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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > During inspectionに関連した英語例文

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During inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 787



例文

To provide a leakage inspection tool which easily performs a liquid leakage inspection on a container in which a pipe-shaped component for allowing the inside of the container body and the outside to communicate with each other is mounted to the container body with high workability at least either of during the manufacturing process or after the manufacture of the container.例文帳に追加

容器本体に該容器本体の内部と外部とを連通させるパイプ状部品が取り付けられた容器での流体の漏れ検査を、容器の製造過程および製造後の少なくとも一方で高い作業性の下に行い易い漏れ検査用具を得ること。 - 特許庁

This device has a configuration wherein, when detecting a foreign matter or a defect on the surface of the inspection object, a parameter for digital filtering is changed dynamically during inspection, and the foreign matter or the defect is discriminated by using a result acquired by removing a low-frequency changing component which is a noise component.例文帳に追加

そして、被検査体表面上の異物や欠陥を検出する際、デジタルフィルタリングのパラメータを検査中に動的に変化させ、ノイズ成分である低周波変動成分を除去した結果を用いて、異物や欠陥を弁別する構成とする。 - 特許庁

To provide a reflective photo mask which has sufficiently low exposure reflectivity with respect not only to EUV light but also to DUV light during pattern inspection, and has a sufficient reflectivity contrast and therefore can perform extremely precise inspection and mask pattern transfer.例文帳に追加

EUV光露光反射率のみならず、パターン検査におけるDUV光露光反射率が十分に低く、十分な反射率コントラストが得られ、精度の高い検査及び精度の高いマスクパターン転写が可能な反射型フォトマスクを得る。 - 特許庁

To provide a relatively inexpensive OVD inspection device capable of stably inspecting the quality of OVD without being affected by the pressure mark of OVD applied to a base material, the undulation of the base material or the fluttering or undulation of the base material during feed, and an OVD inspection method.例文帳に追加

基材に付与されているOVDの圧力跡、基材の波打ち若しくは搬送中の基材のバタツキ又はうねりに影響を受けず、安定してOVDの品質の検査を可能とし、比較的安価なOVDの検査装置の提供及びOVDの検査方法である。 - 特許庁

例文

Based on a potential detected at one GND terminal by the GND sense line 6 during inspection of the device 12 to be measured, a potential correction circuit 8 corrects a potential level of a testing signal input for the inspection from the semiconductor sensor 10 into the device 12 to be measured.例文帳に追加

被測定デバイス12の検査中にGNDセンスライン6で検知した1つのGND端子における電位に基づいて、電位補正回路8が検査のために半導体テスタ10から被測定デバイス12に入力されるテスト信号の電位レベルを補正する。 - 特許庁


例文

To provide a visual inspection apparatus capable of imaging the respective parts of an imaging region at once with a proper quantity of light during an inspection of appearance defectiveness in a PTP sheet manufacturing process and relatively simplifying image processing, and to provide a PTP sheet manufacturing apparatus.例文帳に追加

PTPシートの製造過程における外観不良検査に際し、撮像領域の各部分を適切な光量で一度に撮像可能であり、しかも、撮像処理が比較的簡単な外観検査装置、及び、PTPシートの製造装置を提供する。 - 特許庁

The component window is set on an image of the implemented component to be inspected based on registered setting condition, and an implementation state of the component is inspected by using image data within the window and the standard inspection data corresponding to the identification information of the component during an inspection.例文帳に追加

そして、検査の際には、登録された設定条件に基づき検査対象の部品実装画像上に部品ウィンドウを設定し、そのウィンドウ内の画像データと部品特定情報に対応する標準検査データとを用いて部品の実装状態を検査する。 - 特許庁

To provide a safety apparatus for elevator inspection which mechanically regulates movement of a car and a counter weight during maintenance and inspection in the pit of a hoistway, and which can prevent danger caused by unexpected movement of the car or the counter weight.例文帳に追加

