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該当件数 : 19549



例文

By using a flaw detection refraction angle and beam width inputted by a flaw detection conditions inputting means 11 and the data indicating a relationship between the refraction angle and the acoustic velocity, an incidence angle/beam width calculating part 12 calculates an incidence angle and a beam width inside a linear array type probe 1 necessary for achieving these flaw detection refraction angle and beam width.例文帳に追加

入射角・ビーム幅算出部12は、探傷条件入力手段11で入力された探傷屈折角、ビーム幅と、前述の屈折角と音速の関係を示すデータとを用いて、これら探傷屈折角、ビーム幅を得るための、リニアアレイ型探触子1内での、入射角とビーム幅を算出する。 - 特許庁

A DNA strand complementary to the target sequence is extended in 5'→3' direction from the primer annealed to the target sequence by the polymerase activity of the DNA polymerase, and the labeled probe annealed to the target sequence is decomposed by the 5'→3' exonuclease activity of the DNA polymerase to isolate a fragment bound with the labeled substance.例文帳に追加

DNAポリメラーゼのポリメラーゼ活性により、標的配列にアニーリングしたプライマーから標的配列に相補的なDNA鎖を5’→3’方向に伸長させ、且つ、DNAポリメラーゼの5’→3’エキソヌクレアーゼ活性により、標的配列にアニーリングした標識化プローブを分解し、標識化物質が結合した断片を遊離させる。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting a semiconductor by which the continuity of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as an electronic microscope without performing such troublesome work as the random access operation of a probe, and to provide a system for obtaining the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。 - 特許庁

Additionally the scanning probe microscope 100 is provided with a CPU 164 controlling an entire system, an indication input section 166 for designating a SPM measurement area, a display section 168 displaying the image and various information on the sample, and a memory section 170 storing the acquired data.例文帳に追加

さらに、走査型プローブ顕微鏡100は、装置全体を制御するためのCPU164と、SPM測定領域を指定するための指示入力部166と、試料の画像や種々の情報を表示するための表示部168と、得られる情報を記憶するための記憶部170とを有している。 - 特許庁

例文

Probe light from a monochromatic light source 1 is incident to a transient lattice generated in a substance 10 to be measured so as to satisfy Bragg conditions, and hence signal light diffracted by the substance to be measured is spectrally resolved by a spectroscope 4, and the wide wavelength region is simultaneously measured by a detector 5.例文帳に追加

そして、被測定物質10中で生じた過渡格子に単色光源1からのプローブ光をブラッグ条件を満足するように入射することにより、分光器4で被測定物質により回折された信号光をスペクトル分解し、検出器5により広い波長領域を同時に測定する。 - 特許庁


例文

The ultrasonograph uses, as additional information about ultrasonic images, appearance images showing the part of a subject and the position of a probe, and either displays the appearance images and the ultrasonic images at the same time or stores the images in such a manner that the former corresponds to the latter.例文帳に追加

超音波画像に関する付加情報として、被検体の部位とプローブの位置とを表示した外観画像を使用する超音波画像診断装置であって、当該外観画像と超音波画像とを同時に表示する、若しくは対応付けて記憶することを特徴とする超音波画像診断装置。 - 特許庁

A plurality of images picked up by the image pickup means are stored in a computer 40 and analyzed with respect to individual spots to detect hybridization with respect to all of spots with high reliability without receiving the effect of the optimum temperature of hybridization different at every spot corresponding to the kind of a probe.例文帳に追加

撮像手段によって撮像された複数の画像はコンピュータ40に記憶し、個々のスポットについて画像を解析することで、プローブの種類に応じてスポット毎に異なるハイブリダイゼーションの最適温度の影響を受けることなく全てのスポットにおいてハイブリダイゼーションを高い信頼性を持って検出する。 - 特許庁

In a nucleic acid analysis device for analysis of nucleic acid in a sample through fluorometry, a localized surface plasmon is generated by light irradiation and a nucleic acid probe or a nucleic acid synthetic enzyme for the analysis of the nucleic acid in the sample is disposed in a region of generation of the surface plasmon.例文帳に追加

