「LSi」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

An IDDQ is measured repeatedly while operating the logic blocks 120 to specify the logic block 120 with an abnormal measured IDDQ value, when whole LSI is operated and when abnormality is observed in the IDDQ value.例文帳に追加

ＬＳＩ全体を動作させてＩＤＤＱ値に異常が見られた場合に、論理ブロック１２０を選択的に動作させつつＩＤＤＱの測定を繰り返すことで、異常なＩＤＤＱ値が測定される論理ブロック１２０を特定する。 - 特許庁

To provide a transmitter employing a solid-state imaging device that controls an external trigger input of the solid-state imaging device, having a high-speed digital interface based on the capacity of a buffer permits, so as to eliminate the limit of an input interval of an external trigger by a transmission LSI.例文帳に追加

高速ディジタルインターフェースを持つ固体撮像装置の外部トリガ入力を、バッファの容量によって制御することで、伝送用ＬＳＩによる外部トリガの入力間隔の制限をなくすことを目的とする。 - 特許庁

To solve the problem that an electric property cannot be satisfied at the last stage of design when independently designing an LSI (an integrated circuit chip), a PKG (a package), and a PCB (a printed circuit board) in parallel in designing an electronic system.例文帳に追加

電子システムの設計においてＬＳＩ（集積回路チップ）、ＰＫＧ（パッケージ）、ＰＣＢ（プリント基板）を独立に平行して設計すると、設計の終了段階近くで電気特性を満足しない場合が発生してしまう。 - 特許庁

A first insulation layer 51 which is thick enough to make an upper surface flat and wherein a first via leading to the electrode terminal 2T is formed is formed on one surface of the substrate 1 and a formation surface of the electrode terminal 2T of the LSI chip 2.例文帳に追加

基板１の一面とＬＳＩチップ２の電極端子２Ｔ形成面との上に、上面が平坦となるような層厚で、電極端子２Ｔに至る第１のヴィアが形成された第１の絶縁層５１が形成される。 - 特許庁

To provide an image processor which is used for a digital still camera, can be prevented from increasing in circuit scale and development cost by restraining the amount of memories arranged in an LSI from increasing, and is capable of coping flexibly with an increase in the number of pixels of an image.例文帳に追加

ディジタルスチルカメラに用いられる画像処理装置において、ＬＳＩ内部に配置されるメモリの使用量を抑えることにより、回路規模や開発コストを抑えると共に、画像の画素数の増加に対して柔軟に対応できるようにする。 - 特許庁

Data of an initial value setting resister address where an address outputted in the state 1 are incremented by one each till a state 3, and END is reached by outputting for three times to reach a state 4, thus completing the setting of the initial value to the universal LSI.例文帳に追加

ステート３まではステート１で出力したアドレスから１ずつインクリメントした初期値設定レジスタアドレスのデータを出力し、３回出力してステート４まで行くとＥＮＤとなり、汎用ＬＳＩへの初期値の設定が終了する。 - 特許庁

A selector 150 is arranged inside an LSI chip 100, and a plurality of signals S1 and S5 are monitored by time sharing by switching the selector 150 by using an existing control signal (ENABLE) for switching operation of an inside circuit (a compression comparator 130).例文帳に追加

ＬＳＩチップ１００の内部にセレクタ（１５０）を設け、内部回路（圧縮比較器１３０）の動作を切り替えるための、既存の制御信号（ＥＮＡＢＬＥ）を用いてセレクタ（１５０）を切り替え、複数の信号（Ｓ１，Ｓ５）を時分割でモニタする。 - 特許庁

To provide an adjustment method for an equalization filter circuit for digital communication with a compact circuit configuration able to be mounted on a small-sized LSI, that can efficiently adjust a plurality of adjustment points by means of a genetic algorithm.例文帳に追加

小型のＬＳＩに搭載（実装）可能なコンパクトな回路構成のデジタル通信用等化フィルタ回路において遺伝的アルゴリズムによる複数の調整箇所の調整を効率的に行い得る等化フィルタ回路の調整方法を提供することにある。 - 特許庁

The logical synthesis optimizing method automatically extracts a false path and an inactive description block in a path setting part not to be analyzed and a redundant part out of the hardware description of an LSI from a regressions test result by using software and deletes the extracted part without requiring manual operation.例文帳に追加

ＬＳＩのハードウェア記述のうち解析非対象パス設定、及び冗長部分について、リグレッション・テスト結果からフォールス・パス及び不活性な記述ブロックをソフトウェアで自動抽出し、人手を介することなくこれを削除する。 - 特許庁