昇降路のピット部内での保守点検作業の際に、かごやつり合い重りの移動を機械的に規制し、そのかごやつり合い重りの不用意な移動による危険を防止することができるエレベータの点検作業用安全装置を提供する。 - 特許庁

The first and second reverse filters 4e, 4f are applied, under this condition, to the acoustic signal obtained from the sound generated in the inspection object during usual work, to remove influences of the sound generated from the inspection object in the normal time and the predicted other sound.例文帳に追加

この状態で、通常作業中の検査対象物から発生する音から得た音響信号に第1逆フィルタ4eおよび第2逆フィルタ4fを作用させ、正常時の検査対象物から発生する音およびあらかじめ予想される他の音の影響を除くことができる。 - 特許庁

例文

When the retry requirement-judging means 69 judges that a pattern defect exceeding an amount being specified within a region range that is specified in advance exists during inspection, the repeated inspection instruction means 61 automatically inspects a region including the range at least for two times.例文帳に追加

リトライ必要性判定手段69により、検査中にあらかじめ指定された領域範囲内に指定された量以上のパターン欠陥があると判定した場合に、繰り返し検査命令手段61によりそこを含む領域に関して、自動的に2回以上繰り返し検査する。 - 特許庁

例文

To provide a method of inserting and pulling out a rotor of a horizontal shaft type power generator capable of efficiently and safely performing insertion work and pull-out work of the rotor conducted during maintenance and inspection and the like of the horizontal shaft type power generator, and reducing cost needed for the maintenance and inspection.例文帳に追加

横軸型発電機の保守点検等の際に行われる回転子の挿入作業と引抜作業を効率よく安全に行うことができるとともに、保守点検に要する費用の削減を図ることが可能な横軸型発電機の回転子挿抜方法を提供する。 - 特許庁

When mounting failure of a component is detected in any board on a panel by the inspection device during operation of the component mounting line, component mounting is skipped by a mounting machine module 12 on the downstream side of the inspection device in a skip unit set by the worker.例文帳に追加

部品実装ラインの稼働中に検査装置でパネルのいずれかのボードで部品の実装不良が検出されたときに、検査装置より下流側の実装機モジュール12で、部品実装を作業者が設定したスキップ単位でスキップする。 - 特許庁

(v) The owner of the specified maintenance products, etc. (including a lessor) shall collect information related to the maintenance of the specified maintenance products and shall endeavor to maintain them by such means as conducting an inspection during the inspection period (Article 32-14, paragraph (1) and paragraph (2)). 例文帳に追加

⑤ 特定保守製品の所有者等(賃貸人を含む。)は、特定保守製品の保守に関する情報を収集するとともに、点検期間に点検を行う等その保守に努めるものとする。(法第32条の14第1項及び第2項) - 経済産業省

NISA used the risk information on a trial basis during their inspection on nuclear installations. In January 2009, as a part of improvement of the inspection system,it started to use the risk information by adopting the safety significance determination process.例文帳に追加

原子力安全・保安院では、原子炉施設の検査において、試行的にリスク情報を活用していたが、2009年1月の検査制度の改善の一要素として、安全重要度評価手法を取り入れることによって、リスク情報の導入を開始した。 - 経済産業省

Article 10 (1) An entity desiring to receive the return of a vehicle inspection certificate, Registration in the Vehicle Registration File, or issuance of a vehicle inspection certificate during the period from the Base Date until the date when three years have elapsed for a Vehicle having obtained a first Registration in the Vehicle Registration File or first issuance of an initial vehicle inspection certificate on or before the Base Date shall present a deposit certificate to the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism, etc. 例文帳に追加

第十条 基準日前に最初の自動車登録ファイルへの登録又は最初の自動車検査証の交付を受けた自動車について、基準日から起算して三年を経過する日までの間に自動車検査証の返付又は自動車登録ファイルへの登録若しくは自動車検査証の交付を受けようとする者は、国土交通大臣等に対して、預託証明書を提示しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To simply set optimum conditions of precharge to be carried out before inspection of a pattern formed during a semiconductor device manufacturing process to automatically determine whether the precharge is successful and feed back the results to subsequent operations so as to prevent degradation in reliability of inspection results for constantly stable inspection.例文帳に追加

