degree formed by measuring the capacity deterioration degree.例文帳に追加

別途に、支持物に保持された架空条体の周辺の腐食因子を室内で模擬させた加速劣化試験室で、劣化診断対象の架空条体と同様なサンプル条体に対し加速劣化試験を行って性能劣化度を測定し作成した条体劣化度のマスターカーブを作成する。 - 特許庁

This noise testing device comprises a smoothing part 13 imitating a DC power source 2A built in a device to be tested 2 and a filter part 14, and performs the noise resisting performance test of the circuit resulted from the DC power source by substituting the DC power source to supply the power to an internal circuit 2B.例文帳に追加

ノイズ試験装置は、被試験装置２に内蔵する直流電源２Ａを模擬した平滑部１３やフィルタ部１４をもつ構成にし、ノイズ試験には直流電源に置き換えて内部回路２Ｂに電源供給を行うことによって、直流電源に因る回路の耐ノイズ性能試験を行う。 - 特許庁

To provide a water-washable water-based penetrant for a liquid penetrant test not having a flash point, capable of suppressing to the utmost generation of excess cleaning when removing an excess penetrant by water washing, and having a similar flaw detection performance to that of a water-washable oil-based penetrant, and a liquid penetrant testing method using the penetrant.例文帳に追加

引火点を有さず、かつ、水洗による余剰浸透液の除去に当たって、過洗浄の発生が可及的に抑制でき、水洗性油ベース浸透液と同等の探傷性能を具備している浸透探傷試験用水洗性水ベース浸透液及び該浸透液を用いる浸透探傷試験方法を提供する。 - 特許庁

The drive part 10 and follower part 20 constituting a gear testing apparatus are provided on a common stand 2 and the gear A mounted on the drive shaft 11 of the drive part 10 is meshed with the gear B mounted on the follower shaft 21 of the follower part 20 to drive the drive shaft 11 to test the meshing behavior of the gears.例文帳に追加

歯車試験装置１を構成する駆動部１０及び従動部２０は、共通の架台２上に設けられており、駆動部１０の駆動軸１１に装着された歯車Ａと、従動部２０の従動軸２１に装着された歯車Ｂとを互いに噛み合わせ、駆動軸１１を駆動して歯車の噛み合い挙動を試験する。 - 特許庁

This bearing testing device 1 comprises the rotating shaft 2, a pair of test bearings 4, 5 for supporting rotatably the middle part 3 in the axial direction S of the rotating shaft 2, and first and second support bearings 8, 9 for supporting rotatably first and second parts 6, 7 in the axial direction S of the rotating shaft 2 respectively.例文帳に追加

軸受試験装置１は、回転軸２と、回転軸２の軸方向Ｓの中間部３を回転自在に支持する一対の供試軸受４，５と、回転軸２の軸方向Ｓの第１および第２の部分６，７をそれぞれ回転自在に支持する第１および第２の支持軸受８，９とを備えている。 - 特許庁

In a fine leak testing part 1, a test body is heated by a heating furnace 3 of a He bombing device 5, cooled spontaneously in a helium atmosphere pressurized in a pressure chamber 4, and is subjected to He bombing; and then He gas which leaked into a measuring chamber by heating is measured by a He leak detector 6, to thereby detect the fine leak.例文帳に追加

ファインリーク試験部１において、被試験体をＨｅボンビング装置５の加熱炉３で加熱した後、加圧チャンバ４で加圧下のヘリウム雰囲気内で自然冷却してＨｅボンビングした後、Ｈｅリーク検出器６で加熱により測定チャンバに漏出したＨｅガスを測定し、ファインリークを検出する。 - 特許庁