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circuit chipの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5794



例文

A crystal oscillator 1 comprises a base 2 holding a plurality of electronic component elements 4 including an oscillation unit 5 constituting an oscillation circuit 51 of at least a crystal vibrator 52 and a transistor 53 or the like and an output buffer unit 6 constituting an output buffer circuit 61 of at least an output buffer IC chip 62.例文帳に追加

水晶発振器1には、少なくとも水晶振動子52とトランジスタ53等から発振回路51を構成する発振部5と、少なくとも出力バッファ用ICチップ62から出力バッファ回路61を構成する出力バッファ部6とを含む複数の電子部品素子4を保持するベース2が設けられている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can suppress electromagnetic interference between a secondary interconnect and an electronic circuit portion even when the secondary interconnect and the electronic circuit portion of a semiconductor chip are overlapped, can suppress warping of a wafer, and can reduce a risk of generating chipping in a dicing process.例文帳に追加

二次配線と半導体チップの電子回路部とが重なり合う場合においても、当該二次配線と当該電子回路部との間の電磁界的干渉を抑制することができると共に、ウエハの彎曲を抑えることができ、かつ、ダイシング工程において、チッピングが発生する危険性を低減することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The impedance matching circuit constituted on a dielectric substrate 1 is equipped with transmission lines 2 formed on the dielectric substrate 1 and a circuit 4 where chip capacitors 3 which are inserted in series between the transmission lines 2 and have the same electrostatic capacity value are connected in parallel.例文帳に追加

誘電体基板1上に構成されたインピーダンス整合回路において、誘電体基板1に形成された複数の伝送線路2と、伝送線路2間に直列に挿入される、同じ値の静電容量を有するチップコンデンサ3を複数並列接続した回路4とを備えた低損失のインピーダンス整合回路とした。 - 特許庁

The circuit device has the pulse laser diode 1 and a pulse generating circuit 5 and further includes a DC current source 2 capable of varying the light emission wavelength of the pulse laser diode by supplying a bias current having a smaller value than a light emission threshold to the pulse laser diode and varying the value of the bias current to control the temperature of a chip of the pulse laser diode.例文帳に追加

パルスレーザーダイオード1とパルス発生回路5を有し、さらに、パルスレーザーダイオードに発光閾値よりも小さい値のバイアス電流を流し、そのバイアス電流の値を変化させパルスレーザーダイオードのチップの温度を制御することで、パルスレーザーダイオードの発光波長を可変できる直流電流源2を有する。 - 特許庁

例文

In the semiconductor device which comprises a circuit component 30 formed in a semiconductor substrate constituted as a chip, and an electrode pad 10 formed in the upper layer for electrically connecting the circuit component outside; the test element (TEG element) 20, not electrically connected to the electrode pad, is provided in the silicon substrate 1 of the lower layer region of the electrode pad 10.例文帳に追加

チップとして構成される半導体基板に形成された回路素子30と、その上層に形成され、回路素子を外部に電気接続するための電極パッド10を備える半導体装置において、電極パッド10の下層領域のシリコン基板1に電極パッドに電気接続されていないテスト素子(TEG素子)20を備える。 - 特許庁


例文

This test method of an IC chip 100 including an internal regulator 10, and an internal circuit 20 receiving supply of an internal voltage from the internal regulator 10 includes processes for: measuring the internal voltage Vreg output from the internal regulator 10; and supplying a test voltage having the same height as a measured value of the internal voltage Vreg to the internal circuit 20.例文帳に追加

内部レギュレータ10と、内部レギュレータ10から内部電圧の供給を受ける内部回路20と、を備えたICチップ100の試験方法であって、内部レギュレータ10から出力される内部電圧Vregを測定する工程と、内部電圧Vregの測定値と同じ大きさの試験電圧を内部回路20に供給する工程と、を含む。 - 特許庁