本発明は、蛍光測定により試料中の核酸を分析する核酸分析デバイスにおいて、光照射により局在型表面プラズモンが発生し、かつ、試料中の核酸を分析するための核酸プローブや核酸合成酵素が前記表面プラズモンの発生部位に配置されていることに関する。 - 特許庁

On a measuring probe to be inserted into a plasma PM, an external conductor 43c of a coaxial cable 43 inserted into a tube 41 which is an dielectrics is grounded at the outside of a chamber 10, and a circular noise reduction element (ferrite core) 50 is passed through the coaxial cable 43 between its grounded site 49 and an antenna 42.例文帳に追加

プラズマPM中に挿入される測定プローブにあって、誘電体であるチューブ41内に挿入された同軸ケーブル43の外部導体43cをチャンバ10の外側で接地し、その接地部位49とアンテナ42との間の同軸ケーブル43に環状のノイズ低減素子(フェライトコア)50を挿通する。 - 特許庁

例文

The device is equipped with: a means 32 for receiving the ultrasonic reflected echo signal from the sample by the ultrasonic probe and subjecting the ultrasonic reflected echo signal to signal processing to produce a vibration negating signal; and a means 33 for superposing the vibration negating signal on the ultrasonic reflected echo signal.例文帳に追加

この装置は、試料からの超音波反射エコーを超音波探触子で受信し、それにより生じた超音波反射エコー信号に信号処理を施して振動打消し用信号を生成するための手段32と、超音波反射エコー信号に対して振動打消し用信号を重ね合わせる手段33とを備える。 - 特許庁

例文

The probe includes: a piezoelectric element 2 for mutually converting an electrical signal and an ultrasonic signal; first and second flexible substrates 4 5 for transmitting an electrical signal for allowing the piezoelectric element 2 to transmit or receive the ultrasonic signal; and an acoustic matching layer 3 for matching the acoustic impedance between a subject under test and the piezoelectric element 2.例文帳に追加

電気信号と超音波信号とを相互に変換する圧電素子2と、圧電素子2に超音波信号を送信あるいは受信させるための電気信号を伝送する第1および第2フレキシブル基板5、4と、被検体と圧電素子2との音響インピーダンスを整合させる音響整合層3とを備える。 - 特許庁

This ultrasonic probe 1 is configured by having a shaft 5 provided on the outer peripheral portion of a coaxial signal line 10 equipped with an ultrasonic vibrator on the tip side and formed from a conductive member coaxially with the coaxial signal line 10 and wrapping the shaft 5 with a sheath 3 integrally formed while holding a conductor 3a between insulators 3b.例文帳に追加

超音波探触子1は、超音波振動子を先端側に設けた同軸信号線10の外周部に設け、この同軸信号線10と同軸状に導電材で形成したシャフト5を有し、導電体3aを絶縁材3bで挟み込んで一体的に形成されるシース3で内包して構成される。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that can prevent the part between lead terminals from being short-circuited by the probe of a measuring instrument without causing lead bending or the like due to the reduction of mechanical strength, by secondary machining and reduction in productivity of a lead terminal member when inspecting electrical characteristics.例文帳に追加

二次加工による機械的強度の低下に伴うリード曲がり等の発生、リード端子部材の生産性の低下を伴なわずに電気的特性検査の際にリード端子間が測定器のプローブで短絡されることを防止でき、正確かつ安全に電気的検査を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

This ultrasonic probe includes a light irradiating portion configured to radiate light for generating ultrasonic waves from a light absorber, an ultrasonic transducing portion configured to transduce the ultrasonic waves generated by light from the light irradiating portion to an electric signal, and a light guide plate configured to introduce light from a light source to the light irradiating portion.例文帳に追加

超音波探触子であって、光吸収体から超音波を発生させるために光を放射する光照射部と、光照射部からの光により発生した超音波を電気信号に変換するための超音波変換部と、光照射部に光源からの光を導入するための導光板とを有する。 - 特許庁

To provide a contact probe pin that forms a carbon coating having electric conductivity and durability on a substrate whose tip is divided and that is capable of reducing Sn deposition as much as possible even under conditions where temperature is high in usage environment and keeping electric contact stable over a long period of time.例文帳に追加

