「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(255ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a highly reliable plant failure diagnostic device for achieving the failure diagnosis of a plant in a short period of time and a plant test device for accurately testing a plant in a short period of time without increasing the scale of this system.例文帳に追加

システムを肥大化させること無く、プラントの故障診断を短時間に正確に行える信頼性の高いプラント故障診断装置、およびプラントの試験を短時間に正確に行えるプラント試験装置を提供する。 - 特許庁

The reference rotating speed SR is the rotating speed at which the DC motor cannot be rotated when the reference voltage SE is applied to the DC motor in a state of hot and cold water existing in the bathtub, and is the rotating speed lower than the testing rotating speed TR.例文帳に追加

基準回転数ＳＲは、浴槽内に湯水がある状態で直流モータに基準電圧ＳＥを印加した場合、直流モータが回り得ない回転数であって、試験回転数ＴＲよりも低い回転数である。 - 特許庁

The testing device outputs such a test output that is recognized as low-speed data of 25 MHz from the outside of the LSI, though the clock recovery circuit 1 in the LSI operates practically by a high-speed clock of 125 MHz, for example.例文帳に追加

そして、実際にはＬＳＩ内部のクロックリカバリ回路１はたとえば１２５ＭＨｚの高速クロックで動作しているが、ＬＳＩ外部からは２５ＭＨｚの低速データとして認識されるような試験出力を外部に出力させる。 - 特許庁

A transmission/reception message 13 described for configuring a test as a message to be transmitted and a message to be received is inserted to a test signal to be transmitted/received between a testing device 1 and a test object 7.例文帳に追加

試験装置１と試験対象７との間で送受信される試験信号のなかに、試験を構成するために記述された、送信されるメッセージと受信されるべきメッセージである送受メッセージ１３が挿入されている。 - 特許庁

This method finds preliminarily frequency distributions of respective accelerations along a lateral direction and a longitudinal direction in test course travel, and an external condition generated under a specified travel condition as to the tire attached to a specified wheel of a testing vehicle.例文帳に追加

試験コース走行時の横方向及び前後方向のそれぞれの加速度の頻度分布と、試験車両の特定車輪に装着されたタイヤについての特定の走行状態で生じる外的条件とを求めておく。 - 特許庁

To provide an impact load response evaluation method for a track pad, which provides the track pad with excellent cushioning performance by grasping impact load response characteristics of the track pad under a quasi-static load, and an impact testing apparatus for the track pad.例文帳に追加

準静的荷重下における軌道パッドの衝撃荷重応答特性を把握し、緩衝性能に優れた軌道パッドを得るための軌道パッドの衝撃荷重応答評価方法及びその衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic unit testing system capable of handling an interruption processing and bit data and provided with functions for setting an initial value to a variable, perfing a type definition independent of a processor, coping with an alias variable and outputting performance information, etc.例文帳に追加

割込み処理やビットデータを扱うことができ、変数への初期値設定やプロセッサ非依存の型定義、別名変数への対応、性能情報の出力等の機能を備えた自動単体試験システムを提供する。 - 特許庁

In the accelerated weathering resistant testing method for a coating film using a remote plasma apparatus, the inside of the apparatus is set to a reduced pressure state, and e.g. oxygen gas is introduced to the inside of the apparatus.例文帳に追加

リモートプラズマ装置を用いることを特徴とする塗膜の促進耐候性試験方法であって、上記リモートプラズマ装置内を減圧状態にすることができるとともに、例えば、酸素ガスを装置内に導入することができる。 - 特許庁

Furthermore, when the intensity Ib of mirror reflection light from the testing image for fixing and light emitting intensity Ia of a halogen lamp are detected by an image information detection part, the glossiness of the test image for fixing is calculated utilizing these data (S5).例文帳に追加

また、画像情報検出部４３が定着テスト画像Ｔの正反射光の強度Ｉｂ、およびハロゲンランプの発光強度Ｉａを検出すると、これらを用いて定着テスト画像の光沢度を算出する（Ｓ５）。 - 特許庁