Electronic circuit device comprises electrodes 11, 12 connected to an electronic circuit pattern formed on a semiconductor chip and ball bumps 16 connected with a solder 15 to the electrodes 11, 12, the ball bumps are made of a shape memory alloy having a shape recovery temperature set higher than room temperature, and the maximum temperature is of shape recovery temperature during use of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体チップの形成された電子回路パターンに接続する電極(11,12)に、形状回復温度が常温よりも高く設定されており、半導体装置の使用時の最高温度が形状回復温度程度であるような形状記憶合金からなるボールバンプ16がはんだ15により接合されている構成とする。 - 特許庁

A signal processing circuit of an integrated circuit which includes a differential amplifier 12 for differentially amplifying a detection signal from a semiconductor pressure sensor connected with distortion resistors R1-R4 in the form of a bridge and an inversion amplifier 13 for inverting and amplifying the differentially-amplified signal is provided in the semiconductor device formed as an IC chip 10.例文帳に追加

ICチップ10として構成される半導体装置には、ひずみ抵抗R1〜R4がブリッジ接続されている半導体圧力センサからの検出信号を差動増幅する差動増幅器12や、該差動増幅された信号をさらに反転増幅する反転増幅器13等からなる信号処理回路が集積回路化されている。 - 特許庁

The chip is equipped with multiple bumps connected with a drive circuit integrated on a semiconductor substrate and an organic compound insulating film formed on the drive circuit, wherein the organic insulating film is extended from the semiconductor substrate at a lower level than the multiple bumps and the lower edge of the multiple bumps projects further than the lower edge of the organic insulating film.例文帳に追加

半導体基板に集積化された駆動回路と接続される複数のバンプと、前記駆動回路上に形成される有機絶縁膜とを具備し、前記有機絶縁膜は、前記複数のバンプより低く半導体基板から伸張され前記複数のバンプの下部エッジが前記有機絶縁膜の下部エッジよりさらに突出されることを特徴とする。 - 特許庁

例文

When a semiconductor element 101 is flip-chip mounted to a circuit forming member 105 to manufacture a semiconductor device, the circuit forming member and the semiconductor element are positioned at a mounting temperature 121 exceeding a normal temperature to be mounted to each other via a conductive adhesive 104, and then heated at a curing reaction temperature 122 to cure the conductive adhesive.例文帳に追加

回路形成体105に半導体素子101をフリップチップ装着して半導体装置を製造するとき、常温を超える装着温度121にて上記回路形成体及び上記半導体素子を位置決めして導電性接着剤104を介して互いを装着した後、硬化反応温度122に加熱して導電性接着剤を硬化させる。 - 特許庁

例文

The output buffer circuit 1 is provided with a first level converter circuit 21 for outputting a signal B with a ground and an external output interface power supply potential VDH, defined as amplitude range on the basis of a data input signal A with the ground and a power supply potential VDL, at a semiconductor chip core side defined as an amplitude range.例文帳に追加

出力バッファ回路1は、グランドと半導体チップコア側の電源電位VDLとを振幅範囲とするデータ入力信号Aに基づいて、グランドと外部出力インターフェース電源電位VDHとを振幅範囲とする信号Bを出力する第1レベルコンバータ回路21を備えた。 - 特許庁

A power supply circuit 50 is configured by mounting first and second linear regulators omitted in Figure, which have different output voltages, overcurrent protection circuits added to respective linear regulators, short-circuit detection circuits of output voltages of respective linear regulators, and reset circuits of loads to which output voltages of respective linear regulators are supplied, on an IC chip 2.例文帳に追加

電源回路50は、ICチップ2に、図示を省略している第1、第2の出力電圧が異なるリニアレギュレータと、各リニアレギュレータに付設される過電流保護回路と、各リニアレギュレータの出力電圧の短絡検出回路と、各リニアレギュレータの出力電圧が供給される負荷のリセット回路を実装して構成される。 - 特許庁

The semiconductor device includes a semiconductor chip 10 having an integrated circuit 12 incorporated thereinto; a wiring 20 electrically connected to the integrated circuit 12 and having a pad 22 on one part thereof; the passivation film 30 having an opening 32 and formed on the wiring 20, so that the pad 22 can be arranged from its internal surface to the inside with an interval; and a bump 40.例文帳に追加