To solve the problem that a deviation in the duty ratio of an output of a phase adjustment circuit (output clock of a clock recovery circuit) is propagated to various circuits of post-stages using the clock, moreover, a malfunction of an LSI itself and deterioration in the performance are produced.例文帳に追加

従来、位相調整回路の出力（クロック復元回路の出力クロック）のデューティ比のずれは、そのクロックを使用する後段の様々な回路に伝播され、システムやＬＳＩ自体の誤動作や性能劣化を引き起こすことにもなってしまう。 - 特許庁

The LSI 203 prevents a the program content from being distributed again outside the information processing apparatus by either of a plurality of devices capable of outputting the data outside, according to the revocation information stored in the revocation information storing portion.例文帳に追加

ＬＳＩ２０３は、外部へのデータ出力が可能な複数のデバイスのいずれかによって番組コンテンツが情報処理装置の外部へ再配信されるのを、リボケーション情報記憶部に格納されているリボケーション情報に応じて抑止する。 - 特許庁

A microprocessor 71 receives power potentials output by a plurality of kinds of power sources (power source 6 for HDMI, power source 60 for LSI, power source 61 for sound driver IC, and power source 62 for TUNER) in common by an A/D port 72.例文帳に追加

マイクロプロセッサ７１はＡ／Ｄポート７２により複数種類の電源（ＨＤＭＩ用電源６、ＬＳＩ用電源６０、音声ドライバＩＣ用電源６１、ＴＵＮＥＲ用電源６２）が出力する電源電位を共通して受ける。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device in which reliability of bonding is improved by sufficiently securing a gap between an LSI element and a circuit board to prevent wetting spread of a solder to a seed layer, in a semiconductor mounting process.例文帳に追加

半導体実装プロセスにおいて、ＬＳＩ素子と回路基板とのギャップを十分に確保し、シード層上へのハンダの濡れ広がりを防止し、接合の信頼性を向上する事を特徴とする半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

When a face detection LSI 5 for detecting a face from an image taken by a CMOS sensor 4 detects a face from the image taken by the CMOS sensor 4, a host computer and a DSP 3 are made to return from a low current consumption mode.例文帳に追加

ＣＭＯＳセンサ４が撮影した画像から顔を検出する顔検出ＬＳＩ５が、ＣＭＯＳセンサ４が撮影した画像から顔を検出した場合は、ホストコンピュータ及びＤＳＰ３に対して低消費電流モードから復帰させる。 - 特許庁

In reproducing a program from the HDD recorder 109, a decoder LSI 107 decodes a reproduced signal, and a video processing part 110 applies format conversion to the decoded video signal in accordance with the image contour information stored in the RAM 113.例文帳に追加

ＨＤＤ記録装置１０９から番組を再生する際には再生信号をデコーダＬＳＩ１０７によりデコードし、映像処理部１１０はデコードされた映像信号をＲＡＭ１１３に記憶されている画郭情報に応じてフォーマット変換する。 - 特許庁

The actual operation of the deep submicron LSI circuit is properly reflected to enhance the resolution of the diagnosis; since a new diagnostic value is used and the generation probability of logical combination in probable failures is taken into consideration by the generation probability imparting part 9.例文帳に追加

発生確率付与部９により、新しい診断値を使用し、とりうる可能性のある故障の論理的組合せの発生確率を考慮するのでディープサブミクロンＬＳＩ回路の実動作がより良く反映され、診断の分解能の向上に役立つ。 - 特許庁

To mount an LSI with many pins, and to ensure high reliability even if no underfill is applied for reinforcement when a semiconductor device is mounted to a mother board, in a semiconductor wherein high density is established by using a flexible substrate.例文帳に追加

フレキシブル基板を用いて高密度実装を実現している半導体装置において、ピン数の多いＬＳＩを実装できるようにすると共に、マザーボードに実装された際アンダーフィルなどの補強をしなくても高信頼性を確保できるようにする。 - 特許庁

In order to measure the flatness of the bump of an LSI package as a work, a CAD data figure 12' is displayed on a CRT, and a measuring route for continuously measuring the multitude of bumps using a laser probe is automatically generated on the basis of CAD data.例文帳に追加

ワークとしてのＬＳＩパッケージのバンプの平面度を測定するため、ＣＡＤデータ図形１２´をＣＲＴ上に表示させ、レーザプローブを用いてこの多数のバンプを連続で測定するための測定ルートをＣＡＤデータに基いて自動生成する。 - 特許庁