半導体装置製造プロセスで形成されるパターンの検査前に実行されるプリチャージの最適な条件を簡易に設定できるようにし、プリチャージの良否を自動判定し、その後の動作にフィードバックするようにして、検査結果の信頼性の低下を防ぎ、常に安定した検査ができるようにする。 - 特許庁

During operating an inspection position display switch 5, an inspection position data extracting means 7 extracts predetermined items for positions in the air-conditioner to be inspected as trouble information from a troubled condition determined by a trouble determining means 3 and a plurality of inspection position data for every troubled condition and displays them on a display part 4.例文帳に追加

点検箇所表示スイッチ5の操作時に、点検箇所データ抽出手段7が、故障判定手段3で判定された故障状態と故障状態毎の複数の点検箇所データから空気調和機の点検すべき箇所を故障情報として所定の項目抽出し、表示部4に表示するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device capable of preventing semiconductors which are good products from being adversely affected by a defective semiconductor from the viewpoint of electric characteristics by separating the defective semiconductor from the other good semiconductors immediately when the defective semiconductor is detected from among a plurality of semiconductors to be inspected during the inspection to conduct the inspection for determining good or defective semiconductor accurately without causing error.例文帳に追加

検査途中に、複数の被測定半導体の中で、不良品の半導体があれば、即座に不良品半導体をその他の良品半導体から切り離して、不良品半導体から他の良品半導体に、電気特性的にも影響が及ばないようにすることができ、被測定半導体に対して、よりミスのないさらに正確な良否判定の検査を実行することができる半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

This nozzle inspection is essential treatment for maintenance, however, if it is assumed that nozzle inspection is not conducted during standby, the respective modules A to D are stopped at the same time to make time for nozzle inspection, causing the reduction of operability of the surface mounter Z.例文帳に追加

ノズル検査処理は設備のメンテナンス上必須の処理であるが、ここで仮に、待機時間中にノズル検査処理を実行しないとすると、各部品実装モジュールA〜Dを一斉に稼動停止させて時間を作るなどの措置を講じてノズル検査処理を行うことが必要となり、表面実装装置Zの稼動率を低下させる要因となる。 - 特許庁

The inspection support system includes an inspection result writing section 53 for writing the inspection results obtained during execution of a control program into an output buffer 56, a camera image output section 57 to read and output a camera image in an output buffer 56, and a measurement result output section 58 to read and output measurement results in the output buffer 56.例文帳に追加

制御プログラムの実行時に得られる検査結果を出力バッファ56に書き込む検査結果書込み部53と、出力バッファ56内のカメラ画像を読み出して出力するカメラ画像出力部57と、出力バッファ56内の計測結果を読み出して出力する計測結果出力部58により構成される。 - 特許庁

The coverage measurement device 200 acquires a measurement target code (201), acquires inspection item information (202), inspects the measurement target code based on the inspection item information (203), specifies a branch already inspected using branch correspondence state variable information and allocation information of a state variable generated during the inspection (204), and performs coverage measurement (205).例文帳に追加

カバレージ測定装置200は、測定対象コードを取得し(201)、検査項目情報を取得し(202)、測定対象コードを検査項目情報に基づいて検査し(203)、検査中に生成した状態変数の割り当て情報及びブランチ対応状態変数情報を用いて、検査済みのブランチを特定して(204)、カバレージ測定を行う(205)。 - 特許庁

To provide a defect inspection method of an optical film constituted such that adhesion of an adhesive on a mold releasing film or roughening of the surface of a mold releasing agent is inhibited during defect inspection of a part of the mold releasing film by peeling while remaining a part of the mold releasing film in the defect inspection of the optical film.例文帳に追加

