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Reference lightの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3212



例文

The light receiving surface 14A of the imaging device is tilted at an angle θ satisfying sin θ=(L4-L2)/D with reference to the optical axis of the image pickup lens 12 so that the image picked up from the whole road surface may be focused on the light receiving surface 14A of the image pickup element.例文帳に追加

撮像素子の受光面14Aにおいて撮像される路面全体が合焦するように撮像レンズ12の光軸に対して撮像素子の受光面14Aが、sinθ=(L4−L2)/Dを満足する角度θ傾斜されている。 - 特許庁

An interference light, derived from synthesized wave of the reference luminous flux and the detected luminous flux, is incident into an imaging camera 27 through a beam splitter 13 and an imaging lens 25, to image interference fringes and lastly, based on the interference fringes measurement of wavefront of light beam is carried out.例文帳に追加

基準光束と被検光束とが合波されて得られる干渉光はビームスプリッタ13,結像レンズ25を介して撮像カメラ27に取り込まれて干渉縞が撮像され、この干渉縞に基づいて光ビームの波面測定が行なわれる。 - 特許庁

And, in the case the optical axis of the projection optical system is shifted from a reference axis drawn from the center of an original image formed by the image forming element to the center of the projected image, the light within a detection range set around the light receiving area is received.例文帳に追加

そして、投射光学系の光軸が、画像形成素子に形成された原画像の中心から投射画像の中心に至る基準軸に対してシフトしている場合に、受光周辺に設定された検出範囲からの光を受光させる。 - 特許庁

To precisely measure sensitivities without reference to a luminance distribution of a planar light source when sensitivities representing variations of luminances among respective pixels of an image that an imaging means captures by photographing a planar light source in a multiple lens photographing device.例文帳に追加

多眼撮影装置において、面光源を撮影して撮像手段が取得する画像の各画素における輝度のばらつきを表す感度を測定するに際し、面光源の輝度分布に拘わらず、精度よく感度を測定できるようにする - 特許庁

例文

At this time, the reference potential of the signal line DTL1 and the low potential of the supply line are set beforehand so that source potential of the drive transistor Trd, just before the emission start of the light-emitting element EL does not exceed the threshold voltage of the light-emitting element EL.例文帳に追加

その際、発光素子ELの発光開始直前における駆動用トランジスタTrdのソース電位が、発光素子ELの閾電圧を越えないように、あらかじめ信号線DTL1の基準電位及び給電線の低電位を設定する。 - 特許庁


例文

A reference light is radiated from an objective lens 106 through a wedge glass 105 and converged by a lens 108A through a spatial filter 107 and its optical path is changed to the right direction and follows the same optical path as the object light.例文帳に追加

参照光は、クサビガラス105を通過した後で対物レンズ106から放出され、スペシャルフィルタ107を通過した後にレンズ108Aにて集光されると共に、光路を右方向に変更され、その後の物体光と同じ光路を辿る。 - 特許庁

The thickness of the polished layer before polishing is detected from a detection signal based upon the detected quantity of light by reference to the detected light quantity table (S208) and a polishing time up to a target thickness is calculated from the calculated thickness of the polished layer before polishing (S210).例文帳に追加

検出光量テーブルを参照して検出された光量による検出信号から被研磨層の研磨前厚みを算出しS208、算出された研磨前厚みから目標厚みまでの研磨時間を算出するS210。 - 特許庁

Secondly, P-polarized signal light beam 5 holding 2nd data information is recorded as a 2nd hologram by S-polarized reference light beam 6 multiplexing it on the 1st hologram in the area of the optical recording medium 10 where the 1st hologram has been recorded.例文帳に追加

次に、第2のデータ情報を保持するP偏光の信号光5を、S偏光の参照光6によって第2のホログラムとして光記録媒体10の第1のホログラムを記録した領域に第1のホログラムに多重させて記録する。 - 特許庁

A ceramic plate is irradiated via an optical fiber 7 with dispersed near-infrared light in the band of 700 nm-1100 nm from the slit of a near-infrared device 1 to measure the intensity of light transmitted through the ceramic plate, which is reference matter for spectrum measurement.例文帳に追加

先ず、近赤外装置1のスリットからの700nm〜1100nm域の分光した近赤外光を光ファイバー7を介してセラミック板に照射し、スペクトル測定の基準物質であるセラミック板の透過光強度を測定する。 - 特許庁

