「Sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(125ページ目) - Weblio英語例文検索

The intentional electrification of the electric charge can carry out by the method of providing the sample surface with ion and charging the sample surface, using an ionized.例文帳に追加

電荷の意図的な帯電はイオナイザを利用し、試料表面にイオンを提供して試料表面を帯電させる方法で行える。 - 特許庁

The sample-hold circuit 50 receives a first sample-hold signal outputted from the timing generator 12 and samples and holds the black color image signal.例文帳に追加

タイミングジェネレータ１２から出力される第１サンプルホールド信号によりサンプルホールド回路５０は、黒色画素信号をサンプルホールドする。 - 特許庁

Alternatively, you can select it from the Persistence category in the New File wizard (Ctrl-N).In the Database Tables panel, select the jdbc/sample data source. 例文帳に追加

または、「新規ファイル」ウィザード (Ctrl-N) にある「持続性」カテゴリから選択することも可能です。 「データベース表」パネルで、「jdbc/sample」データソースを選択します。 - NetBeans

In this design sample analytic method, the components of design in a sample 11 are segmented, and the value of a parameter is decided for each component by a parameterizing part 21.例文帳に追加

パラメータ化部２１において、サンプル１１中のデザインの構成要素を切り出し、各構成要素ごとにパラメータの値を決定する。 - 特許庁

The glass capsule in which a predetermined amount of the liquid sample is enclosed by the liquid sample enclosing means for the measuring analyzer is manufacture.例文帳に追加

この液状試料の封入手段によって所定量の液状試料を封入した測定分析機器用ガラスカプセルを製作する。 - 特許庁

To provide a method for measuring a sample and an analytical instrument including a computer unit for more exactly measuring the sample.例文帳に追加

本発明は、検体の測定方法並びに検体をより正確に測定するためのコンピューターユニットを含む分析装置を提供する。 - 特許庁

When a sample 22 is to be cooled, a sample holder fixation section 15 is cooled by a cooling means 17 via a heat conductor 16.例文帳に追加

試料２２を冷却する場合には、冷却手段１７により、ヒートコンダクタ１６を介して試料ホルダ固定部１５が冷却される。 - 特許庁

The probe 7 is for low temperature use, the probe 7' is for ambient temperature use, and a sample filled in a sample tube 14 is measured concurrently or quickly switchedly.例文帳に追加

プローブ７は低温用、プローブ７’は常温用で、試料管１４に入った試料を、同時または迅速に切替えて測定する。 - 特許庁

To provide a microscopic system capable of efficiently observing a microscopic sample and equipped with a recording medium, and to provide the microscopic sample.例文帳に追加

記録媒体を備えた顕微鏡標本の観察を効率よく行える顕微鏡システムおよび顕微鏡標本を提供する。 - 特許庁

The sample feeding table 9 raises the sample block 1 at a feed rate of several μm-several 10 μm per one time.例文帳に追加

標本送り台９は、１回当たりの送り量が数μｍ〜数１０μｍ程度で、標本ブロック１を上方向に移動させる。 - 特許庁

To provide an optical fiber probe device controlling a distance between a sample and an optical fiber probe taking in a light signal propagating through the sample.例文帳に追加

試料の中を伝搬する光信号を取り込む光ファイバプローブと試料との距離を制御する光ファイバプローブ装置を提供する。 - 特許庁

A geometric relationship feature recognition part 105 extracts geometric relationship between the sample solid model and the corresponding sample shell model.例文帳に追加

雛型ソリッドモデルと対応する雛型シェルモデルとの幾何的な関係の特徴を、幾何的関係特徴認識部１０５が抽出する。 - 特許庁

To provide a sample container holder, constituted so that a plurality of sample containers can be safely and easily mounted on or removed from the stacker of a robot.例文帳に追加

複数の試料容器を、ロボットのスタッカに安全かつ容易に、装着または取り出しできる試料容器保持具を提供する。 - 特許庁

To measure force without being affected by a lead wire from a sample, in a device for evaluating a physical property of the sample while applying the force.例文帳に追加

力を加えながら試料の物性を評価する装置で、試料からのリード線が力の測定に影響しないようにする。 - 特許庁

Light of a light source is irradiated on a sample and light from an area above the sample is received by a photodetector at an angle which is not a regular reflection angle.例文帳に追加

サンプルに対し光源の光を照射し、サンプル上のエリアからの光を、正反射角でない角度で受光器で受光する。 - 特許庁

Moreover, a sampling clock CLA is counted by a sample counter 2, and the sample value of each area is selected according to a low-order address AL, and read.例文帳に追加