Interpolation section 209 of the video output LSI 150 expands a transfer image up to the longitudinal 480 line on the television screen 302 of a television set 300 and expands/interpolates the lateral size of the transfer image with the same expansion rate as that of the longitudinal size of the transfer image.例文帳に追加

ビデオ出力ＬＳＩ１５０の補間部２０９は、テレビジョン装置３００のテレビ画面３０２の縦４８０ラインまで転送画像を拡大し、この転送画像の縦サイズと同じ拡大率で転送画像の横サイズを拡大補間する。 - 特許庁

An x-coordinate correction optical circuit 3, a y-coordinate correction optical circuit 4, a first rotation direction correction optical circuit 5 and a second rotation direction correction optical circuit 6 are disposed between a hologram 1 which is an optical information storage medium and an LSI part 2.例文帳に追加

光情報記憶媒質であるホログラム１とＬＳＩ部２との間に、Ｘ座標補正光回路３、Ｙ座標補正光回路４、第１の回転方向補正光回路５、第２の回転方向補正光回路６が配置されている。 - 特許庁

A test program and a test pattern generating program are downloaded into the CPU cores 2c and 3c of the LSI or the group of LSIs to generate test patterns by the test pattern generating program and diagnose internal function blocks etc.例文帳に追加

そして、上記ＬＳＩもしくは上記ＬＳＩ群のＣＰＵコア２ｃ，３ｃに試験プログラムおよび試験パターン生成プログラムをダウンロードし、上記試験パターン生成プログラムにより、試験パターンを発生させ、内部の機能ブロック等の診断を行う。 - 特許庁

In the semiconductor device of an object to be tested, the signal delaying time is measured and then the noise quantity in the semiconductor device of the object from the signal delaying time and the relation between the noise quantity and the delayed time determined by using the LSI 10 for evaluation.例文帳に追加

試験対象の半導体装置において信号遅延時間を測定し、その信号遅延時間と、評価用ＬＳＩ１０を用いて求めたノイズ量と遅延時間の関係とから、試験対象の半導体装置内のノイズ量を推定する。 - 特許庁

To realize a macro-test circuit in an LSI in which the number of external input terminals for testing is not increased even if the number of input terminals for testing provided in a macro-fashion is increased and the versatility of varying the input pattern of testing data is high.例文帳に追加

マクロに設けられるテスト入力端子の数が増加しても、テスト用の外部入力端子の数が増加することがなく、かつ、テストデータの入力パターンを可変する自由度の大きい、ＬＳＩにおけるマクロテスト回路を実現すること。 - 特許庁

The variations of the circuit characteristics of the LSI circuit 100 are detected, by detecting the variation in the amount of delay of a unit delay element, from a delay amount control signal of a digital DLL circuit 50 using the unit delay element 10 of a multiple stages.例文帳に追加

多数段の単位遅延素子１０を使用したディジタルＤＬＬ回路５０の遅延量制御信号から単位遅延素子の遅延量の変動を検出することによってＬＳＩ回路１００の回路特性の変動を検出する構成である。 - 特許庁

An LSI 1 has bidirectional (interactive) buffers 20a-20c connected to a boundary scan circuit 12, and the boundary scan circuit 12 has asynchronous setting circuits 7a-7c for setting each of the bidirectional buffers 20a-20c asynchronously in an input mode or an output mode.例文帳に追加

ＬＳＩ１は、バウンダリスキャン回路１２に接続された双方向バッファ２０ａ〜２０ｃを有し、バウンダリスキャン回路１２は、各双方向バッファ２０ａを入力モード又は出力モードに非同期に設定する非同期設定回路７ａ〜７ｃを有する。 - 特許庁

To provide an asynchronous noise filter circuit, which can eliminate a noise even if the level of a noise signal exceeds the threshold of an input logic circuit and can suppress cost increase by employing an LSI for reduction of the number of parts and usage of a smaller system board.例文帳に追加

ノイズ信号のレベルが入力論理回路の閾値を越える場合でも除去することができ、ＬＳＩ化により使用部品点数の減少、システムボードの小型化を図り、コスト増加を抑制し得る非同期型ノイズフィルタ回路を提供する。 - 特許庁

By the contact between the part of the fitting part 1A and the opening part 42 of the TEM cell 4, a continuity state is practically maintained in a frequency band necessary for the metal frame 1 and the TEM cell 4 for evaluating the LSI 3 for evaluation.例文帳に追加

