go‐no‐goの英語

To provide a wire stripper in which GO/NO-GO judgment can be made about the stripped state stably and cutting depth of blades can be set automatically even for a thin wire or a wire with thin coating, and to provide a wire stripping method.例文帳に追加

細径の電線や被覆の薄い電線でも、皮剥ぎ状態についての安定した良否判定ができたり、ブレードの切り込み深さの自動設定が可能な電線皮剥ぎ装置及び電線皮剥ぎ方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test circuit for a variable delay element in which even a micro variation of delay time can be measured accurately and GO/NO GO test for a variable delay element can be carried out accurately in a short time.例文帳に追加

可変遅延素子の遅延時間変化量が非常に小くても、微小な遅延時間変化量を精度良く測定でき、可変遅延素子の良否判定を短時間に精度良く実施することが可能となる可変遅延素子のテスト回路を提供する。 - 特許庁

In the wafer test process, a test time criterion value is calculated from test time achievements in the past for each product and each measurement conditions, and actual test time is compared with the criterion value for every notice of wafer end from a device such as a tester thus performing GO/NO-GO test.例文帳に追加

ウエハのテスト工程にて、各製品毎、測定条件毎の過去のテスト時間実績からテスト時間判定基準値を算出し、テスタ等の装置からのウエハ終了通知毎に、実際のテスト時間と、判定基準値とを比較し良否判定を行う。 - 特許庁

To provide a device and method for inspecting wires of substrates capable of accurately performing inspection on the GO/NO-GO of a plurality of wires in a state that their one ends are electrically connected to each other with electric connection on the side of the one ends maintained.例文帳に追加

複数の配線の一方端同士が相互に電気的に接続された状態のまま当該配線の良否を、一方端側での電気的接続を維持したまま、正確に検査することができる基板の配線検査装置および配線検査方法を提供する。 - 特許庁

Since the dot pattern printed by the heating elements 12a and 12z at the opposite ends is formed differently from the dot pattern printed by other heating elements 12b through 12y, opposite end positions of a printed test pattern 22 can be grasped definitely and the thermal head 12 can undergo GO/NO-GO test simply and accurately.例文帳に追加

両端の発熱素子１２ａ、１２ｚで印字されるドットのパターンが、他の発熱素子１２ｂ〜１２ｙで印字されるドットのパターンとが異なって形成されているため、印字されたテストパターン２２の両端位置を明確に把握でき、簡単かつ正確にサーマルヘッド１２の良否を検査できる。 - 特許庁

To provide a process for manufacturing a printed wiring board in which GO/NO-GO test can be carried out easily on behalf of the whole product or the whole work, tendency of phenomenon such as the distribution, shape or size of abnormalities like air bubbles or wrinkles can be recognized, and an optimization index of process can be obtained.例文帳に追加

製品全体またはワーク全体を代表して容易に良否判定することができ、また気泡やしわのような異常の分布、形状、大きさのような現象の傾向を把握することができ、工程の最適化の指標を得ることができるプリント配線基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

Since a row of a number of test time fuses 2, a GO/NO-GO determination fuse 3 and a rejection item fuse 4 are mounted and the function test results of a semiconductor wafer are represented by a fact whether a fuse is blown out or not, an acceptable semiconductor device determined erroneously to be rejectable through a single test can be remedied by repeating the measurement.例文帳に追加

試験回数用ヒューズ２，良・不良判定用ヒューズ３及び不良項目用ヒューズ４の行を搭載し、半導体ウェハースの機能試験結果をヒューズを切断するか否かで表現することで、１回の試験で仮に誤判定されて本来良品半導体装置を不良品と判定された場合でも再度の測定により良品を救済することを可能とする。 - 特許庁