導電性と耐久性を兼ね備えた炭素皮膜を、先端が分割された基材に対して形成するようなコンタクトプローブピンにおいて、使用環境が高温になる様な状況下においても、Sn付着を極力低減し、長期間に亘って安定な電気的接触を保つことのできるコンタクトプローブピンを提供する。 - 特許庁

The obtained bio-molecule micro array is irradiated with an excitation ray, reflected light and fluorescence from the bio-molecule micro array are measured concurrently, the bio-molecule probe immobilized spots having the light reflecting layer spot is specified based on a difference in intensity of the reflected light on the bio-molecule micro array, and the fluorescent data from a specified spot range is provided.例文帳に追加

得られた生体分子マイクロアレイに励起光を照射し、生体分子マイクロアレイからの反射光及び蛍光を同時に計測し、生体分子マイクロアレイ上の反射光の強度の違いから、光反射層スポットを有する生体分子プローブ固定スポットを特定し、特定されたスポット範囲からの蛍光データを得る。 - 特許庁

The probe member is configured of a first anisotropically conductive connector and a second anisotropically conductive connector, wherein by supporting these on a frame plate, mutually corresponding electric conductive parts for connection of the first anisotropically conductive connector and the second anisotropically conductive connector are positioned and fixed as an one body.例文帳に追加

第1異方導電性コネクターと、第2異方導電性コネクターとの積層体により構成され、これらをフレーム板に支持させることにより、第1異方導電性コネクターと前記第2異方導電性コネクターとの互いに対応する接続用導電部同士を位置決めして一体的に固定したことを特徴とする。 - 特許庁

An NMR probe multiple tuning circuit 21 has circuit constitution such that an HF input/output port 22 and first and third reactance elements 35 and 42 are connected to one terminal of an independent sample coil LS and an LF input/output port 26 and a second reactance element 38 are connected to the other terminal of the sample coil LS.例文帳に追加

NMRプローブ多重同調回路21は、単独のサンプルコイルL_Sの一端側にHF入出力ポート22、第1および第3リアクタンスエレメント35,42が接続されるとともに、サンプルコイルL_Sの他端側にLF入出力ポート26、第2リアクタンスエレメント38が接続される回路構成となっている。 - 特許庁

The ultrasound flaw detecting device 100 includes: ultrasound probes 1, which are disposed underneath and facing the end of a pipe P and which transmit and receive ultrasound waves, in the direction of the pipe end; and a probe holder 2, which is disposed underneath and facing the pipe end and which houses the ultrasound probes as well as tracks the pipe which rotates circumferentially.例文帳に追加

超音波探傷装置100は、管Pの端部の下方に対向配置され、管端部に向けて超音波を送受信する超音波探触子1と、管端部の下方に対向配置され、超音波探触子が収納されると共に、周方向に回転する管に追従する探触子ホルダー2とを備える。 - 特許庁

When a relative displacement over 5 mm is caused between the first and the second slider surfaces, that is, when the shock or vibration when the measurement probe touches the object to be measured is in converged state, the detection value of the displacement detection means can be taken in and stable measurement can be done.例文帳に追加

従って、第1及び第2のスライダ間に5mm以上の相対変位が生じたとき、すなわち、測定子が被測定物に当接したときの衝撃や振動が収束している状態にある時点で、変位検出手段の検出値を取り込むことができ、安定した測定を行うことができる。 - 特許庁

To provide a scanning electromagnetic wave microscope capable of positioning a distance between a probe tip and a sample in response to necessary resolution and physical quantity measurement distributed at an optional distance from a sample surface, and carrying out resolution-selective scanning by constant distance scanning and high speed scanning of interaction by constant scanning.例文帳に追加

本発明は、サンプル表面から任意距離に分布する物理量測定や必要な分解能に応じたプローブ先端部とサンプル間距離の位置決めが可能で、距離一定走査による分解能選択走査と、相互作用を一定走査による高速走査が行える走査型電磁波顕微鏡を得ることにある。 - 特許庁

A hydrogen-containing amorphous carbon (DLC) film layer is formed on the surface of a probe core material by means of high-frequency plasma chemical vapor deposition method, using a hydrocarbon gas as a source gas to form an electricity-insulating and highly hard protective film layer of a uniform thickness in the microprobe.例文帳に追加