半導体装置は、集積回路12が作り込まれた半導体チップ10と、集積回路12に電気的に接続されておりパッド22を一部に有する配線20と、開口32を有しておりその内面から内側に間隔をあけてパッド22が配置されるように配線20上に形成されてなるパッシベーション膜30と、バンプ40と、を含む。 - 特許庁

In a semiconductor chip 21 provided with an element substrate 22, an integrated circuit 23 formed on the top surface of the substrate 22, and electrode terminals 24 for outside connection extended toward the ends of the substrate 22 from the integrated circuit 23, the electrode terminals 24 are formed at narrow pitches in a plane on the surfaces of the ends of the substrate 22.例文帳に追加

素子基板22と、この素子基板22の上面に形成される集積回路部23と、この集積回路部23から前記素子基板22の端部に向けて延びる外部接続用の電極端子24とを備えた半導体チップ21において、前記電極端子24を素子基板22の端部の表面に狭いピッチ幅で平面形成した。 - 特許庁

To provide a liquid epoxy resin composition for chip on film (COF) capable of suppressing the deterioration of insulation property due to migration occurring under high temperature and high humidity, which especially becomes a problem in a semiconductor device of a COF structure provided with circuits having narrow circuit width and circuit interval and being driven at a high voltage, like an FPD driven package.例文帳に追加

FPD駆動パッケージのように、回路幅及び回路間隔が狭く、高電圧で駆動する回路を備えたCOF構造の半導体装置において特に問題となる、高温高湿下で生じるマイグレーションによる絶縁性の低下を抑制することができるCOF用液状エポキシ樹脂組成物を提供することを目的とする。 - 特許庁

To easily prevent a distance allowing communication through an antenna circuit of a functional sheet from being reduced due to a metallic glossy layer in a metallic glossy functional sheet configured by arranging a metallic glossy layer using at least metallic materials on one face of the functional sheet with an IC chip and the antenna circuit.例文帳に追加

ICチップとアンテナ回路とを備えた機能性シートの片面に、少なくとも金属材料を用いた金属光沢層が設けられた金属光沢性機能シートにおいて、機能性シートのアンテナ回路を通して通信できる距離が、金属光沢層によって低下するのを簡単に防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a CMOS semiconductor integrated circuit capable of decreasing power consumption at standby time without increasing a dedicated power source for reducing the power consumption at the standby time, separately providing a substrate bias generating circuit, which increases the power consumption and a chip area, and forming a triple well structure to become the cause of complicating a process.例文帳に追加

待機時の消費電力低減のために専用の電源を増やさず、消費電力及びチップ面積の増大を招く基板バイアス発生回路を別途設けることなく、プロセスの複雑化の原因となる三重ウエル構造を形成することなく待機時の消費電力を減少させることができるCMOS半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

This inkjet head comprises an inkjet head chip having a nozzle for ejecting ink and an actuator, an actuator drive board connected to the actuator, a flexible circuit board for connecting the actuator drive board to an external device, and the nonvolatile memory mounted on the flexible circuit board.例文帳に追加

インクを吐出するノズルとアクチュエーターを有するインクジェットヘッドチップと、前記アクチュエーターに接続されるアクチュエーター駆動基板と、前記アクチュエーター駆動基板と外部を接続するフレキシブル配線板と、前記フレキシブル配線板に実装された不揮発メモリーと、を備えることを特徴とするインクジェットヘッド。 - 特許庁

To reduce a chip size by reducing the impedance of wiring upon connecting a protective circuit between a plurality of power supply lines arranged at arbitrary places and raising the degree of freedom in layout, in a semiconductor integrated circuit having a plurality of internal circuits operated by supply voltages supplied from a plurality of different power supply lines.例文帳に追加

複数の異なる電源ラインから電源電圧が供給されて動作する複数の内部回路を有する半導体集積回路において、任意の箇所に配置された複数の電源ライン間に保護回路を接続する際の配線のインピーダンスを低減すると共に、レイアウトの自由度を高めてチップサイズを低減する。 - 特許庁