At the time of testing the communication path of a portion incorporated in the integrated circuit, a first communication path is formed in the communication path and the test is performed by making prescribed data to flow to the formed first communication path.例文帳に追加

集積回路における組込み部の通信路をテストする場合、所定の組込み部の通信路に第１の通信路を作成し、この作成された第１の通信路に所定のデータを流し、組込み部の通信路をテストするものである。 - 特許庁

To provide an automobile noise testing apparatus capable of preventing noise occurrence caused by the vibration of an intermediate bearing on the outside of a sound proof box by suitably suppressing the vibration of the intermediate bearing without causing difficulty of axis alignment operation.例文帳に追加

軸合わせ作業の困難化を招来することなく、中間軸受の振動を好適に抑制して、防音箱外に中間軸受の振動に起因する騒音の発生を防止可能な自動車用騒音試験装置を提供する。 - 特許庁

The pin 5 is pushed to the testing substrate 9 side and the slope 5a side of the pin 5 and the slope 7a side of a pin 7 are moved in the directions mutually opposed and to the side widening the inner diameter of the metal plate 3.例文帳に追加

ピン５は試験基板９側へ押され、ピン５の斜面５ａ側及びピン７の斜面７ａ側は斜面５ａと斜面５ｂの接触面に沿って、互いに相反する方向かつ金属板３の内径を広げる側へ移動する。 - 特許庁

In an environmental acceleration cracking monitoring device and a method, a positioning mechanism 14 of a testing tool 12 is provided, for equalizing each relative position of a test piece 11 to a current supply terminal 15 and a potential difference measuring terminal 16.例文帳に追加

環境助長割れ監視装置および方法において、電流供給端子１５、電位差計測端子１６に対する試験片１１の相対位置を同一にする試験冶具１２の位置決め機構１４を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.例文帳に追加

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The optimum erasure condition capable of simultaneously erasing the most recording layers and the optimum sequence capable of erasing data of each recording layer with the minimum number of times are determined from the result of the testing erasure and registered in a memory 19 of the optical disk device.例文帳に追加

試し消去の結果から、同時に最も多くの記録層を消去可能な最適消去条件と、各記録層のデータを最小回数で消去可能な最適シーケンスを決定し、光ディスク装置のメモリ１９に登録する。 - 特許庁

To provide a molding for medical use having well-balanced stiffness, impact resistance and transparency, and satisfying the quality of dialysis fluid supply sections and dialysis fluid circuits, and the testing method 1(2) specified in the Production Acceptance Criteria for Dialysis-type Artificial Kidney Apparatuses.例文帳に追加

剛性と耐衝撃性、透明性のバランスに優れ、かつ透析型人工腎臓装置承認基準のうち、透析液供給部及び透析液回路の品質及び試験法１（２）を満足する医療用成形品を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic head slider testing apparatus in which a current output circuit of a DC magnetic field and a high frequency magnetic field can be shared, a magnetic field leaked to the periphery from a core is suppressed, and which can be miniaturized.例文帳に追加

ＤＣ磁界と高周波磁界の電流出力回路を共通化することができ、コアから周辺へ漏洩する磁界を抑え、装置の小型化を図ることができる磁気ヘッドスライダ検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a wafer level packaging cap and its manufacturing method for preventing the damage of the connection part of a connection bar and a cap substrate at the time of testing temperature-proof performance, and for easily machining the connection hole of a wafer having a high cross-section rate.例文帳に追加

本発明は耐温度性能の実験時に接続棒とキャップ基板との連結部分の破損が発生せず、高断面比を有するウエハーの連結穴の加工が容易なウエハーレベルパッケージングキャップおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

Article 7 No person other than one who has obtained permission under paragraph (1) of the preceding Article shall manufacture a Class I Specified Chemical Substance; provided, however, that this shall not apply to the case where a person manufactures a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes. 例文帳に追加