さらにサンプリングクロックＣＬＡがサンプルカウンタ２でカウントされ、各エリアのサンプル値か下位アドレスＡＬにより選択されて読み出される。 - 特許庁

A characteristic object in the vicinity of the center of a sample is first selected, and characteristic objects are spirally selected from the sample center toward its periphery.例文帳に追加

試料中央付近の特徴物を初めに選択し、試料中央から外周に向かって特徴物を螺旋状に選択する。 - 特許庁

To prevent a sample from adhering to a part other than the electrode of a quartz oscillator in the measurement of the sample using a QCM sensor.例文帳に追加

ＱＣＭセンサを用いた試料の測定において、水晶振動子の電極以外の部分に試料を付着させないようにする。 - 特許庁

The polishing jig for physical analysis 1 comprises at least an observing block 2 having a sample attaching surface 5a to which the sample 11 is attached and insertable to an in-lens type scanning electron microscope (SEM), a sample mount 3 having a stepped guide part 6 by which the observing block 2 is positioned, and a sample mount holder 4 to which the sample mount 3 is attached.例文帳に追加

試料１１が貼付される試料貼付面５ａを有し、インレンズ方式の走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）に挿入可能な観察用ブロック２と、観察用ブロック２が位置決めされる段差ガイド部６を有する試料マウント３と、試料マウント３が固定される試料マウントホルダ４とを少なくとも備える物理解析用研磨冶具１である。 - 特許庁

An electron microscope has: an electron beam lens-barrel 1 in order to irradiate an electron beam 1a to a sample 11; a sample stage 3 to support the sample 11; a scattered electron detector 6 in order to detect backscattered electrons discharged from the sample 11; and a focused ion beam lens-barrel 2 in order to irradiate the sample 11 with a focused ion beam 2b.例文帳に追加

試料１１に電子ビーム１ａを照射するための電子ビーム鏡筒１と、試料１１を支持する試料台３と、試料１１から放出される後方散乱電子を検出するための散乱電子検出器６と、試料１１に集束イオンビーム２ｂを照射するための集束イオンビーム鏡筒２とを有する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Then, an inverse first projection matrix (M_L)^-1 is calculated by using a plurality of sample low resolution images (data before sample transformation) among a plurality of pieces of pair representative sample data based on properties of an equation (2), and a second transformation matrix M_H is calculated by using a plurality of sample high resolution images (data after sample transformation) in an arithmetic means 63.例文帳に追加

そして、演算手段６３において式（２）の性質に基づいて、複数のペア代表標本データのうち複数の標本低解像画像（標本変換前データ）を用いて逆第１射影行列（Ｍ_Ｌ）^−１を求め、複数の標本高解像画像（標本変換後データ）を用いて第２射影行列Ｍ_Ｈを求める。 - 特許庁

An X-ray diffraction and thermal analysis simultaneous measurement device includes functions for executing X-ray diffraction measurement by irradiating a sample for measurement with X-rays and simultaneously executing thermal analysis measurement by heating the sample for measurement and the standard sample, and includes a furnace heating which heats the sample for measurement and the standard sample.例文帳に追加

被測定試料に対しＸ線を照射してＸ線回折測定を実施するとともに、当該被測定試料および標準試料を加熱して熱分析測定を同時に実施する機能を備えたＸ線回折・熱分析同時測定装置であり、被測定試料および標準試料を加熱する加熱炉を備えている。 - 特許庁

The delay profile analysis circuit is provided at least with e.g. a sample point extract circuit 15 that samples is a pilot carrier having a pilot signal and decreases number of sample points at a decreased sample point interval and with a fast Fourier transform(FFT) circuit 17 that applies inverse Fourier transform to the pilot carrier with a small number of sample points from the sample point extract circuit 15.例文帳に追加

遅延プロファイル解析回路が、パイロット信号を有するパイロット搬送波をサンプルし且つサンプルポイント位置をつめてサンプルポイント数を少なくする例えばサンプルポイント抽出回路１５と、サンプルポイント抽出回路からのサンプルポイント数の少ないパイロット搬送波を逆フーリエ変換するＦＦＴ回路１７とを少なくとも備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To make a temperature gradient between an upper part and a lower part in an NMR sample tube extremely small, even when NMR measurement is conducted at a high temperature of 400°C or more using a large-diametric NMR sample tube such as 10 ϕNMR sample tube, or a high-pressure and high- temperature NMR sample tube for a supercritical fluid as the sample tube.例文帳に追加