The SSTA executing part 5 inputs the information from the circuit net list part 1, the timing asserting part 2, the delay model part 3, and the variable factor statistical information part 4, executes statistical timing analyses, and calculates the defect probability of the semiconductor integrated circuit chip, from a variation reference specification table, generated in advance.例文帳に追加

SSTA実行部5は回路ネットリスト部1、タイミングアサーション部2、遅延モデル部3、及び変動要因統計情報部4から情報を入力し、統計的タイミング解析を実行し、予め作成されたバラツキ基準仕様表から半導体集積回路チップの不良確率を算出する。 - 特許庁

A current restriction control circuit 9 is provided which cuts off an output signal from a current restriction circuit 8 which restricts an output current, to an output transistor 2 for a prescribed time Ta after input of a chip enable signal CE which activates an operational amplifier 3 for conducting operation control of the output transistor 2.例文帳に追加

出力トランジスタ2の動作制御を行う演算増幅器3を活性化状態にするチップイネーブル信号CEが入力されてから所定時間Taの間、出力トランジスタ2に対して出力電流の制限を行う電流制限回路8からの出力信号を遮断する電流制限制御回路9を備えるようにした。 - 特許庁

To attain high density in a printed circuit board which can realize reliable electromagnetic shield without the increase in the component number for shield, can eliminate the restriction that a GND pattern must be formed directly under the semiconductor device, and can expand the flexibility of circuit design, in flip chip mounting of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子のフリップチップ実装において、シールドのための部品点数を増加させることなく確実な電磁的シールドを実現でき、該半導体素子の直下にGNDパターンを形成しなければならないという制限をなくすことができ、回路設計の自由度を拡大することができるとともに、プリント基板の高密度化を図ることができるようにする。 - 特許庁

A spread code generating circuit 40 generates three spread codes P1, P2, P3 whose phases are shifted by one chip each in a spread code identification mode, a main inverse spread circuit 41 and two auxiliary inverse spread circuits 42, 43 individually apply inverse spread processing to a received signal RS by using these spread codes P1, P2, P3.例文帳に追加

拡散符号同定モードにおいて、拡散符号発生回路40から位相が互いに1チップずつずれた3つの拡散符号P1,P2,P3を発生して、これらの拡散符号P1,P2,P3によりそれぞれ主逆拡散回路41及び2個の補助逆拡散回路42,43において受信信号RSの逆拡散を行う。 - 特許庁

The first chip M2 includes a first conductive layer 14(X) penetrating from one surface side of the first semiconductor substrate to the other surface side and connected to a first semiconductor integrated circuit E1; and a second conductive layer 14(Y) penetrating from the one surface side of the first semiconductor substrate to the other surface side and not connected to the first semiconductor integrated circuit E1.例文帳に追加

第一のチップM2は、第一の半導体基板の一面側から他面側に突き抜け、第一の半導体集積回路E1に接続される第一の導電層14(X)と、第一の半導体基板の一面側から他面側に突き抜け、第一の半導体集積回路E1に接続されない第二の導電層14(Y)とを備える。 - 特許庁

Since respective logic circuit parts 51 to 57 in the main control means 50A consist of one-chip programmable logic device 50, the plurality of parts 51 to 57 set by the device 50 can easily be changed by logic preparation information (so-called circuit constitution information) prepared in advance and the means 50A before change can be reused (recycled).例文帳に追加

主制御手段50Aの各論理回路部51〜57を、1チップのプログラマブル・ロジック・デバイス50にて構成したので、プログラマブル・ロジック・デバイス50に設定された複数の論理回路部51〜57を、予め作成した論理設定情報(所謂、回路構成情報)により容易に変更することができ、変更前の主制御手段50Aを再利用(リサイクル)することができる。 - 特許庁