第七条　前条第一項の許可を受けた者でなければ、第一種特定化学物質を製造してはならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を製造するときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Furthermore, the water vapor transmission which is measured by rendering the opposite side of the release layer of the release paper the higher humid side as prescribed in the TAPPI Paper and Paperboard Testing Method 464 os-79 is not greater than 150 g/m2/day.例文帳に追加

さらに、該剥離紙の剥離層の反対面を高湿側にして測定したTAPPI紙および板紙試験法Ｔ４６４ｏｓ−７９に規定される透湿度が１５０ｇ／ｍ^2／ｄａｙ以下であるインクジェット記録用粘着シート。 - 特許庁

To perform a strength test by a testing device with a simple configuration, which loads pressure at a state close to a situation that a gate is actually used to a flat plate structure which receives hydraulic pressure of a gate, etc. in a water gate, a sluice gate, and a sluice pipe.例文帳に追加

水門、樋門、樋管におけるゲート等の水圧を受ける平板構造体に対し実際にゲートが使用される状況に近い状態での圧力を載荷する簡易な構成の試験装置により強度試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device wherein a control means which is substantially equivalent to a control signal to be stored in a WCS memory which controls the generation of a test pattern provided at an ALPG is provided outside the WCS memory.例文帳に追加

ＡＬＰＧが備える試験パターンの発生を制御するＷＣＳメモリに格納すべき制御信号と、実質的に等価な制御手段を、当該ＷＣＳメモリ外に備えるＡＬＰＧとする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus being in no risk of causing any cooling fluid to splash when attaching/detaching a coupler of a heat sink, by preventing such the condition that a backing pressure is applied to the inside of the coupler, even in the case that a circulation cooling apparatus is in its working state.例文帳に追加

循環冷却装置が稼動状態でも、カプラ内部に背圧が加わった状態とならず、ヒートシンクのカプラ着脱時に冷却流体の飛散を発生させる恐れのない半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

The method of testing the superconductive cable line comprises: continuously energizing a direct current of a prescribed energization pattern by a power supply 60 to the superconductive cable line having joints 30A-30C; and evaluating the integrity of each joint by measuring temperatures at each joint.例文帳に追加

接続部30A〜30Cを有する超電導ケーブル線路に電源60により連続的に所定の通電パターンの直流電流を通電し、各接続部における温度を測定することにより各接続部の健全性を評価する。 - 特許庁

To provide a radiographic image diagnostic apparatus which reduces time for a treatment by reducing a moving distance of a bed to reach a region subjected to an observation in a catheterization testing and the amount of angle of rotation of a support device.例文帳に追加

Ｘ線画像診断装置について、カテーテル検査などで観察対象領域に至らせるまでの寝台の移動距離や支持装置の回転角度量をより少ないもので済ませることにより処置時間の短縮を可能とする。 - 特許庁

The testing device 20 is composed of a 1st moving mechanism 25 moving the 1st gear cone 2a toward the 1st synchro ring 1a and a 2nd moving mechanism 26 moving the 2nd gear corn 2b toward the 2nd synchro ring 1b.例文帳に追加

この試験装置２０は、第１のギヤコーン２ａを第１のシンクロリング１ａに向って移動させる第１の移動機構２５と、第２のギヤコーン２ｂを第２のシンクロリング１ｂに向って移動させる第２の移動機構２６を備えている。 - 特許庁

Pipes and circuits between components are connected and each electric parameter and gas supply status of the fuel cell set in operation are displayed for functional testing and exhibition of the fuel cell set.例文帳に追加

本発明は燃料電池セット中の各構成要件間の管路と回路を接続すると共に、燃料電池セットの操作時の各電気パラメータ及びガス供給状況を表示し、燃料電池セットの機能試験及び展示に供される。 - 特許庁

A gripping block (1), a grip fixture (2) held in the gripping block (1), the cutter (3) held in the gripping block (1) so as to be movable vertically, and a tensile tester 9 connected to the grip fixture (2), are provided to the bonding strength testing machine for the bonding wire.例文帳に追加