プローブ芯材の表面に、炭化水素ガスをソースガスとして用いた高周波プラズマ化学気相析出法によって水素含有アモルファス状炭素(DLC)膜層を形成することにより、電気絶縁性、かつ高硬度性をもった均一な厚さの保護膜層を形成してなるマイクロプローブを実現できる。 - 特許庁

To provide a method for detecting and determining a nucleic acid by fluorescence measurement adopting a new constitution capable of achieving high sensitivity when fluorescence from a fluorescent molecule obtained by combining a target nucleic acid with a hybrid is measured by means of hybridization utilizing a probe nucleic acid to detect and determine the target nucleic acid.例文帳に追加

プローブ核酸を利用するハイブリダイゼーション法により、標的核酸をハイブリッド体に結合した蛍光分子からの蛍光を測定して、検出定量を行う際、高い感度を達成することが可能な、新規な構成を採用した蛍光測定による核酸の検出・定量を行う方法を提供 - 特許庁

Also, the seed layer 6 having the high strength of adhesion is formed by using the same gaseous raw material as that for the shielding film and changing the scanning method and stagnation time of the ion beam 5, probe current and the gaseous raw material for FIB-CVD and the shielding film 7 of the small halo component is formed by FIB-CVD on the formed seed layer 6.例文帳に追加

または遮蔽膜と同じ原料ガスを用いて、イオンビーム5の走査方法・滞在時間やプローブ電流やFIB-CVD原料ガスを変えて接着強度の強い種層6を形成し、形成した種層6の上にハロー成分の小さい遮蔽膜7をFIB-CVDで形成することでハーフトーン欠陥を修正する。 - 特許庁

To secure an enough deflection region W and improve the resolution of an SEM, as to a low-vacuum SEM carrying out differential exhaustion for keeping a pressure ratio of an electro-optic system 16 and a sample room 17 at a given value, fulfilling a probe current of the given value or more, and observing raw food or a sample with moisture in a low vacuum.例文帳に追加

電子光学系16と試料室17の圧力比を所定値に保つ差動排気を行い、所定値以上のプローブ電流を満たし、低真空中で生ものや湿気を帯びた試料を観察する低真空SEMにおいて、十分な偏向領域Wを確保するとともに、SEMの分解能を向上する。 - 特許庁

To provide a flaw detector capable of enhancing stability of flaw detection performance, and detectability of a defect, by providing a holding mechanism for a probe excellent in close contactness and followability onto an inspected object, even in a complicated shape or a narrow portion such as a welded part of a lower instrumentation pipe block in a nuclear reactor.例文帳に追加

原子炉容器の下部計装管台の溶接部のような複雑な形状、狭隘な部位においても、被検査体への密着性、および倣い性が良好な探触子の保持機構を提供することによって、探傷性能の安定性、欠陥の検出性を向上する探傷装置を提供すること。 - 特許庁

The apparatus has a permanent magnet 3 set to a noncontact position to a flaw detection face of a material 1 to be detected for magnetizing a flaw detection point with a d.c., and an eddy current flaw detection probe 2 set between magnetic poles of the permanent magnet 3 for exciting an eddy current without contact to the material 1 to be detected and detecting a turbulence generated to the eddy current.例文帳に追加

被検材1の探傷面に非接触な位置に設けられ、探傷箇所を直流磁化する永久磁石3と、永久磁石3の磁極間に設けられ、前記被検材1に非接触で、渦電流を励起させ、この渦電流に生じる乱れを検出する渦流探傷プローブ2とを備えたもの。 - 特許庁

A component 10 is immersed in a coupling medium 22 having a material speed c_W, and an ultrasonic UT probe 20 (having a convex lens 14 having an acoustic speed c_L and acoustic impedance of about less than 2.5×10^6Rayls) having at least one transducer 12 is immersed in the coupling medium.例文帳に追加

部品10を物質速度c_Wを有する結合媒体22の中に部品を浸漬し、少なくとも1つの変換器12を有する超音波UTプローブ20(音響速度c_L及び約2.5×10^6Rayls未満の音響インピーダンスを有する凸レンズ14を有する)を結合媒体の中に浸漬する。 - 特許庁

The current measuring apparatus which has a means for measuring the current flowing in the measurement sample 4 when the measurement sample 4 is irradiated with a probe such as the electron beam 12 or the like, is equipped with a switched capacitor current amplifier circuit 8 as an amplifier circuit for amplifying the current flowing in the measurement sample 4.例文帳に追加