光学フィルムの欠点検査において、離型フィルムの一部を残して剥離して欠点検査を行なう場合に、離型フィルムの剥離に際し、離型フィルムに粘着剤が付着したり、粘着剤表面が荒れることがないように構成した光学フィルムの欠点検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a production management method for emergency supplies that prepares an inspection table, a table of supplies recovered and cost estimates therefor with a personal computer, simplifies inspection and recovery and enables a feedback to development (quality) by using the table of supplies recovered by accumulating individual information during inspection and recovery into a personal computer from a reader/writer.例文帳に追加

点検時,回収時の個々の情報をリーダ・ライタからパソコンに集積することにより、パソコンにより点検表,回収品表,さらにはそれぞれの見積書の作成ができるので、点検,回収作業が簡略化されると共に、回収品表を用いて開発(品質)へのフイードバックも可能となる防災商品の生産管理方法を得る。 - 特許庁

To provide a system such that when a shape of a shot during exposure is distorted as a circuit pattern becomes finer, a decrease in throughput during wafer inspection with an electron microscope and a decrease in automation rate are recognized, and a position correcting operation for the shot distortion is carried out.例文帳に追加

回路パターンの微細化に伴い、露光の際のショットの形状の歪みがある場合には、電子顕微鏡によるウェーハ検査時のスループットの低下や自動化率の低下が認められ、ショット歪みに対する位置補正動作を実行する方式を提供する。 - 特許庁

Since a front surface of the web is uniformly sucked, processing of printing, coating, or inspection in suction/carriage guide is performed uniformly with respect to the web, and since the surface roughness during the processing is low, a trouble caused by irregularity of the web surface during the processing seldom occurs.例文帳に追加

ウェブの前面を均等に吸着できるために、吸着、搬送案内するさいの印刷、塗布、検査などの処理が、ウェブに対して均等に行うことができ、また処理中の面粗度も低いため、ウェブに処理中にウェブ表面の凹凸による不具合が出にくくなる。 - 特許庁

As a result, the particles stuck to the surface of the wafer and a spontaneous oxide film formed on the surface of the wafer during the inspection of the wafer and during the correction working operation can be removed simultaneously in a shorter time than in a case where the wafer is treated by only the finish polishing operation.例文帳に追加

結果、ウェーハ検査中および修正加工中にウェーハの表面に付着したパーティクルおよびウェーハ表面に形成された自然酸化膜を、仕上げ研磨だけで処理した場合より短時間で同時に除去することができる。 - 特許庁

To provide a game medium dispenser that can prevent an extraction of a noncontact IC card during lending by a simple structure without using a transport mechanism taking in a lending medium such as a contactless IC card or like into a game machine body and permits a visual inspection of the medium from the outside at least during lending.例文帳に追加

非接触ICカード等の貸出媒体を遊技機本体内に取り込む搬送機構を用いずに、簡易な構成で貸出処理中の引き抜きを防止することができ、且つ少なくとも貸出処理中は貸出媒体を外部より視認できる遊技媒体貸出機を提供する。 - 特許庁

(2) The provisions of the preceding paragraph shall not preclude the parties, etc. from making additional requests for the inspection of materials, the need for which arises during the course of proceedings on the date of hearings. 例文帳に追加

2 前項の規定は、当事者等が聴聞の期日における審理の進行に応じて必要となった資料の閲覧を更に求めることを妨げない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(ii) A person who has rejected, disturbed or evaded inspection or collection pursuant to the provisions of Article 10, paragraph (1), or has not responded or has responded falsely during the questioning pursuant to the provisions of the same paragraph 例文帳に追加

二 第十条第一項の規定による検査若しくは集取を拒み、妨げ、若しくは忌避し、又は同項の規定による質問に対し陳述をせず、若しくは虚偽の陳述をした者 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(4) The Shareholders at Incorporation may make requests for the inspection or copying of the Voting Forms submitted pursuant to the provisions of paragraph (1) at any time during the hours designated by the incorporators. 例文帳に追加