嵌合部１Ａの箇所とＴＥＭセル４の開口部４２とが接触することによって、金属枠１とＴＥＭセル２が評価用ＬＳＩを評価するために必要な周波数帯域で実質的に導通状態を保持する。 - 特許庁

An output terminal 35 for outputting a stable voltage VREG0 generated by a regulator 44 to the outside is formed on an LSI 30, and the output terminal 35 is constituted to be connected to an analog input terminal 34-3 as required by a user.例文帳に追加

レギュレータ４４で生成された安定電圧ＶＲＥＧ０を外部へ出力するための出力端子３５をＬＳＩ３０に設け、この出力端子３５をユーザが必要に応じてアナログ入力端子３４−３に接続する構成にしている。 - 特許庁

A character to be transmitted to a FIFO buffer memory 4 and a mark character for instructing and controlling transmission completion for an LSI 3 for communication are written through the control of firmware 1 for communication and a CPU 4 on the basis of a transmission instruction of an application.例文帳に追加

アプリケーションの送信指示に基づいて、ＦＩＦＯバッファメモリ４に伝送するキャラクタと通信用ＬＳＩ３に対する送信完了を指示制御するためのマークキャラクタを通信用ファームウェア１及びＣＰＵ２の制御を通じて書き込む。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing electronic equipment by which the occurrence of defects caused by distortion errors can be prevented, even when the margin of alignment accuracy is small manufacturing of a system LSI, etc., having fine wiring, and to provide an exposure control system.例文帳に追加

微細な配線を持つシステムＬＳＩ等の製造において、合わせ精度の余裕が小さい場合においても歪み誤差による欠陥の発生を防ぐことが可能となる電子部品の製造方法および露光制御システムを提供することにある。 - 特許庁

In the SDIO card 10 whose size is the same as an SD memory card, an FM tuner 11, an ADC 12 which converts a stereo signal outputted from the FM tuner 11 to a digital signal, and an SDIO card controller LSI 13 are included.例文帳に追加

ＳＤメモリカードと同じ大きさのＳＤＩＯカード１０には、ＦＭチューナ部１１、ＦＭチューナ部１１から出力されるステレオ信号をデジタル信号に変換するＡＤＣ１２及びＳＤＩＯカードコントローラＬＳＩ１３が内蔵されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can be accurately inspected even in a production line of LSI semiconductor chips by reducing instability in drive capacity of output transistors stabilizing the output current when a wafer is inspected, and to provide a method for inspecting the same.例文帳に追加

ウェハ検査の際の出力電流を安定化して、出力トランジスタのドライブ能力の不安定を低減し、ＬＳＩ半導体チップの量産の場においても正確に検査することができる半導体装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

To reduce the loss of a processor processing time due to the frequent generation of switching in a power control method for reducing the power consumption of a CMOS-LSI circuit by dynamically switching a power supply voltage and a clock frequency during operation.例文帳に追加

電源電圧及びクロック周波数を動作中に動的に切換えることにより、ＣＭＯＳ−ＬＳＩ回路の消費電力を抑制する電力制御方法において、切換えが頻発することによるプロセッサ処理時間の損失を抑制する。 - 特許庁

To prevent the internal circuit of a function block from being operated by written data even when the operation specifications are not understood in verifying the connection of the function block constituting a system LSI and to easily verify the connection of the function block.例文帳に追加

システムＬＳＩを構成する機能ブロックの接続検証を行う場合に、その動作仕様を理解しなくても、書き込むデータにより機能ブロックの内部回路が動作してしまうようなことを防ぎ、簡単に機能ブロックの接続検証を行う。 - 特許庁

To shorten a time required for logic re-synthesis and to prevent occurrence of an error during logic re-synthesis operation when a change and a correction in a function/logic design phase are carried out on an LSI with an enormous hierarchy structure in a net list due to increase in scale and speed.例文帳に追加

大規模化高速化が進みネットリストでの階層構造が膨大となるＬＳＩの、機能・論理設計フェーズでの変更修正において、再論理合成の時間を短くし、かつ、再論理合成作業での誤りの発生を防ぐ。 - 特許庁

In the memory card 1 with a copyright protecting function incorporated with a controller LSI, a secure area 101 and a semi-secure area 102 are configured to store data for copyright protection such as key data or license data, and used as an area inaccessible with a command.例文帳に追加