例文

A focusing signal processing section 17 detects that a surface of the observation sample S is positioned at the focusing position of the objective lens 2 based on AF light that is emitted from a reference light source 3, is reflected on the surface, and comes via the objective lens 2.例文帳に追加

合焦信号処理部17は、対物レンズ2の合焦位置に観察試料Sの表面が位置したことの検出を、基準光源3から発せられて該表面で反射して対物レンズ2を介して到来するAF光に基づいて行う。 - 特許庁

例文

Assuming that the voltage to be applied to both ends to the sensor circuit 310 is a first voltage and the voltage of the node Q is a second voltage, the light detector 300 detects the intensity of target light in accordance with a difference current obtained when the second voltage takes on a predetermined reference voltage value.例文帳に追加

センサ回路310の両端に印加される電圧を第1電圧とし、ノードQの電圧を第2電圧としたとき、第2電圧が所定の基準電圧値になったときの差分電流に基づいて対象光の強度を検出する。 - 特許庁

When a casing 11 is at an X position, laser light L1 output from a laser emitter 12 is made incident on a reference mirror 41 to produce a light interference fringe, which is imaged by a CCD camera 17 through a focus distance changeover part 16.例文帳に追加

ケーシング11がX位置にある時に、レーザ発光器12から出力されたレーザ光L1が基準ミラー41に入射して光干渉縞を生じさせ、光干渉縞は焦点距離切換部16を経てCCDカメラ17で撮像される。 - 特許庁

A reference beam expressing light source intensity not affected substantially by the absorption of the IPA by the light reflected by a reflection mirror 12 of the beam 6b is measured to determine the IPA concentration in the aqueous sample solution based on a difference (differential absorbance) therebetween.例文帳に追加

光束6bが反射ミラー12で反射された光によるIPAの吸収の影響をほとんど受けない光源強度を表わす参照光を測定し、それらの差(差吸光度)をもとに試料水中のIPA濃度が定量する。 - 特許庁

In this case, the polygon mirror 14 is not irradiated with any noise beams other than the laser beams because of the presence of the light shielding member 18 so that an accurate reference signal obtained by the optical scanning of the polygon mirror 14 can be obtained by a light receiving element 13 without being affected by any noise beams.例文帳に追加

この遮光部材18にて、レーザ光以外のノイズ光はポリゴンミラー14に照射されず、そのノイズ光の影響を受けることなく、ポリゴンミラー14の光走査による正確な基準信号を受光素子13で得る。 - 特許庁

In the illumination method emitting an illumination light to an object at photographing, the object is photographed synchronously with a reference synchronizing signal and the illumination light is emitted between the capturing of the photographed object image and the capturing of succeeding object image.例文帳に追加

撮影時に被写体に照明光を照射する照明方法において、前記撮影は基準同期信号に同期して撮影し、撮影された被写体像の取り込みから次の被写体像の取り込みの間に前記照明光を照射する。 - 特許庁

To provide a composition for optical recording, having high sensitivity and allowing high multiple recording, and to provide a hologram type optical recording medium having high sensitivity and achieving high multiple recording of interference images produced by information light and reference light.例文帳に追加

高感度かつ高多重記録が可能である光記録用組成物、ならびに、高感度であり、情報光および参照光により形成する干渉像の高多重記録化を図ることができるホログラム型の光記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To permit an operation for developing or not developing an image using two different kinds of light beam, i.e., visible light and UV-rays, as a reference light.例文帳に追加

可視光と紫外線という異なる2種類の光線を参照光として画像現出の可、不可を操作可能とする可視光下及び/又は紫外線下画像現出用データ作成装置、可視光下及び/又は紫外線下画像現出用データ作成プログラムを記録した記録媒体及び光学式データ処理装置を提供する。 - 特許庁

At this time, the first cladding layer 4a kept in contact with the core layer 2 is made of a photorefractive material whose refractive index rises upon irradiation with access light B2 different from the reference light B1, so that diffracted light according to the hologram pattern 5 can be emitted to the outside only in the irradiated region.例文帳に追加

このとき、コア層2と接する第1クラッド層4aを上記参照光B1とは別のアクセス光B2の照射に応じて屈折率の上昇するフォトリフラクティブ材料で構成することにより、その照射領域でのみホログラムパターン5に応じた回折光を外部に放射させることができる。 - 特許庁

A device for optically detecting and measuring comprises a light source (1) with an emitting optical part (2) for projecting a light beam to an object to be measured along the axis of an emitting optical part (Oe), and a first detector (3) for demarcating a light-receiving axis (Or) contained in a reference plane surface (A) same as an emitting axis.例文帳に追加