The circuit part 30 has: a base part; a flexible sheet provided on the surface of the base part; bonding pads; bonding wires connecting the bonding pads and a strain gauge; a spacer 35 covering the strain gauge; a board 36 connected with the electric connection means 50; a circuit pattern 37 formed on the surface of the spacer 35, performing electroconduction; and chip capacitors 38.例文帳に追加

回路部30は、台座部と、台座部の表面に設けられたフレキシブルシートと、ボンディングパッドと、ボンディングパッドと歪ゲージとを接続するボンディング線と、歪ゲージを覆うスペーサ35と、電気的接続手段50が接続する基板36と、スペーサ35の表面に形成されて電気的導通を図る回路パターン37と、チップコンデンサ38と、を備えている。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit includes in a semiconductor chip a resonant circuit comprising a first capacitor 1 having a capacitance C_R which is controllable by a first control signal Vc1 of a first control terminal 101, a second capacitor 3 having a capacitance C_L which is controllable by a second control signal Vc2 of a second control terminal 102, and gyrators 2, 5 which emulate equivalently an inductor L.例文帳に追加

半導体集積回路は、第1制御端子101の第1制御信号Vc1により制御可能なキャパシタンスC_Rを有する第1キャパシタ1と、第2制御端子102の第2制御信号Vc2により制御可能なキャパシタンスC_Lを有する第2キャパシタ3を含み等価的にインダクタLをエミュレートするジャイレータ2、5とからなる共振回路を半導体チップに具備する。 - 特許庁

A printed circuit board 12; a plurality of light-emitting parts 111 provided on the printed circuit board 12 and having a base 111b, an LED chip 111a and a lens 112; and a first reflection member 118 provided around the light-emitting parts 111 and having a first reflection part 1181 and a second reflection part 1182, are provided on a backlight unit 1.例文帳に追加

バックライトユニット1に、プリント基板12と、プリント基板12上に設けられ、基台111b、LEDチップ111a、およびレンズ112を有する複数の発光部111と、発光部111の周囲に設けられ、第1反射部分1181および第2反射部分1182を有する第1反射部材118とを設ける。 - 特許庁

This electronic component mounting method comprises a first process of mounting a semiconductor element with a projecting connection electrode on the surface of a circuit board in a flip chip mounting manner by the use of a thermosetting adhesive agent and a second process of mounting an electronic component on the other surface of the circuit board through a reflow soldering method, and the first process is carried out before the second process.例文帳に追加

回路基板の一表面に、突起状の接続電極を有する半導体素子等を熱硬化性接着剤によりフリップチップ実装する第1の工程と、工程基板他表面にはんだリフロー法により電子部品を実装する第2の工程からなり、第1の工程を第2の工程より前に行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

A programmable ROM 3 storing an application program in a rewritable manner, a CR oscillation circuit 6, and a light emitting element drive circuit 7 driving and controlling an infrared light emitting element are built in the microcomputer 1 which controls the operation of the remote control transmitter, and only one IC chip is used in common for the main component parts of the remote control transmitters of different specifications.例文帳に追加

リモートコントロール送信機の動作を制御するマイクロコンピュータ1に、アプリケーションプログラムを書き換え可能に格納するプログラマブルROM3と、CR発振回路6と、赤外発光素子を駆動制御する発光素子ドライブ回路7とを内蔵し、異なる仕様のリモートコントロール送信機の主要部品を、1個のICチップで共用する。 - 特許庁

When the switch SW2 is switched, an operation clock of a CPU 40 is switched to a sub clock to be generated from an on-chip oscillator 30 from a main clock to be generated from an oscillation circuit 28, and when the switch SW1 is switched, the connection between the oscillating unit 20 and an oscillator 26 is interrupted to stop the operation of the oscillation circuit 28.例文帳に追加

SW2が切り換えられると、CPU40の動作クロックが、発振回路28が生成するメインクロックからオンチップオシレータ30が生成するサブクロックに切り換えられ、スイッチSW1が切り換えられると、発振部20と振動子26との接続が遮断され、発振回路28が動作を停止する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which realizes a high-performance, high-functional and miniaturized product by making fine a high withstanding voltage circuit operative at high voltages, and mounting such fine high withstand ing voltage circuit mixed with low withstanding voltage circuits on the same chip, and realize a semiconductor device manufacturing method which realizes such semiconductor device by a simple way, without increasing the manufactur ing cost.例文帳に追加