電子ビーム12等のプローブを測定サンプル4に照射したときに、その測定サンプル4に生じる電流を測定する手段を有する電流測定装置であって、測定サンプル4に流れる電流について増幅する増幅回路として、スイッチトキャパシタ電流増幅回路8を有することを特徴とする。 - 特許庁

In manufacturing the ultrasonic probe having this adhesive layer for a first adhesive applied to the vibration or non-vibration region of the piezoelectric element, the one having a viscosity at which the adhesive can be prevented from flowing from the vibration region to the non-vibration region of the piezoelectric element 121 or vice versa is used.例文帳に追加

当該接着層を有する超音波プローブの製造において、最初に圧電素子の振動領域又は非振動領域の一方に充填される接着剤については、圧電素子121の振動領域又は非振動領域の他方に流入しない程度の粘度を有するものが使用される。 - 特許庁

An inverse phase focus data memory 20 for reducing the side lobe is recorded with transmission focus data for forming a second ultrasonic beam to be applied to the side lobe of the first ultrasonic beam, and a transmission circuit 16 for reducing the side lobe transmits a second ultrasonic wave from the vibrator corresponding to the probe 12 according to the data.例文帳に追加

サイドローブ低減用逆位相フォーカスデータメモリ20には、第1超音波ビームのサイドローブにあてがわれる第2超音波ビームを形成するための送信フォーカスデータが記憶され、そのデータに従ってサイドローブ低減用送信回路16は、プローブ12の対応する振動素子から第2超音波を送信する。 - 特許庁

The probe inspection method comprises a process of delivering conductive liquid body 124 toward an electrode 116 of an inspected element 180 and supplying the conductive liquid body 124 onto the electrode 116, and a process of delivering and receiving electrical signal via the conductive liquid body 124 and inspecting the inspected element 180.例文帳に追加

本発明に係るプローブ検査方法は, 被検査素子180の電極116に向けて導電性液状体124を吐出して、電極116上に導電性液状体124を供給する工程と、 導電性液状体124を介して電気信号を授受し、被検査素子180の検査を行う工程と,を含む。 - 特許庁

Also, the probe is equipped with a hollow tube made of resins with lower refractive index than water, and the inside of the resin-made hollow tube functions as the water flow path, and the light guiding path can be composed of the core part of water filled in this water flow path and the clad part of the resin-made hollow tube.例文帳に追加

また、プローブは、水より屈折率が低い樹脂からなる樹脂製中空管を備え、当該樹脂製中空管内部が流水路として機能し、この流水路に満たされた水によるコア部と、前記樹脂製中空管によるクラッド部とにより、導光路が形成されている構成とすることができる。 - 特許庁

To provide an ultrasonograph and a control program of the ultrasonograph capable of reducing various effects caused by discrepancy of isotropy evaluated based on a scanning line density in an electronic scanning direction and the scanning line density of a swinging direction from an intended value in a mechanical scan using a mechanical 4-dimensional probe.例文帳に追加

メカ4Dプローブを用いたメカニカルスキャンにおいて、電子スキャン方向の走査線密度と揺動方向の走査線密度とから評価される等方性が所望の値から乖離していることに起因する諸影響を低減させることが可能な超音波画像診断装置および超音波画像診断装置の制御プログラムである。 - 特許庁

This means for discriminately assaying the above nine kinds of bacteria is provided by using a section which consists of a base sequence in the specific domain of gyrase β gene(gyr β) consisting of the structural gene of the β-subunit in these bacterial enzyme topoisomerase II and contains the different base sequence due to each bacterial species as a primer or a probe.例文帳に追加

これらの細菌の酵素トポイソメラーゼIIのβサブユニットの構造遺伝子であるジャイレースβ遺伝子(gyrB)の特定の領域の塩基配列であって、各菌種によって塩基配列が異なっている部分をプライマー又はプローブとして用いることにより、上記9種類の菌を識別的に測定する手段を提供した。 - 特許庁