光学距離検出または測定デバイスは、放出光学部品の軸(Oe)に沿って、測定すべき目標(C)に光ビームを投射するためのエミッタ光学部品(2)を備えた光源(1)と、放出軸と同じ基準平面(A)に含まれた受光軸(Or)を画定する第1の検出器(3)とを備えている。 - 特許庁

In this case, all the deflection directions of light beams on other deflection mirror faces are aligned in the same direction as the deflection direction of the light beam deflected with the reference deflection mirror face (third deflection mirror face 951c), in order to give a a deflection angle Θs larger than 2×Θ3max to the light beam emitted from a N-th deflection mirror face 951n.例文帳に追加

この時、第N偏向ミラー面951nから射出される光ビームの偏向角Θsを、2・Θ3maxより大きくするためには、他の偏向ミラー面による光ビームの偏向方向がすべて、基準偏向ミラー面(第3偏向ミラー面951c)による光ビームの偏向方向と同じ方向になるようにしてやればよい。 - 特許庁

If the subject illuminance level S of the stationary light detected by a stationary light detecting section 1 is within a reference range according to the photographing system 100, a photographing controller 2 controls the respective exposure levels in the autobracketing photography by changing flash light emitting quantity and shutter open time.例文帳に追加

本発明に係る撮影システム100によれば、定常光検出部1により検出された定常光の被写体照度レベルSが基準範囲内である場合、撮影制御部2は、フラッシュ発光量及びシャッター開放時間を変化させてオートブラケット撮影における各露出量を制御する。 - 特許庁

When entering the plurality of optical fine structures at one incidence angle in relation to the reference vertical surface, the incidence light beam is refracted and emitted from the emission light surface after that at least part of the incidence light beam enters the inclined cylindrical surface structure and then total internal reflection is generated in the inclined cylindrical surface structure.例文帳に追加

入射光束が参考垂直面に対して1つの入射角度で複数の光学微細構造へ進入する時、その入射光束の少なくとも一部が斜柱面構造に進入した後、斜柱面構造において内部全反射を発生させた後、屈折されて射出光面から射出される。 - 特許庁

Component analyzing apparatuses 100A, 100B and 100C have an analyte irradiated with a light to thereby acquire spectrum of the reflected light or the transmitted light and analyze the components of the analyte, on the basis of the acquired spectrum on reference to the model of the spectrum to transmit the analysis result to a control server 200.例文帳に追加

成分分析装置100A,100B,100Cは、分析対象物に光を照射することによって反射光あるいは透過光のスペクトルを取得し、スペクトルのモデルを参照することによって、取得されたスペクトルに基づいて分析対象物の成分を分析し、分析結果を管理サーバへ送信する。 - 特許庁

The image forming apparatus is configured to perform pattern-matching to specify the reflected light output equivalent to the reference profile among the second one-round profile, then, specify the reflected light output from the base of a toner patch P based on a positional relationship on the intermediate transfer belt 27 between the specified reflected light output and the toner patch P.例文帳に追加

画像形成装置は、第2の1周プロファイルのうち基準プロファイルに相当する反射光出力をパターンマッチングにより特定し、この特定された反射光出力とトナーパッチPとの中間転写ベルト27上の位置関係により、トナーパッチPの下地の反射光出力を特定する。 - 特許庁

A calculation control part 200 moves the concave cone mirror 116 along an optical axis 106 to be controlled, scans the measuring object 124 by the different diameter ring-like measuring light 123 and calculates the shape or the like of the measuring object 124, based on light for measurement and light for reference measurement detected by an optical detection part 102.例文帳に追加

演算制御部200は、凹コーンミラー116を光軸106に沿って移動制御して、測定対象124を径の異なる環状測定用光123により走査し、光検出部102によって検出した測定用光及び基準測定用光に基づいて、測定対象124の形状等を算出する。 - 特許庁

A light emission pattern is taken into a control part 42 via an image pickup part 50, and the control part 42 carries out a pointer function corresponding to a preliminarily stored light emission pattern to the coordinates of the display image of the screen and the monitor 60 corresponding to the coordinates of the heading LED (reference light emission point) 21 on the virtual screen S.例文帳に追加

発光パターンが撮像部50を介して制御部42に取り込まれ、制御部42は、予め記憶する発光パターンに応じたポインタ機能を、仮想スクリーンS上における先端のLED(基準発光点)21の座標に対応するスクリーンおよびモニタ60の表示画像の座標に合成する。 - 特許庁