１０φＮＭＲ試料管のような大口径ＮＭＲ試料管や超臨界流体用の高温高圧ＮＭＲ試料管を用いて４００℃以上の高温でＮＭＲを測定する際でも、ＮＭＲ試料管の下部と上部の間の温度勾配を極めて小さくできるような温度可変型ＮＭＲプローブを提供する。 - 特許庁

This compound microscope comprises: a sample chamber, in which a sample stage for holding a sample to be observed is arranged; the electronic microscope which picks up an electronic microscope image of the sample; the confocal microscope which picks up a confocal point image of the sample; and a signal processing device which receives output signals from the electronic microscope and the confocal microscope and outputs various image signal.例文帳に追加

観察すべき試料を保持する試料ステージが配置される試料室と、試料の電子顕微鏡画像を撮像する電子顕微鏡と、試料の共焦点画像を撮像する共焦点顕微鏡と、電子顕微鏡及び共焦点顕微鏡からの出力信号とを受取り種々の画像信号を出力する信号処理装置を具える。 - 特許庁

The sample cell 200 has a reference surface 202 for generating sample light beams passing through the sample 206 and reference light beams not passing through the sample 206 by transmitting a part of the incident light beams and reflecting the residual part, and a reflection surface 204 positioned in parallel with the reference surface 202 across the sample 206.例文帳に追加

試料セル２００は、入射する光ビームの一部を透過するとともに残りを反射することにより、試料２０６を通る試料光ビームと試料２０６を通らない参照光ビームとを作り出す参照面２０２と、試料２０６を間に挟んで参照面２０２に対して平行に位置する反射面２０４とを有している。 - 特許庁

The scanning electron microscope for two-dimensionally scanning an electron beam on a sample to form an image with signals obtained from the sample and sent to display means comprises a means for controlling pressure in a sample cell and a means for sending signals obtained from the sample to the display means by controlling in accordance with the pressure in the sample cell.例文帳に追加

試料上で電子線を２次元的に走査し試料から得られる信号を表示手段に送って像を形成する走査電子顕微鏡において、試料室の圧力を制御する手段と、前記試料から得られる信号を前記試料室の圧力に応じて制御して表示手段に送る手段とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

Before the sample is introduced to the isolation column in the liquid chromatograph, the sample is held and concentrated in a monolithic solid-phase extraction column (a monolithic column) which has a multiple continuous hole communicating with a sample introduction valve or which is porous, and the sample is introduced to the isolation column after the sample band has been narrowed.例文帳に追加

液体クロマトグラフィーの分離カラムに試料を導入する前に、試料導入バルブに連通した多連続孔を持つ、又は多孔質である一体型の固相抽出カラム（モノリシックカラム−Ｍｏｎｏｌｉｔｈｉｃ Ｃｏｌｕｍｎ）に試料を保持・濃縮し、試料バンドを狭くしてから分離カラムに導入することを特徴とする。 - 特許庁

To improve an SN ratio of an image signal of a defect spot by adjusting an incident azimuth of each illumination light at a suitable angle for a pattern on a sample, when performing visual inspection of the sample by illuminating the sample with illumination light entering the sample obliquely with respect to the optical axis of an objective lens of a microscope, and by acquiring a sample image.例文帳に追加

顕微鏡の対物レンズの光軸に対して斜めに試料に入射する照明光により試料を照明して試料の画像を取得し試料の外観検査を行う際に、各照明光の入射方位を試料上のパターンに好適な角度に調整して、欠陥箇所の画像信号のＳＮ比を向上する。 - 特許庁

To preclude a sample suction nozzle from colliding with a turntable to prevent the sample suction nozzle from being damaged, even when the turntable is not located in a correct position or even when a CPU runs away, in a sample analyzer provided with the turntable for installing the sample suction nozzle and a sample cup for measuring a body fluid of the human being, an animal or the like.例文帳に追加

ヒトや動物などの体液測定に、サンプル吸引用ノズルとサンプルカップを設置する為のターンテーブルを具備した試料分析装置においてターンテーブルが正しい位置に無くても、あるいはＣＰＵ暴走の場合もサンプル吸引用ノズルがターンテーブルに衝突せず、サンプル吸引用ノズルの損傷を防ぐことが課題である。 - 特許庁

In order to solve the subject matter, the scanning electron microscope is provided to measure the sample height and the sample potential using measured results obtained at the applied state of a voltage to a sample, so as not to get the charged-particle radiation of an electronic beam to the sample when it is radiated to the sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために、試料に向かって電子線等の荷電粒子線等を照射する際に、当該荷電粒子線が試料に到達しないように、試料に電圧を印加した状態で得られる電子等の荷電粒子の検出結果を用いて、試料高さや試料電位を測定する走査電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