To provide a probe assembly that will neither cause large lateral displacement of an inspecting body nor causing damage to a device region, for electrical inspection on an inspecting body, such as a semiconductor wafer having asymmetric arrangement pattern, wherein electrodes in the same number are not arranged on a pair of straight lines.例文帳に追加

一対の直線上に同数の電極が配列されていない非対称配列パターンを有する半導体ウエハのような被検査体の電気的検査において、該被検査体に横方向への大きな変位を生じさせることなく、しかもデバイス領域に損傷を与えることのないプローブ組立体を提供する。 - 特許庁

The measuring probe 1 is provided with a light guide member 2 for simultaneously transmitting the optical information for measuring the distance between the plasma electrodes E1, E2 in the plasma discharge processor P and the optical information for measuring the spectral intensity of the plasma in a discharge space formed between the plasma electrodes E1, E2.例文帳に追加

測定プローブ1は、プラズマ放電処理装置Pにおけるプラズマ電極E1、E2間の距離を測定するための光情報と、プラズマ電極E1、E2間に形成される放電空間におけるプラズマの分光強度を測定するための光情報とを同時に伝送する光導部材2を備える。 - 特許庁

The magnetic particle which is used for the immunological inspection, is formed so that at least its surface is made of a material less adsorbent to a substance being subjected to the inspection, and has a functional group on the surface, capable of being used for chemically bonding with a probe for the inspection.例文帳に追加

免疫検査用の磁性粒子であって少なくともその表面が検査に使用される物質に対して低吸着性の材料で形成されており、さらに粒子表面には検査用プローブとの化学結合に使用可能な官能基を有することを特徴とする免疫検査用磁性粒子。 - 特許庁

A massage machine 100 is provided with a headphone 1 having a pulse wave sensor and a heart rate measuring electrode and having an ear lobe sensor attached on one ear lobe and a respiration sensor, and a finger- attached probe 2 having a pulse wave sensor and a heart rate measuring electrode and attached on a finger.例文帳に追加

脈波センサ及び心拍計測用電極を有し、一方の耳朶に装着する耳朶用センサ及び呼吸センサを備えたヘッドフォン1と、脈波センサと心拍計測用電極を有し、手指に装着する手指装着用プローブ2と、を備えた生体情報計測用センサをマッサージ機100に設けた。 - 特許庁

To provide an organic piezoelectric body and an ultrasonic resonator which are excellent in piezoelectric characteristics and processability: to provide an ultrasonic probe giving an ultrasonic image detector capable of obtaining a high-resolution image: and to provide the ultrasonic image detector capable of obtaining a high-resolution image.例文帳に追加

本発明の目的は、圧電特性に優れかつ加工性に優れる有機圧電体および超音波振動子を提供することであり、さらに高解像度の画像が得られる超音波画像検出装置を与える超音波探触子および高解像度の画像が得られる超音波画像検出装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, constituted so as to easily perform the light spot positional alignment when a cantilever is irradiated with light in a dark field illumination state, with respect to the objective lens for observing a light spot, or when the light spot is difficult to be recognized from the wavelength of ultraviolet or infrared rays.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、光スポット観察用の対物レンズに対して、暗視野照明状態でカンチレバーに光が照射される場合や、紫外や赤外などの波長でスポットが認識しづらい場合に、光スポット位置合わせが容易に行えるような走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The probe of the scanning heat microscope comprises a cantilever, a first conductive layer formed in the cantilever, an insulating layer formed on the first conductive layer and having a hole, a second conductive layer formed on the surface of the insulating layer, a thermocouple, and a carbon nanotube installed at an end of the thermocouple.例文帳に追加

本発明に係る走査型顕微鏡のプローブは、カンチレバーと、該カンチレバーに形成される第一導電層と、該第一導電層に形成され、穴が設けられる絶縁層と、該絶縁層の表面に形成される第二導電層と、熱電対と、該熱電対の端部に設置されるカーボンナノチューブと、を含む。 - 特許庁

To provide a molten steel refining method for use in a vacuum-decarburizing refining of extra-low carbon steel by using a real-time monitoring technique, by which the extra-low carbon steel can be highly accurately and efficiently obtained by increasing content control accuracy for the target carbon concentration and shortening treating time while restraining a probe and gas cost.例文帳に追加