A hologram recording device is provided with; an optical system which condenses signal light modulated by a light modulation element and reference light phase-modulated by a phase modulation element on almost the same position of a hologram recording medium; and a distance control mechanism which controls a distance between the phase modulation element and the hologram recording medium.例文帳に追加

ホログラム記録装置が、光変調素子で変調された信号光および位相変調素子で位相変調された参照光をホログラム記録媒体の略同一箇所に集光する光学系と、位相変調素子とホログラム記録媒体との距離を制御する距離制御機構とを備える。 - 特許庁

The beam splitter 2 generates interference light by putting together the laser light which is guided to and reflected by the sample 20 and the laser light which is guided to and reflected by the reference mirror 3; and part of it is guided to the detector 4 through a lens 9 and the remainder is put back to the semiconductor laser 1 through the lens 7.例文帳に追加

ビームスプリッタ2においては、試料20へ導かれて反射されたレーザ光と、参照鏡3へ導かれて反射されたレーザ光とを合成して干渉光を形成し、その一部をレンズ9を介して検出器4へ導くとともに、残りをレンズ7を介して半導体レーザ1へ戻すことができるようになっている。 - 特許庁

To provide a distance measuring device which detects distances up to a plurality of objects by detecting beams of reflected pulsed light from two objects with reference to one sent light beam and which can separate and detect the two objects even when the two objects come close in such a way that the respective beams of reflected pulsed light are overlapped.例文帳に追加

一つの送光ビームに対して2つの対象物体からの反射パルス光を検出することにより、複数の対象物体までの距離を検出すると共に、2つの対象物体が接近して各々の反射パルス光が重なり合う場合においても2つの対象物体を分離して検出可能とする。 - 特許庁

On the other hand, in the area of a large quantity of reflecting light, the light scanning speed is larger than the standard value and the number of pulse integration times in the same angular range width is smaller than the reference number of times, but a sufficient quantity of reflecting light is originally obtained, so that accurate detection of distance/direction is performed.例文帳に追加

一方、反射光の光量が大きい領域においては、光走査速度が標準値より速くし、ある同じ角度範囲幅においてのパルスの積算回数は基準回数より少なくするが、元々十分な反射光量が得られているため問題なく正確な距離・方向の検出は可能である。 - 特許庁

To provide a light wave interference measuring device and light wave interference measuring method that can accurately, automatically regulate the misalignment between the optical axis of a reference spherical surface and the optical axis even of a lens to be inspected that cannot observe an optical mark by reflected light from the surface of the lens section, and can provide a stable result of measurement.例文帳に追加

レンズ部表面からの反射光による光マークを観察し得ない被検レンズに対しても、該被検レンズの光軸と基準球面の光軸とのずれを高精度に自動調整することができ、安定した測定結果を得ることが可能な光波干渉測定装置および光波干渉測定方法を得る。 - 特許庁

A light quantity monitoring part 5 forms an adding voltage signal by adding the voltage signal from the amplifiers 21 to 24 by an adding part 5a, and judges an abnormality of the part such as the measuring light source A by comparing the adding voltage signal with comparison reference voltage in a light quantity judging part 5b, and outputs judgement result via an output part 6.例文帳に追加

光量監視部5は、増幅器21〜24からの電圧信号を加算部5aで加算して加算電圧信号とし、光量判定部5bにおいて加算電圧信号と比較基準電圧とを比較して計測光源Aなどの部品の異常を判定し、出力部6を介して判定結果を出力する。 - 特許庁

An optical position detection device 10 detects a position of a target object Ob based on a light receiving result at a photodetector 30 with respect to part of detection light L3 reflected at the target object, and intensity of reference light Lr incident on the photodetector 30 without passing through a detection target space 10R.例文帳に追加

光学式位置検出装置10では、対象物体により反射した検出光L3の一部を光検出器30により受光した結果、および検出対象空間10Rを介さずに光検出器30に入射した参照光Lrの強度に基づいて対象物体Obの位置を検出する。 - 特許庁

In the middle of the assembling process of optical elements into an optical pickup device, a light flux is emitted from a semiconductor laser unit with the outgoing direction of the light flux detected (step 405, 413) and with the optical axis deviation of the light flux corrected which is due to the shift of the outgoing direction from a reference direction (step 407, 415).例文帳に追加

光ピックアップ装置への光学素子の組み付け処理の途中で、半導体レーザユニットから光束を出射させ、該光束の出射方向を検出し(ステップ405,413)、出射方向の基準方向からのずれに起因する光束の光軸ずれの補正を行う(ステップ407,415)。 - 特許庁