高電圧動作用の高耐圧回路の微細化を図るとともに、このような微細な高耐圧回路を低耐圧回路と同一チップ上に混載することにより、高機能化、高性能化、縮小化を実現することができる半導体装置及びこのような半導体装置を簡便な方法で、製造コストの増大を招くことなく実現することができる半導体装置の製造方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

A semiconductor module includes: a semiconductor chip 10 in which an integrated circuit 12 is formed; a plurality of electrodes 14 electrically connected to the integrated circuit 12; a plurality of bumps 18 electrically connected to the plurality of electrodes 14 each; a plurality of leads 26 coming into contact with the plurality of bumps 18 each; and a base substrate 24 in which the plurality of leads 26 are formed.例文帳に追加

本発明に係る半導体モジュールは、集積回路12が形成された半導体チップ10と、集積回路12に電気的に接続された複数の電極14と、複数の電極14にそれぞれ電気的に接続された複数のバンプ18と、複数のバンプ18にそれぞれ接触する複数のリード26と、複数のリード26が形成されたベース基板24と、を有する。 - 特許庁

To provide a flat panel display device which has a driving IC chip 2 and a flexible printed circuit (FPC) 3 mounted on a display panel 1, and to provide a wiring structure for inspection by which the electric conductivity at a connection place through an anisotropic conductive layer can directly and easily be measured without adding any extra circuit portion.例文帳に追加

駆動用ICチップ2及びフレキシブル配線(FPC)3を表示パネル1に実装した平面表示装置、及びこのための検査用配線構造において、別個の回路部分を付加することなく、異方性導電層による接続箇所の電気伝導度を直接かつ容易に測定できるものを提供する。 - 特許庁

To provide a circuit board having both high heat radiation efficiency and durability, in which a semiconductor chip to be mounted can operate with a large power by preventing the generation of cracks on a solder layer for joining the circuit board to a heat radiation base and the forming of a compound layer on an interface between a metal heat radiation plate and an aluminum layer.例文帳に追加

回路基板と放熱ベースとを接合するはんだ層にクラックが発生すること及び金属放熱板とアルミニウム層との界面に化合物層が形成されることを防止することにより高い放熱効率および耐久性を兼ね備え、搭載する半導体チップを大電力で動作させることのできる回路基板およびそれを用いた半導体モジュールを提供すること。 - 特許庁

In the rotation detection apparatus, a sensor part comprising a magnetoresistive element for detecting changes in the angle of a magnetic vector as changes in resistance value and its processing circuit part are integrated into a circuit as one IC chip 11 and provided in such a way as to be opposed to a rotor RT comprising helical gears used for an automatic transmission.例文帳に追加

回転検出装置は、磁気ベクトルの角度変化を抵抗値の変化として検出する磁気抵抗素子からなるセンサ部およびその処理回路部が1つのICチップ11として集積回路化され、自動変速機に使用されている斜歯歯車(ギア)からなるロータRTに対向するように設けられている。 - 特許庁

The image sensor 1 includes: a glass substrate 10; a plurality of photoelectric conversion elements 20 each consisted of an organic material; a plurality of IC chips 30 each mounting thereon a drive circuit consisted of single crystal silicon; and wiring 40 for connecting the plurality of the photoelectric conversion elements 20 and the drive circuit mounted on each IC chip 30.例文帳に追加

イメージセンサ1は、ガラス基板10、有機材料で構成された複数の光電変換素子20、単結晶シリコンで構成された駆動回路を搭載した複数のICチップ30、複数の光電変換素子20と各ICチップ30に搭載された駆動回路とを接続する配線40を備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which the timing of the exchange of data between a memory and a logic part is optimized, operation performance and operation speed are improved, while current consumption is reduced, in the semiconductor integrated circuit in which the memory and the logic part are formed on a single semiconductor chip and a plurality of data processing are simultaneously carried out.例文帳に追加