This scanning electron microscope is equipped with a sample chamber 5 of the microscope and a sample processing chamber 10 via an airlock valve 9, and the sample disposed in the specimen processing chamber 10 is processed, then subjected to slanting and rotation drive, followed by the introduction of the processed sample into the sample chamber 5 of the microscope for observation.例文帳に追加

走査電子顕微鏡であって、該走査電子顕微鏡の試料室５とエアロックバルブ９を介して試料加工室１０が設けられており、該試料加工室１０内に配置された試料を傾斜・回転駆動させて加工した後、加工された試料を走査電子顕微鏡の試料室５に導入して観察するように構成する。 - 特許庁

The area where the sample image exists is extracted from the image obtained by photographing the entire sample, and automatic focus position detection operation following to the horizontal movement of the sample image is started in the case of horizontally moving to a position where the sample image exists, and the automatic focus position detection operation is stopped in the case of horizontally moving to a position where the sample image does not exist.例文帳に追加

また、標本全体を撮影した画像から標本像の存在する領域を抽出し、標本像の存在する位置に水平移動するときには標本像の水平移動に追従した自動的焦点位置の検出動作を開始し、標本像の存在しない位置に水平移動するときには自動焦点位置検出動作を停止する。 - 特許庁

This sample analysis method includes a first analysis method for subjecting the sample to first analysis in a first analyzing medium, a recovery process for recovering the sample component after the first analysis in a sample recovery part and a second analyzing process for subjecting the sample component, after recovery to second analysis.例文帳に追加

本発明のサンプル分析方法は、複数の成分を含むサンプルを複数回分析するために、第１分析媒体中にてサンプルを第１分析に供する第１分析工程；第１分析後のサンプル成分をサンプル回収部に回収する回収工程；および回収後のサンプル成分を第２分析に供する第２分析工程を包含する。 - 特許庁

Furthermore, a first-in/first-out memory FIFO is provided for sample insertion or sample deletion such that sample insertion or sample deletion is executed in the sample region with improved reliability and a method with improved cycle slip detection is recommended in order to enhance robustness against noise and inappropriately selected timing loop parameters.例文帳に追加

さらに、先入れ先出しメモリＦＩＦＯがサンプル挿入または削除のために設けられ、それは、サンプル挿入またはサンプル削除が向上した信頼性を伴ってサンプル領域で行われ、サイクルスリップ検出の改善された方法が雑音および不適切に選ばれたタイミングループパラメータに対する頑健性の増強のために推奨される。 - 特許庁

There is provided the automatic analyzer which can suck a sample by a sample dispensation probe 16 at the single sampling position by delivering and moving a sample rack 18 which holds the sample container 17 from a first sampler 60 to a second sampler 80, and moving the sample rack 18 in horizontal and vertical directions of the rack at the fixed position.例文帳に追加

試料容器１７を保持する試料ラック１８を第１のサンプラ６０から第２のサンプラ８０に受け渡し移動して、固定された位置で試料ラック１８をラックの水平方向及び上下方向に移動させることで、単一のサンプリング位置におけるサンプル分注プローブ１６による試料吸引ができる自動分析装置。 - 特許庁

A sample solution is obtained by adding perchloric acid and sulphuric acid to a sample of ruthenium hydroxide containing the impurity such as chrome, volatilizing and removing the ruthenium in the sample by heating, evaporating, and drying it, cooling the obtained sample, and then adding water and hydrochloric acid to dissolve the sample again, thereby quantitatively determining inpurity contained.例文帳に追加

クロムなどの不純物を含有する水酸化ルテニウムの試料に過塩素酸と硫酸を添加し、加熱して蒸発乾固することにより試料中のルテニウムを揮発させて除去し、得られた試料を放冷した後、水と塩酸を加えて試料を再溶解することにより得られた試料溶液中に含まれる不純物を定量する。 - 特許庁

This raster scan method for raster-scanning a sample storage part of the chip with a laser includes at least a matrix in the sample storage part, and determines an irradiation frequency in each laser irradiation position of the sample storage part of the chip, based on the signal intensity in each irradiation position in the sample storage part obtained by the laser irradiation onto the sample storage part.例文帳に追加

レーザーでチップの試料収容部をラスタースキャンするラスタースキャン方法であって、試料収容部には少なくともマトリクスが入っており、試料収容部へのレーザー照射によって得られた試料収容部における照射位置ごとの信号強度に基づいて、チップの試料収容部のレーザー照射位置ごとの照射回数を決定する。 - 特許庁