The image display also includes a detection part for detecting a voltage applied to both ends of the light emitting element when a reference current flows through the light emitting element, and a derivation part for deriving a value related to a predicted emission luminance of each light emitting element based on the relation data and the voltage detected by the detection part.例文帳に追加

また、該画像表示装置は、発光素子に基準電流が流れる際に該発光素子の両端に印加される電圧を検出する検出部と、関係データと検出部によって検出される電圧とに基づいて、各発光素子の予測発光輝度に係る値を導出する導出部とを備える。 - 特許庁

The polygon mirror 9, an adjustable reflection mirror 29 which adjusts the advancing direction of the plurality of light beams scanned by the polygon mirror 9 along the arranged direction of the plurality of light beams, the rib 31 (an example of reference light receiving position confirmation member) are provided in one integrally molded unit housing 30.例文帳に追加

前記ポリゴンミラー9と,それによって走査される複数のビーム光全体の進行方向をその複数のビーム光の配列方向に沿って調節可能な可調節反射ミラー29と,前記リブ31(基準受光位置確認部材の一例)とが,一体成型された一のユニット筐体30に設けられる。 - 特許庁

The three-dimensional color display device includes a volume diffractive element, in which a hologram is recorded using one of the color beams that is emitted from one of light sources among a plurality of light sources as a reference beam and a signal beam, displaying color images by diffracting the color beams different from one another and emitted from a plurality of the light sources.例文帳に追加

複数個の光源のうち、いずれか1つの光源からのカラービームを基準ビーム及び信号ビームとして利用してホログラムが記録されたボリューム回折素子に、複数個の光源から照射された互いに異なるカラービームを回折させてカラー映像を表示する三次元カラー表示装置である。 - 特許庁

Then a light source 202 is lighted by an increment of a prescribed time from a prescribed light source lighting time from a downloaded light source lighting time, and a close contact image sensor CIS 201 reads a standard white board until an output level of the CIS 201 reading the standard white board reaches a reference level.例文帳に追加

ついで、ダウンロードされた光源点灯時間より小さい所定の光源点灯時間から所定時間づつ増加させて光源202を点灯させるとともに、標準白色板を読み取ったCIS201の出力レベルが基準レベルに達するまで、CIS201により該標準白色板を読み取る。 - 特許庁

In the semiconductor light-emitting device formed by fixing semiconductor light emitting devices LD on a substrate B, the substrate B has a first surface FB and a second surface FR which crosses the first surface FB at a given angle for determining the crossing position as fixed reference position S and one or a plurality of semiconductor light emitting devices LD are engaged in the fixed reference position S and fixed on the substrate B.例文帳に追加

基台B上に半導体発光素子LDが固定された半導体発光装置であって、第1の面FBと、当該第1の面FBに対して所定の角度で交差して当該交差位置を固定基準位置Sを規定する第2の面FRとを有する基台Bと、固定基準位置Sに係止されて基台B上に固定された1つあるいは複数個の半導体発光素子LDとを有する構成とする。 - 特許庁

Also, the manufacturing method for the light alloy wheel has a process of working at least a part of the wheel raw material after the casting to form the working reference part, a process of making a heat treatment after that, and a process of working the rim part based on the working reference part.例文帳に追加

また、鋳造後のホイール素材を少なくとも一部加工して加工基準部を形成する工程と、その後熱処理を行う工程と、前記加工基準部をもとにリム部を加工する工程と、を有することを特徴とする軽合金ホイールの製造方法である。 - 特許庁

A sensor 70 photoelectrically converts the reflected light from the reflection mark for reference position detection which is provided to the transfer belt and the position where a peak value of the photoelectrically converted signal is detected is set as a positioning reference point as the center position of the reflection mark.例文帳に追加

この発明は、転写ベルトに設けられている基準位置検知用の反射マークからの反射光をセンサ70により光電変換し、その光電変換した信号のピーク値を検出した位置を反射マークの中央位置として位置決めの基準点とするようにしたものである。 - 特許庁

As in display processing 2, in addition, the light controller can be configured to determine (S220) whether or not the speed obtained as the speed information is greater than a pre-set reference speed and to display (S230, 240) the speed information only when the speed obtained as the speed information has been determined to be greater than the reference speed.例文帳に追加