本発明はリアルタイムモニタリング技術を用いた極低炭素鋼の真空脱炭精錬において、プローブやガスコストを抑制しつつ、目標炭素濃度に対する成分制御精度を高め、かつ処理時間の短縮を図ることにより、極低炭素鋼の高精度かつ高効率な溶製方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The acoustic transmission characteristics measuring device 1000 comprises a speaker 14 for generating sound waves to be sent to one end side of a hollow sound tube 18 to be measured; a guide tube 16 having a uniform diameter; and probe microphones 30, 32 for detecting sound pressure at the first and second points in the guide tube.例文帳に追加

音響伝達特性測定装置1000は、中空の測定対象音響管18の一端側に対して送り込むための音波を生成するスピーカ14と、一様な径を有するガイド管16と、ガイド管内の第1および第2の点での音圧を検出するプローブマイク30,32とを備える。 - 特許庁

This receptor is obtained by screening a cDNA library produced from a brain of mouse fetus with a probe coding for a partial amino acid sequence of midkine receptor, followed by integrating the obtained gene into an expression vector to express in a host cell.例文帳に追加

放射性ヨウ素標識したミッドカインと特異的に結合する細胞膜タンパク質分子を、架橋実験により検索したところ、ミッドカインと特異的に結合し、ミッドカインと該細胞膜タンパク質の複合体として細胞内に取り込まれる現象(受容体依存性エンドサイトーシス)を示す、分子量400kDa+のミッドカイン受容体を見出した。 - 特許庁

A second configuration of the Z-direction correction means has a tilt stage capable of adjusting a tilt angle unidirectionally or bidirectionally against a reference plane of the scanning probe microscope between a sample stand and the sample, and corrects the inclination caused by the characteristic of the sample or the scanner by the tilt stage.例文帳に追加

Z方向補正手段の第2の形態は、試料台と試料との間において、走査型プローブ顕微鏡の基準面に対する傾斜角度を一方向又は二方向で調整可能とする傾斜ステージを備え、この傾斜ステージによって、試料あるいはスキャナーの特性による傾斜を補正する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing device for improving the degree of design freedom and reducing manufacturing costs of a probe card, or the like by enhancing the degree of freedom for correlating a comparator for comparing a signal from a DUT with a prescribed expectation value to a fail memory for storing fail information, namely the comparison result.例文帳に追加

DUTからの信号と所定の期待値との比較を行う比較器とその比較結果であるフェイル情報を記憶するフェイルメモリとの対応付けの自由度を高め、これによりプローブカード等の設計自由度の向上及び製造コストの削減を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

When the short-circuiting between two adjacent electrodes selected from the plurality of electrodes being arranged in parallel is detected, a probe is applied to each of the two adjacent electrodes from a side, the resistance between the electrodes is measured, and the presence or absence of the short-circuiting between the electrodes is determined according to the resistance.例文帳に追加

平行に配列された複数の電極のうちから選ばれた隣り合う2本の電極間のショートを検出する際に、隣り合う2本の電極それぞれに対して片側からプローブを当てて、電極間の抵抗値を測定し、この抵抗値から前記電極間のショートの有無を判定する。 - 特許庁

On the other hand, when the frequency of the transmission signal of the probe 4 is a second frequency which is lower than the first frequency, the frequency of the detected Doppler shift frequency component signal is multiplied by a frequency multiplication circuit and the frequency-multiplied Doppler shift frequency component signal is acoustically output.例文帳に追加

一方、プローブ4の送信信号の周波数が上記第1の周波数より低い第2の周波数である場合には、周波数逓倍回路で、検波されたドプラシフト周波数成分信号の周波数が逓倍され、その周波数逓倍されたドプラシフト周波数成分信号が音響出力される。 - 特許庁

例文

The apparatus detects even a high frequency absorption current signal several tens of kHz or more by mounting an absorption current detector 23 in a vacuum sample chamber 26 and by reducing electrostatic capacitance of signal wiring up to about several pF extending from a probe 19 to an absorption current detector 23.例文帳に追加

吸収電流検出器23を真空試料室26の内部に搭載し、探針19から吸収電流検出器23までの信号配線のもつ静電容量を数pF程度まで低減することにより、数十kHz以上の高周波数吸収電流信号であっても検出が可能となる。 - 特許庁




  
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