メモリ部とロジック部とが単一の半導体チップ上に形成されて複数のデータ処理を同時におこなう半導体集積回路における、メモリ部とロジック部とのデータのやり取りのタイミングが最適化されて、動作性能及び動作速度が向上されるとともに消費電流が軽減される半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

An internal chip area is divided into plural partial floor plan areas composed of circuit blocks in a step S17, it is decided whether a soft macro block exists in each of these partial floor plan areas or not and when the soft macro block exists, the partial floor plan is prepared for locating the circuit blocks by optimizing the terminal position of the soft macro block.例文帳に追加

ステップS17で、チップ内部領域を回路ブロックから構成される複数の部分フロアプラン領域に分割し、これらの部分フロアプラン領域にソフトマクロブロックが存在するか否かを判定し、ソフトマクロブロックが存在する場合、ソフトマクロブロックの端子位置を最適化して回路ブロックを配置する部分フロアプランを作成する。 - 特許庁

This method for manufacturing a semiconductor device comprise a first process for adhering a first holding member 40 to one face of a wafer 10 on which an integrated circuit is formed and for dicing the wafer 10 from the other face, and a second process for grinding the face of the semiconductor chip 20 opposite to a face 22 on which the integrated circuit is formed.例文帳に追加

集積回路が形成されたウェーハ10における一方の面に第1の保持部材40を貼り付け、他方の面から前記ウェーハ10をダイシングして、複数の半導体チップ20に分割する第1工程と、前記半導体チップ20における前記集積回路の形成された面22とは反対側の面を研削する第2工程と、を含む。 - 特許庁

The multi-chip package 1 has integrated circuits IC1, IC2 including an internal cell which is a test object, and IC1 has an internal input terminal 7A connected to the external terminal 8A for the test, a separation multiplex circuit 5 connected thereto, and a scanning control circuit 3 for controlling a scan path test signal in the internal cell.例文帳に追加

マルチチップパッケージ1は、テスト対象となる内部セルを含む集積回路IC1、IC2を有し、IC1は、テスト用外部端子8Aに接続された内部入力端子7A、これに接続された分離多重回路5、及び内部セルのスキャンパステスト信号を制御するスキャン制御回路3を有する。 - 特許庁

In a through-hole 12b of the driver module for an EL 10 with electronic components, such as active component, chip capacitor, and step-up transformer mounted on a wiring circuit on a circuit board 12 sealed with mold resin 13, a spring terminal 11 composed of a coil part 11b is jointed with respect to a connection pattern with the exterior.例文帳に追加

回路基板12上の配線回路に搭載された能動素子、チップコンデンサ、昇圧トランス等の電子部品をモールド樹脂13で封止したEL用ドライバーモジュール10のスルーホール12bには、外部との接続パターンに対してコイル部11bから成るスプリング端子11が接合されている。 - 特許庁

By using metal wire (Metal wire) 150, a bottom face of a module circuit board 100 and an upper face of a heat sink 160 are directly contacted, so that heat generated when a heating element chip 110 mounted on the module circuit board 110 is operated, can be discharged outward effectively.例文帳に追加

モジュール用回路基板100の底面とヒートシンク160の上面を金属線(Metal wire)150を用いて直接接触させることにより、モジュール用回路基板110に実装された発熱素子チップ110が動作するとき発生する熱を効果的に外部へ放出させることが出来る。 - 特許庁

To execute an accurate test by providing a liquid crystal driving device 31 equipped with a discharging resistance 41 for discharging the residual charge of a boosting circuit 40 in a chip, since an after-image is displayed when a power is turned off, wherein the discharging resistance 41 is non-controlled for control or the simplification of the circuit.例文帳に追加

電源オフ時に、チップ内の昇圧回路40に電荷が残存していると、残像が表示されてしまうので、その残存電荷を放電する放電抵抗41を設け、かつ制御や回路の簡略化のために前記放電抵抗41が非制御となっている液晶駆動装置31において、正確な試験を行う。 - 特許庁