把持ブロック(1)と、把持ブロック(1)内に保持されたグリップ冶具(2)と、垂直方向に移動可能に把持ブロック(1)内に保持されたカッタ(3)と、グリップ冶具(2)に連結された引張試験機(9)とをボンディングワイヤの接合強度試験装置に設ける。 - 特許庁

To provide a method and device for testing gear wherein the strain of a tooth space of the gear which is to be tested is measured without affected by the strain of diameter or shape of the center hole of the gear which is to be tested.例文帳に追加

被試験歯車の中心の孔の形状や径の歪みの影響を受けることなく、被試験歯車の歯溝の歪みを測定する歯車試験方法と、この歯車試験方法を実現する歯車試験装置とを提供する。 - 特許庁

This rubber crawler constitutes its characteristic feature of using a rubber composite a value of a complex elastic modulus (E*) of which is less than 30 MPa at -35°C and its temperature at which a value of tanδ measured by a viscoelastic testing machine shows the maximum value is equal to or less than -35°C.例文帳に追加

粘弾性試験機で測定されたｔａｎδの値が最大値を示す温度が−３５℃以下で、−３５℃での複素弾性率（Ｅ＊）の値が３０ＭＰａ以下であるゴム組成物を用いたことを特徴とするゴムクローラである。 - 特許庁

To provide a method and system for preventing any medical accident such as taking a patient for another, the administering medicine, using a wrong syringe, and medical error of testing and operation in medical facilities by using a computer, a recording medium, and a bar code or the like.例文帳に追加

医療施設における患者間違い、薬の間違い、注射器の間違い、検査・手術の医療ミスを防止するための、コンピュータ・記憶媒体・バーコード等を利用した防止方法及び防止するシステムを提供する。 - 特許庁

Also, a reference level is fixed and a pulse potential given to a plate line PL is adjusted by a potential generating circuit 2 at the testing time, and the quantity of read-out electric charges from a memory cell is reduced, so that the read-out margin of a memory cell is reduced intentionally.例文帳に追加

または、リファレンスレベルを固定して、テスト時に電位発生回路２によりプレート線ＰＬに与えるパルス電位を調整し、メモリーセルからの読み出し電荷量を小さくして、メモリーセルの読み出しマージンを意図的に少なくする。 - 特許庁

To provide a means capable of easily executing sampling of the impoved soil located at a required positon of an improved column body and easily making a spciment to be used for testing the improved soil without changing any condition of the improved soil.例文帳に追加

改良柱体の所望の位置にある改良土のサンプリングを簡便に行い、また、改良土の状態を変化させることなく改良土の試験に用いるべき供試体を容易に作製することができる手段を提供する。 - 特許庁

According to status information from bodies 1 to be tested (magnetooptic disk drive etc.), the testing device 2 diagnoses its device side including parts 2a in contact with the bodies to be tested, connection cables, etc., and the side of the body to be tested.例文帳に追加

複数の被試験体（光磁気ディスクドライブなど）１からの各ステ−タス情報に基づいて、試験装置２が、被試験体との接触部２ａや接続ケ−ブルなどを含む自装置側や、被試験体側の診断を行なう。 - 特許庁

An optical fiber measurement system 1 comprises: an optical fiber sensor line 2; a position display module 3 provided at at least one position on the optical fiber sensor line 2; and a light pulse testing device 10 for making test light incident on the optical sensor line 2.例文帳に追加

光ファイバセンサ線路２と、光ファイバセンサ線路２の少なくとも１箇所に設けられた位置表示モジュール３と、光ファイバセンサ線路２に試験光を入射する光パルス試験器１０と、を備えた光ファイバ計測システム１。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for an apnea syndrome which detects a respiratory standstill condition or a low respiratory condition with precision which is close to that for the discrimination of the respiratory standstill condition or the low respiratory condition, which is performed by an expert such as a doctor.例文帳に追加