The dispensing device, the dispensing method, and the automatic analysis apparatus have a step of sucking the liquid sample by a dispensing nozzle, moving between a suction position for sucking the liquid sample, containing a sample or a reagent and a discharge position for discharging the liquid sample sucked, and dispensing by discharging the liquid sample sucked into a container, located at the discharge position.例文帳に追加

検体または試薬を含む液体試料を吸引する吸引位置と、吸引した液体試料を吐出する吐出位置との間を移動する分注ノズルによって液体試料を吸引し、吸引した液体試料を吐出位置に配置された容器に吐出して分注を行う分注装置、分注方法及び自動分析装置。 - 特許庁

This sample container 2 of the present invention used for the device is provided with a bottomed cylindrical container stored with the sample A in its bottom part, a sample B supplying tube 5 introduced into the bottomed cylindrical container, and the gas collecting tube 7 for collecting the gas generated by mixing the sample A and the sample B.例文帳に追加

この装置に使用する試料容器２は、試料Ａが底部に収容された有底筒形容器と、この有底筒形容器に導入された試料Ｂ供給管５と、前記有底筒形容器の上部に設けられた、試料Ａと試料Ｂとの混合によって発生するガスを捕集するためのガス捕集管７とを備える。 - 特許庁

To provide a sample condensing method and device, for easily and accurately condensing a material to be measured in a sample in a designated area on a sample table without large labor efficiently when the condensing of the material to be measured is required, and a sample analyzing method and device for efficiently analyzing the sample using the above.例文帳に追加

試料中の被測定物質の濃縮が求められる場合、試料台上の所定領域に容易にかつ正確に、しかも大きな労力を要することなく効率よく濃縮できるようにした試料濃縮方法及び装置と、それらを使用して効率よく試料を分析できるようにした試料分析方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A visual color evaluation device comprises a housing that covers a sample, an LED light source for irradiating the sample with observation light, a drive mechanism that continuously varies an angle from which the sample is irradiated with the observation light by continuously varying a relative position of the light source with respect to the sample, and a window for visual observation of the sample in the housing.例文帳に追加

視感色彩評価装置は、サンプルを覆う筐体、サンプルに観察光を照射するためのＬＥＤ光源、サンプルに対する光源の相対位置を連続的に変化させることでサンプルに対する観察光の照射角度を連続的に変化させる駆動機構、および筐体内のサンプルを目視観察するための窓を備えている。 - 特許庁

Plural light emitting diodes 9 for illuminating the merchandise sample 6 are provided at the outer peripheral part of the merchandise sample 6 on a display table 8 and inside of the sample 6, and the diodes 9 provided at the outer peripheral part of the sample 6 and the diodes 9 provided inside of the sample 6 are made to emit light simultaneously or individually in accordance with an installing environment.例文帳に追加

展示台８の商品サンプル６外周辺部および商品サンプル６内部に、商品サンプル６照明用の発光ダイオード９を複数個設け、かつ、商品サンプル６外周辺部に設けた発光ダイオード９と商品サンプル６内部に設けた発光ダイオード９とを設置環境に応じて同時にまたは別々に発光させる。 - 特許庁

To provide a sample rack feed device having high general-purpose properties not restricted by the shape of a sample rack and capable of stably feeding the sample rack without causing an out-of-phase or damage even if the external force is applied to the sample rack from the other during the feed of the sample rack.例文帳に追加

本発明は、サンプルラックの形状に制限されることがない汎用性の高いサンプルラック搬送装置であって、かつ、サンプルラックの搬送中に、サンプルラックに他からの外力が加わったとしても、脱調や損傷が生じることなく安定して搬送することが可能なサンプルラック搬送装置およびそれを備える体外診断用分析装置を提供する。 - 特許庁

This analyzer mainly includes a sample heating device A1 for burning the sample and recovering sample gas, an ozone supply means such as an ozone generator A2 for adding ozone to the sample gas, an absorption tube A3 for absorbing an acid component in the sample gas into absorption liquid, and an ion chromatograph A4 for analyzing the acid component in the absorption liquid.例文帳に追加

分析装置は、試料を燃焼させて試料ガスを回収する試料加熱装置（Ａ１）と、試料ガスにオゾンを添加するオゾン発生器（Ａ２）等のオゾン供給手段と、試料ガスの酸性成分を吸収液に吸収させる吸収管（Ａ３）と、吸収液中の前記酸性成分を分析するイオンクロマトグラフ（Ａ４）とから主に構成されている。 - 特許庁