コントローラＬＳＩ内蔵の著作権保護機能付きメモリ・カード１では、セキュア領域１０１、準セキュア領域１０２は、鍵データやライセンスデータなど著作権保護のためのデータ類を格納する領域で、コマンドでアクセスできない領域である。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory suitable for constitution of the system LSI of a logic mixed DRAM or the like, capable of reducing the cell area and reducing the level difference from a peripheral circuit, without degrading the performance of a peripheral circuit MOSFET by substantially reducing heat processes.例文帳に追加

セル面積を縮小でき、周辺回路との段差が小さく、熱工程を大幅に減らすことで周辺回路MOSFETの性能を劣化させることなく、論理混載ＤＲＡＭ等のシステムＬＳＩの構成に好適な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging unit including a timing generator LSI capable of easily supplying a timing pulse required to drive a plurality of kinds of solid-state imaging elements respectively and the development period of which is furthermore shortened without the need for increasing the size of a package.例文帳に追加

複数種の固体撮像素子の駆動にそれぞれ必要とされるタイミングパルスを容易に供給でき、パッケージを大きくすることなく、更に開発期間を短縮したタイミングジェネレータＬＳＩを有する固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

To enable to retrieve failure factors by automatically changing test conditions at a high speed, regarding a device test estimating system and its method which retrieve failure factors of a device to be measured like an LSI (large scale integrated circuit) and perform test estimation.例文帳に追加

ＬＳＩデバイス等の被測定デバイスの不良要因を検索して試験評価を行うためのデバイス試験評価システムおよびその方法に関し、自動的にかつ高速に試験条件を可変にして不良要因を検索することを目的とする。 - 特許庁

To provide a functional element having a high function, its manufacturing method, and a functional system using such a functional element, which maximally make use of an advantage of a bottom-up system typical of a life body and a top-down system typical of a silicon LSI.例文帳に追加

生命体に代表されるボトムアップ系とシリコンＬＳＩに代表されるトップダウン系との利点を最大限活かすことができる高機能の機能素子、その製造方法およびそのような機能素子を用いた機能システムを提供する。 - 特許庁

A memory LSI is tested, the number of defect bits are counted for bit map data for each address coordinate, a histogram of the number of defect is made, and wavelet analysis making harl function a base function is performed by assuming the made histogram of the number of defect as a discrete signal.例文帳に追加

メモリＬＳＩを試験し、ビットマップデータに対してアドレス座標毎に不良ビット数をカウントし、不良数ヒストグラムを作成し、作成した不良数ヒストグラムを離散信号とみなして、ハール関数を基底関数としたウェーブレット解析を行う。 - 特許庁

To readily provide a semiconductor device for solving a problem for manufacturing a system on a chip by a manufacturing method which is a combination of a memory specific manufacturing process and a logic-specific manufacturing process; and a number of LSI chips in the system on a chip are sealed by resin.例文帳に追加

メモリ特有の製造プロセスとロジック特有の製造プロセスとを組み合わせたシステムＬＳＩを製造するための問題を解決し、システムＬＳＩを複数のＬＳＩチップを樹脂にて封止した半導体装置を容易に提供する。 - 特許庁

To prevent of electric characteristic by interposing a resin between bumps in such a step where two LSI chips with metallic bumps face each other in a manner that the two bumps face each other, and a clearance is filled with a sealing resin for bump joint.例文帳に追加

金属バンプが形成された２個のＬＳＩチップをバンプ同士対向させ、その間隙に封止用絶縁樹脂を充填しながら、バンプ接合を行う工程において、バンプ間に樹脂が介在し、電気特性が劣化するのを防止する。 - 特許庁

Since the size of the solder bump 6a is made larger than that of the solder bump 6b, strength can be sufficiently obtained when the solder bump 6b is made minute, and a gap between the LSI chip 2 and the substrate 1 can be ensured.例文帳に追加

半田バンプ６ａの大きさが半田バンプ６ｂの大きさよりも大きくなっていることで、半田バンプ６ｂを微細化しても半田バンプ６ｂにより強度が充分に得られると共に、ＬＳＩチップ２と基板１とのギャップが確保される。 - 特許庁

To avoid contact (bridge) of proximate solder by melting excessive solder at the early stage of melting of solder and pulling the melted excessive solder in a prescribed direction in a process of mounting a BGA (Ball Grid Array) package LSI (Large Scale Integration).例文帳に追加

ＢＧＡパッケージＬＳＩ実装工程において、はんだ溶融の初期に余剰はんだを溶融できるようにすると共に、溶融された余剰はんだを所定方向へ引っ張れるようにして近接はんだの接触（ブリッジ）を回避できるようにする。 - 特許庁