4 設立時株主は、発起人が定めた時間内は、いつでも、第一項の規定により提出された議決権行使書面の閲覧又は謄写の請求をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(5) The Shareholders at Incorporation may, at any time during the hours designated by the incorporators, make a request for the inspection or copying of anything that displays the data recorded in the Electromagnetic Record under the preceding paragraph in a manner prescribed by the applicable Ordinance of the Ministry of Justice. 例文帳に追加

5 設立時株主は、発起人が定めた時間内は、いつでも、前項の電磁的記録に記録された事項を法務省令で定める方法により表示したものの閲覧又は謄写の請求をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(4) The shareholders may make requests for the inspection or copying of the Voting Forms submitted pursuant to the provisions of paragraph (1) at any time during the business hours of the Stock Company. 例文帳に追加

4 株主は、株式会社の営業時間内は、いつでも、第一項の規定により提出された議決権行使書面の閲覧又は謄写の請求をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(5) The shareholders may, at any time during the business hours of the Stock Company, make requests for the inspection or copying of anything that displays the data recorded in the Electromagnetic Records under the preceding paragraph in a manner prescribed by the applicable Ordinance of the Ministry of Justice. 例文帳に追加

5 株主は、株式会社の営業時間内は、いつでも、前項の電磁的記録に記録された事項を法務省令で定める方法により表示したものの閲覧又は謄写の請求をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(4) An Incorporated Commodity Exchange shall preserve documents, including the matters specified in paragraph (1), at its head office and make them available for public inspection during its business hours. 例文帳に追加

4 株式会社商品取引所は、第一項に定める事項を記載した書面を本店に備えて置き、その営業時間中これを公衆の縦覧に供しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(4) In addition to what is provided for in the preceding three paragraphs, the period during which the explanatory documents prescribed in paragraph (1) shall be provided for public inspection and other necessary matters concerning the application of the provisions of the preceding three paragraphs shall be specified by Cabinet Office Ordinance. 例文帳に追加

4 前三項に定めるもののほか、第一項に規定する説明書類を公衆の縦覧に供する期間その他前三項の規定の適用に関し必要な事項は、内閣府令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(5) In addition to what is provided for in the preceding paragraphs, the period during which the explanatory documents under paragraph (1) or paragraph (2) shall be provided for public inspection and any other necessary matters concerning the application of these provisions shall be specified by an ordinance of the competent ministry. 例文帳に追加

5 前各項に定めるもののほか、第一項又は第二項の説明書類を公衆の縦覧に供する期間その他これらの規定の適用に関し必要な事項は、主務省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

During this Jinshin Inspection, along with officials from the Education Ministry such as Hisanari MACHIDA (the first director of the Tokyo National Museum) and Noritane NINAGAWA, Yuichi TAKAHASHI (a painter) and Matsusaburo YOKOYAMA (a photographer) accompanied the team as recorders. 例文帳に追加

この壬申検査には文部官僚の町田久成(東京国立博物館の初代館長)、蜷川式胤のほか、油絵画家の高橋由一、写真師の横山松三郎らが記録係として同行した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

As there is only one tram, and as the carriage management unit does not have maintenance facilities along the business line, the tram is sometimes sent to parent company JR West's rail yard for maintenance and inspection during the winter off-season. 例文帳に追加

車両関係は営業線内に保守設備を持たず予備のない1編成のみのため、冬期運休期間内に親会社のJR西日本の車両基地へ保守や検査に出されることもある。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

(c) No third party shall be allowed to be present during on-the-spot inspection based on the financial institution's request, unless the chief inspector considers that there are special reasons to do so. 例文帳に追加

ハ.被検査金融機関からの申出による立入検査への第三者立会いについては、特段の事情があると主任検査官が判断する場合を除き、これを認めない。 - 金融庁

As for improvements to theperformance of audit engagements” and “joint audits,” both of which were highlighted during the previous inspection, there were no problems worthy of mention in respect to these at any of the firms. 例文帳に追加