To disclose technology capable of easily adjusting an operating speed and a tWR (time to write recovery) of a chip by generating a control signal for regulating a potential of an internal power source voltage of an internal circuit when the internal circuit enters into a specific mode for high-speed operation, more detailedly in setting an extended mode register about a semiconductor memory device.例文帳に追加

本発明は半導体メモリ装置に関し、より詳しくは拡張モードレジスタセッティング時に内部回路を高速動作させる特定モードに進入させる場合、前記内部回路の内部電源電圧の電位を調節する制御信号を発生してチップの動作速度及びtWRを容易に調節することができる技術を開示する。 - 特許庁

In a circuit substrate 100 to which the flip chip mounting of a semiconductor element 21 is carried out, at least one island-shaped conductive layer 14 is selectively arranged with a wiring layer 11a in an element mounting region on the circuit substrate 100, to which the semiconductor element 21 is fixed and an insulative resin layer 15 is arranged on the island-shaped conductive layer 14.例文帳に追加

半導体素子21がフリップチップ実装される回路基板100に於いて、半導体素子21が実装される回路基板100上の素子搭載領域内に、配線層11aと共に少なくとも一つの島状の導電層14を選択的に配設し、当該島状の導電層14上に絶縁性樹脂層15を配設した。 - 特許庁

A VDDQ power supply pad 24b and a VSSQ power supply pad 25c are arranged with respect to a pair of a DQS output circuit 12 and a DQSB output circuit 13, and a resistor 18 is arranged between VSSQ power supply pads 25b and 25c of a VDDQ power supply wiring 16 and a VDDS wiring 17 in the chip, andso on.例文帳に追加

DQS出力回路12とDQSB出力回路13の組に対してVDDQ電源パッド24bとVSSQ電源パッド25cが配置され、チップ内VDDQ電源配線16、VDDS配線17の、VSSQ電源パッド25bと25cの間等に抵抗18が配置されている。 - 特許庁

The method of manufacturing the piezoelectric oscillator comprises, after a step of forming an electronic circuit that includes an oscillation circuit, and packaging the semiconductor device with no protecting resin film formed thereon by flip chip bonding method in a second recessed part, a step of washing the area charging an under-fill with plasma, and a step of then charging the under-fill with an under-fill resin material.例文帳に追加

圧電発振器の製造方法において、第二の凹部に、発振回路を含む電子回路を形成し且つ裏面に保護樹脂膜が形成されていない半導体素子をフリップチップボンディング法により搭載する工程の後に、プラズマによりアンダーフィルを充填する領域を洗浄する工程を具備し、その後アンダーフィル樹脂材を充填する工程を具備することを特徴とする圧電発振器の製造方法。 - 特許庁

Built-in self test is started by the command of CPU 12 and the test results of a memory 11 and a logic circuit group 13 are read from the memory inspection compressor 17 and the logic circuit inspection compressor 15, it is compared with an expectation value which is previously stored in the memory 11 and the result is diagnosed in the one chip microcomputer 10.例文帳に追加

そして、CPU12の指令により組み込み自己検査を起動し、メモリ11および論理回路群13のテスト結果をメモリ検査用圧縮器17および論理回路検査用圧縮器15から読み出して、1チップマイクロコンピュータ10内部において、あらかじめメモリ11に記憶されている期待値とそれぞれ比較し結果診断を行う。 - 特許庁

例文

This one-chip microcomputer 10 is provided with a starting register 18 for starting test operation for an incorporation self-checking function, and an incorporation self-check starting pattern generator 19 for setting an initial value to a test control circuit (a pseudo random number generator 14, a logic circuit checking compressor 15, a pattern generator 16 and a memory checking compressor 17).例文帳に追加

1チップマイクロコンピュータ10は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ18と、テスト制御回路(疑似乱数発生器14、論理回路検査用圧縮器15、パターン発生器16、メモリ検査用圧縮器17)に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器19とを備えている。 - 特許庁

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