また、表示処理2のように、取得された速度の情報が予め設定された参照速度よりも大きいか否かを判定し(S220)、速度の情報が参照速度よりも大きいと判定された場合のみに速度の情報を表示させてもよい(S230,240)。 - 特許庁

Whenever the plates 122-130 are sequentially arranged to alternately arrange the positioning holes 18a-18i and the reference holes 19a-19i, the respective sets of the positioning holes 18b-18i and reference holes 19b-19i are imaged from above while irradiating light from the ink ejection face 2a side.例文帳に追加

位置決め孔18a〜18i及び参照孔19a〜19iが交互に配置されるように、プレート122〜130を順に配置するごとに、インク吐出面2a側から光を照射しつつ、上方から位置決め孔18b〜18i及び参照孔19b〜19iの各組を撮像する。 - 特許庁

When a pen device is set to a "reference information registration mode" and the region for adding reference information is designated on the medium, the pen device detects notes to the medium (step 601), the medium is irradiated with infrared light (step 602), and an invisible image on the medium is inputted (step 603).例文帳に追加

ペンデバイスを「参照情報登録モード」に設定し、媒体上で参照情報を付与する領域を指定すると、ペンデバイスは、媒体への筆記を検出し(ステップ601)、赤外光を媒体に照射し(ステップ602)、媒体上の不可視画像を入力する(ステップ603)。 - 特許庁

To provide a reference voltage generation circuit which compensate minus temperature dependency of LED light emission power and temperature dependency of a reference resistor in a driver IC and are capable of arbitrarily setting a desirable temperature coefficient and an output voltage value, and to provide a drive circuit, a printer, and an image forming apparatus.例文帳に追加

LED発光パワーのマイナスの温度依存性とドライバIC内の基準抵抗の温度依存性を補償するもので、 所望の温度係数や出力電圧値を任意に設定可能な基準電圧発生回路、駆動回路、プリンタ及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The scanning optical apparatus has two deflectors 41 and 42 which are turned by a driving motor and deflectively scan a light, one deflector 41 is mounted with a tilt angle of 10°, for example, with respect to the mounting reference plane in an optical box body 100, and the other deflector 42 is mounted in parallel to the mounting reference plane.例文帳に追加

駆動モータで回動して偏向走査する2つの偏向器41,42を有し、光学箱体100内の取付基準面に対して一方の偏向器41はたとえば角度約10°で傾いて設けられ、他方の偏向器42は取付基準面に平衡に設けられている。 - 特許庁

Then, based on the image signal outputted from the first imaging part 32 and the image signal outputted from the second imaging part 42, both of a fluorescent observation image formed by the private fluorescence and a reference image formed by the reference light are displayed simultaneously on a monitor as the moving images.例文帳に追加

そして、第1の撮像部32から出力される画像信号と、第2の撮像部42から出力される画像信号とに基いて、自家蛍光により形成される蛍光観察画像と参照光により形成される参照画像をともに動画像としてモニタに同時表示する。 - 特許庁

A reference signal generator 23 generates a reference signal V_ADJ for displaying the difference between the compensatory signal V_CORR and the target signal V_REF0 which shows the light wavelength (LAMBDA0) that the laser diode 13 should generate including a circuit 35 which generates the second temperature signal V_AMB.例文帳に追加

基準信号生成部23は、第2の温度信号V_AMBを発生する回路35を含み、レーザダイオード13が発生すべき光の波長(LAMBDA0)を示す目標信号V_REF0と補償信号V_CORRとの差を示す基準信号V_ADJを発生する。 - 特許庁

Even when the irradiation position of the light to be detected to the scale plate 11 is deviated from a reference, the encoder 1 can accurately detect an absolute angle by calculating a deviation amount between the relative angle at the detection of an angle and the reference relative angle as correction amount α°.例文帳に追加

そこで、エンコーダ1では、角度検出時の相対角度と基準相対角度とのずれ量を補正量α°として算出することにより、スケール板11に対する被検出光の照射位置が基準からずれた場合でも、絶対角度を精度良く検出することができる。 - 特許庁

例文

The optical device has the first reference grating (fixed grating) arranged between the light source and the moving grating, a detector arranged opposedly to a prescribed side of the first grating, and the second reference grating (fixed grating) arranged between the detector and the moving grating.例文帳に追加

光デバイスは、光源と移動グレーティングとの間に配置された第1の基準グレーティング(固定グレーティング、第1基準グレーティングの所定の側に対向して配置された検出器及び検出器と移動グレーティングとの間に配置された第2の基準グレーティング(固定グレーティング)を有する。 - 特許庁




  
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