なお、前回の検査での指摘事項である「監査業務の遂行」及び「共同監査」に関する改善状況については、各法人ともに特に指摘すべき問題点は認められなかった。 - 金融庁

During the inspection, the SESC shall verify primarily the following items from the perspective of whether business management systems have been built and, whether the senior management is performing such role. 例文帳に追加

① 取締役会は、法令等遵守・内部管理及び内部監査等の重要性を認識し、会社の業務内容等に応じた適切な組織体制を構築しているか。 - 金融庁

(1) Subject to the provisions of this Act, the register or any document lodged at the designs office shall, on payment of the prescribed fee, be open to inspection by the public during the prescribed hours.例文帳に追加

(1) 本法の規定に従うことを条件として,登録簿又は意匠庁に提出された書類は,所定の手数料を納付することにより,所定の時間内に公衆の閲覧に供される。 - 特許庁

All documents filed in connection with the registration of particulars mentioned in subsection must be available for inspection at the Designs Office by any person during the hours when it is open for business. 例文帳に追加

(2)に記載される明細の登録に関連して提出された全ての書類は,意匠局において,その就業時間中に何人の閲覧にも供さなければならない。 - 特許庁

(5) The person on whom the Office imposed an obligation during the proceedings, particularly to submit a deed or enable an inspection of an object, has the same rights as the witness, if he is not a party to the proceedings.例文帳に追加

(5) 証拠に関する手続の期間中,書類を提出する義務又は物品の検査を受ける義務を庁に課された者は,手続の当事者でない場合は,証人と同じ権利を有する。 - 特許庁

The register, or entries or reproductions of entries in it, shall be made available for inspection by the public during the hours of business of the registry as published in accordance with section 148 of the Ordinance. 例文帳に追加

登録簿,又はその記入若しくは記入の複製は,条例第148条に従って告示された登録部門の就業時間中,公衆の閲覧に供するものとする。 - 特許庁

Where the Registrar gives a direction under section 77(1) of the Ordinance, the representation of the design and any such evidence as is mentioned in section 77(2)(b) of the Ordinance shall not be open to public inspection in the Registry during the continuance in force of the directions. 例文帳に追加

登録官が条例第77条(1)に基づき指示を与える場合は,意匠の表示及び条例第77条(2)(b)にいう証拠は,当該指示が効力を継続する間,登録部門において公衆の閲覧に供してはならない。 - 特許庁

The register or entries or reproductions of entries in it shall for the purpose of section 84(2) be open to the inspection of the public, on payment of the prescribed fee, on every day on which the Office is open to the public during the time it is so open.例文帳に追加

登録簿又は登録簿中の記入事項若しくは記入事項の複製は,第84条(2)の適用上,所定の手数料の納付により,特許庁の毎就業日の窓口業務の時間中に,公衆の閲覧に供する。 - 特許庁

To quantitatively obtain a relationship between the saturation time of expansion or contraction of a probe pin and an overdrive quantity, in a probe card during probe inspection at high temperature or low temperature.例文帳に追加

高温時又は低温時のプローブ検査におけるプローブカードのプローブピンの膨張又は収縮の飽和時間とオーバードライブ量との関係を定量的に求められるようにする。 - 特許庁

The test structure is fabricated in a single photolithography step or with a single reticle or mask and includes substructures 102 and 104a-g having a particular voltage potential pattern during a voltage contrast inspection.例文帳に追加

テスト構造は単一のフォトリソグラフィステップ、単一のレチクルまたはマスクで製造され、電圧コントラスト検査中に特定の電位パターンを有するサブ構造102、104a〜gを含む。 - 特許庁

例文

During inspection of the light emitting element array 16 for Y at the time of production, integrated illuminance of each row is measured in the subscanning direction and illuminance distribution is determined in the main scanning direction.例文帳に追加

Y用発光素子アレイ16は、その製造時の検査において、副走査方向の各列の積算照度が測定され、主走査方向の照度分布が求められる。 - 特許庁

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