医者等の専門家が行う無呼吸状態もしくは低呼吸状態の判断の精度により近づいた、無呼吸状態もしくは低呼吸状態を検出する無呼吸症候群の検査装置を提供する。 - 特許庁

In an apparatus and a method in which a tilted strand connection part 22 in a small electric component 23 is tested, a testing tool 21 which can be moved simultaneously along two mutually orthogonal exes in a direction at right angels to the direction of a strand is provided.例文帳に追加

小型電気素子における傾斜したストランド接続部を試験するための装置および方法は、ストランドの方向に直交する方向に互いに直交する２軸に沿って同時に移動可能な試験工具を備えている。 - 特許庁

The testing system executes a ground fault test on the plurality of ground fault direction relays 135_1-135_3 by opening at least one of the first-third switches 11_1-11_3 to break the balance of anti-ground electrostatic capacity of the plurality of power distribution lines 102_1-102_3.例文帳に追加

第１乃至第３のスイッチ１１_1〜１１_3の少なくとも１つを開いて複数の配電線１０２_1〜１０２_3の対地静電容量のバランスを崩すことにより、複数の地絡方向継電器１３５_1〜１３５_3の地絡試験を行う。 - 特許庁

To provide a pattern control device for a game machine, for which the variable configurations of patterns of a pattern display means can be easily and inexpensively changed, and at the same time, the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.例文帳に追加

図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a characteristic of a magnetic head in which a characteristic of a read element can be tested exactly in the form of a wafer, especially the characteristic of the read element under heating and under cooling can be exactly tested.例文帳に追加

ウエハ段階においてリード素子の特性を的確に試験することを可能とし、とくに加熱下、冷却下におけるリード素子の特性を的確に試験することを可能にする磁気ヘッドの特性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an SRAM device having a configuration for effectively detecting a product, which is small in noise margin and has possibility to cause a malfunction in a market, and the defective connection of one of a pair of read-out bit lines, and to provide a method for testing the SRAM device.例文帳に追加

ノイズマージンが小さく市場で誤動作をする可能性が高い物や、読み出しビット線対の片側の接続不良を有効に検出するための構成を有するＳＲＡＭ装置とそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To solve problems caused by limited assembling space in the case of connecting a clutch and/or transmission capable of automatically operating, that is, for example, the problems such as assembling difficulties, high costs, plenty of man-hours in the case of testing systems.例文帳に追加

オートマチック操作可能なクラッチ及び／又は伝動装置の接続により制限された組み込みスペースにより生じる問題、即ち例えば、組み付け困難性、高いコスト、システムの試験の際の大きな手間といった問題を解消する。 - 特許庁

To provide a system, or the like for testing shutter running characteristics that facilitates checking normal or abnormal conditions in running characteristics of a mechanical focal plane shutter without arranging any special members, or the like by an image sensor drivable by an electronic rolling shutter.例文帳に追加

電子ローリングシャッタにより駆動され得る撮像素子を用いて、特別な部材等を配設することなく、メカニカルフォーカルプレーンシャッタの走行特性の正常／不良を容易に確認し得るシャッタ走行特性試験システム等を提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing device 100 is provided with main body memory circuits 30, 31 storing defective information on the main body memory of the memory to be examined, and auxiliary memory circuits 40, 41 storing defective information on the auxiliary memory of the memory to be examined.例文帳に追加

本発明の半導体試験装置１００は、被試験メモリの本体メモリの不良情報を格納する本体メモリ回路３０，３１と、被試験メモリの予備メモリの不良情報を格納する予備メモリ回路４０，４１とを備える。 - 特許庁

To provide a structure capable of preventing side deviation or local twist of a belt, and preventing drop of the belt between rollers, concerning a belt driving device provided on a vehicle traveling testing machine or the like, for supporting and driving a rotator such as a wheel.例文帳に追加

車輌走行試験機等に備えられ、車輪などの回転体を支持し走行させるベルト駆動装置であって、ベルトの横ズレや局部的なヨレを防止し、更に、ローラ間でのベルトの落ち込みをも防止し得る構造を提案する。 - 特許庁